SU438944A1 - Устройство дл разбраковки полупроводниковых приборов по импульсным параметрам - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к устройствам дл  измерени  импульсных параметров полупроводниковых приборов в режиме феррит-транзисторной  чейки (ФТЯ).

При производстве транзисторов дл  ФТЯ измер емыми импульсными параметрами  вл ютс ; длительность нарастани  импульса коллекторного тока ton, длительность вершины импульса коллекторног тока to-u и длительность спада импульса коллекторного тока о Разбраковку полупроводниковых приборов по импульсным параметрам можно осуществить посредством измерени  параметров и оценки их оператором. Така  разбраковка малопроизводительна, неточна и не поддаетс  автоматизации.

Целью изобретени   вл етс  автоматизаци  процесса разбраковки транзисторов по импульсным параметрам, обеспечивающа  высокую точность и производительность.

Поставленна  цель достигнута использованием дешифратора, входы которого соединены с выходами амплитудных квазиселекторов, а выход соединен с индикатором и коммутатором базовых резисторов.

На чертеже приведена блок-схема предложенного устройства дл  разбраковки полупроводниковых приборов.

Устройство работает следующим образом.

ФТЯ на испытуемом транзисторе 1 выдает трапециевидные импульсы, параметры которых завис т от переключаемых сопротивлений в цепи базы испытуемого транзистора. Эти трапециевидные импульсы поступают на дифференцирующие цепи 2, 3 и ограничитель 4. С выхода дифференцирующей цепи 2 импульсы , амплитуда которых пропорциональна ton, поступают на усилитель 5 и затем на квазиселектор 6. Если /on соответствует заданной длительности фронта, на дешифратор 7 подаетс  сигнал о годности данного транзистора по tonС выхода дифференцирующей цепи 3 импульсы , амплитуда которых пропорциональна toff, инвертируютс  и поступают на усилитель 8, а затем на квазиселектор 9. Если toji соответствует заданной длительности спада, на дешифратор подаетс  сигнал о годности данного транзистора по /о//.

При разбраковке транзисторов по tov трапециевидные импульсы ограничиваютс  снизу на уровне 0,9 U ограничителем 4. С выхода ограничител  4 трапециевидные импульсы, длительность которых равна tov, подаютс  на триггер Шмидта 10 дл  преобразовани  в пр моугольные импульсы длительностью tov Эти импульсы управл ют генератором пилообразного напр жени  11. Дл  увеличени  разрешающей способности устройства, пилообразные импульсы, амплитуда которых пропорциональна tov, ограничиваютс  снизу ограничителем пилообразных импульсов 12. Затем эти импульсы усиливаютс  усилителем 13 и поступают на амплитудный квазиселектор 14.

Если величина о-у соответствует заданной величине длительности вершины, на дешифратор 7 поступает сигнал о годности транзистофа по tov.

Если величины параметров ton, tov и о// соответствуют заданным, индикатор 15 в зависимости от сопротивлени  в цепи базы фиксирует группу прибора. Синхронно с выключателем сопротивлений в цепи базы испытуемого транзистора ФТЯ коммутируетс  и цепь индикатора 15. После иахождени  сопротивлени , при котором параметры ton, tov и toff соответствуют заданным, переключатель сопротивлений 16 останавливаетс .

Пределы разбраковки установки задаютс  опорными напр жени ми компарторов амплитудных квазиселекторов. Количество амплитудных квазиселекторов зависит от числа диапазонов параметров ton, tov и toff.

Предмет изобретени 

Устройство дл  разбраковки полупроводниковых приборов по импульсным параметрам,

содержащее преобразователь длительности импульса в амплитуду, преобразователь фронта импульса в амплитуду, преобразователь спада импульса в амплитуду и амплитудные квазиселекторы, отличающеес  тем, что,

с целью автоматизации процесса измерений, оно содержит дешифратор, входы которого соединены с выходами амплитудных квазиселекторов , а выход соединен с индикатором и коммутатором базовых резисторов.