SU245206A1 - SUPPORT MEASURING CONDENSER - Google Patents
SUPPORT MEASURING CONDENSERInfo
- Publication number
- SU245206A1 SU245206A1 SU1208455A SU1208455A SU245206A1 SU 245206 A1 SU245206 A1 SU 245206A1 SU 1208455 A SU1208455 A SU 1208455A SU 1208455 A SU1208455 A SU 1208455A SU 245206 A1 SU245206 A1 SU 245206A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- potential
- electrode
- support measuring
- measuring condenser
- electrodes
- Prior art date
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003071 parasitic Effects 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
Description
Изобретение относитс к области электроизмерительной техники и лредназначено дл исследовани свойств диэлектрических материалов .The invention relates to the field of electrical measuring equipment and is designed to study the properties of dielectric materials.
В известных измерительных конденсаторах, содержащих низкопотенциальные и высокопотенциальные электроды, расположенные над поверхностью исследуемого материала, высокопотенциальный электрод имеет значительную емкость относительно окружающих предметов, что вл етс источником неконтролируемой погрешности измерений.In the known measuring capacitors containing low-potential and high-potential electrodes located above the surface of the material under study, the high-potential electrode has a significant capacitance relative to the surrounding objects, which is the source of uncontrolled measurement error.
Предлагаемый конденсатор отличаетс от известных тем, что низкопотенциальный электрод выполнен в виде замкнутого контура, окружающего высокопотенциальпый электрод.The proposed capacitor differs from the known ones in that the low-potential electrode is made in the form of a closed loop surrounding a high-potential electrode.
Благодар такой конструкции вли ние паразитной емкости уменьшаетс и повышаетс точность измерений.Due to this design, the influence of the parasitic capacitance is reduced and the measurement accuracy is improved.
На фиг. 1 изображен конденсатор, вид сверху; «а фиг. 2 - то же, сечение, перпендикул рное плоскости электродов.FIG. 1 shows a capacitor, top view; “And FIG. 2 - the same section, perpendicular to the plane of the electrodes.
Низкопотенциальный электрод 1 окружает высокопотенциальный электрод 2 и вл етс одновременно возбудителем электромагнитного пол в исследуемом материале 3 и экраном дл электрода 2. Рабоча емкость конденсатора составл ет 2 Ср, а паразитные емкости - Сп, и Сп, электрода 2 относительно окружающих предметов 4 значительно уменьшены , так как рассто ние между электродами / и 2 намного меньше, чем рассто ние от электрода 2 до окружающих предметов.The low-potential electrode 1 surrounds the high-potential electrode 2 and is simultaneously the exciter of the electromagnetic field in the test material 3 and the shield for the electrode 2. The working capacitance of the capacitor is 2 Cf, and the parasitic capacitances Cn and Cn, of the electrode 2 relative to surrounding objects 4 are significantly reduced, since the distance between the electrodes / and 2 is much smaller than the distance from electrode 2 to the surrounding objects.
Форма измерительного конденсатора в плоскости электродов зависит в основном от формы и размеров исследуемых изделий.The shape of the measuring capacitor in the plane of the electrodes depends mainly on the shape and size of the investigated products.
Предмет изобретени Subject invention
Накладной измерительный конденсатор, содержащий низкопотенциальный и высокопотенциальный электроды, отличающийс тем, что, с целью повышени точности измерений, низкопотенциальный электрод выполнен в виде замкнутого контура, окружающего высокопотенциальный электрод.A patch measuring capacitor containing low potential and high potential electrodes, characterized in that, in order to improve the measurement accuracy, the low potential electrode is made in the form of a closed loop surrounding the high potential electrode.
1+1+
L.IL.I
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU245206A1 true SU245206A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4551674A (en) * | 1982-11-12 | 1985-11-05 | At&T Bell Laboratories | Noncontacting conductivity type determination and surface state spectroscopy of semiconductor materials |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4551674A (en) * | 1982-11-12 | 1985-11-05 | At&T Bell Laboratories | Noncontacting conductivity type determination and surface state spectroscopy of semiconductor materials |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
RU93057194A (en) | METHOD OF NON-CONTACT MEASUREMENT IN DYNAMIC MODE OF DISPLACEMENT OR DIELECTRIC CONSTANT USING A CAPACITIVE SENSOR | |
SU245206A1 (en) | SUPPORT MEASURING CONDENSER | |
ATE547045T1 (en) | DEVICE FOR DETERMINING THE CONCENTRATION OF A SUBSTANCE IN BODY FLUID | |
US9410999B2 (en) | Contactless capacitive distance sensor | |
US4935841A (en) | Pressure sensor | |
KR100329359B1 (en) | Microcapacity measuring system and probing system | |
Broadhurst et al. | Two-terminal dielectric measurements up to 6× 108 Hz | |
US3600676A (en) | Moisture meter utilizing amplitude and bandwidth signals | |
US4914543A (en) | Variable capacitance | |
SU995016A1 (en) | Method of determination of dielectric permitivity of semiconductor and dielectric films in local area | |
US8493078B2 (en) | Sensor for capacitive detection of a mechanical deflection | |
SU1471152A1 (en) | Method of determining charge density in dielectrics | |
SU922498A1 (en) | Capacitive pickup of the distance to conductive surface | |
SU457023A1 (en) | Automatic concentration meter | |
SU356543A1 (en) | CAPACITIVE SENSOR | |
SU843000A1 (en) | Measuring capacitor | |
SU273336A1 (en) | CAPACITIVE SINGLE-SIDED SENSOR for | |
SU314248A1 (en) | DEVICE FOR THE EXPANSION OF LIGHT BEAMS | |
SU578603A1 (en) | Thref-electrode sensor | |
SU323746A1 (en) | METHOD FOR DETERMINING DIELECTRIC CHARACTERISTICS | |
SU270893A1 (en) | SAMPLE CAPACITOR | |
SU1165967A1 (en) | Method of measuring moisture content | |
SU1448285A1 (en) | Transmitter of electrostatic potentials | |
SU1017999A1 (en) | Method of and device for measuring liquid inter-phase and surface potential | |
SU371532A1 (en) | MEASURING CONDENSER |