SU389413A1

SU389413A1 -

Info

Publication number: SU389413A1
Application number: SU1673517A
Authority: SU
Priority date: 1971-06-28
Filing date: 1971-06-28
Publication date: 1973-07-05

Description

СПОСОБ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОГО ПОЛУЧЕНИЯ ЧИСЛОВЫХ ПАРАМЕТРОВ КОНТУРА СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИMETHOD FOR EXPERIMENTAL OBTAINING NUMERICAL PARAMETERS OF THE SPECTRAL LINE CONTOUR

1one

Изобретение относитс к способам экспериментального получени числовых параметров контура спектральной линии в физических экспериментах.The invention relates to methods for experimentally obtaining numerical parameters of a spectral line contour in physical experiments.

Известен способ нахождени параметров контура спектральной линии путем математической обработки всей кривой контура.There is a known method for finding the parameters of a spectral line contour by mathematical processing of the entire contour curve.

Предлагаемый способ позвол ет непосредственно измер ть числовые параметры контура спектральной линии и вводить их в электронно-вычислительную машину. Достигаетс это тем, что световой поток с выхода спектрального прибора пропускают через систему масок, расположенных в плоскости изображени выходной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равных интенсивностей.The proposed method allows one to directly measure the numerical parameters of the contour of the spectral line and enter them into an electronic computer. This is achieved by the fact that the light flux from the output of the spectral instrument passes through a system of masks located in the image plane of the output slit of the spectral instrument one above the other in the direction of equal intensities.

В каждой маске имеетс вырез дл пропускани светового .потока, выполненный согласно формуле (Я-Xi), где:Each mask has a cut-out for transmission of the light flow, made according to the formula (I-Xi), where:

/.( - значение длины волны на границе интервала исследуемого спектрального контура, А, - текущее значение длины волны, п-показатель степени, принимающий значени О, I, 2, 3, ... дл каждой маски в отдельности. Световые потоки с выхода маски проектируютс оптической системой на отдельные фотоэлектрические приемники, а получаемые с них электрические сигналы запоминаютс , например, на емкостных чейках и затем ввод тс в электронно-вычислительную мащину./. (is the value of the wavelength at the boundary of the interval of the spectral contour under study, A, is the current value of the wavelength, the n-exponent taking values of O, I, 2, 3, ... for each mask separately. Light fluxes from the output the masks are designed by the optical system into individual photoelectric receivers, and the electrical signals received from them are stored, for example, in capacitive cells and then entered into an electronic-computing machine.

Способ по сн етс чертежом.The method is explained in the drawing.

Световой поток от исследуемого объекта / объективом 2 проектируетс на входную щель спектрального прибора 3, далее объективом 4 - на систему масок 5, расположенных в плоскости изображени входной щели спектрального прибора одна над другой в направлении равной интенсивности, а затем щирокоанертурной конденсорной линзой 6 - на фотоэлектрические приемники 7.The light flux from the object under study / lens 2 is projected onto the entrance slit of the spectral device 3, then lens 4 - onto the system of masks 5, located in the image plane of the entrance slit of the spectral device one above the other in the direction of equal intensity, and then with a wide-aperture condenser lens 6 - onto photoelectric receivers 7.

Определение числовых параметров контура заключаетс в регистрации светового потока от калсдой маски, представл ющего /г-й начальный момент контура спектральной линии,The determination of the numerical parameters of the contour consists in registering the light flux from the mask mask, representing the nth initial point of the spectral line contour,

l.f(k-)I()d).,l.f (k-) I () d).,

запоминании получаемых электрических сигналов , пропорциональных моментам на емкостных чейках, и вводе их затем в электронно-вычислительную машину. По начальным моментам определить среднюю длину волны, полущирину и другие характеристики конт}ра, а также восстановить всю кривую спектрального контура.memorizing the received electrical signals proportional to the moments on the capacitive cells, and then input them into the electronic computer. From the initial points, determine the average wavelength, half-width, and other characteristics of the contour, and also restore the entire curve of the spectral contour.

Предмет изобретени Subject invention

Claims

1. An experimental method of obtaining numerical parameters of the contour of the spectral line, characterized in that the light flux from the output of the spectral instrument passes through a system of masks located in the image plane of the output slit of the spectral device one above the other in the direction of equal intensity, the optical fluxes from the output of each mask the system to individual photoelectric receivers, and the electrical signals received from them are stored, for example, on capacitive sensors and then entered in ktronno-computing machine.

2. A method according to claim 1, characterized in that each mask has cutouts according to the formula

four (}

where h - the value of the wavelength on the border

the interval of the contour under study, X is the current value of the wavelength, n is the exponent, taking the values O, 1, 2, 3, ... for each mask separately,

and light fluxes at the output of each mask are proportional to the numerical parameters of the spectral line contour:

(,

one

where 11, v2 are the wavelength values at the boundaries of the interval of the spectral contour under investigation, (() L) is the intensity of the light flux at the input of the masks. I