SU534124A1

SU534124A1 - Способ активационного анализа

Info

Publication number: SU534124A1
Application number: SU752120369A
Authority: SU
Inventors: В.Т. Тустановский; Е.А. Капралов
Original assignee: Московский Ордена Трудового Красного Знамени Институт Стали И Сплавов
Priority date: 1975-04-04
Filing date: 1975-04-04
Publication date: 1979-10-30

Description

h - толщина образца.

Если стандарт вынолнен нз того же мате;риала , что и образец, то .

Пример. Исследуют агломерат, содержащий 55% Fe и 6% Si. Источник ионизирующего излучени - генератор нейтронов . Стандарт выполнен из того же материала , что и исследуемый образец. Толщина образцов равна 0,3; 0,4; 0,5; 0,6; 0,7; 0,8; 0,9; 1,0; 2,0; 3,0; 4,0; 5,0; 6,0; 7,0; 8,0; 9,0 и 10,0 см. Толщина стандартов выбиралась в зависимости от толщины образца с щагом через 0,1 см дл образцов тоньще 1,0 см и через 1,0 см - в интервале значений h 1,0-10,0 см.

Измерени наведенной радиоактивности образцов и стандартов проводились в области излучени изотопа А.

На чертеже показана зависимость квадрата относительной статистической погрещности измерени соотношени наведенной радиоактивности образца и стандарта от толщины стандарта.

Как видно из чертежа, в исследуемой зависимости существует минимум дл всех Л. Если, например, толщина образца равна 10 см и, как обычно, толщина стандарта также равна 10 см, то квадрат погрещности измерени отношени двух величин примерно Б 20 раз больше, чем нри расположении ближе к источнику нейтронов стандарта толщиной 0,8 см. С уменьшением значений k различие в погрешност х уменьшаетс , но все равно остаетс значительным: при см квадрат погрешности измерени отношени излучени образца и стандарта той же толщины примерно в 4 раза больше, чем при расположении ближе

к мишени нейтронного генератора стандарта с толщиной ,5 см.

Значени х толщины стандартов, при КО торых погрешности измерени отнощени

двух величин минимальны, соответствуют рещению приведенного выше кубического уравнени . Так, например, при см, 0,5 см, ,5см : 2 0, 0,5 0,52- -2-0,.

Использование предлагаемого способа активационного анализа позвол ет повысить точность анализа представительных образцов.

Claims

Формула изобретени

Способ активационного анализа, заключающийс в одновременном облучении исследуемого образца и стандарта, расноложенных на одной линии с источником ионизирующего излучени , причем стандарт располагают ближе к источнику излучени , чем образец, измерении и сравнении наведенной в них радиоактивности, отличаю щ и и с тем, что, с целью повышени точности анализа представительных образцов, предварительно облучают одинаковые небольшие (1-2 см) объемы материала стандарта и исследуемого образца, измер ют отношение наведенной в них радиоактивности (коэффициент /С), а толщину стандарта выбирают из соотнощени

2Kx +2KRx-hR 0,

где X - искома толщина стандарта,

R - рассто ние от стандарта до источника ионизирующего излзчени , h - толщина образца.

Л-/,

X СА