SU1681340A1 - Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов - Google Patents

Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов Download PDF

Info

Publication number
SU1681340A1
SU1681340A1 SU874199674A SU4199674A SU1681340A1 SU 1681340 A1 SU1681340 A1 SU 1681340A1 SU 874199674 A SU874199674 A SU 874199674A SU 4199674 A SU4199674 A SU 4199674A SU 1681340 A1 SU1681340 A1 SU 1681340A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
ions
ion
study
mass
time
Prior art date
Application number
SU874199674A
Other languages
English (en)
Inventor
Александр Федорович Додонов
Игорь Вадимович Чернушевич
Тамара Федеровна Додонова
Валерий Владиславович Разников
Виктор Львович Тальрозе
Original Assignee
Филиал Института энергетических проблем химической физики АН СССР
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Филиал Института энергетических проблем химической физики АН СССР filed Critical Филиал Института энергетических проблем химической физики АН СССР
Priority to SU874199674A priority Critical patent/SU1681340A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1681340A1 publication Critical patent/SU1681340A1/ru

Links

Landscapes

  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к масс-спектро- метрическим методом определени  качественного и количественного состава газовых смесей, содержащих нейтральную и зар женную компоненты, и может быть применено в аналитических цел х при исследовании пламени, в плазмохимии, в кинетических исследовани х и дл  мониторинга окружающей среды. Целью изобретени   вл етс  повышение чувствительности и разрешающей способности . Изобретение расшир ет возможности использовани  способа дл  идентификации и исследовани  биологически активных, термических веществ: полипептидов , антибиотиков, витаминов, так как диапазон масс регистрируемых ионов практически неограничен.Кроме того, способ может найти широкое применение при исследовании нейтральной и зар женной компонент плазмы в различных плазмохими- ческих устройствах, при исследовании свойств кластеров и механизмов их образовани , а также при исследовании состава атмосферных ионов.

Description

Изобретение относитс  к масс-спектро- метрическим методам определени  качественного и количественного состава газовых смесей, содержащих нейтральную и зар женную компоненты, и может быть применено в аналитических цел х при исследовании пламени, в плазмохимии, в кинетических исследовани х и дл  мониторинга окружающей среды.
Целью изобретени   вл етс  повышение чувствительности и разрешающей способности .
На фиг.1 схематично представлено устройство дл  осуществлени  предлагаемого способа, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1; на фиг.З - временна  зависимость
напр жений, подаваемых на электроды; на фиг.4 - масс-спектр кластерных ионов воды, зарегистрированных в режимах ионизации при атмосферном давлении; на фиг,5 - масс- спектр антибиотика грамицидина, зарегистрированный при использовании внешнего .ионного источника с экстракцией ионов из раствора при атмосферном давлении (ЭРИ- АД); на фиг.6 - масс-спектр инсулина, полученный также с использованием метода ЭРИАД.
Устройство дл  реализации предлагаемого способа содержит корпус 1, приемник 2 ионов, двухсекционный отражатель 3 ионов, отклон ющие ионы пластины 4, пространство 5 дрейфа и электронную пушку 6.
Кроме того, устройство оснащено выталкивающим ионы электродом 7, сеткой 8, ограничивающей область импульсной подачи ионов, компенсирующей сеткой 9 и выходной сеткой 10. Электрод 7 и сетки 8-10 расположены параллельно одна другой и перпендикул рны продольной оси пространства 5 дрейфа, а плоскости выталкива- ющего ионы электрода 7 и сетки 8 расположены в плоскост х пластин 11 и 12 модул тора пучка ионов и соединены попарно электрически. За электродом 7 и сеткой 8 (по ходу пучка ионов) установлен коллектор 13 ионов.
Способ осуществл ют следующим образом .
В начальный момент времени потенциалы на электроде 7, сетке 8 и пластинах 11 и 12 поддерживают одинаковыми. Ионы от внешнего источника (не показан), например ионного источника с ионизацией при атмосферном давлении, подают через зазор между пластинами 11 и 12 в пространство между электродом и сеткой 8 к коллектору 13 ионов. По величине тока ионов на коллектор 13 производитс  выбор оптимальных потенциалов, подаваемых на элементы ионной оптики внешнего источника ионов. Затем на сетку 8 и пластину 11 подают посто нный потенциал, равный ускор ющему ионы напр жению. Выходна .сетка 10 устройства импульсной подачи находитс  под нулевым потенциалом, равным потенциалу корпуса устройства. Временна  зави- симость разности потенциалов, подаваемых на электрод 7, сетку 9 и пластину 12 дана на фиг.З (индекс у потенциала равен номеру соответствующего электрода ).
В нулевой момент времени на электрод 7, сетку 9 и пластину 12 подают соответственно выталкивающий и запирающий ионы импульсы. Амплитуды выт гивающих и выталкивающих импульсов подобраны такими , чтобы в пространство между выталкивающим электродом 7 и выходной сеткой 10 во врем  выталкивани  ионов было бы однородное поле, что исключает дефокусировку ионного пучка сетками 8 и 9, тем самым повыша  чувствительность устройства . Величину запирающего ионы импульса ДУз Ui2 - U 11 (фиг.З) задают соотношением
,51019Wh2/l2,(1)
где h, I - соответственно зазор между пластинами 11 и 12 и их длина;
Л/ джоуль - кинетическа  энерги  ионов на входе в зазор между пластинами 11 и 12.
Ионы, наход щиес  в момент выталкивани  в зазоре между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8 и частично в зазоре между пластинами 11 и 12, выталкиваютс 
однородным полем в пространство 5 дрейфа , где разделение ионов по массам осуще- ствл ют во времени пролета. После прекращени  действи  выталкивающих, выт гивающих и запирающих импульсов ионы
от внешнего источника начинают поступать в область между электродом 7 и сеткой 8. Это происходит одновременно с разделением ионов по массам в пространстве 5 дрейфа , а энергию ионов подбирают такой,
чтобы за врем  пролета ионами самой т желой массы пространства 5 дрейфа эти ионы как раз успели бы заполнить область между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8, т.е. эта энерги  определ етс  соотношением
W-WycKCi/L)2, (2) где W - энерги  ионов в области между электродом 7 и сеткой 8 в момент ее заполнени  ионами;
т Wye - энерги  ионов в пространстве 5 дрейфа;
И - суммарна  длина области между электродом 7 и сеткой 8 и пластин 11 и 12; L - длина пути дрейфа ионов.
Дл  того, чтобы исключить попадание ионов в пространство 5 дрейфа, за врем  их врем  пролетного- накоплени  в области между электродом 7 и сеткой 8, на компенсирующий электрод, выполненный в виде
сетки 9 из параллельных проволок радиусом г и с шагом а, должна подаватьс  разность потенциалов AUi Ug - Ue в соответствии с соотношением
а
AUi 1018WycK - In
2лг
(3)
где d - рассто ние между сетками 9 и 10.
После накоплени  ионов в области между электродом 7 и сеткой 8 ионы снова лопадают в пространство 5 дрейфа.
Пример 1. В качестве источника непрерывного пучка ионов, подаваемых на вход модул тора, использовали ионный источнике коронным разр дом при атмосферном давлении в воздухе -лабораторного помещени . Потоком газа через отверстие в ионном источнике диаметром 0,1-0,3 мм ионы подавали в промежуточную ступень форвакуумной откачки, поддерживаемую
при давлении 1-10 торр, откуда затем через отверстие диаметром 0,1-0,2 мм ионы подавали в модул тор пучка ионов. Параметры пучка ионов: энерги  20-30 эВ; разброс ионов по энерги м - 1-2 эВ; ионный ток 10 11-10 1иА. При дальнейшем понижении
энергии ионов в пучке величина тока ионов резко падала, поэтому в дальнейшем энергию ионов на входе в модул тор выбирали равной 20 эВ. Это приводило к некоторому понижению чувствительности по сравнению с оптимальным случаем.
На фиг.4 дан пример масс-спектра кластерных ионов воды, зарегистрированных при ускор ющем напр жении 2 кВ, полной длине прибора 1 м (длина дрейфаЗ м), длине зоны импульсного выталкивани  0,05 м, частоте повторени  масс-спектров 10 кГц. При
этом диапазон массовых чисел равен 1
1000, а длительность пика по основанию дл  пиков с m/l - 19,33,55,73 составл ет 25-30 не, что соответствует разрешению, превышающему 1000 на полувысоте пика. При этом выигрыш в чувствительности по сравнению с прототипом составл ет 1000.
Пример2.В качестве источника непрерывного пучка ионов, подаваемых на вход модул тора, использовали ионный источник с электрораспылением жидкости в атмосфере. Аналогично примеру 1 осуществл ли подачу ионов с атмосферного давлени  в вакуум. При этом параметры пучка ионов составл ли: ионный ток - 10 12А; энерги  ионов - 20-30 эВ; разброс ионов по энерги м - 1-2 эВ (при дальнейшем понижении энергии ионов ионный ток также резко падал).
На фйг.5 и 6 приведены соответственно масс-спектры грамидицина и инсулина, зарегистрированные с помощью измерительно-вычислительного комплекса ИВК АП-02, дополненного модул  строб-генератора и аналогового запоминающего устройства. Масс-спектр в обоих случа х представл ет
собой набор многоразр дных молекул рных ионов соответствующих веществ, причем дл  инсулина ионы m/l 1926 и 2889 зарегистрированы впервые, что обусловлено обеспечением широкого диапазона масс врем пролетного масс-спектрометра.
Особенности способа расшир ют возможности его использовани  дл  идентификации и исследовани  биологически
активных, термически нестойких веществ: полипептидов, антибиотиков, витаминов, так как диапазон масс регистрируемых ионов практически неограничен. Кроме того , способ может найти широкое пркменение при исследовании нейтральной и зар женной компонент плазмы в различных плазмохимических устройствах, при исследовании свойств кластеров и механизмов их образовани , а также при исследовании состава атмосферных ионов.

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов, включающий периодическую
    импульсную подачу ионов в пространстве дрейфа с помощью модул тора пучка ионов и регистрацию пакета ионов разных масс, отличающийс  тем, что, с целью повышени  чувствительности и разрешающей способности, ионы ввод т в модул тор в направлении, перпендикул рном оси пространстве дрейфа, причем врем  ввода не меньше, чем врем , необходимое дл  пролета всего модул тора наиболее т желыми
    ионами, присутствующими ч исследуемом пучке, а выталкивание ионов в пространстве дрейфа осуществл ют одним из электродов модул тора.
    /3
    Ионы
    5- 5
    6
    7 /
    I
    U9 U8
    UT-UII и„-ик
    ФигЛ
    А-А
    7 /
    V
    8
    Фиг. 2
    W(W)u
    75т
    Вреп  пролета мкс
    Грамицидин
    М++
    tW
    м
    +++
    1№
    Ms+ 1156
    М+
    Фиг. 5
    Инсулин
    М++ 2889
SU874199674A 1987-02-25 1987-02-25 Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов SU1681340A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874199674A SU1681340A1 (ru) 1987-02-25 1987-02-25 Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874199674A SU1681340A1 (ru) 1987-02-25 1987-02-25 Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1681340A1 true SU1681340A1 (ru) 1991-09-30

Family

ID=21287587

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874199674A SU1681340A1 (ru) 1987-02-25 1987-02-25 Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1681340A1 (ru)

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000077823A2 (en) * 1999-06-11 2000-12-21 Perseptive Biosystems, Inc. Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use
US7385187B2 (en) 2003-06-21 2008-06-10 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use
RU2564443C2 (ru) * 2013-11-06 2015-10-10 Общество с ограниченной ответственностью "Биотехнологические аналитические приборы" (ООО "БиАП") Устройство ортогонального ввода ионов во времяпролетный масс-спектрометр
US9425034B2 (en) 2008-07-16 2016-08-23 Leco Corporation Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer
US9984863B2 (en) 2014-03-31 2018-05-29 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with axial pulsed converter
WO2019030476A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS
WO2019030475A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE
WO2020002940A1 (en) 2018-06-28 2020-01-02 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11367608B2 (en) 2018-04-20 2022-06-21 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
US11848185B2 (en) 2019-02-01 2023-12-19 Micromass Uk Limited Electrode assembly for mass spectrometer
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Mace-спектрометри и химическа кинетика./ Под ред. В.Л.Тальрозе.М.: Наука, 1985,с. 201-208. Приборы дл научных исследований, 1986,Г 4, с. 65-75. *

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000077823A3 (en) * 1999-06-11 2002-02-21 Perseptive Biosystems Inc Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use
US6534764B1 (en) 1999-06-11 2003-03-18 Perseptive Biosystems Tandem time-of-flight mass spectrometer with damping in collision cell and method for use
WO2000077823A2 (en) * 1999-06-11 2000-12-21 Perseptive Biosystems, Inc. Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use
US7385187B2 (en) 2003-06-21 2008-06-10 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use
US9425034B2 (en) 2008-07-16 2016-08-23 Leco Corporation Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer
US10141175B2 (en) 2008-07-16 2018-11-27 Leco Corporation Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer
RU2564443C2 (ru) * 2013-11-06 2015-10-10 Общество с ограниченной ответственностью "Биотехнологические аналитические приборы" (ООО "БиАП") Устройство ортогонального ввода ионов во времяпролетный масс-спектрометр
US9984863B2 (en) 2014-03-31 2018-05-29 Leco Corporation Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with axial pulsed converter
US10950425B2 (en) 2016-08-16 2021-03-16 Micromass Uk Limited Mass analyser having extended flight path
US11309175B2 (en) 2017-05-05 2022-04-19 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers
US11328920B2 (en) 2017-05-26 2022-05-10 Micromass Uk Limited Time of flight mass analyser with spatial focussing
US11205568B2 (en) 2017-08-06 2021-12-21 Micromass Uk Limited Ion injection into multi-pass mass spectrometers
US11756782B2 (en) 2017-08-06 2023-09-12 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11081332B2 (en) 2017-08-06 2021-08-03 Micromass Uk Limited Ion guide within pulsed converters
US11817303B2 (en) 2017-08-06 2023-11-14 Micromass Uk Limited Accelerator for multi-pass mass spectrometers
US11211238B2 (en) 2017-08-06 2021-12-28 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer
US11239067B2 (en) 2017-08-06 2022-02-01 Micromass Uk Limited Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers
US11295944B2 (en) 2017-08-06 2022-04-05 Micromass Uk Limited Printed circuit ion mirror with compensation
WO2019030475A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE
WO2019030476A1 (en) 2017-08-06 2019-02-14 Anatoly Verenchikov INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS
US11049712B2 (en) 2017-08-06 2021-06-29 Micromass Uk Limited Fields for multi-reflecting TOF MS
US11367608B2 (en) 2018-04-20 2022-06-21 Micromass Uk Limited Gridless ion mirrors with smooth fields
US11621156B2 (en) 2018-05-10 2023-04-04 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11342175B2 (en) 2018-05-10 2022-05-24 Micromass Uk Limited Multi-reflecting time of flight mass analyser
US11881387B2 (en) 2018-05-24 2024-01-23 Micromass Uk Limited TOF MS detection system with improved dynamic range
US11587779B2 (en) 2018-06-28 2023-02-21 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
WO2020002940A1 (en) 2018-06-28 2020-01-02 Micromass Uk Limited Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle
US11848185B2 (en) 2019-02-01 2023-12-19 Micromass Uk Limited Electrode assembly for mass spectrometer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1681340A1 (ru) Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов
US7564026B2 (en) Linear TOF geometry for high sensitivity at high mass
US6974957B2 (en) Ionization device for aerosol mass spectrometer and method of ionization
CA2090616C (en) Apparatus and methods for trace component analysis
US5117107A (en) Mass spectrometer
JP3299335B2 (ja) 時間変調が課される電気的噴霧装置および方法
US5652427A (en) Multipole ion guide for mass spectrometry
Michael et al. Detection of electrospray ionization using a quadrupole ion trap storage/reflectron time-of-flight mass spectrometer
US5955730A (en) Reflection time-of-flight mass spectrometer
US5852295A (en) Ion source for compact mass spectrometer and method of mass analyzing a sample
US5986258A (en) Extended Bradbury-Nielson gate
US20020148959A1 (en) Travelling field for packaging ion beams
US7071466B2 (en) Mass spectrometry system for continuous control of environment
US20080272290A1 (en) Reflector TOF With High Resolution and Mass Accuracy for Peptides and Small Molecules
US7838820B2 (en) Controlled kinetic energy ion source for miniature ion trap and related spectroscopy system and method
US7148472B2 (en) Aerosol mass spectrometer for operation in a high-duty mode and method of mass-spectrometry
US6723983B2 (en) High throughput of laser desorption mass spectra in time-of-flight mass spectrometers
US7385188B2 (en) Linear electric field time-of-flight ion mass spectrometer
US7781730B2 (en) Linear electronic field time-of-flight ion mass spectrometers
US5770859A (en) Time of flight mass spectrometer having microchannel plate and modified dynode for improved sensitivity
US7381945B2 (en) Non-linear time-of-flight mass spectrometer
US6806467B1 (en) Continuous time-of-flight ion mass spectrometer
US6791079B2 (en) Mass spectrometer based on the use of quadrupole lenses with angular gradient of the electrostatic field
Okumura et al. High-resolution time-of-flight spectra obtained using the MULTUM II multi-turn type time-of-flight mass spectrometer with an electron ionization ion source
RU2239910C2 (ru) Времяпролетный масс-спектрометр