SU443292A1 - Рентгеновский микрозондовый анализатор - Google Patents

Рентгеновский микрозондовый анализатор

Info

Publication number
SU443292A1
SU443292A1 SU1773687A SU1773687A SU443292A1 SU 443292 A1 SU443292 A1 SU 443292A1 SU 1773687 A SU1773687 A SU 1773687A SU 1773687 A SU1773687 A SU 1773687A SU 443292 A1 SU443292 A1 SU 443292A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
analyzer
detector
intensity
ray
crystal
Prior art date
Application number
SU1773687A
Other languages
English (en)
Inventor
А.А. Бабад-Захряпин
Е.В. Борисов
Original Assignee
Предприятие П/Я А-1857
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-1857 filed Critical Предприятие П/Я А-1857
Priority to SU1773687A priority Critical patent/SU443292A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU443292A1 publication Critical patent/SU443292A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Изобретение относитс  к уикрозондовш рвшгеновским анализатораы и иовех найти приыенецив в тех област х техники, где требуетс  знание характере распределени  концентрации в твердом теле и,в частности, распределение концентрации диффузанта в диффузионной зоне матрицы . Известны ыикрозовдовые рент геновские анализаторы, с помощью которых создаетс  сфокусированный на изучаемой поверхности пучок ускоренных злектронов и производитс  анализ рентгеновского излучени , возбу даемого этим , либо вы вл етс  характер изменени  интенсивности выбранной спектральной линии в зависимости от положени  элэкт ронного пучка на изучаемой поверхности . Известное устройство состоит из вакуумной камеры, внутри которой размещены устройс ва дл  получени  сфокусированного электронного пучка, держатель исследуемого- объекта, гониометрическое устройство дл  креплени  кристалл-анализатора рентгеновского излучени  и детектора ИНТ6ЫСИВНОСТК линий рентгеновского спектра, механический счетчик, св занный с кристалл-анализатором , показани  которого проградуированы в длинах волн, привод устройства дл  измерени  положени  кристалл-анализатора и детектора вручную - при помощи ручки настройки или мотором устр01г1ства дл  перемещени  пучка ускоренных электронов по изучаемой поверхности, устройств дл  регистрации изменени  интенсивности выбранной линии (в зависимости от положени  пучка ускоренных электронов на изучаемой поверхности), устройств дл  поддержани  вакуума в рабочей камыере , многоканальных самописцев И источников элбкхропитани  эо@х узлов в известных усхройст ах вб учитываетс  возиожность изивнени  длины волны характеристичеокого спектра в результате изуенеНИЯ электронного состо ни  afOlfOB в присутствйш сторонних атомоБ. Целью изобретени   вл етс  устранение этого недостатка и, следовательно, повышение точност и надежности информации, выдававмри микроанализаторои, а также получение дополнительных сведений об изменении электроаиого состо ни  диффуаанта. Поставленна  цель достигаетс  тем, микроаыализатор снабжен устройством, ПОЗВОЛЯЮ1ЩШ измен ть положение кристалл-анализатора и детектора интенсивности выбранной спектральной линии сишс ронно с изменением длины волны этой линии В качестве такого устройства ыожет быть использована система, измен юща  положенив кристалланализа-гора и детектора в соответствии с изменением длины волны излучаемой регистрируемым злементом . На чертеже приведена схема предложенного рентгеновского микроанализатора. Перед выполнением анализа в ,1акуум11ой камере I вместо образда 2 устанавливаетс  зталонный образец. В эталонном образце под воздействием злектронного пучка возоуждаетс  рентгеновское харак теристическое излучение, на определенную длину волны которого настраиваетс  ручкой 3, либо мото ром 4 кристалл-анализатор 5 и де Гектор 6 таКд чтобы интенсиметр 7 и самописец 8 регистрировали максимальную интенсивность, фиксируе йую детектором 6, После зтого эталонный образец замен етс  иссл дуемым образцом. Включаетс  систе ма, состо ща  из усилителей 9 и 10, блока II сравнени  сигналов индикатора разбаланса 12, системы реле 13, при этом система реле 13 отключает в интенсиметре V блок пересчетного устройс::ва дл  рагисафации числа ивдльсОв, поступающих о детектора б, и отк лючает самописец 8, но включает Hosop 4, который измен ет положе ние кристалл-анализатора 5 и детектора б. При перемещении кристалл-анализатор и детектор роходат через положение характеизующеес  точной настройкой на ребуемую длину волны спектральой линии. В положении точной настройки интенсивность излучени  иксируема  детектором, имеет аксимальную величину. Сигнал, оступающий в детектора в виде импульсов, в интенсиметре на индикаторе интенсивности преобразуетс  в напр жение посто нной пол рности о амплитудой, мен ющейс  в соответствии с изменением сигнала от детектора. Преобразованный сигнал подаетс  на входы усилителей 9 и 1и В усилителе 9 на накопительном элементе (например, емкости) в моментперехода кристалл-анализатором 5 и детектором 6 в по.лОжение точной настройки создаетс  напр жение, соответствующее максимальному сигналу, Максимальное напр жение в усилителе 9 сохран етс  с помощью злектронного реле в течение времени , достаточного дл  точной регистрации интенсивности излучений . Напр жение в усилителе 10 мен етс  в зависимости от изменени  сигнала интенсиметра 7. Выходные сигналы с усилителей 9 и 10 поступают на блок сравнени  II, выполненный, например, в виде электронного моста. Сигнал разбаланса через индикатор разбаланса 12 с помощью системы реле 13 включает мотор 4, обеспечива  его вращение в такую сторону, чтобы на индикаторе разбаланса создалс  минимальный по величине сигнал, т.е. осуществл етс  точна  настройка кристалл-анализатора на требуемую длину волны. При сигнале разбаланса минимальной величины система реле 13 выключает на задан ный промежуток времени мштор 4, включает блок пересчетного устройства интенсиметра 7 и самописец 8, Производитс  регистраци  интенсивности излучени  образца. ПРЕДМЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ Рентгеновский микрозондовый ана лизатор, содержащий вакуумную каме ру с устройством дл  формировани  злектронного зонда и держателем исследуемого материала, гониомвтоичвское устройство с кристалланализатороу и детектором, механизм перемещени  здвктронного зонда, интенсиметр и электронную схему
регистрации, отличающийс  тем, что, с целью повышени  точ ности анализа, он снабжен устройством настройки, состо щим из блока сравнени  сигналов интвнсиыетрс при изменении длины волны спектральной линии и исполнительного приспособлени .
SU1773687A 1972-04-17 1972-04-17 Рентгеновский микрозондовый анализатор SU443292A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1773687A SU443292A1 (ru) 1972-04-17 1972-04-17 Рентгеновский микрозондовый анализатор

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1773687A SU443292A1 (ru) 1972-04-17 1972-04-17 Рентгеновский микрозондовый анализатор

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU443292A1 true SU443292A1 (ru) 1974-09-15

Family

ID=20510912

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1773687A SU443292A1 (ru) 1972-04-17 1972-04-17 Рентгеновский микрозондовый анализатор

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU443292A1 (ru)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US3229198A (en) Eddy current nondestructive testing device for measuring multiple parameter variables of a metal sample
GB1525488A (en) Method and apparatus for spectrometric analysis of fine grained minerals and other substances using an electron bea
US3032654A (en) Emission spectrometer
US3198944A (en) X-ray emission analyzer with standardizing system and novel switch means
US4226537A (en) Analytical centrifuge with improved signal/noise ratio
US4016419A (en) Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer
US2286985A (en) Analysis of gas mixtures
US3812355A (en) Apparatus and methods for measuring ion mass as a function of mobility
US2380439A (en) Mass spectrometer
US2419208A (en) Ultra high frequency wave meter
SU443292A1 (ru) Рентгеновский микрозондовый анализатор
US2954474A (en) Measuring
US3540825A (en) Double beam spectrometer readout system
US3435239A (en) Radiation absorption tester using rc network to simulate absorption function
US3376415A (en) X-ray spectrometer with means to vary the spacing of the atomic planes in the analyzing piezoelectric crystal
US3079499A (en) X-ray beam intensity responsive sequential spectrometer
US2758215A (en) Pulsed stabilized infra-red detection system
US3204097A (en) Method of X-ray spectographic analysis of a mixture of solid particles and liquid
US2241371A (en) Method and apparatus for determining the wave form of a periodic electrical impulse
US3441349A (en) Optical apparatus for measuring the light transmission of a sample body
US3531715A (en) Methods and apparatus for examination and measurement by means of nuclear magnetic resonance phenomena
US4546488A (en) X-Ray analysis apparatus with pulse amplitude shift correction
US3102155A (en) Background compensation for spectrometers used in quantitative spectrochemical studies
US3513467A (en) Function generator circuit
US3183764A (en) Automatic slit control for analyzers