SU207427A1 - CONTACT INTERFEROMETER UWAIR FOR LINEAR MEASUREMENTS - Google Patents
CONTACT INTERFEROMETER UWAIR FOR LINEAR MEASUREMENTSInfo
- Publication number
- SU207427A1 SU207427A1 SU1013170A SU1013170A SU207427A1 SU 207427 A1 SU207427 A1 SU 207427A1 SU 1013170 A SU1013170 A SU 1013170A SU 1013170 A SU1013170 A SU 1013170A SU 207427 A1 SU207427 A1 SU 207427A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- interferometer
- uwair
- linear measurements
- contact
- contact interferometer
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 7
- 230000003287 optical Effects 0.000 description 5
- 230000001427 coherent Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective Effects 0.000 description 1
Description
Контактные интерферометры предназначены цл измерени наружных линейных размеров различных изделий методом сравнени с концевыми мерами.Contact interferometers are designed to measure the outer linear dimensions of various products by the method of comparison with terminal measures.
Известен контактный интерферометр дл линейных измерений, построенный по принципу двухлучевой интерференции света при контактном касании измер емого объекта. Известные контактные интерферометры дл линейных измерений недостаточно точны потому , что не обеспечивают стабильность контактных сближений между измер емым объектом и предметным столом.A known contact interferometer for linear measurements, built on the principle of two-beam light interference when the contact touches the measured object. The known contact interferometers for linear measurements are not accurate enough because they do not ensure the stability of the contact approaches between the object being measured and the subject table.
Предлагаемый интерферометр свободен от указанного недостатка. Это достигаетс тем, что на линии -измерени установлены два отсчетных устройства с заданными измерительными усили ми. Между ними помещаетс измер емый объект и сумма их показаний дает показание интерферометра с повышенной точностью .The proposed interferometer is free from this drawback. This is achieved by the fact that two readout devices are installed on the measurement line with specified measuring forces. A measured object is placed between them and the sum of their readings gives an interferometer reading with increased accuracy.
На чертеже представлена нринципиальна схема предлагаемого устройства. Два встречных отсчетных устройства интерферометра в основном одинаковы. Свет от источника / с помощью конденсора 2 проходит светофильтр .3 и попадает на пластину , котора раздел ет свет на два когерентных пучка. Один из них направл етс на неподвижное зеркало 5,The drawing shows the principle of the proposed device. Two counter interferometer readout devices are basically the same. The light from the source / by means of the condenser 2 passes the light filter .3 and hits the plate, which divides the light into two coherent beams. One of them is directed to a fixed mirror 5,
а другой - на подвижное зеркало i5, укре.пленное на измерительном стержне 7.and the other on the movable mirror i5, mounted on the measuring rod 7.
Пучки света, отраженные зеркалами, проход т объектив 8 и направл ютс на приемное устройство, например, экран 9 со шкалой. Если разность хода лучей невелика, то световые потоки интерферируют в плоскости экрана-шкалы . В белом свете интерференционные полосы окажутс цветными и .среди них черпа ахроматическа полоса, видима на щкале , может служить указателем положени измерительного стержн на оси прибора.The light beams reflected by the mirrors pass the lens 8 and are directed to a receiving device, for example, a screen 9 with a scale. If the path difference of the rays is small, then the light fluxes interfere in the plane of the screen-scale. In white light, interference fringes will turn out to be colored and, among them, an achromatic stripe, visible on the scale, can serve as an indicator of the position of the measuring rod on the axis of the instrument.
Измерение объекта УО на предлагаемом интерферометре производитс сравнительнымThe measurement of the object of the protective device on the proposed interferometer is performed by comparative
методом и заключаетс в определении суммы осевых смещений измерительных стержней обоих отсчетных устройств от их нулевых положений , установленных но образцовой мере или образцовому изделию.the method and consists in determining the sum of the axial displacements of the measuring rods of both reading devices from their zero positions established by an exemplary measure or exemplary product.
На чертеже экраны наказаны раздельно, в промышленном образце они могут быть совмещены известным способом.In the drawing, the screens are punished separately; in an industrial design, they can be combined in a known manner.
Предмет изобретени Subject invention
Контактный интерферометр дл линейных измерений, содержащий оптическую систему двухлучево.го интерфер01метра, котора состоит из светоделительной пластины, подвижного и неподвижного зеркала, столика дл измер чающийс тем, что, с целью повышени точности измерени , он содержит на оптической оси устройства вторую оптическую систему двухлучевого интерферометра, расположенную встречно относительно первой системы, 5 A contact interferometer for linear measurements containing the optical system of a two-beam interferometer, which consists of a beam-splitting plate, a movable and fixed mirror, and a table for measuring that, in order to improve the measurement accuracy, it contains on the optical axis of the device a second optical system of a two-beam interferometer located opposite to the first system, 5
при этом столик дл измер емого объекта расположен между оптическими системами, дл направлени интерференционных картин на приемное устройство на выходе оптической системы уста.новлена система зеркал.in this case, the table for the object to be measured is located between the optical systems, a system of mirrors is installed to direct the interference patterns to the receiving device at the output of the optical system.
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU207427A1 true SU207427A1 (en) |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4969744A (en) | Optical angle-measuring device | |
CN103454249B (en) | Based on optical glass homogeneity detection method and the device of white light interference | |
ATE56537T1 (en) | LENGTH MEASURING DEVICE ACCORDING TO THE TWO-BEAM LASER INTERFEROMETER PRINCIPLE. | |
US3680963A (en) | Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids | |
SU207427A1 (en) | CONTACT INTERFEROMETER UWAIR FOR LINEAR MEASUREMENTS | |
US4714346A (en) | Frequency chirped interferometric displacement sensors and mechanical translation tips therefor | |
US3271676A (en) | Three detector cycle counting means | |
US4606639A (en) | Broad bandwidth interferometric gauging system | |
SU352479A1 (en) | ||
RU2502951C1 (en) | Nano- and sub-nanometer accuracy apparatus for controlling position of object | |
SU1397718A1 (en) | Interferometer for measuring linear quantities and index of refraction | |
SU1081483A1 (en) | Device for registering changes in refraction index | |
SU149228A1 (en) | Interferometer for testing plane-parallel end measures | |
SU725500A1 (en) | Device for measuring geometric parameters of objects | |
SU364838A1 (en) | LINEAR MOVEMENT OBJECT SENSOR | |
SU1364866A1 (en) | Interference device for measuring angular displacements | |
SU1037066A1 (en) | Method of measuring angle of article | |
Chen et al. | A new high-precision device for one-dimensional grating period measurement | |
Liu et al. | Theory and application of laser interferometer systems | |
JPH02228512A (en) | Highly accurate laser measurement method and apparatus for surface of solid | |
SU700027A1 (en) | Interference method of measuring distances | |
Lyalikov | Highly sensitive interferometric testing of deviation of the wedge angle of transparent plates | |
RU2083969C1 (en) | Interference method of measurement of refractive index in specimens with refractive index gradient | |
RU2047085C1 (en) | Interferometer for measurement of translations of two-coordinate table | |
SU974112A1 (en) | Interferrometer for measuring object linear displacement |