SU381002A1 - METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATE - Google Patents
METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATEInfo
- Publication number
- SU381002A1 SU381002A1 SU1684304A SU1684304A SU381002A1 SU 381002 A1 SU381002 A1 SU 381002A1 SU 1684304 A SU1684304 A SU 1684304A SU 1684304 A SU1684304 A SU 1684304A SU 381002 A1 SU381002 A1 SU 381002A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- dielectric substrate
- adhesion
- voltage
- conducting film
- electrical conducting
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
1one
Известен способ onf.гделени адгезии электропровод п1еп пленки к диэлектрическоГ; под ,1ожке, путем размещени с нротицоположной стороны диэлектрической подложки электрода и пропускани электрического тока.There is a known method of onf.generation of adhesion of an electrical conductor of a plastic film to a dielectric; under the burner by placing an electrode on the dielectric substrate on the opposite side of the dielectric substrate and passing an electric current.
Цель изобретени - получение количественной п объективной информапии о качестве адгезии покрыти .The purpose of the invention is to obtain a quantitative and objective information about the quality of adhesion of the coating.
Достигаетс это тем, что между электропровод щим покрытием п электродом прикладывают переменное электрическое напр жение, повыша его амплитуду от нул до напр жени начала ионизании, по величине которого суд т о степени адгезии.This is achieved by applying an alternating electrical voltage between an electrically conductive coating and an electrode, increasing its amplitude from zero to the voltage of the onset of ionization, the magnitude of which determines the degree of adhesion.
Супхность изобретени заключаетс в том. что между провод щим покрытием, нанесенным на подложку и используемым в данном случае в качестве электрода, и контрольным электродом, размещаемым с противоположной стороны диэлектрической подложки, прикладываетс переменное напр жение. Амплитуда этого напр жени повыщаетс от нул до значени , при котором в образце возникает ионизаци . Регистрируемое значение напр жени начала ионизации сопоставл етс со значени ми этого напр жени , полученными в аналогичных услови х измерени дл образцов с известной величиной адгезии. Необходимым условием осуществлеии метода вл етс гаранти отсутстви 1юнизацип между подложкой и контрольным электродом.The supness of the invention is. that a alternating voltage is applied between the conductive coating deposited on the substrate and used in this case as an electrode, and the control electrode placed on the opposite side of the dielectric substrate. The magnitude of this voltage rises from zero to the value at which ionization occurs in the sample. The recorded value of the ionization onset voltage is compared with the values of this voltage, obtained under similar measurement conditions for samples with a known adhesion value. A necessary condition for the implementation of the method is to guarantee the absence of a junction between the substrate and the control electrode.
22
Способ основываетс на различии электрических свойств диэлектрической подложки и переходного сло , образующегос между подложкой и провод щим покрытием. Низка адгези наблюдаетс вследствие неоднородности переходного сло за счет присутстви в нем остаточных газов, окислов и других загр знений . Это приводит к неоднородности электрического пол , еслп к переходному слою будет приложено напр жение.The method is based on the difference in electrical properties of the dielectric substrate and the transition layer formed between the substrate and the conductive coating. Low adhesion is observed due to the heterogeneity of the transition layer due to the presence of residual gases, oxides and other contaminants in it. This leads to inhomogeneity of the electric field, and voltage will be applied to the transition layer.
Исследовани , проведенные на образцах ситалла с напыленными на них металлическими покрыти ми показалп. что при прикладыванпп соответствующего переменного напр жени в переходном слое возн1п ают ионизационные процессы. При этом величина напр жени начала ионизации зависит от степени неоднородности переходного сло и, следовательно . от качества адгезии.Studies conducted on samples of glass with metal coatings deposited on them showed. that when a corresponding variable voltage is applied in the transition layer, ionization processes arise. In this case, the voltage of the onset of ionization depends on the degree of heterogeneity of the transition layer and, consequently. on the quality of adhesion.
Способ реализуетс с помощью зстройства, в основу которого положена обычна схема измерени ионнзации (например ГОСТ 6580-63).The method is implemented with the help of a device based on the usual ionization measurement scheme (for example, GOST 6580-63).
Супдность изобретенп по сн етс чертежом .The sufficiency of the invention is explained in the drawing.
По схеме испытуема система (ИС) и последовательно соединенный с ней измеритель ионизации (ИИ) подключаетс к источнпкуAccording to the test circuit, the system (IC) and the ionization meter (AI) connected in series with it are connected to the power supply
питани (ИП). Испытуема система состоит из провод п1его покрыти /, иереходного сло food (PI). The test system consists of the wire of the first coating /, the transitional layer
2, подложки 3 п контрольного электрода 4. В качестве последнего можно использовать электролит, смачивающий нодложку (например , раствор NaCl в воде) аквадаг или амольгаму (например, 1пС02).2, the substrate 3 p of the control electrode 4. As the latter, you can use an electrolyte wetting the substrate (for example, a solution of NaCl in water) aquadag or amolgam (for example, 1nC02).
Способ осуществл етс следующим образом .The method is carried out as follows.
На испытуемую систему от источника питани подаетс напр жение, величина которого в течение 3-5 сек измен етс от нул до значени , при котором в системе возникает ионизаци , регистрируема измерителем ионизации . Величина напр жени начала ионизации характеризует качество адгезии.A voltage is applied to the system under test from a power source, the value of which varies from zero to 3-5 seconds to the value at which ionization occurs in the system, as detected by an ionization meter. The magnitude of the ionization onset voltage characterizes the quality of adhesion.
Предмет изобретени Способ определени адгезии электропровод щей пленки к диэлектрической подложке, путем размещени с противоположной стороны диэлектрической подложки электрода и пропускани электрического тока, отличающийс тем, что, с целью получени количественной и объективной информации о качестве адгезии покрыти , между электропровод щим покрытием и электродом прикладывают переменное электрическое напр жение, повыша его амплитуду от нул до напр жени начала ионизации, по величине которого суд т о степени адгезии.Subject of the Invention A method for determining the adhesion of an electrically conductive film to a dielectric substrate by placing an electrode on the opposite side of the dielectric substrate and passing an electric current, characterized in that, in order to obtain quantitative and objective information about the quality of adhesion of the coating, a variable electrical voltage, increasing its amplitude from zero to the voltage of the onset of ionization, the magnitude of which is judged on the degree of adhesion.
МПMP
JJ
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1684304A SU381002A1 (en) | 1971-07-19 | 1971-07-19 | METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATE |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1684304A SU381002A1 (en) | 1971-07-19 | 1971-07-19 | METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATE |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU381002A1 true SU381002A1 (en) | 1973-05-15 |
Family
ID=20483858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1684304A SU381002A1 (en) | 1971-07-19 | 1971-07-19 | METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATE |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU381002A1 (en) |
-
1971
- 1971-07-19 SU SU1684304A patent/SU381002A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US2237006A (en) | Electric hygrometer | |
US3148129A (en) | Metal film resistors | |
US3293155A (en) | Method for determining the corrosion resistance of anodized aluminum parts | |
JPS584300B2 (en) | How to electrically detect damage to the enamel layer | |
SU381002A1 (en) | METHOD FOR DETERMINING ADHESION OF ELECTRICAL CONDUCTING FILM TO DIELECTRIC SUBSTRATE | |
JPH046459A (en) | Gas sensor | |
DE3469228D1 (en) | Method for measaring the electric resistance of thin metallic layers, made under the influence of a plasma, during their fabrication | |
JP2789066B2 (en) | Diagnosis method for insulation deterioration of power cable | |
US4537664A (en) | Method for continuously monitoring oxide thickness on moving aluminum foil | |
JP3241944B2 (en) | Insulation dielectric loss tangent measurement method and power cable insulation deterioration diagnosis method | |
CN114778606A (en) | Assessment method for transient distribution of oilpaper insulation moisture migration in composite electric field | |
JPH06120315A (en) | Test method for semiconductor device | |
JPS57108264A (en) | Operating method for electrostatic adsorbing device | |
SU1486764A1 (en) | Method and apparatus for monitoring thickness of electroplating coating | |
US3414490A (en) | Process for manufacturing an electroluminescent device | |
SU1599747A1 (en) | Method of checking continuity of dielectric coatings | |
JPH05203604A (en) | Measuring method and device for oxygen concentration | |
JPH05149989A (en) | Testing method for printed wiring board | |
RU2002129932A (en) | METHOD FOR OBTAINING BIOPOLYMERIC FIELDS WITH CONTROL IN REAL TIME | |
SU1451625A1 (en) | Method of determining the number of spot damages of wire insulation | |
JPH1078472A (en) | Method for diagnosing deterioration of cv cable | |
SU1420548A1 (en) | Method of measuring specific resistance | |
SU1174834A1 (en) | Method of testing polymeric coating | |
JPS5724544A (en) | Detection for insulation film defect of semiconductor element | |
JPS5786705A (en) | Device for measuring thickness of frozen layer |