SU415625A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU415625A1
SU415625A1 SU1791497A SU1791497A SU415625A1 SU 415625 A1 SU415625 A1 SU 415625A1 SU 1791497 A SU1791497 A SU 1791497A SU 1791497 A SU1791497 A SU 1791497A SU 415625 A1 SU415625 A1 SU 415625A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
film
magnetic
magnetic field
resolution
domain structure
Prior art date
Application number
SU1791497A
Other languages
Russian (ru)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1791497A priority Critical patent/SU415625A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU415625A1 publication Critical patent/SU415625A1/ru

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к области измерительной техники.The invention relates to the field of measurement technology.

Известны способы определени  разрешающей способности магнитных пленок с полосовой доменпой структурой, предназначенных дл  записи оптического изображени , основанные па нанесепин па поверхпость пленки магнитного коллоида с последующе его герметизацией , намагничивании подготовленной пленки носто нным магнитным полем в плоскости иленки до насыщени , выделении в магнитиой плепке минимальных областей, независимо измеи ющих свои параметры, и определении величины этих областей.Methods are known for determining the resolution of magnetic films with a stripe domain structure for recording an optical image, based on nazepin on the surface of a magnetic colloid film and then sealing it, magnetizing the prepared film with a magnetic field in the plane of the film to saturation, and selecting minimal areas in the magnetic field. , independently varying their parameters, and determining the magnitude of these areas.

Недостатком известного способа  вл етс  мала  точпость определени  разрешающей способности вследствие зависимости свойств пленки от режима засветки, неоднозначности выбора режима засветки и пеодпозпачности уровн  записываемого сигнала от отнического квантового генератора с модулированной добротностью . Кроме того, измерени , проводимые по известпому способу, сложны и требуют длительного времени дл  их проведени , исследовани  температурных зависимостей разрешающей способности вообще невозможны .The disadvantage of this method is that the resolution resolution is low due to the dependence of film properties on the illumination mode, the ambiguity of the choice of the illumination mode, and the periodicity of the recorded signal from the relative Q-switched quantum generator. In addition, measurements carried out by the known method are complex and require a long time to carry them out; studies of the temperature dependences of the resolution are generally impossible.

Дл  повышени  точности, ускорени  процесса измерепи  и обеспечени  возможности исследовани  темиературных зависимостейTo increase accuracy, speed up the process and measure the possibility of studying the temperature dependencies

предлагаетс  способ, по которому на пленку воздействуют перпендикул рно посто нному насыщающему полю переменным магнитным полем, уменьщают последовательно посто ннее и переменное магнитные пол  до минимального значени , при котором вповь ориентируетс  домеина  структура, плавно увеличивают посто нное магнитное поле до значени , при котором происходит раздвоение дифрагировавщего луча, а об искомом параметре суд т по величипе углов между нормалью к плоскости пленки и максимумами интенсивности раздвоенного дифрагировавшего луча. Способ реализуют следующим образом.proposes a method in which a film is applied perpendicularly to a constant saturating field with an alternating magnetic field, successively decreases a constant and alternating magnetic fields to a minimum value, in which the dominant structure is scaled, vv, smoothly increases the constant magnetic field to a value at which a split occurs of the diffracted beam, and the parameter being sought is judged by the magnitude of the angles between the normal to the film plane and the maxima of the intensity of the bifurcated diffracted beam. The method is implemented as follows.

На поверхность магиитпой пленки с полосовой доменной структурой нанос т магнитный коллоид, герметизируют его прозрачным покрытием , например покровным стеклом от микроскопа . Частицы коллоида группируютс  паMagnetic colloid is applied to the surface of a magical film with a strip domain structure; it is sealed with a transparent coating, such as a microscope cover glass. Colloid particles are grouped by pas

границах полосовых доменов, образу  отражательные дифракционные решетки, повтор ющие полосовую домепную структуру пленки , намагничивают пленку в ее плоскости до насыщени  иосто нным магнитным полем.The boundaries of the stripe domains, forming reflective diffraction gratings that repeat the stripe domain structure of the film, magnetize the film in its plane to saturation and with a stable magnetic field.

При этом полосова  доменна  структура в пленке исчезает. Выделение в магнитной плепке минимальных областей, независимо измен ющих свои параметры, производ т с помощью магнптной встр ски при пеизменнойIn this case, the stripe domain structure in the film disappears. The selection in the magnetic plop of the minimal regions, independently changing their parameters, is carried out by means of a magnetic indentation at

температуре, дл  чего прикладывают в перtemperature, for which is applied in the pen

SU1791497A 1972-06-02 1972-06-02 SU415625A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1791497A SU415625A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1791497A SU415625A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU415625A1 true SU415625A1 (en) 1974-02-15

Family

ID=20516280

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1791497A SU415625A1 (en) 1972-06-02 1972-06-02

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU415625A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4011044A (en) Use of laser speckle patterns for measurement of electrophoretic mobilities
KR850001422A (en) Displacement measuring instrument and measuring method thereof
SU415625A1 (en)
US4718765A (en) Interferometric gas detector
Pavlyuchenko et al. Hysteretic interference of magnetic field of a moving linear inductor
SU1295348A1 (en) Device for determining period of strip domain structure in magnetic films
Rogers The presence of a dispersion term in the ‘transverse Fresnel aether drag’experiment
SU898354A1 (en) Device for measuring weak magnetic field strength
SU634349A1 (en) Method of measuring vehicle motion parameters and length
SU1244595A1 (en) Method of determining velocity fields of non-stationary liquid flows
US3555545A (en) System of recording in radiation sensitive medium
SU1327037A1 (en) Method of recording metrologic holographic gratings
US3904835A (en) Reconstruction method of an optically recorded signal
SU1238154A1 (en) Method of measuring saturation rate of domain walls in thin magnetic iron garnet film
SU446003A1 (en) Method for measuring the intensity of the starting field of a magnetic film
SU667923A1 (en) Method of magnetic noise inspection of ferromagnetic articles
SU976410A1 (en) Magneto-optical hysteriograph
JPS56124064A (en) Floating magnetic field measurement
SU553525A1 (en) Interference measurement method of refractive index of transparent solids
SU659895A1 (en) Article checking device
JPH03277921A (en) Moving-amount detecting method
SU1727106A1 (en) Method of producing interference raster
SU640114A1 (en) Contact-free method of measuring sea surface wave field ordinates
SU378758A1 (en) DEVICE FOR MEASURING THE DIFFERENCE OF PHASES BETWEEN MUTUALLY PERPENDICULAR VECTOR COMPONENTS
Chin et al. Evaluating the resolution of plane diffraction gratings using a real-time digital interferometer