SU438044A1 - Photodiode switching matrix storage element - Google Patents

Photodiode switching matrix storage element

Info

Publication number
SU438044A1
SU438044A1 SU1834110A SU1834110A SU438044A1 SU 438044 A1 SU438044 A1 SU 438044A1 SU 1834110 A SU1834110 A SU 1834110A SU 1834110 A SU1834110 A SU 1834110A SU 438044 A1 SU438044 A1 SU 438044A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
photodiode
diode
storage element
switching matrix
matrix
Prior art date
Application number
SU1834110A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Игорь Анатольевич Шилов
Виктор Константинович Гусев
Original Assignee
Предприятие П/Я А-3162
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я А-3162 filed Critical Предприятие П/Я А-3162
Priority to SU1834110A priority Critical patent/SU438044A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU438044A1 publication Critical patent/SU438044A1/en

Links

Landscapes

  • Electronic Switches (AREA)

Description

(54) ЗАПОЛ ННАЮЩИЙ ЭЛЕМЕНТ ДЛЯ КОММУТИРУЕМОЙ МАТРИЦЫ ФОТОДИОДОВ(54) COMPLETE KNOWN ELEMENT FOR COMMUTED MATRIX OF PHOTO DIODES

1one

Изобретение относитс  к устройствам счиЧывани  оптической информации, записанной в двоиЧНом коде.The invention relates to devices for reading optical information recorded in a binary code.

Известна коммутируема  фотодиодна  матрица, каждым элементом которой  вл ютс  последовательио соединенные коммутирующий диод и фотодиод, работающий -в режиме накоплени  зар да, причем коммутирующий диод и фотодиод включены встречаю друг ДрЗгу.A known switched photodiode array, each element of which is a series of connected switching diode and photodiode, operating in charge accumulation mode, with the switching diode and photodiode being switched on meeting each other.

Однако в р де случаев чувствительность такого элемента может быть недостаточной. Так, при малой величине зар да, накоплен-ного на емкости фотодиода, коммутирующий диод оказываетс  слабо смещенным в пр мом направлении во врем  действи  опрашиваюп;его элемент матрицы импульса, п ток, протекающий через пего, может быть недостаточны .м дл  передачи за врем  действи  этого импульса всего накопленного зар да через шину считывани  к усилителю с пороговым устройством. Сигнал, получае.мый в этом случае , может оказатьс  слишком малым дл  падежного срабатывани  порогового устройства .However, in some cases the sensitivity of such an element may be insufficient. So, with a small amount of charge accumulated on the photodiode capacitance, the switching diode is slightly biased in the forward direction during the interrogation; its element of the pulse matrix, the current flowing through it, may be insufficient for transmission in time the effect of this impulse of all accumulated charge through the readout bus to the amplifier with a threshold device. The signal received in this case may be too small for the threshold device to be case case.

Целью изобретени   вл етс  повышение чувствительности запоминающего элемента матрицы дл  обеспечени  надежного считывани  Информации при малых величинах накопленных разр дов. Дл  этого к точке соединени  коммутирующего диода и фотодиода подключен дополнительный диод, через который перед началом каждого ци.кла накоплени  подаетс  импульс, смещающий потенциалThe aim of the invention is to increase the sensitivity of the storage element of the matrix to ensure reliable reading of information at small accumulated bits. For this, an additional diode is connected to the junction point of the switching diode and the photodiode, through which, prior to the beginning of each accumulation cycle, a pulse is given, a bias potential

на емкости фотодиода в сторону, облегчающую -последующее открывание коммутирующего диода при опросе матрицы.on the capacity of the photodiode in the direction that facilitates the subsequent opening of the switching diode when polling the matrix.

Схема предлагаемого элемента приведена па чертеже.The scheme of the proposed element shown PA drawing.

Элемент состоит из встречно включенных коммутирующего диода 1 и фотодиода 2, анод которого подключен через п.1ииу опроса 3 к формирователю импульсов опроса 4, общему дл  всех элементов одного столбца матрицы.The element consists of counter-switched commutating diode 1 and photodiode 2, the anode of which is connected via p. 3 of interrogation 3 to interrogator of interrogation pulses 4, common to all elements of one column of the matrix.

.А.ПОД ком.мутирующего диода I через шину считывани  5 нодключен к усилителю 6 с пороговым устройством 7, o6nuiM дл  элементов одной строки 1матрнцы. К точке соединени  ){оммутирующего диода 1 и фотодиода 2 подключей апод дополнительного диода 8, катод которого соединен через шину смещени  9 с источником импульсов смещени  10 и через резистор с источником запираюпдсго напр жени  Е..A.POD of the commutating diode I via the read bus 5 is connected to the amplifier 6 with the threshold device 7, o6nuiM for the elements of one line 1 matr. To the connection point {ohmutating diode 1 and photodiode 2, connect the apode of the additional diode 8, the cathode of which is connected via the bias bus 9 to the bias pulse source 10 and through a resistor to the lock source voltage E.

Шина смещени  обща  дл  :5сех элементов матрицы. Пол рность включени  диодов .может быть заменена па обратную. При этом мен етс  пол рность импульсов и потенциалов . Ко.ммутирзющнй диод и фотодиод могутShift bus common for: 5 all matrix elements. The polarity of the inclusion of the diodes. Can be replaced by the reverse pas. This changes the polarity of the pulses and potentials. A co-current diode and photodiode can

быть взаимно переставлены, при этом следует изменить пол рность импульса опроса.be mutually permuted, and the polarity of the polling pulse should be changed.

При подаче иа элемепт матрицы импульса опроса и оп аплитудой емкость фотодиода зар дитс  через коммутирующий диод до напр жени , близкого к Uoi. После прохождени  импульса ОПроса на матрицу подаетс  оптическое изображение, и начинаетс  цикл накоплени  фотозар да, во врем  которого происходит уменьшение -напр жеирш на емкости фотодиода. Между импульсом опроса и начало .м цикла накоплени  от источника импульсов смещени  10 поступает импульс, во врем  которого дополнительный диод 8 отпираетс . В остальное врем  диод 8 заперт. Величина имп льса смещени  выбираетс  такой, чтобы после его прохождени  напр жение на е-мкости фотодиода было уменьшено на -величину , достаточную дл  надежного отпи-рани  коммутирующего диода после окончани  цикла накоплени  во врем  опроса независимоWhen an interrogation pulse matrix is applied and the optic capacitance is absorbed, the photodiode capacitance is charged through the switching diode to a voltage close to Uoi. After the passage of the Poll pulse, an optical image is applied to the matrix, and the photozar accumulation cycle begins, during which a decrease occurs in the photochip on the photodiode capacitance. Between the polling pulse and the beginning of the accumulation cycle from the source of the bias pulse 10, a pulse arrives during which the additional diode 8 is unlocked. The rest of the time diode 8 is locked. The magnitude of the bias impulse is chosen so that after its passage the voltage on the photodiode e-capacitance is reduced by a value sufficient to reliably unlock the switching diode after the end of the accumulation cycle during the interrogation

от того, насколько уменьшилось напр жение на емкости фотодиода за счет разр да фототоком . Таким образом, предлагаемый элемент в отличие от известного обеспечивает передачу на шину считывани  любого сколь угодно малого накопленного фотозар да.on how much the voltage on the photodiode capacitance has decreased due to the photocurrent discharge. Thus, the proposed element, in contrast to the known, provides for the transfer to the readout bus of any arbitrarily small accumulated photo charge.

Предмет изобретени Subject invention

Запоминающий элемент дл  коммутируемой матрицы фотодиодов, содержащий встречно включенные коммутирующий диод и фотодиод , анод которого подключен к щиие опроса , а анод коммутирующего диода через шинуA storage element for a switched matrix of photodiodes containing a switching-on switching diode and a photodiode, the anode of which is connected to the interrogation and the anode of the switching diode via the bus

считывани  и усилитель - к пороговому элементу , отличающийс  тем, что, с целью увеличени  чувствительности элемента, он содержит дополнительный диод, анод которого подключен к катодам коммутирующего диодаreadout and amplifier - to a threshold element, characterized in that, in order to increase the sensitivity of the element, it contains an additional diode, the anode of which is connected to the cathodes of the switching diode

и фотодиода, а катод к источнику отрицательных импульсов, общему дл  матрицы.and the photodiode, and the cathode to the source of negative pulses, common to the matrix.

II

SU1834110A 1972-10-04 1972-10-04 Photodiode switching matrix storage element SU438044A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1834110A SU438044A1 (en) 1972-10-04 1972-10-04 Photodiode switching matrix storage element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1834110A SU438044A1 (en) 1972-10-04 1972-10-04 Photodiode switching matrix storage element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU438044A1 true SU438044A1 (en) 1974-07-30

Family

ID=20528619

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1834110A SU438044A1 (en) 1972-10-04 1972-10-04 Photodiode switching matrix storage element

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU438044A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6525304B1 (en) Circuitry for converting analog signals from pixel sensor to a digital and for storing the digital signal
US7326903B2 (en) Mixed analog and digital pixel for high dynamic range readout
US4948966A (en) Method for the reading of photosensitive cells of the type comprising two series-mounted diodes with different directions of conduction
US4490037A (en) Image sensor and rangefinder device having background subtraction with bridge network
KR101986970B1 (en) A digital unit cell having an analog counter element
US7541964B2 (en) Analogue/digital converter microelectronic device for equalising charges
US20160028984A1 (en) Pixel circuit with constant voltage biased photodiode and related imaging method
JP2015216614A (en) Light-detecting device using conversion of optical radiation on switching diode and method thereof
US4906855A (en) Photosensitive matrix with two diodes per dot without specific resetting conductor
US4529886A (en) Image sensing apparatus
KR20200098594A (en) Method for digital shift registers in pixel unit cells
JP2743426B2 (en) Photosensitive matrix with three diodes per dot without optical reset operation
KR940006394A (en) Solid state imaging device
EP0352767B1 (en) Solid-state image pickup device having shared output line for photoelectric conversion voltage
CN101569177B (en) Solid-state imaging device
US20100194951A1 (en) Image sensing microelectronic device with asynchronous analog-to-digital converter
US20020109072A1 (en) Optical pulse counting imager and system
SU438044A1 (en) Photodiode switching matrix storage element
CN114125208B (en) Image sensing device and processing circuit arranged in pixel unit
US4985619A (en) Photosensitive matrix with two diodes of the same bias and one capacitor per photosensitive dot
KR102012343B1 (en) Pixel Circuit and Image Sensing System
KR100507879B1 (en) Unit pixel of cmos image sensor
JP2589747B2 (en) Solid-state imaging device and driving method thereof
SU1112577A1 (en) Reversible optronic module
JPH0215147B2 (en)