SU389448A1 - - Google Patents

Info

Publication number
SU389448A1
SU389448A1 SU1688657A SU1688657A SU389448A1 SU 389448 A1 SU389448 A1 SU 389448A1 SU 1688657 A SU1688657 A SU 1688657A SU 1688657 A SU1688657 A SU 1688657A SU 389448 A1 SU389448 A1 SU 389448A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
crystal
counter
ray source
relative
ray
Prior art date
Application number
SU1688657A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
А. М. Карташов КАЯ ЬЛИО. витель
Original Assignee
Ордена Ленина государственный союзный Красногорский механический завод
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ордена Ленина государственный союзный Красногорский механический завод filed Critical Ордена Ленина государственный союзный Красногорский механический завод
Priority to SU1688657A priority Critical patent/SU389448A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU389448A1 publication Critical patent/SU389448A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

СПОСОБ ЮСТИРОВКИ РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРОМЕТРАMETHOD OF ADJUSTMENT OF X-RAY SPECTROMETER

1one

Изобретение относитс  к способам рентгеновского микроанализа элементов.The invention relates to methods for the X-ray microanalysis of elements.

Известен способ юстировки рентгеновского спектрометра, при котором кристалл и счетчик перемещают и одновременно поворачивают . Поскольку мен етс  угол наклона кристалла и счетчика относительно источника рентгеновского излучени , а также измен етс  рассто ние между ними и источником, трудно направить пр мую, по которой перемещаетс  центр кристалла точно в центр источника рентгеновского излучени . Этот же недостаток отмечаетс  при юстировке спектрометров по световому зайчику и фотографи м на пленке.There is a method of adjusting the X-ray spectrometer, in which the crystal and the counter are moved and simultaneously rotated. Since the angle of inclination of the crystal and the counter relative to the x-ray source varies, as well as the distance between them and the source varies, it is difficult to direct the direct along which the center of the crystal moves exactly to the center of the x-ray source. The same deficiency is noted when adjusting the spectrometers by the light spot and photographs on film.

С целью повышени  точности юстировки ее осуществл ют при посто нном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучени  и посто нном положении счетчика относительно кристалла, при этом спектрометр предварительно настраивают на излучение выбранного эталонного элемента.In order to improve the accuracy of the alignment, it is carried out at a constant angle of inclination of the crystal relative to the x-ray source and the constant position of the counter relative to the crystal, while the spectrometer is pre-tuned to the radiation of the selected reference element.

Способ осуществл етс  следующим образом .The method is carried out as follows.

Сначала устанавливают кристалл при определенном угле наклона, соответствующем какой-либо длине волны, на определенном рассто нии от источника рентгеновского излучени . В фокусе отраженных от кристалла лучей располагают счетчик, рассто ние до которого от кристалла должно быть равно рассто нию от кристалла до источника рентгеновского излучени .First, the crystal is installed at a certain inclination angle corresponding to a wavelength at a certain distance from the x-ray source. At the focus of the rays reflected from the crystal, a counter is placed, the distance to which from the crystal must be equal to the distance from the crystal to the x-ray source.

В этом случае источник, кристалл и счетчик наход тс  на круге Роуланда, что соответствует максимальной интенсивности рентгеновского излучени  строго определенной линии спектра. Затем кристалл и счетчик закрепл ют так, чтобы их взаимное положениеIn this case, the source, crystal and counter are located on the Rowland circle, which corresponds to the maximum x-ray intensity of a strictly defined line of the spectrum. Then the crystal and the counter are fixed so that their mutual position

0 во врем  дальнейшей юстировки было посто нно .0 during the further adjustment was constant.

Кристалл и счетчик, расположенные на гайке ходового винта, перемещают относительно источника рентгеновского излучени ,The crystal and the counter located on the lead screw nut are moved relative to the x-ray source,

5 добива сь при этом наличи  излучени  одной5 to achieve the presence of radiation of one

и той же линии спектра за счет разворотаthe same line of the spectrum due to the reversal

кристалла со счетчиком относительно гайкиcrystal with counter regarding nuts

ходового винта.lead screw.

В крайнем, удаленном от источника положении закрепл ют кристалл со счетчиком на гайке ходового винта и перемещают в первоначальное положение, добива сь при этом наличи  той же линии спектра за счет разворота ходового винта относительно источника рентгеновского излучени . Процесс повтор етс  до тех пор, пока пр ма , по которой перемещаетс  центр кристалла, не будет точно направлена в центр источника рентгеновского излучени . Это положение гAt the furthest position away from the source, the crystal is fixed with a counter on the lead screw nut and moved to its original position, while achieving the same line of the spectrum due to the turn of the lead screw relative to the x-ray source. The process is repeated until the direction in which the center of the crystal moves is directed exactly to the center of the x-ray source. This position g

0 ветствует максимальной интенсивногеновского излучени , строго определенной линии снектра на всей длине перемещени  кристалла.This corresponds to the maximum intensive-radiation radiation of a strictly determined line of the spectral over the entire length of the crystal moving.

Предмет изобретени Subject invention

Способ юстировки рентгеновского спектрометра с пр молинейным перемещением кристалла относительно источника рентгеновского излучени , отличающийс  тем, что, сA method for adjusting an x-ray spectrometer with a straight-line displacement of a crystal relative to an x-ray source, characterized in that

целью повышени  точности юстировки, совмещение пр мой, по которой перемещают центр кристалла, с центром источника рентгеновского излучени  производ т при посто нном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучени  и посто нном положении счетчика относительно кристалла, при этом спектрометр предварительно настраивают на излучение выбранного эталонного элемента.In order to improve the accuracy of the alignment, the alignment of the direct along which the center of the crystal is moved with the center of the x-ray source is performed at a constant angle of inclination of the crystal relative to the x-ray source and the constant position of the counter relative to the crystal, while the spectrometer is preset to .

SU1688657A 1971-08-12 1971-08-12 SU389448A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1688657A SU389448A1 (en) 1971-08-12 1971-08-12

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1688657A SU389448A1 (en) 1971-08-12 1971-08-12

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU389448A1 true SU389448A1 (en) 1973-07-05

Family

ID=20485235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1688657A SU389448A1 (en) 1971-08-12 1971-08-12

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU389448A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US2166824A (en) High temperature pyrometer
US2823577A (en) Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis
US5075716A (en) Apparatus and method for precisely exposing radiation sensitive materials
US3306158A (en) Grating spectroscopes
SU389448A1 (en)
SU495945A1 (en) Spectrometer with interference selective amplitude modulation
GB1140017A (en) Filter-grating monochromator
Pettit et al. Spectral energy-curve of sun-spots
US3391600A (en) Monochromator
US4140399A (en) Monochromator for simultaneous selection and utilization of two wave-lengths
US2211628A (en) Sector photometer
SE8107809L (en) PHOTOMETER
GB766909A (en) Improvements in spectrographs and monochromators
Coster et al. On the resolving power of the ordinary X-ray spectrograph and the natural width of X-ray spectral lines
CN215573367U (en) Novel spectrometer based on variable-pitch grating
US2660086A (en) Apparatus for coordinating operating wave length and slit size in spectrophotometers
US2133562A (en) Method and means for determining optical characteristics of substances
Tull The coudé spectrograph and echelle scanner of the 2.7 m telescope at McDonald Observatory.
US3595147A (en) Photoelectric drafting apparatus
SU748125A1 (en) Interference method for measuring interferometer length
SU1441208A1 (en) Spectrograph
SU1268948A1 (en) Device for checking angular parameters of plane-parallel plates
SU503143A1 (en) Spectrophotometer
SU254858A1 (en) X-RAY SPECTRAL CHANNEL OF X-RAY
US3394628A (en) Light measuring apparatus