SU175711A1

SU175711A1 - METHOD OF X-RAY ANALYSIS

Info

Publication number: SU175711A1
Application number: SU810431A
Authority: SU
Original assignee: В. И. Трефилов , В. Н. инаков

Description

Известны способы рентгеноструктурного анализа, по которым регистрацию распределени интеисивиости реитгеновского излучени осуществл ют с иомощью щели, установленной перед детектором. При сканировании интерференционных линий детектор движетс вместе со щелью в заданном диапазоне углов.X-ray analysis methods are known in which the registration of the distribution of the Reitgen radiation intensity is carried out with the aid of a slit installed in front of the detector. When scanning the interference lines, the detector moves with the slit in a given range of angles.

Предлагаемый способ отличаетс от известных тем, что детектор рентгеновского излучени (например, ФЭУ с люминофором) закрепл ют неподвижио, а щели придают возвратно-поступательное движение. Это иозвол ет улучшить временпое разрещение интерференционных линий при регистрации быстропротекающих процессов. Дл одновременной регистрации нескольких линий за выходными щел ми устанавливают несколько детекторов, соответственно числу щелей.The proposed method differs from the known ones in that the X-ray detector (for example, a photomultiplier tube with a phosphor) fixes it off and the slits give a reciprocating motion. This makes it possible to improve the temporal resolution of the interference lines when registering fast processes. For simultaneous registration of several lines behind the output slots, several detectors are installed, corresponding to the number of slots.

На чертеже изображено устройство дл осуществлени описываемого способа.The drawing shows a device for carrying out the described method.

На окружности условного радиуса, наиример R (съемка по методу Зеемана-Болина), располагают фокус рентгеновской трубки /, образец 2 и подвижную щель 3 фотоумножител (детектора) 4 с люминофором 5. Интерференционна лини фокусируетс на подвижной щели. Если ширина щели намного меньше ширины иитерференционной лииии, то при возвратно-поступательном движении At the circumference of the conditional radius, nairimer R (Zeeman-Bolin imaging), have the focus of the X-ray tube /, sample 2 and the movable slit 3 of the photomultiplier (detector) 4 with the phosphor 5. The interference line is focused on the movable slit. If the gap width is much smaller than the width of the interference line, then during reciprocating motion

щели по кругу фокусировани на поверхность люминофора последовательпо пропускаетс та часть надаюни1 па щель рентгеновских квантов, котора соответствует интенсивности липни в месте нахождени щели. Величина фототока умножител иропорциональпа интепснвностн освещени фотокатода, и, следовательно , при движении щели вдоль v иииll фототок восиронзводит расиределение интенсивности в липни.slits in a circle of focusing on the surface of the phosphor successively passing that part of the naduuni to the slit of x-ray quanta, which corresponds to the intensity of sticky at the place where the slit is located. The magnitude of the photocurrent of the multiplier of the proportionmentalpolarity of illumination of the photocathode, and, therefore, when the slit moves along v and iii, the photocurrent reproduces the intensity distribution at the photo.

С интегрирующей цепочки на выходе фотоумножител импульсы нанр жепи иостунают на вход ншрокоиолостного усилител 6, коэффициент усилени которого варьируетс в пределах 200-2000 в зависимости от типа фотоумножител и величины иапр жени источника питани 7 фотоумножител . После усилени импульсы проход т через амплитудиый дискриминатор 8, интегрирующую цепочку с катодным повторителем 9 и подаютс иа шлейф шлейфового осциллографа JO.From the integrating chain at the output of the photomultiplier, the pulses are nanouped and connected to the input of a nodal amplifier 6, the gain of which varies from 200-2000 depending on the type of photomultiplier and the magnitude and voltage of the power source 7 photomultiplier. After amplification, the pulses pass through the amplitude discriminator 8, which integrates the chain with the cathode repeater 9, and the loop of the JO oscilloscope is fed.

Предмет изобретени Subject invention

Claims

1. A method of reiteration analysis with scanning of the interference linil in a diffractometer using a slit installed in front of the detector, characterized in that, in order to improve the temporal resolution of the interference lines during the registration of fast processes, an X-ray detector (with a luminoforimetric lens (a lens, with a luminofimage). and the chock doesn’t like reciprocating movement.

2. A method according to claim 1, characterized in that, in order to simultaneously register several lines, several detectors are installed behind the output slots, respectively, the number of slots.

J 5