SU376667A1 - LIBRARY-KA - Google Patents

LIBRARY-KA

Info

Publication number
SU376667A1
SU376667A1 SU1648572A SU1648572A SU376667A1 SU 376667 A1 SU376667 A1 SU 376667A1 SU 1648572 A SU1648572 A SU 1648572A SU 1648572 A SU1648572 A SU 1648572A SU 376667 A1 SU376667 A1 SU 376667A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
channel
measuring
amplifier
gap
compensators
Prior art date
Application number
SU1648572A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
В. П. Курозаев Д. С. Костров В. А. кНочЙР ООЮЗНАЯ Е. М. ЩербаковрАТЕЙТНО ЕХШ В. В. Клюев
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to SU1648572A priority Critical patent/SU376667A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU376667A1 publication Critical patent/SU376667A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)

Description

1one

Изобретение относитс  к средствам контрол  вибрационных перегрузок при испытани х и эксплуатации изделий.The invention relates to the control of vibration overloads during testing and operation of products.

Известные бесконтактные измерители вибрации содержат датчик, согласующее устройство , измерительный канал, канал абсолютного зазора и осциллоскоп.Known non-contact vibration meters include a sensor, matching device, measuring channel, absolute gap channel and oscilloscope.

Предлагаемое устройство позвол ет повысить точность измерений вибропроцессов за счет того, что выход канала абсолютного зазора подключен к регулирующему элементу полосового усилител  канала измерени  вибраций, и в схемах измерительного канала и канала зазора установлены компенсаторы переменного тока.The proposed device allows to increase the accuracy of vibroprocess measurements due to the fact that the output of an absolute gap channel is connected to a regulating element of a band-pass amplifier for measuring vibrations, and AC compensators are installed in the circuits of the measuring channel and the gap channel.

Па чертеже представлена функциональна  схема устройства. Pa drawing presents a functional diagram of the device.

Генератор синусоидальных колебаний 1 запитывает дифференциальный токовихревой датчик 2, сигнал с которго через согласующее устройство 3 поступает в электронную схему, содержащую канал измерени  вибропроцессов и канал абсолютного зазора.The generator of sinusoidal oscillations 1 powers the differential eddy current sensor 2, the signal from which through the matching device 3 enters the electronic circuit containing the channel for measuring vibroprocesses and the channel for absolute gap.

Измерительный канал состоит из компенсаторов переменного тока 4, полосового усилител  с регулируемым коэффициентом усилени  5, детектора 6, фильтра низких частот 7, осциллоскопа 8. The measuring channel consists of AC compensators 4, a bandpass amplifier with adjustable gain 5, a detector 6, a low-pass filter 7, an oscilloscope 8.

Канал абсолютного зазора содержит компенсаторы переменного тока 9, усилитель 10The channel of an absolute gap contains compensators of alternating current 9, the amplifier 10

детектор 11, фильтр низких частот 12, стрелочный прибор 13.detector 11, low pass filter 12, pointer device 13.

Устройство работает следующим образом. Амплитудно-модулированные колебани  высокой частоты поступают на компенсаторы измерительного канала и нормируютс  по коэффициенту модул ции дл  определенных диапазонов вибросмещений. Далее сигнал поступает на усилитель высокой частоты с полосой пропускани  из услови  максимальной частоты вибраций. После детектировани  сигнал поступает на фильтр низких частот и электронно-лучевой осиллоскоп, на экране которого наблюдаетс  процесс вибрации. Электронно-лучевой осциллоскоп имеет калибровку по амплитуде. В канале абсолютного зазора компенсаторы переменного тока служат дл  нормировани  технологического разбаланса датчиков . Компенсаци  начального разбалансаThe device works as follows. Amplitude-modulated high-frequency oscillations arrive at the compensators of the measuring channel and are normalized by the modulation coefficient for certain ranges of vibration displacements. The signal is then fed to a high-frequency amplifier with a passband from the condition of the maximum frequency of vibrations. After detection, the signal enters the low pass filter and the electron beam oscilloscope, on the screen of which a vibration process is observed. The electron beam oscilloscope is calibrated in amplitude. In the absolute gap channel, AC compensators serve to normalize the technological imbalance of the sensors. Initial unbalance compensation

производитс  на «воздухе. Далее сигнал поступает на усилитель. После усилени  сигнал детектируетс  и подаетс  через фильтр низких частот на усилитель измерительного канала и стрелочный прибор.produced in the air. Next, the signal goes to the amplifier. After amplification, the signal is detected and fed through a low-pass filter to the measuring channel amplifier and a switch instrument.

Выходное напр жение в измерительном канале при малых размахах вибраций равноThe output voltage in the measuring channel with a small range of vibrations is

U L-Knfa: где AL - размах вибрации.U L-Knfa: where AL is the range of vibration.

Кп - коэффициент передачи измерительного тракта, / (сс) - величина,  вл юща с  нелинейнойKp is the transmission coefficient of the measuring path, / (ss) is a non-linear value

функцией зазора.clearance function.

В то же врем  в канале абсолютного зазора формируетс  напр жение (a;). Поскольку /Сп измерительного тракта линейно св зано с U, то увеличение или уменьшение зазора, вызывающее изменением U предположим в п раз, вызывает уменьщение или увеличение Кп, соответственно, также в п раз. Этим достигаетс  посто нна  чувствительность измерительной системы.At the same time, a voltage (a;) is generated in the absolute gap channel. Since the Cn of the measuring path is linearly connected with U, then an increase or decrease in the gap, which causes a change in U, is assumed to be n times, or a decrease or increase in Kp, respectively, also n times. This achieves a constant sensitivity of the measuring system.

Предмет изобретени Subject invention

Устройство дл  измерени  вибраций, содержащее дифференциальный токовихревой датчик , схему измерительного канала параметров вибрации, выполненную из последовательно соединенных катодного и эмиттерного повторителей , блока усилителей и осциллоскопа, и канал измерени  величины абсолютного зазора, состо щий из согласующего устройства, усилител , детектора и ключевой схемы, отличающес  тем, что, с целью повышени  точности измерени , выход канала измерени  величиныA device for measuring vibrations, comprising a differential eddy current sensor, a measuring channel circuit for vibration parameters, made of serially connected cathode and emitter followers, an amplifier unit and an oscilloscope, and an absolute gap measurement channel, consisting of a matching device, an amplifier, a detector and a key circuit, characterized in that, in order to increase the measurement accuracy, the output of the measurement channel is

абсолютного зазора подключен к регулирующему элементу полосового усилител  канала измерени  параметров вибрации, а на входе схемы канала измерени  величины зазора и в схеме измерительного канала между катодным и эмиттерным повторител ми установлены компенсаторы переменного тока.the absolute gap is connected to the regulating element of a bandpass amplifier for measuring vibration parameters, and at the input of the gap measurement channel circuit and in the measuring channel circuit, alternating current compensators are installed between the cathode and emitter repeaters.

SU1648572A 1971-04-19 1971-04-19 LIBRARY-KA SU376667A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1648572A SU376667A1 (en) 1971-04-19 1971-04-19 LIBRARY-KA

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1648572A SU376667A1 (en) 1971-04-19 1971-04-19 LIBRARY-KA

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU376667A1 true SU376667A1 (en) 1973-04-05

Family

ID=20472934

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1648572A SU376667A1 (en) 1971-04-19 1971-04-19 LIBRARY-KA

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU376667A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU376667A1 (en) LIBRARY-KA
SU983469A2 (en) Ultrasonic vibrometer
US3675485A (en) Method and apparatus for measuring variations in a quantity with respect to a known reference value
SU746204A1 (en) Ultrasonic vibration meter
SU1428939A1 (en) Ultrasonic vibration meter
SU1267299A1 (en) Device for contactless measuring of a.c.voltage
US3434340A (en) Method and apparatus for observing mechanical oscillations
SU817597A1 (en) Device for measuring gaps and vibrations
SU1017910A1 (en) Strian-gauge device
SU1213425A1 (en) Apparatus for measuring alternating voltage
SU1422165A1 (en) Apparatus for measuring the spread of variation of oscillation amplitude
RU1759139C (en) Optoelectronic device
US3320525A (en) Impedance bridge measuring system including a self-oscillatory loop between the bridge input and output
SU938222A1 (en) Device for checking microcircuits
SU497537A1 (en) Device for measuring the physical characteristics of media
SU375468A1 (en) DEVICE FOR THE CONTROL OF THE THICKNESS OF METAL PRODUCTS
SU930002A1 (en) Strain gauge device
SU996877A1 (en) Method and device for measuring pressure by direct action non-resonance pickup having one output
SU1490614A1 (en) Probe-type magnetic field flaw detector
SU716007A1 (en) Device for measuring acoustic noise-proofness of quartz resonators
SU1035823A1 (en) Method of measuring time and phase distortions of phase manipulated signal
SU794470A1 (en) Device for electromagnetic inspection
SU291154A1 (en) DEVICE FOR MEASUREMENT OF AMPLITUDES OF PULSES
SU114450A1 (en) The method of measuring the speed of rotation of the shafts
SU362260A1 (en) METHOD OF MEASURING THE NONLINEARITY OF RESISTORS