SU389448A1 - - Google Patents
Info
- Publication number
- SU389448A1 SU389448A1 SU1688657A SU1688657A SU389448A1 SU 389448 A1 SU389448 A1 SU 389448A1 SU 1688657 A SU1688657 A SU 1688657A SU 1688657 A SU1688657 A SU 1688657A SU 389448 A1 SU389448 A1 SU 389448A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- crystal
- counter
- ray source
- relative
- ray
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
СПОСОБ ЮСТИРОВКИ РЕНТГЕНОВСКОГО СПЕКТРОМЕТРАMETHOD OF ADJUSTMENT OF X-RAY SPECTROMETER
1one
Изобретение относитс к способам рентгеновского микроанализа элементов.The invention relates to methods for the X-ray microanalysis of elements.
Известен способ юстировки рентгеновского спектрометра, при котором кристалл и счетчик перемещают и одновременно поворачивают . Поскольку мен етс угол наклона кристалла и счетчика относительно источника рентгеновского излучени , а также измен етс рассто ние между ними и источником, трудно направить пр мую, по которой перемещаетс центр кристалла точно в центр источника рентгеновского излучени . Этот же недостаток отмечаетс при юстировке спектрометров по световому зайчику и фотографи м на пленке.There is a method of adjusting the X-ray spectrometer, in which the crystal and the counter are moved and simultaneously rotated. Since the angle of inclination of the crystal and the counter relative to the x-ray source varies, as well as the distance between them and the source varies, it is difficult to direct the direct along which the center of the crystal moves exactly to the center of the x-ray source. The same deficiency is noted when adjusting the spectrometers by the light spot and photographs on film.
С целью повышени точности юстировки ее осуществл ют при посто нном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучени и посто нном положении счетчика относительно кристалла, при этом спектрометр предварительно настраивают на излучение выбранного эталонного элемента.In order to improve the accuracy of the alignment, it is carried out at a constant angle of inclination of the crystal relative to the x-ray source and the constant position of the counter relative to the crystal, while the spectrometer is pre-tuned to the radiation of the selected reference element.
Способ осуществл етс следующим образом .The method is carried out as follows.
Сначала устанавливают кристалл при определенном угле наклона, соответствующем какой-либо длине волны, на определенном рассто нии от источника рентгеновского излучени . В фокусе отраженных от кристалла лучей располагают счетчик, рассто ние до которого от кристалла должно быть равно рассто нию от кристалла до источника рентгеновского излучени .First, the crystal is installed at a certain inclination angle corresponding to a wavelength at a certain distance from the x-ray source. At the focus of the rays reflected from the crystal, a counter is placed, the distance to which from the crystal must be equal to the distance from the crystal to the x-ray source.
В этом случае источник, кристалл и счетчик наход тс на круге Роуланда, что соответствует максимальной интенсивности рентгеновского излучени строго определенной линии спектра. Затем кристалл и счетчик закрепл ют так, чтобы их взаимное положениеIn this case, the source, crystal and counter are located on the Rowland circle, which corresponds to the maximum x-ray intensity of a strictly defined line of the spectrum. Then the crystal and the counter are fixed so that their mutual position
0 во врем дальнейшей юстировки было посто нно .0 during the further adjustment was constant.
Кристалл и счетчик, расположенные на гайке ходового винта, перемещают относительно источника рентгеновского излучени ,The crystal and the counter located on the lead screw nut are moved relative to the x-ray source,
5 добива сь при этом наличи излучени одной5 to achieve the presence of radiation of one
и той же линии спектра за счет разворотаthe same line of the spectrum due to the reversal
кристалла со счетчиком относительно гайкиcrystal with counter regarding nuts
ходового винта.lead screw.
В крайнем, удаленном от источника положении закрепл ют кристалл со счетчиком на гайке ходового винта и перемещают в первоначальное положение, добива сь при этом наличи той же линии спектра за счет разворота ходового винта относительно источника рентгеновского излучени . Процесс повтор етс до тех пор, пока пр ма , по которой перемещаетс центр кристалла, не будет точно направлена в центр источника рентгеновского излучени . Это положение гAt the furthest position away from the source, the crystal is fixed with a counter on the lead screw nut and moved to its original position, while achieving the same line of the spectrum due to the turn of the lead screw relative to the x-ray source. The process is repeated until the direction in which the center of the crystal moves is directed exactly to the center of the x-ray source. This position g
0 ветствует максимальной интенсивногеновского излучени , строго определенной линии снектра на всей длине перемещени кристалла.This corresponds to the maximum intensive-radiation radiation of a strictly determined line of the spectral over the entire length of the crystal moving.
Предмет изобретени Subject invention
Способ юстировки рентгеновского спектрометра с пр молинейным перемещением кристалла относительно источника рентгеновского излучени , отличающийс тем, что, сA method for adjusting an x-ray spectrometer with a straight-line displacement of a crystal relative to an x-ray source, characterized in that
целью повышени точности юстировки, совмещение пр мой, по которой перемещают центр кристалла, с центром источника рентгеновского излучени производ т при посто нном угле наклона кристалла относительно источника рентгеновского излучени и посто нном положении счетчика относительно кристалла, при этом спектрометр предварительно настраивают на излучение выбранного эталонного элемента.In order to improve the accuracy of the alignment, the alignment of the direct along which the center of the crystal is moved with the center of the x-ray source is performed at a constant angle of inclination of the crystal relative to the x-ray source and the constant position of the counter relative to the crystal, while the spectrometer is preset to .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1688657A SU389448A1 (en) | 1971-08-12 | 1971-08-12 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1688657A SU389448A1 (en) | 1971-08-12 | 1971-08-12 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU389448A1 true SU389448A1 (en) | 1973-07-05 |
Family
ID=20485235
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1688657A SU389448A1 (en) | 1971-08-12 | 1971-08-12 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU389448A1 (en) |
-
1971
- 1971-08-12 SU SU1688657A patent/SU389448A1/ru active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2166824A (en) | High temperature pyrometer | |
US2823577A (en) | Multiple slit spectrograph for direct reading spectrographic analysis | |
US5075716A (en) | Apparatus and method for precisely exposing radiation sensitive materials | |
US3306158A (en) | Grating spectroscopes | |
SU389448A1 (en) | ||
SU495945A1 (en) | Spectrometer with interference selective amplitude modulation | |
GB1140017A (en) | Filter-grating monochromator | |
Pettit et al. | Spectral energy-curve of sun-spots | |
US3391600A (en) | Monochromator | |
US4140399A (en) | Monochromator for simultaneous selection and utilization of two wave-lengths | |
US2211628A (en) | Sector photometer | |
SE8107809L (en) | PHOTOMETER | |
GB766909A (en) | Improvements in spectrographs and monochromators | |
Coster et al. | On the resolving power of the ordinary X-ray spectrograph and the natural width of X-ray spectral lines | |
CN215573367U (en) | Novel spectrometer based on variable-pitch grating | |
US2660086A (en) | Apparatus for coordinating operating wave length and slit size in spectrophotometers | |
US2133562A (en) | Method and means for determining optical characteristics of substances | |
Tull | The coudé spectrograph and echelle scanner of the 2.7 m telescope at McDonald Observatory. | |
US3595147A (en) | Photoelectric drafting apparatus | |
SU748125A1 (en) | Interference method for measuring interferometer length | |
SU1441208A1 (en) | Spectrograph | |
SU1268948A1 (en) | Device for checking angular parameters of plane-parallel plates | |
SU503143A1 (en) | Spectrophotometer | |
SU254858A1 (en) | X-RAY SPECTRAL CHANNEL OF X-RAY | |
US3394628A (en) | Light measuring apparatus |