SU192435A1 - DOUBLE-BLUE INTERFEROMETER FOR RESEARCH OF TRANSPARENT INHOMOGENEITIES - Google Patents

DOUBLE-BLUE INTERFEROMETER FOR RESEARCH OF TRANSPARENT INHOMOGENEITIES

Info

Publication number
SU192435A1
SU192435A1 SU1060717A SU1060717A SU192435A1 SU 192435 A1 SU192435 A1 SU 192435A1 SU 1060717 A SU1060717 A SU 1060717A SU 1060717 A SU1060717 A SU 1060717A SU 192435 A1 SU192435 A1 SU 192435A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
interferometer
blue
research
double
transparent
Prior art date
Application number
SU1060717A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
Н. В. Константиновска
Publication of SU192435A1 publication Critical patent/SU192435A1/en

Links

Description

Пзвестны двухлучевые интерферометры Маха-Пеидера дл  исследовани  прозрачных иеоднородностей.Mach-Peider dual-beam interferometers are known for studying transparent heterogeneities.

Пзвестны также интерферометры с газовым оптическим квантовым генератором в качестве источника света, построенные на основе теневого прибора типа ИАБ-451, в которых двухлучевую интерференционную картину получают с помощью, например, дифракционной решетки, установленной в полости объектива вместо щели и ножа.Interferometers with a gas optical quantum generator as a light source, based on a shadow instrument type IAB-451, are also known in which a two-beam interference pattern is obtained using, for example, a diffraction grating installed in the objective cavity instead of a slit and a knife.

Предложеппый интерферометр отличаетс  тем, что имеет две ветви с различным сечением световых пучков. Широка  рабоча  ветвь состоит из системы теневого прибора с двум  коллиматорами и системой дл  настройки. Узка  ветвь сравнени  включает две светоделительные пластины, телесконическую систему , создающую дополнительное полное оборачивание волнового фронта в ветви, и регистрирующую систему. Это позвол ет снизить требовани  к точности изготовлени  оптических деталей интерферометра и сохранить преимущества прибора с больщим рабочим полем.The proposed interferometer differs in that it has two branches with a different cross section of light beams. The wide working branch consists of a shadow device system with two collimators and a system for adjustment. The narrow comparison branch includes two beam-splitting plates, a telesconic system creating an additional full wrap of the wave front in the branch, and a recording system. This makes it possible to reduce the precision requirements for the manufacture of optical parts of the interferometer and to preserve the advantages of an instrument with a large working field.

Узкий пучок газового оптического квантового генератора (ОКГ) падает на полунрозрачную пластину / и делитс  на два пучка. Пучок, отраженный от пластины /, преобразуетс  в широкий пучок с помощью конденсорной системы 2, зеркала 3 и зеркально-менискового коллиматора 4 (типа коллиматора теневого прибора). После коллиматора 4 световой пучок проходит через исследуемый объект 5, систему 6 дл  настройки интерференционной картипы, состо щую из двух равновеликих клиньев, вращающихс  вокруг оси светового потока, и с помощью коллиматора 7 и зеркала 8 фокусируетс  в плоскости второйA narrow beam of a gas optical quantum generator (AGR) falls on a semi-transparent plate / and is divided into two beams. The beam reflected from the plate / is converted into a wide beam using a condenser system 2, a mirror 3 and a mirror meniscus collimator 4 (such as a shadow instrument collimator). After the collimator 4, the light beam passes through the object under study 5, system 6 for adjusting the interference pattern consisting of two equally sized wedges rotating around the axis of the light flux, and using the collimator 7 and mirror 8 is focused in the plane of the second

полупрозрачной нластины 9.translucent nlastiny 9.

Узкий пучок лучей, прошедщий пр мо через пластину /, проходит через телескопическую систему 10, создающую дополнительное полное оборачивание волнового фронта в ветви сравнени  с тем, чтобы интерферирующие волновые фронты были тождественны.A narrow beam of rays that passes right through the plate I passes through the telescopic system 10, creating an additional full wrap of the wave front in the reference branch so that the interfering wave fronts are identical.

Световой нучок с помощью объектива 11Luminous nauchok with lens 11

фокусируетс  в плоскости полупрозрачнойfocuses in a translucent plane

Предмет изобретени Subject invention

Двухлучевой интерферометр дл  исследовани  прозрачных неоднородностей, в частности , дл  исследовани  газо-аэродинамических полей в монохроматическом свете, основанный на использовании газового оптического квантового генератора в качестве источника света, отличающийс  тем, что, с целью получени  двухлучевой интерференционной картины и увеличени  чувствительности измерени , он имеет две ветви с различными сечени ми световых пучков, причем широка  рабоча  ветвь состоит из системы теневого прибора с двум  коллиматорами и системы дл  настройки , а узка  ветвь сравнени  состоит из двух светоделительных пластин, телескопической системы, создающей дополнительное полное оборачивание волнового фронта в ветви сравнени , и регистрирующей системы.A two-beam interferometer for investigating transparent inhomogeneities, in particular for studying gas-aerodynamic fields in monochromatic light, based on the use of a gas optical quantum generator as a light source, characterized in that it has two branches with different light beam sections, the working branch being wide, consisting of a shadow device system with two collimators and a system for settings, and the narrow comparison branch consists of two beam-splitting plates, a telescopic system, which creates an additional complete wrap of the wave front in the comparison branch, and a recording system.

а.. -Пa .. -P

V V

.,; Uft-----:iJ i., Uft -----: iJ i

f2 9f2 9

SU1060717A DOUBLE-BLUE INTERFEROMETER FOR RESEARCH OF TRANSPARENT INHOMOGENEITIES SU192435A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU192435A1 true SU192435A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7009700B2 (en) Method and device for obtaining a sample with three-dimensional microscopy
US6091496A (en) Multiple layer, multiple track optical disk access by confocal interference microscopy using wavenumber domain reflectometry and background amplitude reduction and compensation
CN106768280B (en) Multi-wavelength lens-free Fourier transform digital holography-based vibration detection device
AU2011384697A1 (en) Spectroscopic instrument and process for spectral analysis
KR20010083041A (en) Methods and apparatus for confocal interference microscopy using wavenumber domain reflectometry and background amplitude reduction and compensation
JPH07111323B2 (en) Optical measuring device
CZ2017570A3 (en) An imaging module for off-axis recording of polarized wavelengths
EP1084378A1 (en) Methods and apparatus for confocal interference microscopy using wavenumber domain reflectometry and background amplitude reduction and compensation
KR100769214B1 (en) Apparatus for measuring light beam
Kelsall Optical Frequency Response Characteristics in the presence of Spherical Aberration measured by an automatically recording Interferometric Instrument
JP5510676B2 (en) Interferometric system using spatial carrier frequency enabling imaging with polychromatic radiation
SU192435A1 (en) DOUBLE-BLUE INTERFEROMETER FOR RESEARCH OF TRANSPARENT INHOMOGENEITIES
US3764216A (en) Interferometric apparatus
KR102036067B1 (en) Optical measurement device for 3d morphology and refractive index
TWI537876B (en) Image processing method
US3506361A (en) Optics testing interferometer
Kozacki et al. Determination of optical field generated by a microlens using digital holographic method
RU2673784C1 (en) Two-component general track interferometer
Zdańkowski et al. Total-shear grating based optical diffraction tomography
US3701579A (en) Holographic interference microscopy
Polschikova et al. Multispectral Digital Holography Based on Acousto-Optic Spectral Tuning in a Common-Path Interferometer
CN115327876B (en) LED-based partially coherent reflection off-axis digital holographic micro-nano measurement system
Twyman The testing of microscope objectives and microscopes by interferometry
JP3443156B2 (en) Interference microscope
SU1555651A1 (en) Method of measuring dispersion of phase of thin phase-heterogeneous object