SU409154A1

SU409154A1 - DEVICE FOR DETECTION OF DEFECTS

Info

Publication number: SU409154A1
Application number: SU1662445A
Authority: SU
Inventors: В. Д. Тулу Д. М. Ременик
Priority date: 1971-05-25
Filing date: 1971-05-25
Publication date: 1973-11-30

Description

1one

Изобретение относитс к устройствам дл обнаружени дефектов (обрывов, иенравильпон укладки, витковых замыканий) в обмотках корей коллекторных электрических машин.The invention relates to devices for detecting defects (breaks, laying, winding, short circuits) in the windings of Korean electric collector machines.

В мзвестиых устройствах аналогнчного назпачепи , содержа1н,1х корпус с фиксатором кор иснытуемой машины, индуктор, приемник , нриводной двигатель, источники переменного и носто пного тока, токосъемник и иидикатор , например осциллограф, при враш,ении кор во врем коитрол на коллекторе остаютс следы от токосъемника в виде дорожки.In the analog devices of the analog device, containing 1x body with a lock of the machine under test, inductor, receiver, motor, alternating and dc current sources, current collector and indicator, for example, an oscilloscope, when the core is on the collector, traces of current collector in the form of a track.

Дл устранеии этого иедостатка при враrueinui кор токосъемник предлагаемого устройства вьпюлнеп в виде колодки со щунамн , число которых равно числу ламелей, нодк .лючеиных к полупроводниковому формирователю , содержащему, ианример, осветители, мостиковые фотодатчики и траизисторные ключи, число которых равно числу ламелей.To eliminate this deficiency in the case of the current collector of the proposed device, the device is in the form of a shoe with jumpers, the number of which is equal to the number of lamellae, keys to the semiconductor driver, and the number of lamellae, illuminators, bridge photosensors and trace keys, the number of which equals the number of lamellae.

На фиг. 1 схематически изображено описываемое устройство, иа фиг. 2 - токосъемник.FIG. 1 shows schematically the described device, and FIG. 2 - current collector.

Испытуемый корь 1 устанавливаетс на опоре и зажимаетс цангой 2. При определеНИИ обрыва или неправильной укладки на коллектор 3 устанавливаетс токосъемник 4 в виде колодки. Эта колодка (ем. фиг. 2) устанавливаетс на коллекторе таким образом, чтобы щетки 5, подключенные к формирователю 6, находнлпсь на ламел х 7.The test bark 1 is mounted on a support and clamped by the collet 2. When a breakage or improper installation is detected, the current collector 4 is installed in the form of a pad on the collector 3. This block (eat. Fig. 2) is mounted on the collector so that the brushes 5 connected to the former 6 are located on the lamellae 7.

Полунровод Н1ковьп 1 формирователь (см. фиг. 1) состоит из осветител 6, барабана 9 с отверсти ми, мостиковых фотодатчиков ii транзисторных ключей 10. К индуктору // подключаетс источник носто нного напр жени 12. При вращении барабана 9 совместно с индуктором // вокруг кор /, двигателем 13 поочередно засвечиваютс фотодиоды и соответственио открываютс и закрываютс траизисториые ключи (см. фиг. 2). Это позвол ег в.ход индикатора, нанример, осцнллографа 14, поочередно подключать к двум соседним ламел м н судить о дефекте в секции по форме иаводнмой э. д. с.The semiconductor H1covp 1 driver (see Fig. 1) consists of an illuminator 6, a drum 9 with holes, bridge photosensors ii transistor switches 10. A source of a constant voltage 12 is connected to the inductor //. When the drum 9 rotates together with the inductor // around the core /, the photodiodes are alternately illuminated by the motor 13 and the corresponding keys are opened and closed (see Fig. 2). This allowed the indicator's indicator, example, oscillograph 14, to be alternately connected to two adjacent lamellas to judge the defect in the section according to the shape of the water wave. d.

В св зи с тем, что барабан 9 св зан с индуктором //, выбор пололчеии ламелей относите .чьно нндуктора осунхествл етс смеи1,енпем фотодатчнков относительно барабана.Due to the fact that the drum 9 is connected to the inductor //, the choice of the lamella polymerization is relative to the inductor is monitored by the mixture 1, the photo sensing element relative to the drum.

При нроверке налнчн внтковых замыканий в облютке кор на нндуктор // подаетс напр жение повышенной частоты от генератора 14. Индуктор с нриемником 15 вращаетс вокруг кор .When checking the voltage of the vnc closures in the clamping of the core to the inductor, a higher frequency voltage is applied from the generator 14. The inductor with the receiver 15 rotates around the core.

Если в секци х имеетс хоть одни замкнутый виток, магнитные ев зи между индуктором // н корем / и нрием1И1ком 15 нзмен ютс . Это нриводит к резко модул ции сигналов , ноступающпх иа индикатор (осциллограф 14).If there are at least one closed coil in the sections, the magnetic currents between the inductor // terminal / and nriem115k are replaced. This leads to a dramatic modulation of the signals coming from the indicator (oscilloscope 14).

3 Предмет изобретени 3 Subject of the invention

Устройство дл обнаружени дефектов в обмотках корей коллекторных электрических мап.и1н, содержащее корпус с фиксатором кор испытуемой электрической машины, индуктор , нриемник, нриводной двигатель, исТОЧ1И1КИ переменного и посто нного тока, токосъемник и индикатор, нанример, осциллограф , отличающеес , тем, что, с целью исключени иовреждеии поверхности коллектора токосъемником, токосъемник выполнен в виде колодки со ндупами, число которых равно числу ламелей, нодключенных к полунроводииковому формирователю, содержащему, например , осветители, мостиковые фотодатчикн и транзисторные ключи, число которых равно числу ламелей.A device for detecting defects in the windings of korea collector electrical mats. I1n, comprising a housing with a latch core of the tested electric machine, an inductor, a receiver, a driving motor, AC and DC current, a current collector and an indicator, such as an oscilloscope, characterized by the fact that in order to prevent the collector from damaging the collector surface, the current collector is made in the form of a block with nodups, the number of which is equal to the number of lamellae connected to the semi-conductor driver containing, for example, p, illuminators, bridge photosensors and transistor switches, the number of which is equal to the number of lamellae.

1212

Ф,,.F ,,.