SU512440A1 - Semiconductor device capacitance meter - Google Patents
Semiconductor device capacitance meterInfo
- Publication number
- SU512440A1 SU512440A1 SU2034623A SU2034623A SU512440A1 SU 512440 A1 SU512440 A1 SU 512440A1 SU 2034623 A SU2034623 A SU 2034623A SU 2034623 A SU2034623 A SU 2034623A SU 512440 A1 SU512440 A1 SU 512440A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- input
- voltage
- semiconductor device
- amplifier
- Prior art date
Links
Description
фильтр 7 высокой частоты -- к входам двух аналоговых запоминающих устройств 8 и 9. Выходы запоминающих устройств через переключатель 10 подсоединены к второму входу дифференциального усилител -ограничител 4, выход последнего - к управл ющему входу переключател 10. Формирователь 11 опорного интервала времени соединен с одним входом схемы 12 совпадени , второй ее вход - с выходом дифференциального усилител -ограничител 4, а выход - с входом счетчика 13.the high-pass filter 7 is connected to the inputs of two analog storage devices 8 and 9. The outputs of the storage devices are connected via switch 10 to the second input of differential limiting amplifier 4, the output of the latter is connected to the control input of switch 10. The reference time former 11 is connected to one the input of the coincidence circuit 12, its second input with the output of the differential amplifier-limiter 4, and the output with the input of the counter 13.
Перед начало:л измерени на р- -переход полупроводникового прибора 1, включенного в цепь отрицательной обратной св зи операционного усилител 2, подаетс через резистор R напр жение смещени от источника 3 опорного напр жени посто нного тока. Этим смещением задаетс режим работы исследуемого р-«-перехода по посто нному току. Эквивалентна схема р-/г-перехода полупроводникового прибора в случае подачи на него запирающего напр жени может быть представлена параллельным соединением резистора / обр со значением сопротивлени , равным обратному сопротивлению р- -перехода, и конденсатора С со значением емкости, равным полной емкости р- -перехода.Before the start: a measurement on the p-junction of the semiconductor device 1, connected to the negative feedback circuit of the operational amplifier 2, is supplied through the resistor R the bias voltage from the source 3 of the direct voltage reference. This offset determines the mode of operation of the p - «- DC transition under study. The equivalent p- / g-junction of a semiconductor device in the case of supplying a locking voltage to it can be represented by parallel connection of a resistor / arr with a resistance value equal to the inverse resistance of the p- junction and capacitor C with a capacitance value equal to the full capacitance p- -transition.
В установившемс режиме с выхода дифференциального усилител -ограничител 4 снимаетс напр жение U ±Eo, которое поступает на вход интегратора 5 и через опорный конденсатор 6 на вход операционного усилител 2. Напр жение на выходе операционного усилител 2 измен етс во времени по законуIn steady-state mode, the output of the differential amplifier-limiter 4 removes the voltage U ± Eo, which is fed to the input of the integrator 5 and through the reference capacitor 6 to the input of the operational amplifier 2. The voltage at the output of the operational amplifier 2 varies in time
ii
U2 0 - -Т ЕО - , RIСU2 0 - -T EO -, RIC
где и о - значение напр жени на выходе источника 3 опорного нап) женн посто нного тока;where and o is the value of the voltage at the output of the source 3 of the reference voltage of the direct current;
обр - значение сопротивлени /;-«.-перехода; С -значение измер емой емкостиarr - the value of the resistance; C is the value of the measured capacity
р-л-перехода;p-junction;
Со - значение емкости конденсатора G.Co is the value of the capacitor capacitance G.
Мапр женпе с выхода онсрацпонпого усилнтел 2 поступает на вход фильтра 7 высокой частоты, с выхода которого снимаетс 11ап) женисThe mains signal from the output of the onsphragus amplifier 2 is fed to the input of the high-frequency filter 7, the output of which removes 11ap)
ff
СоWith
J,, .J ,,.
Это напр жение подаетс па вход| 1 аналоговых запоминающих устройств 8 и 9.This voltage is applied to the input | 1 analog storage devices 8 and 9.
На выходе запоминающего устройства 8At the output of the storage device 8
..
образуетс напр жение U Е, а наa voltage U is formed, and
С.WITH.
выходе запоминающего устройства 9 - иапр / жение 5 + Эти напр жени ноступают на аналоговые входы переключател 10, управл емого импульсами с выхода дифференциального усилител -ограничител 4.the output of the memory device 9 - input / output 5 + These voltages are supplied to the analog inputs of the switch 10, controlled by pulses from the output of the differential limiting amplifier 4.
С выхода переключател 10 снимаетс на/From the output, switch 10 is removed at /
пр жение Us ,.us,
Это напр жение поступает на один вход дифференциального усилител -ограничител 4, на другой вход которого с выхода интегратора 5 проходит напр жениеThis voltage is fed to one input of the differential amplifier-limiter 4, to the other input of which from the output of the integrator 5 passes the voltage
и, Е,±Е, , ст иand, E, ± E,, Art and
где т„ - поето нна времени интегратора 5.where m is the time of the integrator 5.
Уравнение дл вывода формулы частоты колебаний можно записать, приравн в напр жение на входах дифференциального усилител -ограничител 4.The equation for deriving the oscillation frequency formula can be written, equating to the voltage at the inputs of the differential amplifier-limiter 4.
Частота генерируемых на выходе дифференциального усилител -ограничител пр моугольных импульсов определ етс выражениемThe frequency of the square-wave limiter generated at the output of the limiting amplifier is determined by
СWITH
t t
4СоТ„4CoT „
Формирователь 11 опорного интервала времени формирует опорный интервал времени Го, па врем которого открываетс схема 12 совпадени и в счетчике 13 фиксируетс числоShaper 11 of the reference time interval forms the reference time interval Go, at which time the coincidence circuit 12 opens and the number 13 is recorded in the counter 13
7V /. Т,- . 4Со-Ги7V /. T, -. 4So-Guy
Это число однозначно онредел етс значепнем измер емой емкости С р- -нерехода. Описываемое устройство может быть использовано дл измерени емкостей конденсаторов с больщими значени ми тангенса угла потерь.This number is unambiguously determined by the value of the measured capacitance of the C p-nexus. The described device can be used to measure capacitors with large values of loss tangent.
Ф о р м у л а и 3 о б р е т е н и FORUMUA AND 3 ABOUT AND
Измеритель емкости полупроводниковых приборов, содержащий источник напр жени смещени , резистор, включенный последовательно с испытываемым прибором, переключатель и конденсатор, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерений, содержит операционный усилитель, фильтр высокой частоты, аналоговые заноминающие устройства, дифференциальный усилитель-ограничитель , интегратор, формирователь временных интервалов, схему совпадени , счетчик , п)11чем клемлты дл подключени иснытывасмого нрибора включены в цепь обратной св зи операционного усилител , вход которого соединен через резистор с источником напр жени смещени и через конденсатор с выходом дифференциального усилител -ограничител , входом интегратора и унравл ющим входом переключател , а выход соединен с входом фильтра высокой частоты, к выходу которого подключены входы аналоговых запоминающих устройств, выходы которых COединепы с входами переключател , выход которого соединен с первым входом дифференциального усилител -ограничител , второй вход которого соединен с выходом интегратора, при этом один вход схемы совпадени соединен с формирователем временных ИнтерйалоЁ, второй вход соединен с входом интегратора, а выход - со счетчиком.A semiconductor capacitance meter, containing a bias voltage source, a resistor connected in series with the device under test, a switch and a capacitor, characterized in that, in order to improve measurement accuracy, it contains an operational amplifier, a high-frequency filter, analog memory devices, a differential limiting amplifier , integrator, time shaper, coincidence circuit, counter, p) 11Which clamps for connecting to a host, are included in the feedback circuit and an operational amplifier whose input is connected via a resistor with a bias voltage source and through a capacitor with an output of a differential amplifier limiting device, an integrator input and a switching input of the switch, and the output is connected to the input of a high-frequency filter, to the output of which analog inputs of memory devices are connected, the outputs of which are connected to the inputs of the switch, the output of which is connected to the first input of the differential amplifier-limiter, the second input of which is connected to the output of the integrator, with In this case, one input of the coincidence circuit is connected to the time inter forge driver, the second input is connected to the integrator input, and the output is connected to a counter.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2034623A SU512440A1 (en) | 1974-06-17 | 1974-06-17 | Semiconductor device capacitance meter |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU2034623A SU512440A1 (en) | 1974-06-17 | 1974-06-17 | Semiconductor device capacitance meter |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU512440A1 true SU512440A1 (en) | 1976-04-30 |
Family
ID=20587953
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU2034623A SU512440A1 (en) | 1974-06-17 | 1974-06-17 | Semiconductor device capacitance meter |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU512440A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4551674A (en) * | 1982-11-12 | 1985-11-05 | At&T Bell Laboratories | Noncontacting conductivity type determination and surface state spectroscopy of semiconductor materials |
-
1974
- 1974-06-17 SU SU2034623A patent/SU512440A1/en active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4551674A (en) * | 1982-11-12 | 1985-11-05 | At&T Bell Laboratories | Noncontacting conductivity type determination and surface state spectroscopy of semiconductor materials |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3500200A (en) | Electronic wattmeters utilising an amplitude and width modulated pulse train | |
US3530379A (en) | Capacitance measuring apparatus utilizing voltage ramps of predetermined slope | |
SU512440A1 (en) | Semiconductor device capacitance meter | |
EP0228809B1 (en) | Electromagnetic flowmeters | |
JPS63139258A (en) | High resistance measuring device | |
SU699455A1 (en) | Arrangement for measuring semiconductor devices capacity | |
RU2168729C1 (en) | Capacitive converter | |
US3771057A (en) | Method and apparatus for measuring impedance in the presence of unwanted signals | |
SU1372249A1 (en) | Transducer parameters-to-oscillation period converter | |
SU96063A1 (en) | Device for measuring welding time | |
SU898342A1 (en) | Conductometric pickup resistance meter | |
SU378928A1 (en) | METHOD OF SIMULTANEOUS MEASUREMENT OF PARAMETERS | |
SU69067A1 (en) | Lamp megohmmeter | |
SU496499A1 (en) | Electrical measuring instrument | |
SU550592A1 (en) | Measuring capacitors capacitors, shunted resistors | |
SU362263A1 (en) | ALL-UNION ' | |
SU508755A1 (en) | Converter capacitor parameters in the code | |
SU236628A1 (en) | METHOD OF MEASURING TUNNEL DIODE CAPACITY | |
SU494710A1 (en) | Device for measuring the saturation flux of thin ferromagnetic films | |
SU645098A1 (en) | Capacitance measuring method | |
SU1741044A1 (en) | Concentration capacitance meter | |
SU1229560A1 (en) | Displacement-to-relative pulse duration converter | |
SU1026084A1 (en) | Single pulse duration measuring device | |
SU788019A1 (en) | Low frequency measuring device | |
SU470766A1 (en) | Automatic meter of effective capacitance and capacitance loss tangent |