SU213376A1 - МИКРОСКОП дл ИЗМЕРЕНИЯ ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ОБРАЗЦА - Google Patents
МИКРОСКОП дл ИЗМЕРЕНИЯ ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ОБРАЗЦАInfo
- Publication number
- SU213376A1 SU213376A1 SU1121310A SU1121310A SU213376A1 SU 213376 A1 SU213376 A1 SU 213376A1 SU 1121310 A SU1121310 A SU 1121310A SU 1121310 A SU1121310 A SU 1121310A SU 213376 A1 SU213376 A1 SU 213376A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- measuring
- branch
- microscope
- micro
- Prior art date
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 9
- 210000001747 Pupil Anatomy 0.000 description 5
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 5
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 210000003128 Head Anatomy 0.000 description 1
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Description
Известные микроскопы дл измерени отражательной способности образца, содержаш ,ие ветвь сравнени и измерительную ветвь с осветителем, объективом и регистрирующим приспособлением, не позвол ют получить абсолютное значение отражательной способности образца и одновременно повысить точность измерени .
Предложенный микроокоп отличаетс от известных тем, что его .ветвь сравнени выполнена из отражательных элементов и двух встречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительной ветви, а .перед осветителем размещено разделительное приспособление, например установленна с возможностью качани вокруг оси, перлеидикул рной оси освещающего пучка, плоскопараллельна , прозрачна пластинка, направл юща освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнени .Ыа чертеже дана принципиальна оптическа схема микроскопа.
Световой пучок из монохроматора / с помощью ахроматической линзы 2 и толстой наклонной пластинки 3 направл етс в опак-иллюминатор микроскопа, где пр моугольна призма 4 отклон ет его в сторону микрообъектива 5. Выходное отверстие 6 монохроматора , расположенное в фокусе линзы 2, изображаетс при этом микрообъективом 5 « поверхности исследуемого образца 7 в виде светового зонда (в схеме работают микрообъективы , рассчитанные на длину тубуса «бесконечность).
Призма 4 расположена вблизи зрачка микрообъектива и занимает его половину. Форма и размеры светового пучка, вход щего в ОПак-иллюминатор, регулируютс диафрагмой 8, ограничивающей действующее отверстие монохроматора.
Отраженный от образца световой поток выходит из свободной части зрачка микрообъектива 5 в виде параллельного пучка и с помощью линзы 9, пары призм 10 и 11 направл етс «а приемник 12. При этом изображение выходного зрачка микрообъектива образуетс на поверхности фотокатода.
Дл наблюдени и выбора фотометрируемого участка применен дополнительный осветитель 13, включаемый призмой 14, и визуальна головка 15 с призмой 16. При необходимости в ход лучей могут быть введены пол ризатор 17 и анализатор 18.
Ветвь сравнени образуют два установленных навстречу друг другу микрообъектива 19 и 20, идентичные рабочему объективу 5, втора зрачкова призма 21, а также детали 22, 23 и 24, аналогичные по конетрукции и назначению соответствующим детал м рабочей ветви. Световой пучок в ветвь сравнени попадает при повороте пластинки 3, когда он перемещаетс параллельно самому себе ниже призмы 4.
При качании пластинки 3 монохроматический пучок попеременно попадает в обе ветви , а значит и на приемник. Отношение сигналов , которые можно выделить при соответствующей электрической коммутации, дает абсолютное значение отражательной способности исследуемого образца. Цри непрерывном изменении спектрального состава излучени , выход щего из монохроматора, регистрирующий прибор может воспроизводить кривую абсолютной дисперсии отрал :ательной способности.
Этот эффект достигаетс благодар выравниванию энергетических характеристик обеих ветвей (двойное прохождение света через однотипные микрообъективы, одинаковые преломл ющие и отражающие элементы, например призмы внутреннего отражени ), а также благодар использованию в обеих ветв х одного и того же начального потока.
Уменьшению уровн раосе иного света способствуют: освещение образца монохроматическим светом, зондовое освещение интересующего участка, применение опак-иллюминатора с призмой, работающей на половину зрачка, и попеременное освещение рабочей ветви и ветви сравнени .
Предмет изобретени
Микроскоп дл измерени отражательной способности образца, работающий по двухлучевому принципу, содержащий ветвь сравнени и измерительную ветвь с осветителем, объекти1вом и регистрирующим приспособлением , отличающийс тем, что, с целью получени абсолютного значени отражательной
способности .с одновременным повышением точности измерени , ветвь сравнени выполнена из отрал ательнь х элементов и двух встречно установленных объективов, идентичных одноименным элементам измерительной
ветви, а перед осветителем размещено разделительное приспособление, например, установленна с возможностью качани вокруг оси, перпендикул рной оси освещающего пуч1ка, плоскопараллельна прозрачна пластинка , направл юща освещающий пучок попеременно в измерительную ветвь и ветвь сравнени .
to
23
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU213376A1 true SU213376A1 (ru) |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5672880A (en) | Fluoresecence imaging system | |
US5311021A (en) | Spectroscopic sampling accessory having dual measuring and viewing systems | |
US5165063A (en) | Device for measuring distances using an optical element of large chromatic aberration | |
US4515445A (en) | Optical system for transmitted-light microscopy with incident illumination | |
US5225678A (en) | Spectoscopic sampling accessory having dual measuring and viewing systems | |
US3867032A (en) | Arrangement for objectively evaluating characteristics of gems, particularly diamonds | |
JP6096814B2 (ja) | スペクトル検出を伴う光走査型顕微鏡 | |
EP3438647B1 (en) | Optical instrument for measurement of total reflection absorption spectrum and measurement device | |
US5144477A (en) | Method of operating a scanning confocal imaging system | |
US5053803A (en) | Information display apparatus for camera | |
JP2001108910A (ja) | 投射光および透過光観察型顕微鏡 | |
US3664751A (en) | Accessory for microscopes for use as a two-beam photometer | |
JPH0560538A (ja) | 光学測定機 | |
US6618154B2 (en) | Optical measurement arrangement, in particular for layer thickness measurement | |
SU213376A1 (ru) | МИКРОСКОП дл ИЗМЕРЕНИЯ ОТРАЖАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ОБРАЗЦА | |
US3652163A (en) | Photometer for observation instruments mainly for microscopes | |
US3820870A (en) | Photometric instuments | |
US3843227A (en) | Light dissecting optical system | |
JPS5578218A (en) | Photometer for slit lamp | |
JP2006047780A (ja) | 赤外顕微鏡 | |
JPH03188408A (ja) | 走査型光学顕微鏡 | |
JPH01136112A (ja) | 顕微鏡のホトメータ鏡筒および測光用顕微鏡 | |
RU2766309C1 (ru) | Прибор анализа качества жидкости в поу | |
JP2020012652A (ja) | レンズチェッカー | |
CN216433243U (zh) | 一种测量口径可连续变化的测色仪 |