тем саным дифракции на изделии, а аатеч на прозрачной щели, установлепной зл изделием . Дифракционную картину наблюдают либо йепосредственно нй экране, либо направл ют на экран с помощью линзы, фокус кото рой совмещают с плоскостью экрана. Способ позвол ет увеличить ркость дифракционной картины при большом рассто нии между из дёлием и экраном, так как режим лазера устанавливают многомодовым, О величине линейного размера суд т по рассто нию между темными полосами картины. Недостатками способа вл ютс мала точность измерени линейных размеров изделий из-за систематической погрешности, источником которой вл етс теоретическа ошибка и малый диапазон измерени линейных размеров, гак как с уменьшением нижнего предела диапазона измерени существенно увел чиваетс погрешность измерени . К недостаткам способа следует отнести сложность устройств, с помощью которых его реализуют, так как полученную дифракционную картину сканируют в плоскости анализа , что св зано с необходимостью реги- страции фотоприемником излучени потоков чрезвычайно широкого диапазона. Целью изобретени вл етс повышение точности и расширение диапазона, измерени линейных размеров изделий. Достигаетс aVo тем, что смешают минимум освещенности дифракционной картины на .оптическую ось линзы и по измер емому углу ди(} акпии лучей, соответствующих направлению на выбранный минимум освещенности картины, определ ют размер комтролируеклого издели . Устройство дл реализации способа, солержашее последовательно установленные ис точник света, диафрагму, щель, лкнзу, гочечную диафрагму, фотоприемник, дополнительно снабжено фотоэлектрическим гальванометром , поворотное плоское зеркало которого расположено перед линзой, генератором одиночных импульссна, подключенным ко аходу гальванометра и в цепь обратной св зи с фотоприемником, и последовательно установленными за фотоприемником функциональным преобразователем, электрическим блоком сравне ки и источником эталонного напр жени . На фиг, 1 представлена схема, по сн к ща фотоэлектр гческий способ измерени линейных размеров изделий; па фиг. 2 - схема устройства дл реализации способа. По предлагаемому способу (см, фиг. 1) . излучение лазера 1 направл ют по контроли руемый объект 2 и у(:таиопле П ут1- :.н ним прозрачну о 111«ль 3. Нп экране 4 ,ч;1(-.1О( И.ГЮСКСК./ТИ ЛИЦ:.Ы 5 П . ,-- К1и1иЛИу1) картину в распред лони свс га, ()г минимум освешег1ности возможно более RV Tсокого пор дка, дифракционной картины на оптическую ось линзы, например с помощью зеркала 7, установленного перед линзой.Измер ют угол дифракции лучей, соответствующих направлению на выбранный минимум освещенности картины, и по его величине определ ют линейный размер контролируемого объекта 2. На фиг. 1 дифракционна картина распределени света 6 представлена в относительных единицах. Устройство дл реализации способа (см. фиг. 2) содержит источник света 8, диафрагмы 9 дл вьщелени наиболее однородной части светового пучка 1О, прозрачнукз щель 11, поворотное зеркало 12, установленное перед линзой 13 на подвижной рамке фотоэлектрического гальванометра 14, точечную диафрагму 15, фотоприемник 16, 4ункциональный преобразователь 17, источник 18 эталонного напр жени , электрическийблок 19дл измерени отношени эталонного напр жени к выходному напр жению функционального преобразовател 17 и генератор 20одиночных импульсов напр жени , подключенный к входу фотоэлектрического гальванометра 14. Гальванометр включег в цепь обратной св зи с фотоприемником 16, св занным , в свою очередь, с преобразователем 171 Точечна диафрагма 15 установлена в фокальной плоскости на оси линзы 13. При измерении контролируемое изделие 21 помещаетс перед прозрачной щелью 11. В плоскости диафрагмы 15 образуетс дифракционна картина, представл юща собой свет щуюс линшо, разделенную перпендикул рными ей темными полосами. Направлени м на минимумы освещенности пор дка от соответствуют утлы дифракции .jj . В центре экрана на оптической оси линзы 6 находитс дифракционный максимум нулевого лор дка, интенсивность которого уменьшаетс до нул в обе стороны от прозрачной точечной диафрагмы. Возникающий при этом на фотоприемнике 16 сигнал управл ет поворотом зеркала 12 до тех пор, пока дифракционный минимум первого пор дка в виде темной полосы не устанавливаетс , на экране против диафрагмы 15- Угол поворота зеркала 12, соответствующий положению .темной полосы на точечной диафрагме, , Пропорциональный углу электрический сигнал фотоприемника 16 подаетс на функциональный преобразователь 17, вырабатывающий напр жение, пропорциональное синусу удвоенного угла поворота зеркала 12, Сиг нал с преобр аово i-enf .1.7 подаетс ил элек- rt) КНЙ ОЛОК 19. lo.liylOHHfJO )ЯЖСМ1П равниваюг пдось с эталоттым и лр жепием пкалл измерител протр дуирован в пи нейных единицах, определпюншх размер кон тролируемого издели . Дл работы в более высоких дифракционных nopH- vax в момент прохождени очередного дифракционного минимума перед точечной диафрагмой 15 подают кратковременные импульсы напр жени на фотоэлектрический гальванометр 14 с помощью генератора импульсе 20. Точность измерени предложенным способом возрастает при работе с дифракционными минимумами более высоких пор дков . На результат измерени не вли ют ошибки дисторсии линзы, так как точечна диафрагма расположена на оптической оси лиизы и анализ дифракционной картины проводитс в центре пол зрени . Формула изобретени 1. Фотоэлектрический способ измерени линейных размеров издели , заключающийс в фотоэлектрическом анализе распределени освещенности ди(акционной картины, о т л и ч аюший с тем, что, с целью повышени точности и расширени диапазона из мерени , смещают минимум освещенности дифракционной картины на оптичеркую ось линhibi и по ИЛМОрОИНОМу yi ЛУ ППф||. iivrf-ii , ;соотвот пВую 1и1х naTipnonf-iiiiTii м,ч tu,n(i,-iFrin i i минимум освещенное: ги клрппП), )Г1|1оаел пт размер контролируемого издели . ;