SU1755125A1 - Устройство дл определени показател преломлени - Google Patents
Устройство дл определени показател преломлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1755125A1 SU1755125A1 SU904808034A SU4808034A SU1755125A1 SU 1755125 A1 SU1755125 A1 SU 1755125A1 SU 904808034 A SU904808034 A SU 904808034A SU 4808034 A SU4808034 A SU 4808034A SU 1755125 A1 SU1755125 A1 SU 1755125A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- sample
- lens
- rotation
- angle
- radiation
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Сущность изобретени : устройство содержит светоделитель и последовательно расположенные источник монохроматического излучени , объектив, диафрагму и устройство поворота исследуемого образца, а также систему анализа интерференционной картины, плоское зеркало, расположенное за устройством поворота исследуемого образца перпендикул рно оптической оси, при этом светоделитель расположен за источником монохроматического излучени и ориентирован под углЬм 45° к оптической оси, а система анализа интерференционной картины расположена в плоскости изображени источника излучени , сформированного объективом и светоделителем. 1 ил. Ё
Description
Изобретение относитс к оптическим измерени м и может быть использовано дл определени абсолютного значени показател преломлени оптических материалов.
Известны устройства, позвол ющие определ ть показатели преломлени образцов оптических материалов, выполненных в виде плоскопараллельных пластин
Однако, устройство не обеспечивает высокой точности измерений, так как у него ограничен диапазон поворота образца из- за взаимного смещени интерферирующих световых пучков и низок контраст интерференционных полос из-за разной интенсивности этих световых пучков Кроме того, дл определени с помощью этого устройства показател преломлени необходимо предварительно с высокой точностью измер ть толщину исследуемого образца
Устройство не требует предварительного бпределени толщины образца, поскольку она определ етс в процессе измерений.
Однако, оно так же не обеспечивает высокой точности измерений, так как имеет малую чувствительность к измер емой величине .
Наиболее близким к изобретению вл етс устройство, которое и выбрано в качестве прототипа. Это устройство содержит источник монохроматического излучени , объектив, интерферометр Маха-Цен дера, устройство поворота исследуемого образца и систему анализа интерференционной картины. Устройство позвол ет определ ть абсолютный показатель преломлени образца по изменению пор дка интерференции в зависимости от угла поворота образца. Изменение пор дка интерференции соответствует числу интерференционных полос N, пробеХ|
сл ел
кэ с
жавших через анализируемую точку изображени при развороте образца. Образец дл измерений изготавливаетс в виде плоскопараллельной пластинки.
К основным недостаткам прототипа следует отнести снижение точности измерений за счет смещени светового пучка, прошедшего через образец, при его повороте, а также сложностТГконструкции.
Смещение светового пучка при повороте образца приводит (с-очЪйь жестким требовани м k качеству изготовлени оптических элементов (обьёктивов, зеркал, светоделителей), т.е. принтом интерферируют не одноименные лучи света и погрешности изготовлени непосредственно складываютс с погрешностью определени величины изменени пор дка интерференции. Это также накладывает ограничение на максимальный диаметр световых пучков(при допустимой погрешности 0,01 полосы диаметр не более нескольких миллиметров); к уменьшению контраста интерференционных полос по мере разворота образца и к их полному исчезновению в области фотоприемника при смещении, равном половине диаметра световых пучков. Это накладывает существенные ограничени на величину диапазона углов поворота образца. Величина смещени определ етс следующей формулой:
d-|.,ina.Cl-Vni fynag KB
где I - толщина образца;
G - угол поворота;
п - показатель преломлени .
Из (1) следует, что при мм, п 1,6 и диаметре светового пучка 6 мм, максимальный угол, на который можно развернуть образец, равен 40°.
Ограничение величины диапазона углов поворота образца также снижает точность определени показател преломлени . Действительно, чем больше угол поворота образца, тем больше число пробежавших интерференционных полос N, т.е. при посто нной погрешности определени числа пробежавших полос A N, относительна
погрешность 5N -in- с увеличением угла поворота уменьшаетс . Погрешность определени показател преломлени Дп можно рассчитать по следующей эмпирической формуле:
An-ffi m n-jFm
(0,79 Ом) где Ом - величина максимального угла разворота образца,град;
I - число контролируемых углов разворота образца.
Из (2) видно, что с уменьшением угла поворота образца погрешность определени показател преломлени увеличиваетс ,
Цель изобретени - повышение точности измерений и упрощение конструкции устройства.
Поставленна цель достигаетс тем, что в устройство дл определени показател преломлени , содержащее последовательно расположенные источник монохроматического излучени , обьектив, устройство
поворота, исследуемого образца, а также систему анализа интерференционной картины , введены плоское зеркало, установ-, ленное по ходу излучени за устройством поворота исследуемого образца перпендикул рно оптической оси, и светоделитель, отражающа грань которого ориентирована под углом 45° к оптической оси, расположенный между источником монохроматического излучени и объективом, а система
анализа интерференционной картины расположена в плоскости автоколлимационного изображени источника излучени , сформированного объективом с помощью зеркала и светоделител .
Определение показател преломлени и толщины исследуемого образца проводитс путем измерени количества интерференционных полос, прошедших через систему анализа, в зависимости от угла поворота образца. При этом величину показател преломлени п образца и его толщину I наход т из решени системы уравнений
40
-sln2ai -cosai-n + 1
2e
N1 f -sin2«i -cosai-n + 1
(3)
где а - текущий угол разворота образца
(угол между нормалью к образцу и оптической осью);
А-длина волны источника излучени ; NI - количество прошедших интерфе- ренционных полос при развороте образца
от О)
Повышение точности в за вл емом техническом решении достигаетс за счет уменьшени вли ни внешних воздействий (вибраций, конвекционных потоков воздуха ), обеспечени возможности проведени измерений в широком диапазоне углов поворота исследуемого образца,(0 + 90°) и двойного прохождени света через образец .
Уменьшение вли ни внешних воздействий происходит за счет того, что в отличие от прототипа оба интерферирующих световых пучка формируютс одними и теми же элементами устройства, что уменьшает вли- ние вибраций, и пространственно расположены близко друг к другу, что уменьшает вли ние конвекционных потоков воздуха.
Возможность проведени измерений при больших углах разворота образца обес- печиваетс путем устранени смещени интерферирующих световых пучков в области формировани интерференционной картины за счет автоколлимационного отражени прошедшего через образец света от введен- иого плоского зеркала. При этом погрешность изготовлени оптических элементов значительно меньше, чем в прототипе, будет вли ть-на точность определени показател преломлени .
Как следует из (2), с увеличением угла поворота образца точность определени показател преломлени увеличиваетс . Например, дл образца с I 10 мм, п 1,6. при максимальном угле разворота Ом - 40° и при числе контролируемых углов 1 10, погрешность в определении показател преломлени составит Дп 21103.
При тех же услови х, но при увеличении максимального угла поворота до 80°, по- грешность в определении показател преломлени будет А п 4,8 10 . Таким образом, точность определени показател преломлени возросла приблизительно в 40 раз.
На чертеже представлена принципиальна схема устройства дл определени показател преломлени .
Устройство содержит последовательно расположенные источник монохроматического излучени 1, светоделитель 2, обьек- тив 3, диафрагму 4, устройство поворота исследуемого образца 5, зеркало б, а также систему анализа интерференционной картины 7. Исследуемый образец 8 закреплен на оси устройства поворота 5.
Устройство работает следующим образом .
Источник монохроматического излучени 1 с помощью объектива 3 и диафрагмы 4 формирует плоскую световую волну, одна часть которой проходит мимо исследуемого
образца 8 и вл етс опорной, а друга часть дважды проходит через образец 8. Отразившись от зеркала 6, обе волны попадают в объектив 3, который с помощью светоделител 2 формирует в своей фокальной плоскости интерференционные полосы. Регистраци и обработка интерференционной картины осуществл етс системой анализа интерференционной картины 7. При развороте исследуемого образца 8 с помощью устройства поворота 5 фаза светового пучка , прошедшего через образец, измен етс , что приводит к перемещению интерференционных полос в плоскости регистрации. Система анализа 7 регистрирует число прошедших интерференционных полос NI; в зависимости от величины угла поворота образца а который измер етс с помощью датчика угловых перемещений. Подстановкой измеренных значений NI и GI в систему уравнений (3) определ ютс показатель преломлени п и толщина I образца. Таким образом, использование предлагаемого технического решени позвол ет повысить точность измерений, снизить требовани к качеству оптических деталей, уменьшить вли ние внешних условий на результат измерений, а также упростить конструкцию устройства.
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл определени показател преломлени , содержащее последовательно расположенные источник монохроматического излучени , объектив, устройство поворота исследуемого образца , а также систему анализа интерференционной картины, отличающеес тем, что, с целью повышени точности измерений и упрощени конструкции, в него введены плоское зеркало, установленное по ходу излучени за устройством поворота после исследуемого образца перпендикул рно оптической оси, и светоделитель, отражающа грань которого ориентирована под углом 45° к оптической оси, расположенный между источником монохроматического излучени и объективом, а система анализа интерференционной картины расположена в плоскости автоколлнмационного изображени источника излучени , сформированного объективом с помощью зеркала и светоделител .$л/ / / / // / / / /Уф
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904808034A SU1755125A1 (ru) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | Устройство дл определени показател преломлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU904808034A SU1755125A1 (ru) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | Устройство дл определени показател преломлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1755125A1 true SU1755125A1 (ru) | 1992-08-15 |
Family
ID=21504908
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU904808034A SU1755125A1 (ru) | 1990-04-02 | 1990-04-02 | Устройство дл определени показател преломлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1755125A1 (ru) |
-
1990
- 1990-04-02 SU SU904808034A patent/SU1755125A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1017978,кл G 01 N 21/41,1981. Авторское свидетельство СССР № 155078, кл. G 01 N 21/45, 1987 Betrler К., Grone A., Schmidt N., Voingt P. Interferometrlc meascement of refractive indices. Rev.Sci. Instrum., v.59, 1988, N 4, p 652-653. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US3319515A (en) | Interferometric optical phase discrimination apparatus | |
CN103454249A (zh) | 基于白光干涉的光学玻璃均匀性检测方法及装置 | |
JPH08304229A (ja) | 光学素子の屈折率分布の測定方法および装置 | |
CN112710455B (zh) | 一种同时测量光学元件反射透射畸变差的方法及装置 | |
US3994599A (en) | Method and apparatus for measuring wall thickness and concentricity of tubular glass articles | |
Kelsall | Optical Frequency Response Characteristics in the presence of Spherical Aberration measured by an automatically recording Interferometric Instrument | |
SU1755125A1 (ru) | Устройство дл определени показател преломлени | |
JP3423486B2 (ja) | 光学素子の屈折率分布の測定方法および装置 | |
Steel | A polarization interferometer for the measurement of transfer functions | |
JPH0449642B2 (ru) | ||
US2648250A (en) | Interferometer apparatus with measuring grid | |
JP3670821B2 (ja) | 屈折率分布の測定装置 | |
CN106403829A (zh) | 基于双光路红外反射法的涂层测厚仪 | |
JPH0118371B2 (ru) | ||
JPH05500853A (ja) | ガラス管壁の厚さを決定するための方法及び装置 | |
RU207091U1 (ru) | Устройство определения показателя преломления образца | |
RU2727779C1 (ru) | Двойной интерференционный спектрометр | |
RU1770848C (ru) | Способ определени показател преломлени клиновидных образцов | |
US2878722A (en) | Apparatus and methods for testing optical systems, lenses and the like | |
SU1550378A1 (ru) | Способ определени показател преломлени прозрачных сред | |
SU847018A1 (ru) | Измеритель перемещений | |
SU868496A1 (ru) | Способ измерени флуктуаций угла прихода излучени | |
SU792107A2 (ru) | Рефрактометр | |
Rao | Spectrographic technique for determining refractive indices | |
SU737817A1 (ru) | Интерференционный способ измерени показател преломлени диэлектрических пленок переменной толщины |