SU530430A1 - Device for measuring signal parameter - Google Patents

Device for measuring signal parameter

Info

Publication number
SU530430A1
SU530430A1 SU2142689A SU2142689A SU530430A1 SU 530430 A1 SU530430 A1 SU 530430A1 SU 2142689 A SU2142689 A SU 2142689A SU 2142689 A SU2142689 A SU 2142689A SU 530430 A1 SU530430 A1 SU 530430A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
signal parameter
measuring signal
measurement
signal
meters
Prior art date
Application number
SU2142689A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вениамин Ильич Агроскин
Эдуард Сергеевич Кирицев
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2203
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2203 filed Critical Предприятие П/Я В-2203
Priority to SU2142689A priority Critical patent/SU530430A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU530430A1 publication Critical patent/SU530430A1/en

Links

Landscapes

  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)

Description

1one

Изобретение о-тноситс  к контрольно-измерительной технике и может использоватьс , например, дл  измерени  параметра электрического сигнала при наличии помех, в частности дл  измерени  фазы гармонических сигналов в системах радионавигации.The invention is related to instrumentation engineering and can be used, for example, to measure an electrical signal parameter in the presence of interference, in particular to measure the phase of harmonic signals in radio navigation systems.

Извес-тно устройство помехоустойчивого измерени  параметра сигнала l, содержащее инерционные измерители компенсационно след щего Т1ша и блок управлени , в котором отсчет измеренного значени  производитс  по прошествии заданного интервала времени. При этом точность измерени  определ етс  характеристиками помех и сигнала и заданным временем измерени , т.е, невозможно обеспечить заданн ю точность при минимальном времени измерени .The signal of the noise-resistant measurement of the signal parameter l, containing inertial meters of the compensation tracking T1sh and a control unit, in which the measured value is read after a predetermined time interval. At the same time, the measurement accuracy is determined by the characteristics of the noise and the signal and the specified measurement time, i.e., it is impossible to ensure the specified accuracy at the minimum measurement time.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому изобретению  вл етс  устройство дл  измерени  параметра сигнала (фазы гармонического сигнала)2, содержащее два инерилонных измерител , входы которых соединены с входным зажимом и с блоком установки неодинаковых исходных состо ний измерителей, а выходы-со вхс2The closest technical solution to the present invention is a device for measuring a signal parameter (phase of a harmonic signal) 2, which contains two non-aeron meters, the inputs of which are connected to the input terminal and to the unit for setting unequal initial conditions of the meters, and outputs

блока ihopAiSiiTOBaHiiH одонок измер емо- уэ лара-летра, Btvixon которого соединен с выходнык: зажимом, источник сигнала уста- uOEKi; из ;ерителей з 1 схолные состо ни . the ihopAiSiiTOBaHiiH block of odonok measuring the e-ume of the Lara-Letra, whose Btvixon is connected to the output terminal: a clip, the signal source is uOEKi; of;

Однако такое устоойство имеет большое врем  лз.:ерек11Я при необходимости обеспе- чсми  достаточно высокой точности.However, such a device has a long time lz: OverskI, if necessary, to ensure sufficiently high accuracy.

Действительно, высока  точность измерени  прк наличии ломех требует обеспечени  малой флюктуационноГ: ошибки в установившемс  режиме, что может быть обеспечено голько дсстаточ1о инерционными измерител ми .Indeed, the high accuracy of the measurement of the presence of a chunk requires a small fluctuation: the error is in the steady state, which can only be achieved with inertial gauges.

Крохю того, в данном устройстве имеоТс  остагочиа  динамическа  ошибка, завис ща  от исходных состо ний измерителей по отношению к неличине измер емого параметра .In addition, in this device there is an ostagically dynamic error depending on the initial states of the meters with respect to the non-primary value of the parameter being measured.

Целые 1-г,зс5ретеки   вл етс  сокращение времапЕ к повышение точности измерени .Whole 1-gs, retsekki is to reduce the time to increase the accuracy of measurement.

Claims (2)

1.Авт. св. СССР № 263743, кл. G 01 R 25/00, за вл. ЗО.10.68.1.Avt. St. USSR № 263743, cl. G 01 R 25/00, owner. SO.10.68. 2.Сравнительна  оценка квадратурного I компенсационно-след шего измерителей2. Comparative assessment of quadrature I compensation-following gauges фазы. - Вопросы радиоэлектроники сер, Общетехническа , 1969, вып. 16, с. 42 (прототип).phases. - Questions of radio electronics ser, General Technical, 1969, vol. 16, p. 42 (prototype).
SU2142689A 1975-06-10 1975-06-10 Device for measuring signal parameter SU530430A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2142689A SU530430A1 (en) 1975-06-10 1975-06-10 Device for measuring signal parameter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2142689A SU530430A1 (en) 1975-06-10 1975-06-10 Device for measuring signal parameter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU530430A1 true SU530430A1 (en) 1976-09-30

Family

ID=20622180

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU2142689A SU530430A1 (en) 1975-06-10 1975-06-10 Device for measuring signal parameter

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU530430A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU530430A1 (en) Device for measuring signal parameter
US2994037A (en) Phase comparator utilizing hall effect
SU364834A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE THICKNESS OF DIELECTRIC COATINGS ON NON-MAGNETIC METALS
SU1364891A2 (en) Device for graduating electromagnetic flowmeters
US2930978A (en) Phase angle measuring apparatus
SU503179A1 (en) Device for measuring the uniformity of speed of movement of a magnetic carrier
SU436366A1 (en) DEVICE FOR DETERMINATION AND STABILIZATION OF THE RANGE OF AMPLITUDES OF STATIONARY SIGNALS
SU1008432A1 (en) Ferroprobe azimuth transducer
SU1307417A1 (en) Device for cadibration checking of extraneous amplitude modulation meters
SU993152A1 (en) Digital tracking astatic phase meter
SU472298A1 (en) Automatic compensator
SU1267264A1 (en) Method of measuring electric and non-electric quantities
SU394912A1 (en) PHASE DETECTOR
SU787904A1 (en) Automatic weigher
SU635432A1 (en) Hf ac voltage reproducing arrangement
SU422987A1 (en) MEASURING DEVICE FOR INDUCTIVE SENSOR
SU1323976A2 (en) Device for measuring frequency deviation
SU834542A1 (en) Multiturn contactless potentiometer
SU702315A1 (en) Device for measuring phase shift between two signals
SU557271A1 (en) Method of measuring flow (velocity) of electrically conductive media
SU533822A1 (en) The method of selecting the operating point when measuring non-electrical parameters
RU2042955C1 (en) Compensation-type accelerometer
SU430326A1 (en) COMPARATIVE CONVERTER OF VOLTAGE VALUES
SU425130A1 (en)
SU1095081A1 (en) Meter of logarithm of two current ratio