SU302975A1 - Radioisotopic thickness gage - Google Patents
Radioisotopic thickness gageInfo
- Publication number
- SU302975A1 SU302975A1 SU701394300A SU1394300A SU302975A1 SU 302975 A1 SU302975 A1 SU 302975A1 SU 701394300 A SU701394300 A SU 701394300A SU 1394300 A SU1394300 A SU 1394300A SU 302975 A1 SU302975 A1 SU 302975A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sensitivity
- source
- reference voltage
- potentiometer
- kinematically coupled
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к радиоизотоп- ным приборам технологического контрол в частности к толщиномерам (плотномерам ) . Известные рад но изотопные толщиномеры , (плотномеры) содержат рабочий и компенсационные источники ионизирующего излучени , детекторы, усилитель, источник опорного напр жени , регул торы чувствительности, выполненные, например , в виде потенциометров. Однако компенсаци , например, вли ни распада источников излучени весьма сложна проблема и требует большого числа операций дл восстановлени преж ней чувствительности. Так, например, в толщиномерах, где измерительный тракт выполнен по- мосто вой схеме, при регулировке и контроле чувствительности требуетс неоднократное переключение в схеме измерени плеч моста, каждое из которых содержит отдельные потенциометры. Такое множес во операций, выполн емых подр д, не ТОЛЬКО увеличивает трудоемкость, но и у существенно повышает погрешности при контроле и регулировке. В предлагаемом радиоизотопном тол-i щиномере один из кинематически св занных потенциометров подсоединен параллельно к источнику опорного напр жени и вместе с ним включен в цепь обратной св зи через переключатель, кинематически св занный с задвижкой, перекрывающей один из источников ионизирующего излучени , а другой потенциометр подключен к градуированному регул тору чувствительности. На чертеже приведена принципиальна схема предлагаемого толщиномера. Схема содержит рабочий источник 1 ионизирующего излучени , измер емый материал 2, рабочий детектор 3, компенсационный детектор 4, щкалу 5, компенсационный . клин 6, щторку 7, компенсационный источник 8 излучени , измерительный усилитель 9, показываю- ший прибор Ю (вольтметр), потенцийметр 11, к шематически св занный с потенциометром 15, потенциометр 12 дл изменени глубины обратной св зи, шкалу 13 потенциометра 12, источник 14 опорного напр жени , потенциометр 15 дл установлени величины компенсирующего напр жени , переключатель 16 опорного напр жени , нагрузочное сопротийпение 17,The invention relates to radioisotope instruments of technological control, in particular, to thickness gauges (densitometers). Well-known isotopic thickness gauges (densitometers) contain working and compensation sources of ionizing radiation, detectors, an amplifier, a source of voltage, and sensitivity controls made, for example, in the form of potentiometers. However, compensation, for example, the effect of the decay of radiation sources, is a very complex problem and requires a large number of operations to restore its previous sensitivity. So, for example, in thickness gauges, where the measuring path is made using a bridge circuit, when adjusting and controlling sensitivity, repeated switching is required in the circuit measuring the shoulders of the bridge, each of which contains individual potentiometers. Such a multitude of operations performed at work not only increases labor intensity, but also significantly increases the errors in control and adjustment. In the proposed radioisotope tol-gauge, one of the kinematically coupled potentiometers is connected in parallel to the reference voltage source and connected to the feedback circuit through a switch connected kinematically to the gate that overlaps one of the ionizing radiation sources, and the other potentiometer is connected to the graduated sensitivity regulator. The drawing shows a schematic diagram of the proposed thickness gauge. The circuit contains a working source of ionizing radiation 1, a measured material 2, a working detector 3, a compensation detector 4, a scale 5, a compensation one. wedge 6, scraper 7, compensation radiation source 8, measuring amplifier 9, indicating instrument Yu (voltmeter), potentiometer 11, schematically connected to potentiometer 15, potentiometer 12 for varying the feedback depth, scale 13 of potentiometer 12, source 14 of the reference voltage, potentiometer 15 for setting the value of the compensating voltage, the switch 16 of the reference voltage, the load resistance 17,
Компенсаци изменени чувствительности проводитс следующим образом.The compensation for the change in sensitivity is as follows.
Ионизирующее излучение от рабочего источника 1 после прохождени через измер емый материал 2 детектируетс рабочим детектором 3. КомпенсационНЬ Й детектор 4 облучаетс компенсационным источником 8 через клин 6 с переменной плотности, используемой в качестве задатчика плотности.Ionizing radiation from working source 1 after passing through the measured material 2 is detected by working detector 3. Compensation detector 4 is irradiated with a compensation source 8 through a variable density wedge 6 used as a density generator.
Детекторы 3 и 4 включены по дифферецциальной схеме, их разностный ток вызывает падение напр жени на сопротивлении 17 и усиливаетс усилителем 9,The detectors 3 and 4 are connected in a differential circuit, their differential current causes a voltage drop across the resistance 17 and is amplified by an amplifier 9,
При равенстве токов в детекторах 3 и 4 падение напр жени на .нагрузочном сопротивлении 17 равно нулю. Отклонение измер емой величины от номинального значени вызывает по вление сиг- нала на выходе усилител 9 и регистри руетс прибором 10, Усилитель 9 охвачен глубокой отрицательной обратной св зью. Дл большей точности измерени ручка потенциометра 12, регулирующего глубину отрицательной обратной св зи, снабжена щкалой 13. В зависимости от установленного клином-задатчиком номинального значени толщины, фиксируемой щкалой 5, устанавливаетс требуема глубина отрицательной обратной св зи потендио метром 12. Чувствительность датчика, контролируют при отсутствии измер емого материала 2. Шторка 7 перекрывает компенсационный источник 8. Одновременно с этим переключатель 16 подключаетIf the currents in the detectors 3 and 4 are equal, the voltage drop on the load resistance 17 is zero. The deviation of the measured value from the nominal value causes the signal at the output of the amplifier 9 and is detected by the device 10, the amplifier 9 is covered by a deep negative feedback. For greater accuracy of measurement, the knob of potentiometer 12, which regulates the depth of negative feedback, is provided with a button 13. Depending on the nominal thickness specified by the setting wedge detected by the button 5, the required depth of negative feedback is established by a potentiometer 12. Sensor sensitivity is controlled at the absence of the measured material 2. The shutter 7 overlaps the compensation source 8. At the same time, the switch 16 connects
опорное напр жение (от источника 14) последовательно в цепь обратной св зи. Величина опорного напр жени источника 14 соответствует Необходимому комненсируюшему сигналу при максимальной чувствительности датчика.the reference voltage (from source 14) is sequentially connected to the feedback circuit. The magnitude of the reference voltage of source 14 corresponds to the required positioning signal at maximum sensor sensitivity.
При оценке контрольной чувствительности датчика потенциометром 15 устанавливаетс величина необходимого компенсирующего напр жени (по нулевому показанию прибора 10).When evaluating the sensor sensitivity of the sensor, the potentiometer 15 sets the value of the necessary compensating voltage (according to the zero reading of the device 10).
Потенциометры Ни 15 кинематически св заны и одновременно измен ют глубину отрицательной обратной св зи пропорционально изменению компенсирующего напр жени и восстанавливают таким образом прежнюю чувствительность прибора.Neither potentiometers 15 are kinematically connected and at the same time change the depth of the negative feedback in proportion to the change in the compensating voltage and thus restore the former sensitivity of the device.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU701394300A SU302975A1 (en) | 1970-01-15 | 1970-01-15 | Radioisotopic thickness gage |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU701394300A SU302975A1 (en) | 1970-01-15 | 1970-01-15 | Radioisotopic thickness gage |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU302975A1 true SU302975A1 (en) | 1979-11-05 |
Family
ID=20449310
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU701394300A SU302975A1 (en) | 1970-01-15 | 1970-01-15 | Radioisotopic thickness gage |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU302975A1 (en) |
-
1970
- 1970-01-15 SU SU701394300A patent/SU302975A1/en active
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3270205A (en) | Digital spectrum stabilizer for pulse analysing system | |
US2999935A (en) | Convertible radiation source | |
US3198944A (en) | X-ray emission analyzer with standardizing system and novel switch means | |
US2586303A (en) | Radiation type thickness gauge | |
US2983819A (en) | Radiation gauge | |
Cooke-Yarborough et al. | An accurate logarithmic counting-rate meter covering a wide range | |
US2478406A (en) | Direct-reading gamma-measuring device using overlapping neutral density wedges | |
US3106978A (en) | Electrical balance | |
SU302975A1 (en) | Radioisotopic thickness gage | |
US4019132A (en) | Method and apparatus for determining the moisture content of different kinds of materials | |
US2965847A (en) | Measuring system | |
US3180985A (en) | Standardization of radiation-absorption type density gages | |
US3769581A (en) | Apparatus for measuring the dry unit weight of a soil | |
US3864573A (en) | Wide-range radiation gage for determining a material property | |
US3513310A (en) | High-speed nucleonic measuring system | |
US2966587A (en) | Hydrogen measurement | |
US3486113A (en) | Standardization of measuring systems to provide a constant output signal response characteristic with a changeable input transducer signal response characteristic | |
US3529162A (en) | Absorption curve matching circuit in nucleonic measuring system | |
US3368148A (en) | Method and device for measuring the specific electric resistance of electronic semiconductors | |
GB1109210A (en) | Measuring circuit for a paramagnetic gas analyzer | |
Feuer | Radioactive Electronic Detector-As Employed in Seederer-Kohlbusch Microbalance | |
USRE26100E (en) | Cahn electrical balance | |
French et al. | Regenerative system for continuous measurement of internal friction and Young's modulus of alkali halide crystals | |
US2959733A (en) | Hall effect magnetometer | |
US3235732A (en) | Radiation thickness gauge including a feedback readout circuit |