SU1684718A2 - Measuring generator - Google Patents
Measuring generator Download PDFInfo
- Publication number
- SU1684718A2 SU1684718A2 SU884462762A SU4462762A SU1684718A2 SU 1684718 A2 SU1684718 A2 SU 1684718A2 SU 884462762 A SU884462762 A SU 884462762A SU 4462762 A SU4462762 A SU 4462762A SU 1684718 A2 SU1684718 A2 SU 1684718A2
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- calibrated
- output
- measurement
- variable resistor
- switch
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к технике электроизмерений и может быть использовано дл измерени параметров полупроводниковых приборов, имеющих отрицательные участки на вольтамперных характеристиках (ВАХ). Цель изобретени - расширение функциональных возможностей и увеличение точности измерени параметров полупроводниковых приборов с отрицательным участком ВАХ. Генератор содержит индуктивность 1, держатель 2 полупроводникового прибора с отрицательной ВАХ, негатрон 3, источник питани 4, разделительный конденсатор 5, первый калиброванный переменный резистор 6, буферный каскад 7, усилитель 8, измеритель 9 малых напр жений и сопротивлений, частотомер 10, блок 11 калиброванных конденсаторов, переключатель 12 диапазонов измерений, второй калиброванный переменный резистор 13 и переключатель 14 режима измерений. 1 ил.The invention relates to electrical measurement techniques and can be used to measure parameters of semiconductor devices having negative portions on current-voltage characteristics (IVC). The purpose of the invention is to expand the functionality and increase the accuracy of measurement of the parameters of semiconductor devices with a negative VAC section. The generator contains inductance 1, holder 2 of a semiconductor device with negative IVC, negatron 3, power source 4, coupling capacitor 5, first calibrated variable resistor 6, buffer cascade 7, amplifier 8, meter 9 low voltage and resistance, frequency meter 10, unit 11 calibrated capacitors, a switch of 12 measurement ranges, a second calibrated variable resistor 13 and a measurement mode switch 14. 1 il.
Description
(Л(L
СWITH
Изобретение относитс к технике электроизмерений и может быть использовано дл измерени параметров полупроводниковых приборов, имеющих отрицательные участки на вольтамперных характеристиках (ВАХ), и вл етс усоваершенствованием изобретени по авт. св. № 338861.The invention relates to the technique of electrical measurements and can be used to measure the parameters of semiconductor devices having negative portions on the current-voltage characteristics (VAC), and is an improvement of the invention according to the author. St. No. 338861.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей и увеличение точности измерени параметров полупроводниковых приборов с отрицательным участком ВАХ.The purpose of the invention is to expand the functionality and increase the accuracy of measurement of the parameters of semiconductor devices with a negative VAC section.
На чертеже представлена блок-схема измерительного генератора.The drawing shows the block diagram of the measuring generator.
Устройство содержит индуктивность 1, держатель 2 полупроводниковог о приГзора с отрицательной ВАХ (негатрон), негатрон 3, источник 4 питани , разделительный конденсатор 5, первый калиброванный переменный резистор 6, буферный каскад 7, усилитель 8, измеритель 9 малых напр жений и сопротивлений, частотомер 10, блок 11 калиброванных конденсаторов, переключатель 12 диапазонов измерений, второй калиброванный переменный резистор 13 и переключатель 14 режима измерений измерител 9.The device contains inductance 1, holder 2 semiconductor with negative VAC (negatron), negatron 3, power source 4, coupling capacitor 5, first calibrated variable resistor 6, buffer cascade 7, amplifier 8, meter 9 low voltage and resistance, frequency meter 10, a block 11 of calibrated capacitors, a switch 12 for measuring ranges, a second calibrated variable resistor 13, and a switch 14 for measuring mode of meter 9.
Первый вывод индуктивности 1 через источник питани 4 соединен с общей шиной , а второй вывод соединен с первым выводом держател 2 негатрона, первым выводом разделительного конденсатора 5, со входом буферного каскада 7 и общей точкой конденсаторов блока 11 калиброванных конденсаторов, второй вывод разделительного конденсатора - с первым входом переключател 14 режима измерений и через первый калиброванный резистор б с обО 00The first output of inductance 1 is connected via power supply 4 to the common bus, and the second output is connected to the first output of the negatron holder 2, the first output of separation capacitor 5, to the input of the buffer stage 7 and the common point of the capacitors of the block 11 calibrated capacitors, the second output of the separation capacitor is the first input of the switch 14 measurement mode and through the first calibrated resistor b with OBO 00
Јь XIX XI
0000
NDND
щей шиной, второй вывод держател 2 соединен с общей шиной, негатрон 3 соедин етс с выводами держател 2 негатрона, выход буферного каскада 7 соединен со входом усилител 8, усилитель 8 имеет два выхода , первый из которых соединен со вторым входом переключател 14, а второй соединен с частотомером 10, выход переключател режима измерений 14 соединен со входом измерител 9 малых напр жений и сопротивлений, раздельные выводы конденсаторов блока 11 калиброванных конденсаторов соединены с соответствующим входом переключател 12 диапазонов измерений , а выход переключател 12 через второй калиброванный резистор 13 соединен с общей шиной.the second output of the holder 2 is connected to the common bus, the negatron 3 is connected to the outputs of the holder 2 of the negatron, the output of the buffer stage 7 is connected to the input of the amplifier 8, the amplifier 8 has two outputs, the first of which is connected to the second input of the switch 14, and the second connected to the frequency meter 10, the output of the measurement mode switch 14 is connected to the input of the meter 9 low voltages and resistances, the separate terminals of the capacitors of the block 11 of the calibrated capacitors are connected to the corresponding input of the switch 12 measuring ranges Nij, and the output of the switch 12 via a second calibrated resistor 13 is connected to the common bus.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Перед началом измерений калиброванные переменные резисторы б и 13 закорачивают , и переключатель 12 диапазона измерений перевод т в начальное положение и напр жение источника А питани устанавливают равным напр жению негатрона 3 в рабочей точке. Затем первый калиброванный переменный резистор б, например , многооборотный реостат, регулируют до возникновени устойчивых колебаний с минимальной амплигудой, переменное напр жение через буферный каскад 7, например, потоковый повторитель, подаетс на вход усилитеп 0.Before starting the measurements, the calibrated variable resistors B and 13 are short-circuited, and the measurement range switch 12 is brought to the initial position and the voltage of the power source A is set equal to the negatron voltage 3 at the operating point. Then, the first calibrated variable resistor, for example, a multi-turn rheostat, is adjusted to the occurrence of stable oscillations with a minimum amplitude, and the alternating voltage through the buffer stage 7, for example, a stream follower, is fed to the input of step 0.
Если амплитуда колебаний, определ ема по показани м измерител 9 малых напр жений и сопротивлений, не превышает установленною значени , производитс отсчет нижней частоты fii диапазона по показани м частотомера 10 и фиксаци результата. После этого определ ют значение первого калиброванного переменного резистора 6 и соответствующее ему отрицательное дифференциальное сопротивление (ОДС) негатрона , подключив к первому калиброванному переменному резистору 6 измеритель малых напр жений и сопротивлений через переключатель 14 режима измерений и измерив его сопротивление. Затем осуществл етс регулировка второго калиброванного переменного резистора 13, например, многооборотного реостата, до срыва колебаний и их вторичного возбуждени на значительно более высокой частоте. После установлени колебательного процесса с минимальной амплитудой производитс отсчет верхней частоты fn диапазона колебаний генератора . Значение емкости негатрона приданномIf the amplitude of the oscillations determined by the indications of the meter 9 low voltage and resistance does not exceed the set value, the lower frequency fii of the range is read according to the indications of the frequency meter 10 and the result is fixed. After that, the value of the first calibrated variable resistor 6 and the corresponding negative differential resistance (ODS) of the negatron are determined by connecting a low voltage and resistance meter to the first calibrated variable resistor 6 through the measurement mode switch 14 and measuring its resistance. Then, the second calibrated variable resistor 13, for example, a multi-turn rheostat, is adjusted until the oscillations break down and their secondary excitation is at a much higher frequency. After establishing the oscillation process with a minimum amplitude, the upper frequency fn of the oscillation range of the generator is read. Negatron capacitance value given
напр жении смещени определ етс по формулеbias voltage is determined by the formula
с (т) «.c (t) ".
где CN значение емкости негатрона;where CN is the value of the negatron capacity;
Ск - значение калиброванной емкости в зависимости от положени переключател 12.Ck is the value of the calibrated capacitance depending on the position of the switch 12.
При необходимости измерений другихIf necessary, measure other
значений-RN См на участке ВАХ негатрона с отрицательными сопротивлени ми, регу- пируемые резисторы 6, 13 вновь закорачивают , устанавливают новое значение напр жени смещени на негатроне и цикл-N R values See the negatron VAC section with negative resistances, adjustable resistors 6, 13 are short-circuited again, set a new bias voltage value on the negatron and the cycle
измерений повтор ют.measurements are repeated.
Устройство надежно в работе, экономично , обеспечивает высокую производительность измерен 1й, что свидетельствует о высокой экономич .;кой эффективности.The device is reliable in operation, economical, provides high performance measured 1st, which indicates a high economic efficiency.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884462762A SU1684718A2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Measuring generator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884462762A SU1684718A2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Measuring generator |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU338861 Addition |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1684718A2 true SU1684718A2 (en) | 1991-10-15 |
Family
ID=21390712
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884462762A SU1684718A2 (en) | 1988-07-19 | 1988-07-19 | Measuring generator |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1684718A2 (en) |
-
1988
- 1988-07-19 SU SU884462762A patent/SU1684718A2/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 338861, кл. G 01 R 27/00, 1977. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4045728A (en) | Direct reading inductance meter | |
US4737706A (en) | Capacitance measuring circuit | |
SU1684718A2 (en) | Measuring generator | |
US2602838A (en) | Electrical measuring instrument | |
US4777430A (en) | Circuit for determining the effective series resistance and Q-factor of capacitors | |
US3840805A (en) | Device for measuring parameters of resonant lc-circuit | |
SU699455A1 (en) | Arrangement for measuring semiconductor devices capacity | |
SU1056078A1 (en) | Digital measuring instrument | |
SU815472A1 (en) | Dynamic device for measuring small displacements | |
SU1160321A1 (en) | Device for measuring amplitude values of a.c.electric signals | |
SU650023A2 (en) | Measuring generator | |
SU828121A1 (en) | Device for measuring capacitor capacitance | |
RU2016376C1 (en) | Film thickness measuring device | |
SU1492290A1 (en) | Method and apparatus for measuring acceleration | |
SU535525A1 (en) | Device for measuring parameters of piezoelectric resonators | |
SU1504492A1 (en) | Eddy-current thickness meter | |
SU817597A1 (en) | Device for measuring gaps and vibrations | |
SU1534413A1 (en) | Method of determining complex impedance | |
SU883797A1 (en) | Loop resonance frequency and quality factor meter | |
SU53839A1 (en) | Device for measuring resistance | |
SU1114960A1 (en) | Device for measuring parameters of dielectrics | |
SU587414A1 (en) | Device for measuring electric conductivity of liquids | |
SU1163154A1 (en) | Vibration meter | |
SU932208A1 (en) | Device for measuring distance to conductive surface | |
SU1201686A1 (en) | Capacitance level meter |