SU1744460A1 - Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations - Google Patents
Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations Download PDFInfo
- Publication number
- SU1744460A1 SU1744460A1 SU884494088A SU4494088A SU1744460A1 SU 1744460 A1 SU1744460 A1 SU 1744460A1 SU 884494088 A SU884494088 A SU 884494088A SU 4494088 A SU4494088 A SU 4494088A SU 1744460 A1 SU1744460 A1 SU 1744460A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- output
- input
- measuring interferometer
- photodetectors
- parameters
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике. Цель изобретени - повышение производительности измерений за счет упрощени юстировки. Устройство содержит измерительный интерферометр, состо щий из светоделител 4 и зеркала 5 и п фотоприемников 6. Сигналы с фотоприемников 6 суммируютс по абсолютному значению, что приводит к независимости результатов измерений от положени фотоприемников 6. 1 ил.The invention relates to a control and measuring technique. The purpose of the invention is to improve measurement performance by simplifying alignment. The device contains a measuring interferometer consisting of a splitter 4 and a mirror 5 and n photodetectors 6. The signals from the photodetectors 6 are summed by the absolute value, which leads to the independence of the measurement results from the position of the photodetectors 6. 1 Il.
Description
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и может быть использовано дл контрол вибраций.The invention relates to a measuring and control technique and can be used to control vibrations.
Цель изобретени - повышение производительности измерений за счет упрощени юстировки.The purpose of the invention is to improve measurement performance by simplifying alignment.
На чертеже представлена блок-схема устройства.The drawing shows the block diagram of the device.
Устройство состоит из оптически св занных источника 1 оптического излучени , диафрагмы 2, длиннофокусной линзы 3,из- мерительного интерферометра, предназначенного дл оптической св зи с поверхностью контролируемого объекта и состо щего из оптически св занных светоделител 4 и зеркала 5, п электрических цепей; кажда из которых состоит из последовательно соединенных фотоприемника 6, расположенного в выходной плоскости измерительного интерферометра, фильтра 7 высоких частот и блока 8 выделени абсолютного значени , выход которого вл етс выходом электрической цепи, и последовательно соединенных сумматора 9, входы которого подключены к выходам электрических цепей, и блока 10 регистрации .The device consists of optically coupled optical radiation source 1, diaphragm 2, a long-focus lens 3, a measuring interferometer designed for optical communication with the surface of the object under test and consisting of optically coupled beam splitter 4 and a mirror 5, n electrical circuits; each of which consists of a series-connected photodetector 6 located in the output plane of the measuring interferometer, a high-pass filter 7 and an absolute value extraction unit 8, the output of which is the electrical circuit output, and the series-connected adder 9 whose inputs are connected to the outputs of the electrical circuits, and block 10 registration.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Интенсивность интерферограммы поверхности контролируемого объекта 11 в п различных точках фотоприемники 6 преобразуют в электрические сигналы, причем ам- плитудасигналовразличныхThe intensity of the interferogram of the surface of the monitored object 11 at n different points of the photodetectors 6 is converted into electrical signals, with the amplitude of the signals from different
фотоприемников 6 в общем случае различна и определ етс локальными интенсивност - ми интерферирующих световых потоков и разностью и фаз. Каждое положение почPhotoreceivers 6 are generally different and are determined by the local intensities of the interfering light fluxes and the difference and phases. Every position is po
4 - 4 О О4 - 4 О О
верхности объекта 11 характеризуетс оп- ределенным амплитудно-фазовым пространственным распределением в спекл-структуре, которое определ ет амплитуду и фазу сигнала на каждом фотоприемнике 6. При смещении поверхности объекта 11 изменитс и указанное распределение , а значит и сигналы на каждом отдельном фотоприемнике 6, однако среднее значение сигнала при достаточно большом п будет неизменно.The surface of object 11 is characterized by a certain amplitude-phase spatial distribution in the speckle structure, which determines the amplitude and phase of the signal at each photodetector 6. When the surface of the object 11 is shifted, the specified distribution and, therefore, the signals at each individual photodetector 6, however the average value of the signal for a sufficiently large n will be unchanged.
Сигналы фотоприемников б, с целью подавлени низкочастотных помех обрабатывают фильтрами 7 высоких частот.The signals of photodetectors b, in order to suppress low-frequency interference, are processed by high-pass filters 7.
После этого в блоках 8 осуществл етс выделение абсолютных значений отфильтрованных сигналов фотоприемников 6, а в сумматоре 9 эти значени суммируютс .Thereafter, in blocks 8, the absolute values of the filtered signals of the photodetectors 6 are extracted, and in the adder 9 these values are summed up.
Результат суммировани регистрирует блок 10.The result of the sum registers block 10.
Данна обработка сигналов с фотоприемников 6 позвол ет упростить юстировку устройства, так как в этом случае отсутствует необходимость предварительной установки фотоприемников 6 в точки максимума спекл-структуры.This signal processing from the photodetectors 6 makes it possible to simplify the alignment of the device, since in this case there is no need to preset the photodetectors 6 to the maximum points of the speckle structure.
00
5five
00
5five
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884494088A SU1744460A1 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884494088A SU1744460A1 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1744460A1 true SU1744460A1 (en) | 1992-06-30 |
Family
ID=21404154
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884494088A SU1744460A1 (en) | 1988-10-14 | 1988-10-14 | Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1744460A1 (en) |
-
1988
- 1988-10-14 SU SU884494088A patent/SU1744460A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
А.Н.Бондаренко и др. Оптическа установка дл измерени сверхмалых акустических колебаний. Приборы и техника эксперимента. 1975, Мг 6, с.211. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5841125A (en) | High energy laser focal sensor (HELFS) | |
SU1744460A1 (en) | Device for non-contact remote measuring of parameters of ultrasound oscillations | |
SU1370456A1 (en) | Method of fixing position of object outlines | |
JPH0571957A (en) | Active range finder | |
SU1328669A1 (en) | Device for measuring amplitudes of mechanical vibrations | |
SU1441201A1 (en) | Method of measuring velocity of mechanical vibrations | |
SU1441198A1 (en) | Optronic device for measuring linear displacements | |
SU1024746A1 (en) | Wave front interferential pickup | |
SU1679189A1 (en) | Device for measuring object motion | |
SU1580156A1 (en) | Method of determining fractional part of order of interference | |
SU1315793A1 (en) | Method and apparatus for measuring object vibrations | |
SU1684599A1 (en) | Device for measuring light spot displacement | |
RU2100913C1 (en) | Fiber-optical vibration transducer | |
SU1499118A1 (en) | Apparatus for measuring vibrations | |
SU1551986A2 (en) | Device for checking parameters of vibrations of one-dimensional bodies | |
SU1280312A1 (en) | Diffraction method for measuring width of extended object | |
SU1478064A1 (en) | Method of measuring optic length of fiber optic light guides | |
RU2020430C1 (en) | Transducer of elastic vibration parameters | |
JPS6469983A (en) | Distance measuring device | |
RU43066U1 (en) | OPTOELECTRONIC DEVICE FOR MEASURING LINEAR MOVEMENTS OF OBJECT | |
RU1824594C (en) | Device for optical spectral analysis of two-dimensional signals | |
SU811072A1 (en) | Vibration measuring apparatus | |
JP3128037B2 (en) | Optical IC displacement meter | |
SU1689893A2 (en) | Method of measuring electric and / or magnetic component of pulsed electromagnetic fields | |
SU1285320A1 (en) | Device for measuring shift of interference bands |