SU1682765A1 - Method of measuring linear parameters with microinterferometer - Google Patents

Method of measuring linear parameters with microinterferometer Download PDF

Info

Publication number
SU1682765A1
SU1682765A1 SU894734988A SU4734988A SU1682765A1 SU 1682765 A1 SU1682765 A1 SU 1682765A1 SU 894734988 A SU894734988 A SU 894734988A SU 4734988 A SU4734988 A SU 4734988A SU 1682765 A1 SU1682765 A1 SU 1682765A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
images
projection
microinterferometer
interference
positive
Prior art date
Application number
SU894734988A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Григорий Борисович Кайнер
Original Assignee
Всесоюзный Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Средств Измерения В Машиностроении
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Всесоюзный Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Средств Измерения В Машиностроении filed Critical Всесоюзный Научно-Исследовательский И Конструкторский Институт Средств Измерения В Машиностроении
Priority to SU894734988A priority Critical patent/SU1682765A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1682765A1 publication Critical patent/SU1682765A1/en

Links

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении дл  контрол  положени  объекта по трем координатам. Целью изобретени   вл етс  повышение информативности . На одном прозрачном позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображени  эталонной детали. На этот же позитив проецируют проекционные и интерференционное изображени  исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают характерные точки интерференционных изображений и по отсчетам винтов определ ют линейные параметры детали.The invention relates to a measurement technique and can be used in mechanical engineering to control the position of an object in three coordinates. The aim of the invention is to increase the information content. The projection and interference images of the reference part are fixed on one transparent positive. Projection and interference images of the investigated part are projected onto the same positive. The micrometric screws combine the characteristic points of the interference images and determine the linear parameters of the part from the readings of the screws.

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении дл  контрол  профил  сложной формы.The invention relates to a measuring technique and can be used in mechanical engineering to control a profile of complex shape.

Цель изобретени  - повышение информативности .The purpose of the invention is to increase the information content.

Способ осуществл етс  следующим образом .The method is carried out as follows.

Устанавливают на столике микроинтерферометра МИИ-4 эталонную деталь и получают ее проекционные изображени  по двум направлени м в пределах резкой фокусировки и интерференционное изображение по третьему. Фиксируют эти изображени  на одном прозрачном позитиве , который используют в микроинтерферометре в качестве экрана.A reference part is installed on the MII-4 microinterferometer table and its projection images are obtained in two directions within the limits of sharp focusing and the interference image along the third one. These images are fixed on a single transparent positive, which is used in a microinterferometer as a screen.

Устанавливают на столике микроинтерферометра исследуемую деталь и получают на экране ее проекционные и интерференционное изображени . С помощью микровинтов совмещают проекционные и интерференционное изображени  эталонной и исследуемой деталей н экране.A test piece is placed on the microinterferometer table and its projection and interference images are obtained on the screen. Using microscrews, they combine projection and interference images of the reference and investigated parts on the screen.

Определ ют смещени  изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали .The displacements of the images of the test part relative to the images of the reference part on the positive are determined and the data obtained are used in determining the parameters of the test part.

Claims (1)

Формула изобретени  Способ измерени  линейных параметров детали на микроинтерферометре, заключающийс  в том, что устанавливают деталь на столике микроинтерферометра, получают ее интерференционное изображение и определ ют параметры исследуемой детали, отличающийс  тем, что, с целью повышени  информативности, перед установкой исследуемой детали устанавливают на столике эталонную деталь и получают ее интерференционное проекционныеThe method of measuring the linear parameters of a part on a microinterferometer, which consists in placing the part on the table of the microinterferometer, obtaining its interference image and determining the parameters of the part under investigation, characterized in that, in order to increase the informativity, before installing the part to be examined, set the reference table detail and get its interference projection О 00About 00 юYu VIVI с елeaten изображени , фиксируют на одном прозрачном позитиве интерференционное и проекционные изображени , после установки исследуемой детали используют этот позитив в качестве экрана, на котором получают ее проекционные и интерференционное изображени , с помощью микровинтов микроинтерферометра совмещают проекционные и интерференционное изображени  исследуемой детали с соответствующими изображени ми на позитиве, определ ют смещени  изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.the images are fixed on one transparent positive, the interference and projection images, after installing the investigated part, this positive is used as a screen on which its projection and interference images are obtained, using micro-screws of the microinterferometer, combine the projection and interference images of the studied detail with the corresponding images on the positive, determine the displacement of the images of the investigated part relative to the images of the reference detail on the positive and use scientists data when determining the parameters of the investigated part.
SU894734988A 1989-07-03 1989-07-03 Method of measuring linear parameters with microinterferometer SU1682765A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894734988A SU1682765A1 (en) 1989-07-03 1989-07-03 Method of measuring linear parameters with microinterferometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894734988A SU1682765A1 (en) 1989-07-03 1989-07-03 Method of measuring linear parameters with microinterferometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1682765A1 true SU1682765A1 (en) 1991-10-07

Family

ID=21468603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894734988A SU1682765A1 (en) 1989-07-03 1989-07-03 Method of measuring linear parameters with microinterferometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1682765A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Микроинтерферометр Линника МИИ-4. Инструкци к пользованию. ЛОМО, 1970, с. 15-20. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1571414A3 (en) Apparatus and method for surface contour measurement
ATE114186T1 (en) POSITION MEASUREMENT DEVICE WITH SEVERAL SENSING POINTS.
KR920001278A (en) Infrared holographic defect detector
DE58902612D1 (en) COORDINATE MEASURING DEVICE WITH AN OPTICAL PROBE.
IE42667L (en) Gauging the surface contour of a test specimen
US4650334A (en) Optical straightness gauge and method
US4169980A (en) Method and apparatus for interference fringe center sensing
SE8106958L (en) SET AND DEVICE FOR TESTING CONFORMITY BETWEEN VIEW AND GUIDELINES
US4779629A (en) Making measurements on a body
RU95108213A (en) Method for measuring object dimensions and apparatus for performing the same
SU1682765A1 (en) Method of measuring linear parameters with microinterferometer
DE59610550D1 (en) Method and device for enlarging the measuring range of speckle measuring systems for strain measurements
ES2106769T3 (en) PROCEDURE FOR MEASURING AN ANGLE OF INCIDENCE OF A BRIGHT BEAM, MEASURING DEVICE FOR THE IMPLEMENTATION OF THE PROCEDURE AND USE OF THE DEVICE TO MEASURE DISTANCES.
Ayres et al. Grid circle analyzer—computer aided measurement of deformation
JPH02271211A (en) Evaluating method of painting sharpness
GB2106241A (en) Measuring surface roughness
WO1987007365A1 (en) Apparatus and method for determining stress and strain in pipes, pressure vessels, structural members and other deformable bodies
Varman A moiré system for producing numerical data of the profile of a turbine blade using a computer and video store
Albertazzi Jr et al. Portable residual stresses measurement device using ESPI and a radial in-plane interferometer
Calder et al. Measurement techniques for melanoma: a statistical comparison.
SU1619132A1 (en) Device for sclerometric investigations of materials
SU404468A1 (en) DEVICE FOR DETERMINATION OF ZONES OF REACH
SU1421967A1 (en) Device for measuring linear dimensions
US3041923A (en) Stress photometer
SU715927A1 (en) Interference resolvometer