SU186557A1 - PULSATION METER FOR THE TENSION OF MAGNETIC FIELD - Google Patents

PULSATION METER FOR THE TENSION OF MAGNETIC FIELD

Info

Publication number
SU186557A1
SU186557A1 SU945093A SU945093A SU186557A1 SU 186557 A1 SU186557 A1 SU 186557A1 SU 945093 A SU945093 A SU 945093A SU 945093 A SU945093 A SU 945093A SU 186557 A1 SU186557 A1 SU 186557A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
magnetic field
tension
spot
photomultiplier
meter
Prior art date
Application number
SU945093A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
М. Трохан А.
Original Assignee
Институт теоретической , прикладной механики Сибирского отделени
Академии наук СССР
Publication of SU186557A1 publication Critical patent/SU186557A1/en

Links

Description

Известны измерители напр женности магнитного пол , содержащие электронную пушку и элемент, регистрирующий отклонение электронного пучка, позвол ющие измер ть одну компоненту вектора напр женности.Magnetic field strength meters are known that contain an electron gun and an element that detects the deflection of an electron beam, allowing one to measure one component of the intensity vector.

Описываемый измеритель пульсации напр женности магнитного пол  отличаетс  от известных тем, что, с целью измерени  напр женности магнитного пол  в двух взаимно перпендикул рных плоскост х, в нем примеиены скрещенные оптические клинь  с фотоэлектрическими приемниками и блок компенсации изменений  ркости п тна на люминесцентном экране.The described magnetic field intensity ripple meter differs from those known in that, in order to measure the magnetic field strength in two mutually perpendicular planes, it combines optical wedges with photoelectric receivers and a unit for compensating for the brightness of the spot on the fluorescent screen.

На чертеже представлена принципиальна  схема преобразовател .The drawing shows a schematic diagram of the converter.

Пучок электронов /, испускаемый источником 2, наход щимс  в магнитном экране 3, падает на люминесцентный экран 4, образу  п тно 5. Изображение п тна 5 при помощи объектива 6 проектируетс  на полупрозрачное зеркало 7, которое раздел ет пучок света на две части. Перва  часть через оптический клин 8 и зеркало 9 попадает на фотоумножитель 10. Втора  часть пучка попадает на полупрозрачное зеркало 11, где снова раздел етс  на две части, одна из которых попадает на фотоумножитель 12, а друга  через оптический клин 13 и зеркало М - на фотоумножитель 15. Изменение напр женности пол  вызывает The electron beam / emitted by the source 2 located in the magnetic screen 3 falls on the luminescent screen 4, forming a spot 5. The image of the spot 5 is projected onto the semi-transparent mirror 7 by means of an objective lens 6, which divides the light beam into two parts. The first part passes through the optical wedge 8 and the mirror 9 hits the photomultiplier 10. The second part of the beam hits the translucent mirror 11, where it is again divided into two parts, one of which goes to the photomultiplier 12, and the other through the optical wedge 13 and the mirror M photomultiplier 15. The change in intensity of the sex causes

изменение положени  п тна 5, причем изменение Y компоненты вызывает смещение п тна вдоль оси X, а изменение X компоненты - смещение вдоль оси Y. Оптически клинь  расположены таким образом, что количество света , проход щего через клин 8, мен етс  только при изменении положени  п тна вдоль оси Y, а количество света, проход щего через клин 13, - только при изменении положени  п тна вдоль оси X. Таким образом, ток в цепи фотоумножител  10  вл етс  функцией //д., а ток в цепи фотоумножител  15 - функцией Ну.a change in the position of the spot 5, and a change in the Y component causes the spot to shift along the X axis, and a change in the X component offsets the Y axis. Optically, the wedge is positioned so that the amount of light passing through the wedge 8 changes only when the position changes the spot along the Y axis, and the amount of light passing through the wedge 13 is only when the spot is repositioned along the X axis. Thus, the current in the photomultiplier circuit 10 is a function // // and the current in the photomultiplier circuit 15 - function well

При небольших отклонени х пучка можно считать, что проекци  траектории электронов на координатную плоскость  вл етс  окружностью с радиусомWith small deflections of the beam, we can assume that the projection of the electron trajectory onto the coordinate plane is a circle with a radius

R 33,7 мм,R 33.7 mm,

где и эв - энерги  электронов; - соответствующа  компонента напр женности.where and ev is the electron energy; - The corresponding component of the intensity.

Если образующа  поверхность люминесцентного экрана  вл етс  окружностьюIf the forming surface of the luminescent screen is a circle

/г2+а2 а2о, то/ r2 + a2 a2o, then

h R- YRZ - 020 + h. Отсюдаh R- YRZ - 020 + h. From here

етс  линейной функцией нанр женностей пол  Ну и НX Поскольку оптические клинь  8 и 13 линейно измен ют величину светового иотока , падающего на фотоумножители 10 и 15 в зависимости от смещени  изображени  п тиа вдоль оси У и X, то ток в цепи фотоумножител  10 равен /i Consti. Яд. и ток в цепи фотоумножител  15 равен /2 Const2- Ну. Регулиру  коэффициенты усилени  умножителей , можно получить, что Consti Const2. Дл  того чтобы избежать вли ни  случайных изменений  ркости п тна на результаты измерени , часть светового потока, мину  оптические клинь , попадает на фотоумножитель 12, изменение тока в цепи которого измен ет коэффициент усилени  выходных каскадов 16 и 17, в результате чего получаетс  независимость сигналов Н.(. и Я, от  ркости п тна. Чувствительность прибора может измен тьс Since the optical wedges 8 and 13 linearly change the magnitude of the light flux incident on the photomultipliers 10 and 15 depending on the image displacement five along the Y and X axis, the current in the photomultiplier circuit 10 is equal to / i Consti. Poison. and the current in the photomultiplier circuit 15 is equal to / 2 Const2- Well. By adjusting the gain factors of the multipliers, you can get that Consti Const2. In order to avoid the effect of random changes in the luminance of the spot on the measurement results, part of the luminous flux, optical wedge falls on the photomultiplier 12, changing the current in the circuit of which changes the gain of the output stages 16 and 17, resulting in the independence of the signals H . (. and I, from the brightness of the spot. The sensitivity of the instrument may vary

путем изменени  ускор ющего напр жени  электронов и изменени  длины рабочей части электронного пучка.by changing the accelerating voltage of the electrons and changing the length of the working part of the electron beam.

Прибор позвол ет измер ть магнитные пол  пор дка .The device allows you to measure magnetic fields.

Предмет изобретени Subject invention

Измеритель пульсации напр женности магнитного пол , содержащий электронную пущку и элемент, регистрирующий отклонение электронного пучка, отличающийс  тем, что, с целью измерени  напр женности магнитногоA pulsation meter of magnetic field strength, containing an electron starter and an element that detects an electron beam deflection, characterized in that, in order to measure the magnetic field strength

пол  в двух взаимно перпендикул рных плоскост х , в нем используютс  скрещенные оптические клинь  с фотоэлектрическими приемниками и блок компенсации изменений  ркости п тна на люминесцентном экране.the floor is in two mutually perpendicular planes; it uses crossed optical wedges with photoelectric receivers and a block for compensating for changes in spot brightness on a fluorescent screen.

SU945093A PULSATION METER FOR THE TENSION OF MAGNETIC FIELD SU186557A1 (en)

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833549672A Addition SU1098913A2 (en) 1983-02-08 1983-02-08 Debiteuse for drawing sheet glass

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU186557A1 true SU186557A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4990776A (en) Electron microscope
US6974938B1 (en) Microscope having a stable autofocusing apparatus
US4211924A (en) Transmission-type scanning charged-particle beam microscope
US4417814A (en) Night sight with illuminated aiming point
US7307261B2 (en) Fluorescence detecting apparatus
US4740685A (en) Double sweep streak camera device
JP5553154B2 (en) Adjustment method of multi-segment STEM detector
US4801796A (en) Streak camera unit with elliptical deflection
SU186557A1 (en) PULSATION METER FOR THE TENSION OF MAGNETIC FIELD
US5043584A (en) Photon-counting type streak camera device
RU90933U1 (en) ELECTRON-OPTICAL CONVERTER
US4031391A (en) Electron microscope including improved means for determining and correcting image drift
US4797747A (en) Streak camera device having a plurality of streak tubes
US20060002244A1 (en) Evaluation apparatus and method of optical parts
US5510588A (en) Image intensifier apparatus
JPS5931174B2 (en) Transmission scanning electron microscope
Emberson et al. Some aspects of the design and performance of a small high-contrast channel image intensifier
Eschard et al. Signal to Noise and Collection Efficiency Measurements in MicroChannel Wafer Image Intensifies
CN220105289U (en) Laser distance measuring device
US4740684A (en) Streak camera with refractive light beam conditioner
JP3315212B2 (en) Weak luminescence measuring device
RU2704330C1 (en) Photoemission profilometer of laser beam
SU757897A1 (en) Arrangement for measuring optronic device resolution
SU66779A1 (en) Electron-optical converter
Estrella et al. The effect of microchannel plate intensifier electrostatic focusing fields on modulation transfer function