КЛИНБВЫ8 поверхности интерференции 4. Пластины 3 расположены так, что лини пересечени поверхностей одного клина лежит слева от плоскости симметрии X - у , а другого клина - справа от этой же плоскости симметрии и кажда проходит параллельно оси XKLINBVY8 interference surfaces 4. Plates 3 are positioned so that the intersection lines of the surfaces of one wedge lie to the left of the plane of symmetry X - y, and the other wedge - to the right of the same plane of symmetry and each runs parallel to the axis X
Измерительный элемент 5 (фиг. 1) прорвеч1гоаетс параллельным монохроматическим светом с помощью монохроматического источника света 6, конденсора 7 и отклон ющего зеркала 8. Интерференционные полосы образуютс оптической системой 9 на фотоэлектрическом приемнике 10. Приемник 10 воспроизводит сигнал, развернутый по фазе на 90°, Элемент 5 закреплен на жестком корпусе рамы 11. В емкости 12 находитс демпфирующа среда 13. Изгмер ема сила f передаетс на элемент 5 через передающий силу магнит 14, причем BO3MO iCHO сквозное просвечивание.The measuring element 5 (Fig. 1) is broken by parallel monochromatic light using a monochromatic light source 6, a condenser 7 and a deflecting mirror 8. The interference bands are formed by the optical system 9 at the photoelectric receiver 10. The receiver 10 reproduces the signal turned 90 ° out of phase, The element 5 is fixed on the rigid frame of the frame 11. In the vessel 12 there is a damping medium 13. The measured force f is transmitted to the element 5 through the force transmitting magnet 14, with BO3MO iCHO through-through.
В качестве демпфирующей среды примен етс воздух фиг. 2). Освещение и опти ческое преобразование происходит в отраженном свете. Измер ема сила F непосредственно воздействует на изгибную пластину 1.The air of FIG. 1 is used as a damping medium. 2). Illumination and optical conversion occurs in reflected light. The measured force F directly acts on the bending plate 1.
Свободные верхние поверхности пластин 3 и внутренн поверхность одной изгибной пластины 1 полупрозрачны и образуют кли-новые поверхности интерференции, в которых при освещении парачлельным монохроматическим пучком возникают параллельные интерференционные полосы.The free upper surfaces of the plates 3 and the inner surface of one bending plate 1 are translucent and form wedge interference surfaces in which, when illuminated with a parachal monochromatic beam, parallel interference bands appear.
При действии измер емой силы F по оси симметрии у происходит деформаци пластин 1 в област х, снабженных прорез ми . Прогиб средней части пластины 1 пренебрежимо мал, так что поверхности, образующие интерференционный клин, движутс параллельно самим себе. Возникающее изменение толщизы интерференционных клиньев при определенной силе зависит от чисгла прорезей и от их геометрических размеров . Соединительные поверхности между изгиными пластинами и опорнь ми пластинами 2 разгружаютс с помощью пазов в опорных пластинах. При динамическом нагружении пластины 1 вдоль интерференционных клиньев возникают различные силы, ведущие к скручиванию изгибной пластины. Благодар симметричному расположению двух пластин 3 с противоположным наклоном угла устран етс скручивание. Интерференционные полосы проход т параллельно оси )( и перемещаютс в направлении Z . Если возникает скручивание средней части изгибной пластины 1 вокруг оси Z или вокруг оси, параллельной ей, то образуетс поворот сиоTeivTbi полос, при котором, однако, рассто ние интерференционных полос в направлении 2 сохран етс . При этом на приемник 10, расположенный в этом направлении, та-гкое скручивание не вли ет. При как все элементы выполнены из одного материала , например кварца или другого прозрачного материала, температурные вли ни пренебрежимы в щироких масщтабах. Благрдар соответствующей среде 13, например газ или жидкость между изгибными пластинами 1 и, следовательно между клиновыми поверхност ми интерференции, может быть достигнуто то, что заданна гранична; часTota регистрирующей электроники не превыщает допустимого значени даже при ударном нагружении. Благодар параллельному ходу итерференционных поверхностей возникают параллельные интерференционные полосы с посто нным рассто нием ме;кду полосами вдоль всей измер емой зоны. О величине измер емой силы суд т по показани м фотоэлектрического приемника.Under the action of the measured force F along the axis of symmetry y, the plates 1 are deformed in the areas provided with slots. The deflection of the middle part of the plate 1 is negligible, so that the surfaces forming the interference wedge move parallel to themselves. The resulting change in thickness of the interference wedges with a certain force depends on the number of slots and on their geometric dimensions. The connecting surfaces between the curved plates and the support plates 2 are unloaded by means of grooves in the support plates. During dynamic loading of the plate 1, various forces arise along the interference wedges, leading to twisting of the flexural plate. Due to the symmetrical arrangement of the two plates 3 with the opposite inclination of the angle, the twisting is eliminated. The interference fringes run parallel to the axis) (and move in the Z direction. If twisting of the middle part of the flexural plate 1 occurs around the Z axis or around an axis parallel to it, a rotation of the TeivTbi strips is formed, at which At the same time, the receiver 10, located in this direction, is not affected by this twisting. When all elements are made of the same material, for example, quartz or another transparent material, the temperature effects are negligible Due to the appropriate medium 13, for example, gas or liquid between the bending plates 1 and, therefore, between the wedge interference surfaces, it can be achieved that the specified boundary; the recording electronics does not exceed the allowable value even under shock loading. Due to the parallel course and interference surfaces, parallel interference fringes arise with a constant distance of me; to a strip of fringes along the entire measured zone. The magnitude of the measured force is judged by the readings of the photoelectric receiver.