SU1682765A1 - Method of measuring linear parameters with microinterferometer - Google Patents
Method of measuring linear parameters with microinterferometer Download PDFInfo
- Publication number
- SU1682765A1 SU1682765A1 SU894734988A SU4734988A SU1682765A1 SU 1682765 A1 SU1682765 A1 SU 1682765A1 SU 894734988 A SU894734988 A SU 894734988A SU 4734988 A SU4734988 A SU 4734988A SU 1682765 A1 SU1682765 A1 SU 1682765A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- images
- projection
- microinterferometer
- interference
- positive
- Prior art date
Links
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении дл контрол положени объекта по трем координатам. Целью изобретени вл етс повышение информативности . На одном прозрачном позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображени эталонной детали. На этот же позитив проецируют проекционные и интерференционное изображени исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают характерные точки интерференционных изображений и по отсчетам винтов определ ют линейные параметры детали.The invention relates to a measurement technique and can be used in mechanical engineering to control the position of an object in three coordinates. The aim of the invention is to increase the information content. The projection and interference images of the reference part are fixed on one transparent positive. Projection and interference images of the investigated part are projected onto the same positive. The micrometric screws combine the characteristic points of the interference images and determine the linear parameters of the part from the readings of the screws.
Description
Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении дл контрол профил сложной формы.The invention relates to a measuring technique and can be used in mechanical engineering to control a profile of complex shape.
Цель изобретени - повышение информативности .The purpose of the invention is to increase the information content.
Способ осуществл етс следующим образом .The method is carried out as follows.
Устанавливают на столике микроинтерферометра МИИ-4 эталонную деталь и получают ее проекционные изображени по двум направлени м в пределах резкой фокусировки и интерференционное изображение по третьему. Фиксируют эти изображени на одном прозрачном позитиве , который используют в микроинтерферометре в качестве экрана.A reference part is installed on the MII-4 microinterferometer table and its projection images are obtained in two directions within the limits of sharp focusing and the interference image along the third one. These images are fixed on a single transparent positive, which is used in a microinterferometer as a screen.
Устанавливают на столике микроинтерферометра исследуемую деталь и получают на экране ее проекционные и интерференционное изображени . С помощью микровинтов совмещают проекционные и интерференционное изображени эталонной и исследуемой деталей н экране.A test piece is placed on the microinterferometer table and its projection and interference images are obtained on the screen. Using microscrews, they combine projection and interference images of the reference and investigated parts on the screen.
Определ ют смещени изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали .The displacements of the images of the test part relative to the images of the reference part on the positive are determined and the data obtained are used in determining the parameters of the test part.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894734988A SU1682765A1 (en) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | Method of measuring linear parameters with microinterferometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894734988A SU1682765A1 (en) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | Method of measuring linear parameters with microinterferometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1682765A1 true SU1682765A1 (en) | 1991-10-07 |
Family
ID=21468603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894734988A SU1682765A1 (en) | 1989-07-03 | 1989-07-03 | Method of measuring linear parameters with microinterferometer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1682765A1 (en) |
-
1989
- 1989-07-03 SU SU894734988A patent/SU1682765A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Микроинтерферометр Линника МИИ-4. Инструкци к пользованию. ЛОМО, 1970, с. 15-20. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1571414A3 (en) | Apparatus and method for surface contour measurement | |
ATE114186T1 (en) | POSITION MEASUREMENT DEVICE WITH SEVERAL SENSING POINTS. | |
KR920001278A (en) | Infrared holographic defect detector | |
DE58902612D1 (en) | COORDINATE MEASURING DEVICE WITH AN OPTICAL PROBE. | |
IE42667L (en) | Gauging the surface contour of a test specimen | |
US4650334A (en) | Optical straightness gauge and method | |
US4169980A (en) | Method and apparatus for interference fringe center sensing | |
SE8106958L (en) | SET AND DEVICE FOR TESTING CONFORMITY BETWEEN VIEW AND GUIDELINES | |
US4779629A (en) | Making measurements on a body | |
RU95108213A (en) | Method for measuring object dimensions and apparatus for performing the same | |
SU1682765A1 (en) | Method of measuring linear parameters with microinterferometer | |
DE59610550D1 (en) | Method and device for enlarging the measuring range of speckle measuring systems for strain measurements | |
ES2106769T3 (en) | PROCEDURE FOR MEASURING AN ANGLE OF INCIDENCE OF A BRIGHT BEAM, MEASURING DEVICE FOR THE IMPLEMENTATION OF THE PROCEDURE AND USE OF THE DEVICE TO MEASURE DISTANCES. | |
Ayres et al. | Grid circle analyzer—computer aided measurement of deformation | |
JPH02271211A (en) | Evaluating method of painting sharpness | |
GB2106241A (en) | Measuring surface roughness | |
WO1987007365A1 (en) | Apparatus and method for determining stress and strain in pipes, pressure vessels, structural members and other deformable bodies | |
Varman | A moiré system for producing numerical data of the profile of a turbine blade using a computer and video store | |
Albertazzi Jr et al. | Portable residual stresses measurement device using ESPI and a radial in-plane interferometer | |
Calder et al. | Measurement techniques for melanoma: a statistical comparison. | |
SU1619132A1 (en) | Device for sclerometric investigations of materials | |
SU404468A1 (en) | DEVICE FOR DETERMINATION OF ZONES OF REACH | |
SU1421967A1 (en) | Device for measuring linear dimensions | |
US3041923A (en) | Stress photometer | |
SU715927A1 (en) | Interference resolvometer |