SU411542A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU411542A1 SU411542A1 SU1758285A SU1758285A SU411542A1 SU 411542 A1 SU411542 A1 SU 411542A1 SU 1758285 A SU1758285 A SU 1758285A SU 1758285 A SU1758285 A SU 1758285A SU 411542 A1 SU411542 A1 SU 411542A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ions
- negative
- source
- negative ions
- plasma
- Prior art date
Links
Landscapes
- Particle Accelerators (AREA)
Description
1one
Изобретение относитс к области получени пучков отрицательных ионов дл ускорителей зар женных частиц.The invention relates to the field of producing negative ion beams for accelerators of charged particles.
В известных плазменных источниках отрицательных ионов с молекул рным рабочим веществом атомарные отрицательные ионы образуютс при диссоциативных столкновени х электронов с молекулами. Большое значение имеет и диссоциативное прилипание при столкновении электронов с положительными молекул рными ионами. Конкурирующими процессами при этом вл ютс разрушение отрицательных ионов электронным ударом, рекомбинаци с положительными ионами, отш,епление электронов при столкновени х и т. Д.In the known plasma sources of negative ions with a molecular working substance, atomic negative ions are formed during dissociative collisions of electrons with molecules. Dissociative sticking when electrons collide with positive molecular ions is also of great importance. The competing processes here are the destruction of negative ions by electron impact, recombination with positive ions, otsh, the deposition of electrons during collisions, etc.
Необходимость высокой концентрации молекул обуславливает низкую газовую экономичность плазменных источников отрицательных ионов и ограничивает интенсивность пучков из-за необратимых потерь отрицательных ионов при столкновени х с молекулами после выхода иона из плазмы.The need for a high concentration of molecules causes the low gas efficiency of the plasma sources of negative ions and limits the intensity of the beams due to the irreversible loss of negative ions during collisions with molecules after the ion leaves the plasma.
Дл повышени интенсивности пучков отрицательных ионов, получаемых из плазменных источников, по предлагаемому способу в газоразр дную камеру источника вместе с основным рабочим веществом подают вещество с малым потенциалом ионизации, например иезий. Благодар этому увеличиваетс скорость образовани отрицательных ионов (всзмсжно за счет квазирезонансной перезар дки отомов рабочего вещества на возбужденных атомах добав;;и).In order to increase the intensity of negative ion beams, obtained from plasma sources, according to the proposed method, a substance with a low ionization potential, for example, Iesium, is supplied to the gas discharge chamber of the source. Due to this, the rate of formation of negative ions is increased (due to the quasi-resonant recharging of the otoma of the working substance on the excited atoms, add ;;).
При добавлении паров цези в водородный разр д с поперечным магнитным полем максимальный ток отрицательных ионов водорода увеличиваетс в несколько раз, уменьшаетс When cesium vapor is added to a hydrogen discharge with a transverse magnetic field, the maximum current of negative hydrogen ions increases severalfold, decreases
падение напр жени на разр де, облегчаетс его зажигание.the voltage drop on the discharge, its ignition is facilitated.
В импульсном режиме (длительность импульса 10 сек) Из плазменного источника с плгзмотронной гсометр ей разр дной камерыIn a pulsed mode (pulse duration 10 sec) From a plasma source with a plasma meter and discharge chamber
при добавлении паров цези можно получить ПУЧОК отрицательных ионов водорода с током 20 мА при размерах змиссиоиной 0,5Х X 10 Л1МWith the addition of cesium vapors, it is possible to obtain a BUNCH of negative hydrogen ions with a current of 20 mA and an emissioin size of 0.5X X 10 L1M
Предмет изобретени Subject invention
Снособ получени отрицательных ионов из гозорсзр дного источника, отличающийс тем, что, с целью повышени эффективности источника, в разр дну1р камеру источника вместе с основным рабочим веществом подают веп ество с мзлым потенциалом ионизации, например цезий.A method for obtaining negative ions from a radiation source, characterized in that, in order to increase the efficiency of the source, a source with a dead ionization potential, such as cesium, is fed into the discharge chamber of the source together with the main working substance.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1758285A SU411542A1 (en) | 1972-03-10 | 1972-03-10 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1758285A SU411542A1 (en) | 1972-03-10 | 1972-03-10 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU411542A1 true SU411542A1 (en) | 1974-01-15 |
Family
ID=20506217
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1758285A SU411542A1 (en) | 1972-03-10 | 1972-03-10 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU411542A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013096519A1 (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-27 | Muons, Inc. | Method and apparatus for surface plasma source (sps) with anode layer plasma accelerator |
WO2013096518A1 (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-27 | Muons, Inc | Method and apparatus for an absolute beam brightness detector |
-
1972
- 1972-03-10 SU SU1758285A patent/SU411542A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013096519A1 (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-27 | Muons, Inc. | Method and apparatus for surface plasma source (sps) with anode layer plasma accelerator |
WO2013096518A1 (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-27 | Muons, Inc | Method and apparatus for an absolute beam brightness detector |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5162699A (en) | Ion source | |
GB1489138A (en) | Multiple particle type interaction isotopically selective ionization | |
Horie et al. | Radiative Collisions between Electronic and Molecular Beams I. Angular Momentum Distribution among OH* Radicals resulting from H 2 O Molecules | |
SU411542A1 (en) | ||
US3890535A (en) | Ion sources | |
US9773636B2 (en) | Apparatus and method for generating high current negative hydrogen ion beam | |
JPH0724240B2 (en) | Fast atom beam source | |
Lejeune | Theoretical and experimental study of the duoplasmatron ion source: Part II: Emisive properties of the source | |
Dudnikov | Forty-five years with cesiated surface plasma sources | |
Zinchenko et al. | Pulsed hollow-cathode ion lasers: pumping and lasing parameters | |
US4419582A (en) | Use of autoionization transition absorption peaks in isotopically selective photoexcitation | |
Sharkov et al. | Highly charged ions from Nd-laser produced plasma of medium and high-Z targets | |
SU908193A1 (en) | Ion source | |
Hubbard | Heavy-Ion Accelerators | |
RU2127925C1 (en) | Vircator | |
Sekioka et al. | Ion storage in Kingdon trap | |
Sereda et al. | Modulation of negatively charged particle flux from penning discharge with metal hydride cathode | |
Dudnikov et al. | Advanced Large Volume Surface Plasma H-/D-Source Neutral Beam Injectors | |
SU506426A1 (en) | Method for producing ions, for example, for mass spectrometry analysis | |
US3084273A (en) | High current radio frequency ion source | |
Teng et al. | Dissociative ionization and Coulomb explosion of ethyl bromide under a near-infrared intense femtosecond laser field | |
Stuke | Laser Multiphoton Ionization of Molecules and Application | |
SU1102475A1 (en) | Ion accelerator | |
Kohno et al. | Production of Multiply-Charged Ions of Ne, Ar, Kr and Xe by the Electron-Bonbarded Hot Cathode IoN Source of IPCR | |
RU2030015C1 (en) | Hollow cathode of plasma ion emitter |