SU389401A1 - - Google Patents

Description

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

1

Изобретение относ тс  к области измерительной техники и может быть использовано дл  измерени  толщины слоев в многослойных конструкци х.

Известен ультразвуковой способ измерени  толщины, заключающийс  в том, что возбуждают ультразвуковые колебани  в исследуемом изделии, принимают отраженный сигнал, анализируют амплитудный спектр эхо-сигналов и по изменени м параметров спектра суд т об изменении толщины. Однако этот способ непригоден дл  измерени  толщин отдельных слоев в многослойных издели х, так как в серии импульсов будут присутствовать импульсы, отраженные от каждого сло , и в спектре отраженных импульсов будут минимумы и максимумы частот, кратных резонансным частотам толщин отдельных слоев и их суммам.

Цель изобретени  - определение толщины слоев многослойных изделий.

Предлагаемый способ отличаетс  от известного тем, что селектором выдел ют эхо-сигналы от обеих поверхностей измер емого сло  и по интервалу между минимумами суммарного амплитудного спектра суд т о толщине каждого сло .

На чертел е представлена блок-схема устройства , с помощью которого реализуетс  описываемый способ измерени  толщины.

Устройство содержит генератор 1, пьезопреобразователь с локальной ванной 2, многослойное изделие 3, высокочастотный усилитель 4, селектор 5 радиоимпульсов, осциллограф 6 и панорамный анализатор спектра 7.

Измер ют толщину следующим образом. Генератор с помощью пьезопрербразовател  с локальной ванной возбул дает импульс упругих колебаний. Отраженные от различных слоев многослойного издели  эхо-сигналы принимаютс  пьезопреобразователем, усиливаютс  высокочастотным усилителем и подаютс  на селектор радиоимпульсов. Селектором выдел ютс  эхо-сигналы от поверхностей измер емого сло  и подаютс  на осциллограф и паноралшый анализатор спектра. Сравнива  амплитудный спектр эхо-сигнала от одной поверхности с огибающей спектра суммы эхосигналов от обеих поверхностей, наход т с15омощью генератора меток и анализатора спектра частоты минимум, а затем производ т расчет по формуле

d

2/,

где с - скорость ультразвука в материале

сло ;

d - толщина сло ;

/1 - разность частот между сосед-ними минимумами.

Предмет изобретени 

Ультразвуковой способ измерени  толщины , заключающийс  в том, что возбуждают ультразвуковые колебани  в исследуемом изделии , принимают отраженный сигнал, анализируют амплитудный спектр эхо-сигналов и по изменени м п араметров спектра суд т об

изменении толщины, отличающийс  тем, что, с целью определени  толщины слоев многослойных изделий, селектором выдел ют эхосигналы от обеих поверхностей измер емого сло  и по интервалу между минимумами суммарного амплитудного спектра суд т о толщине каждого сло .