SU386363A1

SU386363A1 - INTERFERENCE LIGHT FILTER

Info

Publication number: SU386363A1
Application number: SU1703001A
Authority: SU
Inventors: Ш. А. Фурман Л. Б. Кацнельсон
Priority date: 1971-10-04
Filing date: 1971-10-04
Publication date: 1973-06-14

Description

1one

Известны интерференционные светофильтры, содержащие нодложку с нанесенным на ней интерференционным нокрытием из чередующихс слоев с высоким и низким показател ми преломлени и оптической толщиной последнего сло , в два раза меньшей предыдущих .Interference filters are known that contain a substrate with an interfering knockout on it of alternating layers with high and low refractive indices and the optical thickness of the last layer that is two times smaller than the previous ones.

В предлагаемом светофильтре между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломлени введен дополнительный слой с тем же показателем преломлени и оптической толщиной в два раза больщей.In the proposed light filter between the substrate and the first layer with a high refractive index, an additional layer is introduced with the same refractive index and optical thickness twice as large.

Такое выполнение обеснечивает нолучение высокого пропускапи светофильтра дл заданной длины волны.This embodiment provides a high transmittance of the filter for a given wavelength.

На фиг. 1 и 2 изображены спектральные кривые пронускапи светофильтров из чередующихс слоев серпистого цинка, имеющего высокий показатель преломлени (В), и криолита с низким показателем преломлени (Н) на подложке П из стекла К-8. По оси абписс отложена длина волны л в относительных едипн .цах /V/AO, где Яо соответствует середине зоны низкого пронускапи , по оси ординат показан кО|Эффициент пропускани Т.FIG. Figures 1 and 2 show the spectral curves of the visible filters of alternating layers of zinc sulphurous, having a high refractive index (B), and cryolite with a low refractive index (H) on a K-8 glass substrate II. The axis of abpis represents the wavelength l in relative units / c / V / AO, where Yao corresponds to the middle of the zone of low penetration, the ordinate axis shows kO | Transmission coefficient T.

На фиг. 1 цифрой / обозначена теоретическа крива 16-тислойного отрезающего фильтра известной конструкции 16ПВНВНВ НВПВНВНВНВО, 5Н; 2- теоретическа крива фильтра, выполненного по данному изобретению .FIG. 1 numeral / denotes the theoretical curve of the 16-layer cutting filter of the known construction 16PHHHHHH-HH-HH-HHWHV, 5H; 2 shows the theoretical curve of the filter made in accordance with this invention.

Па фиг. 2 цифрой 3 обозначена крива покрыти 16ПВНВ . ... ПВО, 5П, полученна сPa figs. 2, number 3 denotes the curve of the 16PVNV coating. ... air defense, 5P, received with

учетом погрешности изготовлени ; 4 - крива предлагаемого фильтра, полученна дл таких же погрещностей, что и крива 3.subject to manufacturing error; 4 - curve of the proposed filter, obtained for the same faults as curve 3.

Светофильтр представл ет собой подложку, на которой расположено интерференционноеThe optical filter is a substrate on which the interference is located

оптическое покрытие. Подложка выполнена из материала прозрачного в спектральной зоне высокого пропускани фильтра. Покрытие состоит из чередующихс слоев с высоким пв и низким /IH ноказател ми преломлени . Непосредственно к подложке нримыкает слой с показателем преломлени , равным «в. Его оптическа толщина в три раза больще толщины всех носледующпх слоев, кроме последнего. Фильтр можно изготовить, например, путемoptical coating. The substrate is made of a material transparent in the spectral zone of high transmittance of the filter. The coating consists of alternating layers with high Pv and low (IH) refractive index. Directly to the substrate, a layer with a refractive index equal to в in. Its optical thickness is three times the thickness of all the next layers except the last. The filter can be made, for example, by

термического испарени в вакууме сернистого цинка {п. пв) и криолита (), либо селенида цинка (п пъ) Б фторИ|Стого стронци (), либо другой нары веществ. Дополнительный слой на подложке, имеющий поthermal evaporation in vacuum of zinc sulphate {p. pv) and cryolite (), or zinc selenide (pn) B fluoride | Stogo strontium (), or other binder of substances. An additional layer on the substrate, having

сравнению с прилегающими сло ми двойную толщину, позвол ет на 25-45% уменьшить глубину провала, расположенного на спектральной кривой пропускани фильтра между двум ближайшими к зоне отрезани коротковолнопыми максимумами пропускани .in comparison with adjacent layers, double thickness allows a 25-45% reduction in the depth of the dip located on the spectral transmission curve of the filter between the short-wavelength maxima of the transmission that are closest to the cutting zone.

Предмет изобретени Subject invention

Интерференционный светофишьтр, содержащий подложку с нанесенным на ней интерференционным Покрытием из чередующихс слоев с высоким и низким показател ми преломлени и оптической толщиной последнего сло ,An interference light filter containing a substrate coated with an interference Coating made of alternating layers with high and low refractive indices and the optical thickness of the last layer,

в два раза меньшей предыдущих, отличающийс тем, что, с целью получени высокого пропускани дл заданной длины волны, между подложкой и первым слоем с высоким показателем преломлени введен дополаительиый слой с тем же показателем преломлени и оптической толщиной, в два раза больщей.two times smaller than the previous ones, characterized in that, in order to obtain high transmission for a given wavelength, a pre-separating layer with the same refractive index and optical thickness twice as large is introduced between the substrate and the first layer with a high refractive index.

0,75 0,8 0,85 0,9 U.95 1,00.75 0.8 0.8 0.8 0.9 U.95 1.0

0,75 ив 0,85 0,9 0,95 1,0 0.75 willow 0.85 0.9 0.95 1.0

- А в- And in

ц. Фиг.} Фиг. 2c. FIG.} FIG. 2