SU468139A1 - Method of standard measurement of single crystal lattice parameters - Google Patents
Method of standard measurement of single crystal lattice parametersInfo
- Publication number
- SU468139A1 SU468139A1 SU1948044A SU1948044A SU468139A1 SU 468139 A1 SU468139 A1 SU 468139A1 SU 1948044 A SU1948044 A SU 1948044A SU 1948044 A SU1948044 A SU 1948044A SU 468139 A1 SU468139 A1 SU 468139A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- single crystal
- crystal lattice
- lattice parameters
- standard measurement
- crystal
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
(54) СПОСОБ ЭТАЛОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАЛАЕТРОВ РЕШЕТКИ(54) METHOD FOR BENCHMARKING OF PARAMETER GRILLES
МОНОКРИСТАЛЛОВ 12 Исход щие из одного источника рентг&новские лучи падают одновременно на все кристалл-монолроматоры, отража сь от которых сход тс на контролируемом участке исследуемого кристалла. Исследуемый кристалл поворачивают вокруг оси, перпендикул рной плоскости, в которой лежат падающие на него и отраженные от него рентгеновские лучи. Ре- женные от Heio рентгеновские лучи, гистрирующее устройство каждого детектора записьюает кривую отражени с одним из регистрируемьис брэгговских максимумов. Раздельна запись исключает наложение брэгговских максимумов, а обща координат на ось углов поворота исследуемого кри- сталла позвол ет непосредственно измер ть углы между ними, равные искомым приращени м разности брэгговских углов отражени рентгеновских лучей от исследуемого монокристалла. Дополнительно оказываетс возможным получать информацию о формах кривых браг- говских максимумов различных углов отражени без перестройки рентгеновского спектрометра. В качестве примера рассмотрим определение относительной деформации атомнойMONOCRYSTALS 12 X-rays originating from a single source & new rays fall simultaneously on all crystal monolators, reflecting from which they converge in a controlled area of the crystal under study. The investigated crystal is rotated around an axis perpendicular to the plane in which the X-rays falling on it and reflected from it lie. X-rays, generated from Heio, the histrating device of each detector records a reflection curve with one of the recorded Bragg maxima. Separate recording eliminates the overlap of Bragg maxima, and the total coordinates on the axis of the rotation angles of the crystal under study make it possible to directly measure the angles between them, equal to the desired increments of the difference between the Bragg angles of reflection of X-rays from the single crystal under investigation. In addition, it is possible to obtain information on the shapes of the Bragg maxima of various reflection angles without restructuring the X-ray spectrometer. As an example, consider the definition of the relative atomic deformation
решетки исследуемого кристалла.lattice of the investigated crystal.
Дифференциру формулу Вульфа - Брэгга 2б,81пв 1 Лдл углов 0 и Q ,Differential formula Wulf - Bragg 2b, 81pv 1 Ldl angles 0 and Q,
принадлежащих различным пор дкам отражени от одной системы кристаллографических плоскостей, находимbelonging to different order of reflection from one system of crystallographic planes, we find
(1)(one)
AQr -AQr -
КОБ под углами соответствующими различным брэгговским углам, производ т поворот исследуемого кристалла и измер ют угол между его отражающими положени ми.The BER is at angles corresponding to different Bragg angles, the crystal under study is rotated, and the angle between its reflecting positions is measured.
2. Способ по п. 1, отличающис тем, что на исследуемый кристалл фокусируют пучки под углами, соответствующими различным пор дкам отражени от одной системы кристаллографических плоскостей . Лв2 Отсюда дА дв2.Аб d - tgeg-tge Угол между отражающими положени ми . i ол . d следуемого кристалла Д +д92-ДО о условию эксперимента (знак + выбирают Б зависимости от направлени поворота кристалла). Окончательно получаем Д«Д- - Д f d igQa-tge-i Предмет изобретени 1. Способ эталонного измерени параметров решетки монокристаллов по методу двух- кристального спектрометра, отличающийс тем, что, с целью повыщени точности измерений, на выбранной точке исследуемого кристалла одновременно фокусируют не менее двух рентгеновских пуч-2. A method according to claim 1, characterized in that beams are focused onto the crystal under study at angles corresponding to different reflection orders from one system of crystallographic planes. Le2 From here dA dv2.Ab d - tgeg-tge The angle between the reflecting positions. i ol. d of the following crystal D + D92-DO of the experimental condition (the + sign is chosen depending on the direction of crystal rotation). Finally, we get D "D- - D fd igQa-tge-i. Subject of the Invention 1. A method of standard measurement of the lattice parameters of single crystals by the two-crystal spectrometer method, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, at the selected point of the crystal under study, not less than two x-ray beams
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1948044A SU468139A1 (en) | 1973-07-24 | 1973-07-24 | Method of standard measurement of single crystal lattice parameters |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU1948044A SU468139A1 (en) | 1973-07-24 | 1973-07-24 | Method of standard measurement of single crystal lattice parameters |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU468139A1 true SU468139A1 (en) | 1975-04-25 |
Family
ID=20561170
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU1948044A SU468139A1 (en) | 1973-07-24 | 1973-07-24 | Method of standard measurement of single crystal lattice parameters |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU468139A1 (en) |
-
1973
- 1973-07-24 SU SU1948044A patent/SU468139A1/en active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2694049B2 (en) | Method for obtaining an image of the internal structure of an object | |
| US3940626A (en) | Detection of radiation in radiographic apparatus | |
| Lider et al. | X-ray phase-contrast methods | |
| US2688094A (en) | Point-focusing X-ray monochromator for low angle x-ray diffraction | |
| US4153839A (en) | Radiography | |
| US4043670A (en) | Spectrometer and method of examining spectral composition of light | |
| SU468139A1 (en) | Method of standard measurement of single crystal lattice parameters | |
| JPH0374360B2 (en) | ||
| KR920003050A (en) | Inspection method of external phase precipitate of single crystal material | |
| US2870337A (en) | X-ray diffraction system | |
| JP2001033406A (en) | X-ray phase difference image pickup method and device | |
| US2887585A (en) | X-ray diffraction method and apparatus | |
| US3812359A (en) | Exoatmospheric environmental test apparatus | |
| SU522458A1 (en) | X-ray three-crystal spectrometer | |
| SU898302A1 (en) | X-ray spectrometer for investigating monocrystal structural perfection | |
| SU441490A1 (en) | Method for determining internal stresses in single crystals | |
| SU542128A1 (en) | Method for X-ray crystal structure investigation | |
| SU920480A1 (en) | X-ray tv spectrometer | |
| RU97100573A (en) | METHOD FOR PHASE X-RAY X-RAYGRAPHY OF PREFERREDLY MEDICAL-BIOLOGICAL OBJECTS AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION (OPTIONS) | |
| SU857816A1 (en) | X-ray spectrometer | |
| Fischer et al. | A single-crystal X-ray diffractometer for white synchrotron radiation with solid state detectors: energy dispersive Laue (EDL) instrument at HASYLAB, Hamburg/Germany | |
| SU487338A2 (en) | X-ray spectrometer | |
| SU842519A1 (en) | Method of mono-crystal lattice parameter relative measuring | |
| JPS6180032A (en) | Apparatus for analyzing depth direction of monocrystal | |
| JPH0695080B2 (en) | X-ray diffractometer |