SU1681340A1 - Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов - Google Patents
Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1681340A1 SU1681340A1 SU874199674A SU4199674A SU1681340A1 SU 1681340 A1 SU1681340 A1 SU 1681340A1 SU 874199674 A SU874199674 A SU 874199674A SU 4199674 A SU4199674 A SU 4199674A SU 1681340 A1 SU1681340 A1 SU 1681340A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ions
- ion
- study
- mass
- time
- Prior art date
Links
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к масс-спектро- метрическим методом определени качественного и количественного состава газовых смесей, содержащих нейтральную и зар женную компоненты, и может быть применено в аналитических цел х при исследовании пламени, в плазмохимии, в кинетических исследовани х и дл мониторинга окружающей среды. Целью изобретени вл етс повышение чувствительности и разрешающей способности . Изобретение расшир ет возможности использовани способа дл идентификации и исследовани биологически активных, термических веществ: полипептидов , антибиотиков, витаминов, так как диапазон масс регистрируемых ионов практически неограничен.Кроме того, способ может найти широкое применение при исследовании нейтральной и зар женной компонент плазмы в различных плазмохими- ческих устройствах, при исследовании свойств кластеров и механизмов их образовани , а также при исследовании состава атмосферных ионов.
Description
Изобретение относитс к масс-спектро- метрическим методам определени качественного и количественного состава газовых смесей, содержащих нейтральную и зар женную компоненты, и может быть применено в аналитических цел х при исследовании пламени, в плазмохимии, в кинетических исследовани х и дл мониторинга окружающей среды.
Целью изобретени вл етс повышение чувствительности и разрешающей способности .
На фиг.1 схематично представлено устройство дл осуществлени предлагаемого способа, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1; на фиг.З - временна зависимость
напр жений, подаваемых на электроды; на фиг.4 - масс-спектр кластерных ионов воды, зарегистрированных в режимах ионизации при атмосферном давлении; на фиг,5 - масс- спектр антибиотика грамицидина, зарегистрированный при использовании внешнего .ионного источника с экстракцией ионов из раствора при атмосферном давлении (ЭРИ- АД); на фиг.6 - масс-спектр инсулина, полученный также с использованием метода ЭРИАД.
Устройство дл реализации предлагаемого способа содержит корпус 1, приемник 2 ионов, двухсекционный отражатель 3 ионов, отклон ющие ионы пластины 4, пространство 5 дрейфа и электронную пушку 6.
Кроме того, устройство оснащено выталкивающим ионы электродом 7, сеткой 8, ограничивающей область импульсной подачи ионов, компенсирующей сеткой 9 и выходной сеткой 10. Электрод 7 и сетки 8-10 расположены параллельно одна другой и перпендикул рны продольной оси пространства 5 дрейфа, а плоскости выталкива- ющего ионы электрода 7 и сетки 8 расположены в плоскост х пластин 11 и 12 модул тора пучка ионов и соединены попарно электрически. За электродом 7 и сеткой 8 (по ходу пучка ионов) установлен коллектор 13 ионов.
Способ осуществл ют следующим образом .
В начальный момент времени потенциалы на электроде 7, сетке 8 и пластинах 11 и 12 поддерживают одинаковыми. Ионы от внешнего источника (не показан), например ионного источника с ионизацией при атмосферном давлении, подают через зазор между пластинами 11 и 12 в пространство между электродом и сеткой 8 к коллектору 13 ионов. По величине тока ионов на коллектор 13 производитс выбор оптимальных потенциалов, подаваемых на элементы ионной оптики внешнего источника ионов. Затем на сетку 8 и пластину 11 подают посто нный потенциал, равный ускор ющему ионы напр жению. Выходна .сетка 10 устройства импульсной подачи находитс под нулевым потенциалом, равным потенциалу корпуса устройства. Временна зави- симость разности потенциалов, подаваемых на электрод 7, сетку 9 и пластину 12 дана на фиг.З (индекс у потенциала равен номеру соответствующего электрода ).
В нулевой момент времени на электрод 7, сетку 9 и пластину 12 подают соответственно выталкивающий и запирающий ионы импульсы. Амплитуды выт гивающих и выталкивающих импульсов подобраны такими , чтобы в пространство между выталкивающим электродом 7 и выходной сеткой 10 во врем выталкивани ионов было бы однородное поле, что исключает дефокусировку ионного пучка сетками 8 и 9, тем самым повыша чувствительность устройства . Величину запирающего ионы импульса ДУз Ui2 - U 11 (фиг.З) задают соотношением
,51019Wh2/l2,(1)
где h, I - соответственно зазор между пластинами 11 и 12 и их длина;
Л/ джоуль - кинетическа энерги ионов на входе в зазор между пластинами 11 и 12.
Ионы, наход щиес в момент выталкивани в зазоре между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8 и частично в зазоре между пластинами 11 и 12, выталкиваютс
однородным полем в пространство 5 дрейфа , где разделение ионов по массам осуще- ствл ют во времени пролета. После прекращени действи выталкивающих, выт гивающих и запирающих импульсов ионы
от внешнего источника начинают поступать в область между электродом 7 и сеткой 8. Это происходит одновременно с разделением ионов по массам в пространстве 5 дрейфа , а энергию ионов подбирают такой,
чтобы за врем пролета ионами самой т желой массы пространства 5 дрейфа эти ионы как раз успели бы заполнить область между выталкивающим электродом 7 и сеткой 8, т.е. эта энерги определ етс соотношением
W-WycKCi/L)2, (2) где W - энерги ионов в области между электродом 7 и сеткой 8 в момент ее заполнени ионами;
т Wye - энерги ионов в пространстве 5 дрейфа;
И - суммарна длина области между электродом 7 и сеткой 8 и пластин 11 и 12; L - длина пути дрейфа ионов.
Дл того, чтобы исключить попадание ионов в пространство 5 дрейфа, за врем их врем пролетного- накоплени в области между электродом 7 и сеткой 8, на компенсирующий электрод, выполненный в виде
сетки 9 из параллельных проволок радиусом г и с шагом а, должна подаватьс разность потенциалов AUi Ug - Ue в соответствии с соотношением
а
AUi 1018WycK - In
2лг
(3)
где d - рассто ние между сетками 9 и 10.
После накоплени ионов в области между электродом 7 и сеткой 8 ионы снова лопадают в пространство 5 дрейфа.
Пример 1. В качестве источника непрерывного пучка ионов, подаваемых на вход модул тора, использовали ионный источнике коронным разр дом при атмосферном давлении в воздухе -лабораторного помещени . Потоком газа через отверстие в ионном источнике диаметром 0,1-0,3 мм ионы подавали в промежуточную ступень форвакуумной откачки, поддерживаемую
при давлении 1-10 торр, откуда затем через отверстие диаметром 0,1-0,2 мм ионы подавали в модул тор пучка ионов. Параметры пучка ионов: энерги 20-30 эВ; разброс ионов по энерги м - 1-2 эВ; ионный ток 10 11-10 1иА. При дальнейшем понижении
энергии ионов в пучке величина тока ионов резко падала, поэтому в дальнейшем энергию ионов на входе в модул тор выбирали равной 20 эВ. Это приводило к некоторому понижению чувствительности по сравнению с оптимальным случаем.
На фиг.4 дан пример масс-спектра кластерных ионов воды, зарегистрированных при ускор ющем напр жении 2 кВ, полной длине прибора 1 м (длина дрейфаЗ м), длине зоны импульсного выталкивани 0,05 м, частоте повторени масс-спектров 10 кГц. При
этом диапазон массовых чисел равен 1
1000, а длительность пика по основанию дл пиков с m/l - 19,33,55,73 составл ет 25-30 не, что соответствует разрешению, превышающему 1000 на полувысоте пика. При этом выигрыш в чувствительности по сравнению с прототипом составл ет 1000.
Пример2.В качестве источника непрерывного пучка ионов, подаваемых на вход модул тора, использовали ионный источник с электрораспылением жидкости в атмосфере. Аналогично примеру 1 осуществл ли подачу ионов с атмосферного давлени в вакуум. При этом параметры пучка ионов составл ли: ионный ток - 10 12А; энерги ионов - 20-30 эВ; разброс ионов по энерги м - 1-2 эВ (при дальнейшем понижении энергии ионов ионный ток также резко падал).
На фйг.5 и 6 приведены соответственно масс-спектры грамидицина и инсулина, зарегистрированные с помощью измерительно-вычислительного комплекса ИВК АП-02, дополненного модул строб-генератора и аналогового запоминающего устройства. Масс-спектр в обоих случа х представл ет
собой набор многоразр дных молекул рных ионов соответствующих веществ, причем дл инсулина ионы m/l 1926 и 2889 зарегистрированы впервые, что обусловлено обеспечением широкого диапазона масс врем пролетного масс-спектрометра.
Особенности способа расшир ют возможности его использовани дл идентификации и исследовани биологически
активных, термически нестойких веществ: полипептидов, антибиотиков, витаминов, так как диапазон масс регистрируемых ионов практически неограничен. Кроме того , способ может найти широкое пркменение при исследовании нейтральной и зар женной компонент плазмы в различных плазмохимических устройствах, при исследовании свойств кластеров и механизмов их образовани , а также при исследовании состава атмосферных ионов.
Claims (1)
- Формула изобретени Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов, включающий периодическуюимпульсную подачу ионов в пространстве дрейфа с помощью модул тора пучка ионов и регистрацию пакета ионов разных масс, отличающийс тем, что, с целью повышени чувствительности и разрешающей способности, ионы ввод т в модул тор в направлении, перпендикул рном оси пространстве дрейфа, причем врем ввода не меньше, чем врем , необходимое дл пролета всего модул тора наиболее т желымиионами, присутствующими ч исследуемом пучке, а выталкивание ионов в пространстве дрейфа осуществл ют одним из электродов модул тора./3Ионы5- 567 /IU9 U8UT-UII и„-икФигЛА-А7 /V8Фиг. 2W(W)u75тВреп пролета мксГрамицидинМ++tWм+++1№Ms+ 1156М+Фиг. 5ИнсулинМ++ 2889
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874199674A SU1681340A1 (ru) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874199674A SU1681340A1 (ru) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1681340A1 true SU1681340A1 (ru) | 1991-09-30 |
Family
ID=21287587
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874199674A SU1681340A1 (ru) | 1987-02-25 | 1987-02-25 | Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1681340A1 (ru) |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000077823A2 (en) * | 1999-06-11 | 2000-12-21 | Perseptive Biosystems, Inc. | Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
RU2564443C2 (ru) * | 2013-11-06 | 2015-10-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Биотехнологические аналитические приборы" (ООО "БиАП") | Устройство ортогонального ввода ионов во времяпролетный масс-спектрометр |
US9425034B2 (en) | 2008-07-16 | 2016-08-23 | Leco Corporation | Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
US9984863B2 (en) | 2014-03-31 | 2018-05-29 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with axial pulsed converter |
WO2019030476A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS |
WO2019030475A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE |
WO2020002940A1 (en) | 2018-06-28 | 2020-01-02 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11367608B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
-
1987
- 1987-02-25 SU SU874199674A patent/SU1681340A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Mace-спектрометри и химическа кинетика./ Под ред. В.Л.Тальрозе.М.: Наука, 1985,с. 201-208. Приборы дл научных исследований, 1986,Г 4, с. 65-75. * |
Cited By (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000077823A3 (en) * | 1999-06-11 | 2002-02-21 | Perseptive Biosystems Inc | Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use |
US6534764B1 (en) | 1999-06-11 | 2003-03-18 | Perseptive Biosystems | Tandem time-of-flight mass spectrometer with damping in collision cell and method for use |
WO2000077823A2 (en) * | 1999-06-11 | 2000-12-21 | Perseptive Biosystems, Inc. | Tandem time-of-flight mass spectometer with damping in collision cell and method for use |
US7385187B2 (en) | 2003-06-21 | 2008-06-10 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer and method of use |
US9425034B2 (en) | 2008-07-16 | 2016-08-23 | Leco Corporation | Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
US10141175B2 (en) | 2008-07-16 | 2018-11-27 | Leco Corporation | Quasi-planar multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer |
RU2564443C2 (ru) * | 2013-11-06 | 2015-10-10 | Общество с ограниченной ответственностью "Биотехнологические аналитические приборы" (ООО "БиАП") | Устройство ортогонального ввода ионов во времяпролетный масс-спектрометр |
US9984863B2 (en) | 2014-03-31 | 2018-05-29 | Leco Corporation | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometer with axial pulsed converter |
US10950425B2 (en) | 2016-08-16 | 2021-03-16 | Micromass Uk Limited | Mass analyser having extended flight path |
US11309175B2 (en) | 2017-05-05 | 2022-04-19 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
US11328920B2 (en) | 2017-05-26 | 2022-05-10 | Micromass Uk Limited | Time of flight mass analyser with spatial focussing |
US11205568B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-21 | Micromass Uk Limited | Ion injection into multi-pass mass spectrometers |
US11756782B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-09-12 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11081332B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-08-03 | Micromass Uk Limited | Ion guide within pulsed converters |
US11817303B2 (en) | 2017-08-06 | 2023-11-14 | Micromass Uk Limited | Accelerator for multi-pass mass spectrometers |
US11211238B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-12-28 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer |
US11239067B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-02-01 | Micromass Uk Limited | Ion mirror for multi-reflecting mass spectrometers |
US11295944B2 (en) | 2017-08-06 | 2022-04-05 | Micromass Uk Limited | Printed circuit ion mirror with compensation |
WO2019030475A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | MASS SPECTROMETER WITH MULTIPASSAGE |
WO2019030476A1 (en) | 2017-08-06 | 2019-02-14 | Anatoly Verenchikov | INJECTION OF IONS IN MULTI-PASSAGE MASS SPECTROMETERS |
US11049712B2 (en) | 2017-08-06 | 2021-06-29 | Micromass Uk Limited | Fields for multi-reflecting TOF MS |
US11367608B2 (en) | 2018-04-20 | 2022-06-21 | Micromass Uk Limited | Gridless ion mirrors with smooth fields |
US11621156B2 (en) | 2018-05-10 | 2023-04-04 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11342175B2 (en) | 2018-05-10 | 2022-05-24 | Micromass Uk Limited | Multi-reflecting time of flight mass analyser |
US11881387B2 (en) | 2018-05-24 | 2024-01-23 | Micromass Uk Limited | TOF MS detection system with improved dynamic range |
US11587779B2 (en) | 2018-06-28 | 2023-02-21 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
WO2020002940A1 (en) | 2018-06-28 | 2020-01-02 | Micromass Uk Limited | Multi-pass mass spectrometer with high duty cycle |
US11848185B2 (en) | 2019-02-01 | 2023-12-19 | Micromass Uk Limited | Electrode assembly for mass spectrometer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1681340A1 (ru) | Способ масс-спектрометрического анализа по времени пролета непрерывного пучка ионов | |
US7564026B2 (en) | Linear TOF geometry for high sensitivity at high mass | |
US6974957B2 (en) | Ionization device for aerosol mass spectrometer and method of ionization | |
CA2090616C (en) | Apparatus and methods for trace component analysis | |
US5117107A (en) | Mass spectrometer | |
JP3299335B2 (ja) | 時間変調が課される電気的噴霧装置および方法 | |
US5652427A (en) | Multipole ion guide for mass spectrometry | |
Michael et al. | Detection of electrospray ionization using a quadrupole ion trap storage/reflectron time-of-flight mass spectrometer | |
US5955730A (en) | Reflection time-of-flight mass spectrometer | |
US5852295A (en) | Ion source for compact mass spectrometer and method of mass analyzing a sample | |
US5986258A (en) | Extended Bradbury-Nielson gate | |
US20020148959A1 (en) | Travelling field for packaging ion beams | |
US7071466B2 (en) | Mass spectrometry system for continuous control of environment | |
US20080272290A1 (en) | Reflector TOF With High Resolution and Mass Accuracy for Peptides and Small Molecules | |
US7838820B2 (en) | Controlled kinetic energy ion source for miniature ion trap and related spectroscopy system and method | |
US7148472B2 (en) | Aerosol mass spectrometer for operation in a high-duty mode and method of mass-spectrometry | |
US6723983B2 (en) | High throughput of laser desorption mass spectra in time-of-flight mass spectrometers | |
US7385188B2 (en) | Linear electric field time-of-flight ion mass spectrometer | |
US7781730B2 (en) | Linear electronic field time-of-flight ion mass spectrometers | |
US5770859A (en) | Time of flight mass spectrometer having microchannel plate and modified dynode for improved sensitivity | |
US7381945B2 (en) | Non-linear time-of-flight mass spectrometer | |
US6806467B1 (en) | Continuous time-of-flight ion mass spectrometer | |
US6791079B2 (en) | Mass spectrometer based on the use of quadrupole lenses with angular gradient of the electrostatic field | |
Okumura et al. | High-resolution time-of-flight spectra obtained using the MULTUM II multi-turn type time-of-flight mass spectrometer with an electron ionization ion source | |
RU2239910C2 (ru) | Времяпролетный масс-спектрометр |