SU425139A1 - Устройство для измерения параметров транзисторов - Google Patents

Description

1

Изобретение относитс  к технике измерени  транзисторов в дииамическом режиме.

Известно устройство дл  измерени  параметров транзисторов в динамическом режиме, содержащее генератор, формирователь тестового сигнала с подключенным к его выходу задающим базовый ток резистором и нагрузкой в цени коллектора измер емого транзистора , состо щей .из двух последовательно соединенных резисторов, к средней точке которых подключен источник опорного на пр жепи .

Однако при .использованни известного устройства не может быть обеспечена высока  точность из: 1ерени  параметров транзисторов.

Цель изобретени  - повыщепие точности и расщирение пределов измерени .

Это достигаетс  тем, что резисторы коллекторной нагрузки включены коллекторным выводом и щиной «земл , средн   точка между резисторами коллекторной нагрузки соединена через иервый переключатель , .например пол ризованное реле, с выходом формировател , а эмиттерный вывод через первый и второй переключатель соединен с выходом формировател  или шиной «земл .

На чертеже представлена блок-схел1а предлагаемого устройства.

Устройство состоит из генератора /, формировател  2 тестового сигнала, резистора 3,

включенного между -выходом 4 формировател  2 и базовым выводом 5 .измер емого транзистора 6, резисторов 7 и 8, включенных последовательно между коллекторным выводом 9 и шпной «земл , ключей W и 11, элементов 12 и 13 управлени  ключами.

Устройство работает следующим образом. Тестовый сигнал на выходе 4 формировател  2 имеет форму двухпол рных пр моугольных импульсов. И.мпульсы положительной пол рности поступают на токозадающий базовый резистор 3, на элементы 12 и 13 управлени  ключам.и. При этом ключ 10 соедин ет выход 4 со средней точкой коллекториых резисторов 7, 8, а ключ // - эмиттерпый вывод с «землей. Транзистор 6 открываетс . Ток коллектора транзистора определ етс  резистором 7. Тестовые импульсы отрнцательной пол рности поступают на те же элементы.

При этом ключ 11 отключает эмиттерный вывод 14 от «земли, а ключ 10 отключает вывод 4 от средней точки коллекторной нагрузки и подключает его к эмиттерному выводу 14. Транзистор 6 закрыт. Выходной сигнал, снимаемый с коллекторного вывода 9 лзмер емого транзистора 6, представл ет собой двухпол рные импульсы. Амплитуда положительной пол рности выходных импульсов равна напр жению пасыщени  измер емого транзистора.

Амплитуда отрицательиой пол рности выход3

ных И1мпульсов равна падению напр жени  на резисторах 7 и 5 от остаточного тока закрытого измер емого транзистора 5.

В предлагаемом устройстве выходные сигналы , соответствующие параметрам открытого и закрытого транзистора, отсчитываютс  от нулевого уровн , что позвол ет примен ть измерительные средства с большим усилием. За счет этого точность измерени  параметров в предлагаемом устройстве повышаетс .

В устройстве разделенна  коллекторна  Нагрузка (резисторы 7 и 8) позвол ет, измен   величины сопротивлений резисторов 7 и 8, отдельно задавать ток коллектора (резистором 7) открытого транзистора и падение напр жени  от лротекаюшего остаточного тока закрытого транзистора (резистором 8).

Предмет изобретени 

Устройство дл  измерени  параметров транзисторов, содержаш,ее генератор, формирователь тестового сигнала с подключенным к его выходу задающим базовый ток резистором и последовательно соединенные резисторы нагрузки в цепи коллектора испытуемого транзистора, отличающеес  тем, что, с целью новышени  точности и расширени  пределов измерени  параметров, резисторы коллекторной нагрузки включены между коллекторным выводом и шиной «земл , средн   точка между резисторами коллекторной нагрузки соединена через переключатель, например пол ризованное реле, с выходом формировател , а эмиттерный вывод через первый н второй переключатель соединен с выходом формировател  или шиной «земл .

EL

d

KID-