SU1651168A1 - Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings - Google Patents

Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings Download PDF

Info

Publication number
SU1651168A1
SU1651168A1 SU894689397A SU4689397A SU1651168A1 SU 1651168 A1 SU1651168 A1 SU 1651168A1 SU 894689397 A SU894689397 A SU 894689397A SU 4689397 A SU4689397 A SU 4689397A SU 1651168 A1 SU1651168 A1 SU 1651168A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
sphere
image
photometer
illuminator
coating
Prior art date
Application number
SU894689397A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Марат Вахабович Танташев
Геннадий Константинович Холопов
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU894689397A priority Critical patent/SU1651168A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1651168A1 publication Critical patent/SU1651168A1/en

Links

Landscapes

  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

Изобретение касаетс  фотометрии сред. Целью  вл етс  упрощение способа измерений с Способ осуществл ют проведением измерений  ркости нанесенных на подложку покрытий при различных углах освещени  и визировани . Новым в споссбе  вл етс  нанесение покрыти  на подложку, которую выполн ют в виде сферы, получение изображени  сферы в плоскости чувствительного элемента фотометра, поэлементное фотометрирование пол   ркости полученного изображени  и определение зенитного угла освещени , зенитного и азимутального углов наблюдени  каждого фотометрируемого элемента по его линейным координатам на изображении сферы и устанавливаемому углу рассе ни  (углу между оптическими ос ми осветител  и фотометра). Упрощение способа состоит в сокращении количества угловых перемещений элементов измерительной установки, реализующей способ, с необходимых трех перемещений при всех известных методах до одного. 4 ил. i (ЛThe invention relates to photometry media. The goal is to simplify the measurement method with. The method is carried out by measuring the luminance of the coatings deposited on the substrate at different angles of illumination and sighting. New in sposb is coating on a substrate, which is made in the form of a sphere, obtaining a sphere image in the plane of the sensitive element of the photometer, element-wise photometry of the polarity of the obtained image and determining the zenith angle of illumination, zenith and azimuth angles of observation of each photometric element by its linear coordinates on the image of the sphere and the set scattering angle (the angle between the optical axes of the illuminator and photometer). The simplification of the method consists in reducing the number of angular displacements of the elements of the measuring setup that implements the method, from the required three displacements with all known methods to one. 4 il. i (L

Description

о елabout ate

Изобретение относитс  к фотометрии сред и может быт.ь использовано при изучении отражательных характеристик светорассеивающих конструкционных материалов.The invention relates to photometry of media and can be used in the study of the reflective characteristics of light-scattering structural materials.

Цель изобретени  - упрощение способа измерени .The purpose of the invention is to simplify the measurement method.

На фиг, 1 дана принципиальна  схема устройства, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 - взаимное угловое положение на сфере; на фиг. 3 - сфера в плоскости чувствительного элемента фотометра; на фигь 4 - часть результатов фотометрировани  изображени  сферы с покрытием типа алюминиева  пудра при значении угла рассе ни  45°.Fig. 1 is a schematic diagram of a device implementing the proposed method; in fig. 2 - mutual angular position on the sphere; in fig. 3 - the sphere in the plane of the sensitive element of the photometer; Fig. 4 shows a part of the results of photometry of an image of a sphere coated with aluminum powder with a scattering angle of 45 °.

Единичные векторы (фиг« 2) харак- геризуют направление на осветитель О, на фотометр Н и нормаль к поверх ности фотометрируемого элемента dS(N) Крива  лини  Е определ ет границу освещений части сферьи Крива  лини  F - след сечени  сферы плоскостью, содержащей векторы 15 и Н. Точка С0 определ ет центр сферы.На рпредел е- мом трем  векторами О, Н, N сферическом треугольнике обозначены &0 зеЗЭ ЭОThe unit vectors (Fig. “2) characterize the direction to the illuminator O, the photometer H and the normal to the surface of the photometric element dS (N) The E curve determines the lighting limit of the part of the sphere. The F curve shows the cross section of the sphere with a plane containing vectors 15 and N. The point С0 determines the center of the sphere. On the three spherical triangle O, H, N defined by it by three vectors O, H, N

нитный угол освещени  (в плоскости падени , содержащей векторы О и N), 0ц,- зенитный угол наблюдени  (в плоскости векторов Н и N), fn - азимутальный угол наблюдени  (угол между указанными плоскост ми) tf. угол рассе ни  между векторами 0 и Н (фиг. 1), А - азимутальный угол между плоскост ми, одержащнми векторы ЈГ и Н и векторы N и Н соответственно Точки С и D на поверхности сферы - флижайшие соответственно к фотометру и осветителю.The illumination angle (in the plane of incidence containing the O and N vectors), 0c is the zenith angle of observation (in the plane of the H and N vectors), fn is the azimuthal angle of observation (the angle between these planes) tf. the angle is scattered between the vectors 0 and H (Fig. 1), A is the azimuthal angle between the planes, observable vectors иГ and H and vectors N and H, respectively.

Точка С - центр круга изображени  Сферы, R - радиус изображени  сферы , след плоскости F (фиг. 2) есть Ось симметрии изображени  освещенной части сферы, ось координат CVL совпадает с этой осью симметрии, средн   точка изображени  фотометрируемого Элемента размером 18 йх-Ду имеет ли- ейные координаты х, у. Величины Ах и Д,у определ ютс  линейным пространственным разрешением фотометра в плоскости его изображени  (фиг. 3).Point C is the center of the circle of the image of the Sphere, R is the radius of the image of the sphere, the trace of the plane F (Fig. 2) is the axis of symmetry of the image of the illuminated part of the sphere, the coordinate axis CVL coincides with this axis of symmetry, the midpoint of the image of the photometric Element of size 18 y-Dy has linear coordinates x, y. The values of Ax and D, y are determined by the linear spatial resolution of the photometer in the plane of its image (Fig. 3).

1515

Устройство содержит (,фиг„ f; неподвижно установленный фотометр 1, оптическа  ось которого проходит через центр сферического образца (сфе- ribi) 2. На жесткой направл ющей 3, гредставл ющей собой плоскую дугу, установлен осветитель 4, который перемещаетс  по дуге 3, измен   угол рассе ни  ОС в пределах (Xtf«i 800 таким образом, что его оптическа  ось ice врем  находитс  в одной и той же плоскости, котора  содержит также Оптическую ось фотометра -1, и проходит через центр сферы 2. Как вспомогательные элементы, полезные при определении параметров изображени  сферического образца, устройство содержит дополнительный осветитель 5, подсвечивающий сферу 2 так, что вс  ее обращенна  к фотометру сторона полностью освещена совместно с основным осветителем 4, а также тонкий жесткий стержень-держатель 6, ось которого проходит через центр сферы и располагаетс  точно в той же плоскости , что и оптические оси фотометра и осветител , и съемный тонкий стержень 7, который  вл етс  продолжением стержн -держател  6 с диаметрально противоположной стороны сферы и установлен строго соосно с ним.The device contains (, FIG. F; a fixedly mounted photometer 1, whose optical axis passes through the center of a spherical sample (sphere) 2. A fixed illuminator 4 is mounted on a rigid guide 3, representing a flat arc, which moves along arc 3, changing the angle of the scattering of the OS within (Xtf & i 800) so that its optical axis ice time is in the same plane, which also contains the optical axis of the photometer -1, and passes through the center of the sphere 2. As auxiliary elements, useful when defining image parameters spherical sample, the device contains an additional illuminator 5, illuminating sphere 2 so that its entire side facing the photometer is fully illuminated together with the main illuminator 4, as well as a thin rigid rod holder 6, the axis of which passes through the center of the sphere and is located exactly in that the same plane as the optical axes of the photometer and illuminator; and a removable thin rod 7, which is an extension of the rod holder 6 from the diametrically opposite side of the sphere and is mounted strictly coaxially with it.

1651168416511684

Способ измерени  индикатрис  ркости светорассеивающих покрытий осуществл ют следующим образом.The method of measuring the indicatrix of the light scattering coatings is carried out as follows.

На поверхность сферы 2 равномерным слоем нанос т исследуемое покрытие , устанавливают сферу вместе со стержн ми 6 и 7 в измерительное уст- 1 ройство. Под заданным, углом рассе- 10  ни  о к оси фотометра устанавливают на направл ющей 3 осветитель 4„ В качестве фотометра используют, например , сканирующую фотометрическую систему с регистрирующими и видеоконтрольным (ВКУ) устройствами. Освещают сферу 2 осветител ми 4 и 5„ Навод т оптическую ось фотометра, соответствующую центру его пол  обзора, на центр сферы и получают изображение полностью освещенной стороны сферы в плоскости чувствительного элемента фотометра (это изображение в результате его оптико-электрических преобразований переноситс  на ВКУ фотометра и при необходимости регистрируетс ) . С помощью специальных сервисных устройств ВКУ, например, координатных реперов (или другими способами, наприме.р, последовательным перемещением платформы, на которой установлен фотометр, в горизонтальном и вертикальном направлени х) определ ют координаты границ изображени  сферы (во вспомогательной системе координат экрана ВКУ или плат- 35 формы): верхней границы YB, нижнейThe coating under investigation is applied on the surface of sphere 2 in a uniform layer, and the sphere is installed together with rods 6 and 7 into the measuring device. At a predetermined angle of the photometer to the axis of the photometer, they are mounted on the guide 3 illuminator 4. As a photometer, for example, a scanning photometric system with recording and video control devices (ICU) is used. Illuminate the sphere with 2 illuminators 4 and 5. They direct the optical axis of the photometer, corresponding to the center of its field of view, to the center of the sphere and obtain an image of the fully illuminated side of the sphere in the plane of the sensitive element of the photometer and recorded if necessary). With the help of special service devices of internal controllers, for example, coordinate reference points (or in other ways, for example, by successive movement of the platform on which the photometer is installed, in horizontal and vertical directions) coordinates of the sphere image are determined (in the auxiliary coordinate system of the internal control screen or plate- 35 forms): upper limit YB, lower

По этимBy these

2020

2525

30thirty

4040

4545

YM, левой Х и правой Хг значени м в тех же координатах наход т положение центра круга изображени YM, left X and right Xg values in the same coordinates find the position of the center of the image circle.

Хс(Хп+ХА)/2; Хс (Хп + ХА) / 2;

5050

5555

и определ ют радиус круга изображени and determine the radius of the circle image

R(Xn-XA)/2(Ye-YH)/2R (Xn-XA) / 2 (Ye-YH) / 2

(масштабы изображени  по ос м X, Y ВКУ должны быть уравнены)„ Разворачива  при необходимости фотометр во-. круг оси, совпадающей с его оптической осью, добиваютс  того, чтобы изображени  стержней 6 и 7, определ ющих ось симметрии изображени  освещенной части сферы, располагались строго вдоль одной из координатных осей, например, оси Y В установленном положении на изображение сферы накладывают новую систему координат(image scales along the axes X, Y of the internals must be equalized). If necessary, turn the photo- meter to-. the circle of the axis coinciding with its optical axis ensures that the images of rods 6 and 7, defining the axis of symmetry of the image of the illuminated part of the sphere, are strictly along one of the coordinate axes, for example, the Y axis In the installed position on the image of the sphere impose a new coordinate system

На поверхность сферы 2 равномерным слоем нанос т исследуемое покрытие , устанавливают сферу вместе со стержн ми 6 и 7 в измерительное уст- ройство. Под заданным, углом рассе-  ни  о к оси фотометра устанавливают на направл ющей 3 осветитель 4„ В качестве фотометра используют, например , сканирующую фотометрическую систему с регистрирующими и видеоконтрольным (ВКУ) устройствами. Освещают сферу 2 осветител ми 4 и 5„ Навод т оптическую ось фотометра, соответствующую центру его пол  обзора, на центр сферы и получают изображение полностью освещенной стороны сферы в плоскости чувствительного элемента фотометра (это изображение в результате его оптико-электрических преобразований переноситс  на ВКУ фотометра и при необходимости регистрируетс ) . С помощью специальных сервисных устройств ВКУ, например, координатных реперов (или другими способами, наприме.р, последовательным перемещением платформы, на которой установлен фотометр, в горизонтальном и вертикальном направлени х) определ ют координаты границ изображени  сферы (во вспомогательной системе координат экрана ВКУ или плат- формы): верхней границы YB, нижнейThe coating under study is applied on the surface of sphere 2 with a uniform layer, and the sphere is installed together with rods 6 and 7 into the measuring device. At a predetermined scattering angle about to the axis of the photometer, the illuminator 3 is mounted on the 4 "4" illuminator. For example, a scanning photometric system with recording and video monitoring devices (ICU) is used as the photometer. Illuminate the sphere with 2 illuminators 4 and 5. They direct the optical axis of the photometer, corresponding to the center of its field of view, to the center of the sphere and obtain an image of the fully illuminated side of the sphere in the plane of the sensitive element of the photometer and recorded if necessary). With the help of special service devices of internal controllers, for example, coordinate reference points (or in other ways, for example, by successive movement of the platform on which the photometer is installed, in horizontal and vertical directions) coordinates of the sphere image are determined (in the auxiliary coordinate system of the internal control screen or Platform): upper bound YB, lower

По этимBy these

YM, левой Х и правой Хг значени м в тех же координатах наход т положение центра круга изображени YM, left X and right Xg values in the same coordinates find the position of the center of the image circle.

4040

Хс(Хп+ХА)/2; Хс (Хп + ХА) / 2;

и определ ют радиус круга изображени and determine the radius of the circle image

R(Xn-XA)/2(Ye-YH)/2R (Xn-XA) / 2 (Ye-YH) / 2

(масштабы изображени  по ос м X, Y ВКУ должны быть уравнены)„ Разворачива  при необходимости фотометр во-. круг оси, совпадающей с его оптической осью, добиваютс  того, чтобы изображени  стержней 6 и 7, определ ющих ось симметрии изображени  освещенной части сферы, располагались строго вдоль одной из координатных осей, например, оси Y В установленном положении на изображение сферы накладывают новую систему координат(image scales along the axes X, Y of the internals must be equalized). If necessary, turn the photo- meter to-. the circle of the axis coinciding with its optical axis ensures that the images of rods 6 and 7, defining the axis of symmetry of the image of the illuminated part of the sphere, are strictly along one of the coordinate axes, for example, the Y axis In the installed position on the image of the sphere impose a new coordinate system

хСу с центром ее в точке XG, Yc и осью у, направленной вдоль оси Y. После этого выключают дополнительный осветитель 5, убирают стержень 7 и производ т пЬэлементное измерение  ркости покрыти  на изображении освещенной осветителем 4 части сферы . При этом  ркость каждого выдел емого элементарным полем зрени  фотометра элемента dS, характеризуемого координатами (х,у) в наложенной указанным образом на изображение системе координат хСу, преобразуетс  в пропорциональный ей электрический сигнал. Измеренные таким образом  ркости каждого из элементов dS(x,y) прив зываютс  к угловым координатам 00;0ц;Ц „, которые; согласно обозначени м , приведенным на фиг0 2 и 3 выражаютс  через линейные координаты х, у, радиус изображени  R и угол рассе ни  следующим образом:The xYy is centered at XG, Yc and the y axis is directed along the Y axis. After that, the additional illuminator 5 is turned off, the rod 7 is removed, and the surface brightness is measured in the image of the 4 part of the sphere illuminated by the illuminator. At the same time, the brightness of each photometer's element dS, separated by an elementary field of view, characterized by coordinates (x, y) in the superimposed on the image in this way on the image of the xCy coordinate system, is converted into an electrical signal proportional to it. The luminances of each of the elements dS (x, y) measured in this way are related to the angular coordinates 00; 0ts; C,; as indicated in Figures 2 and 3, are expressed in terms of the linear coordinates x, y, the image radius R and the scattering angle as follows:

smlsml

(1)(one)

cos 9n cos cosOu+sint sin0,.cos A;cos 9n cos cosO + sint sin0, .cos A;

cos x2 +y2 (cosoi-cosQMcos00)/cos x2 + y2 (cosoi-cosQMcos00) /

/(sin0Hsin00) ./ (sin0Hsin00).

Освещенна  часть сферы (освещенна  полусфера) содержит участки, все множество углов освещени  которых 00 находитс  в диапазоне от О до 90 Фотометром часть этих участков-визируетс  под различными зенитными и азимутальными углами, значени  которых определ ютс  как величиной угла рассе ни  оЈ, так и местоположением этих участков на сфере (местоположением их изображений на изображении сферы). Таким образом, фотометриро- вание изображени  сферы при каждом из устанавливаемых углов рассе ни  Об дает множество.результатов, соответствующих определенным област м углов Q , Он и , Фотометрирование в пределах 0 # 180 расшир ет это множество и включает в него все возможные углы освещени  (0-Ј90490 ) и наблюдени  (0. 0„ : 90°, -180ЧСриЈ 180°). Получаемые массивы данных L (Q0 ;0Н ; Cft. ) занос тс , например, в пам ть ЭВМ и обрабатываютс  на предмет получени  функциональных зависимостей (индикатрис)  ркости от углов освещени  и наблюдени The illuminated part of the sphere (the illuminated hemisphere) contains areas, the whole set of illumination angles of which 00 is in the range from 0 to 90. these sites on the sphere (the location of their images on the image of the sphere). Thus, photometry of the image of a sphere at each of the set scattering angles Od gives a multitude of results corresponding to certain areas of the angles Q, He and Photometry within 0 # 180 extends this set and includes all possible angles of illumination ( 0-Ј90490) and observations (0. 0 ": 90 °, -180 CHS = 180 °). The resulting data sets L (Q0; 0H; Cft.) Are, for example, stored in a computer memory and processed to obtain functional dependencies (indicatrices) of luminance on lighting angles and observations

«Р "R

, ,

1515

2020

2525

3535

4040

Поскольку при фотомётрировании при нескольких углах рассе ни  множества угловых координат исследуемых участков покрыти  (90 ; @и,(ри) частично перекрываютс , конечное множество результатов L (0Q; 0„,Сри) может оказатьс  избыточным, благодар  чему может быть оценена случайна  составл ю- JQ ща  погрешности измерений и, тем са- , мым, повышена достоверность их результатов гSince the scattering of the set of angular coordinates of the studied areas of the coating (90; @ and, (ri)) partially overlaps when photometry at several angles, the final set of results L (0Q; 0 ", Sri) may be redundant, so that the random composition can be estimated - JQ schA measurement errors and, thus, the reliability of their results r is increased

Пример. Фотометрирование при каждом из устанавливаемых углов Qi провод т по результатам двух измерений: регистрируют изображение шара с подсветкой осветителем и без подсветки . Оба массива данных с учетом градуировочных параметров аппаратуры обрабатывают на ЭВМ и провод т их поэлементное вычитание. Тем самым исключаетс  вли ние на отражательные характеристики собственного (теплового ) излучени  шара и отраженного от него излучени  окружающего про- .странства,,Example. Photometry at each of the set angles Qi is carried out according to the results of two measurements: the image of the ball with the illumination illuminator and without illumination is recorded. Both data sets, taking into account the calibration parameters of the equipment, are processed on a computer and their element-wise subtraction is performed. This eliminates the influence on the reflective characteristics of the intrinsic (thermal) radiation of the ball and the radiation reflected from it from the surrounding space.

На фиг. 4 показан пример фотомет- рировани  одного из полученных изображений сферы ). Показаны распределени   ркости (в относительных единицах) по сечени м изображени  сферы, соответствующим посто нным значени м координаты х (фиг. 3)„ Цифрами у кривых обозначены величины x/R, которым они соответствуют (дл  нагл дности и во избежание излишней громоздкости приведена лишь далеко не полна  выборка данных при х&О), Аналогичные результаты получены при других углах рассе ни : до с шагом 15°. Обработка по выражени м (1)-(4) полученных массивов данных, аналогичных показанному на фиг. 4, и переорганизаци  этих массивов , выполненные на ЭВМ, позвол ют определить индикатрисы L (9„; 9ц ,($ц ) дл  исследованного покрыти  (надежные: результаты получены дл  диапазонов .углов 0, бн Ј 83°)о Приведенный% пример показывает высокую эффективность способа измерений, особенно при использовании сканирующих фотометров в комплекте с управл йте-вычислительными системами на базе ЭВМ. Таким образом, преимущества предлагаемого способа измерений следующие: отсутствие необходимости измен ть угловые положени  образца; измерительное устройство, реализующееFIG. 4 shows an example of photometry of one of the obtained images of a sphere). The luminance distributions (in relative units) are shown over the cross sections of the image of a sphere corresponding to constant x coordinate values (Fig. 3). The numbers on the curves indicate the x / R values to which they correspond (for the sake of clarity and to avoid unnecessarily cumbersome only data sampling at x & O) is far from complete. Similar results were obtained for other scattering angles: up in increments of 15 °. Processing by expressions (1) - (4) of the received data arrays, similar to that shown in FIG. 4, and the reorganization of these arrays, performed on a computer, makes it possible to determine the indicatrices L (9 "; 9ts, ($ c) for the coating studied (reliable: results obtained for ranges of angles 0, bn Ј 83 °). The given% example shows the high efficiency of the measurement method, especially when using scanning photometers complete with computer-controlled computing systems.Thus, the advantages of the proposed measurement method are the following: no need to change the angular positions of the sample; your realizing

30thirty

4545

5050

5555

способ, вместо движени  его элементов по трем углам содержит только одно движение: измен етс  угол между оптическими ос ми осветител  и фотометра (необходимому развороту плоского образца по двум степен м свободы в пространстве соответствует различна , равномерна  в пространстве ориентаци  множества элементов поверхности сферы, выдел емых элементарными пол ми зрени  фотометра, полное поле обзора которого должно заключать всю сферу).instead of moving its elements along the three corners, there is only one movement: the angle between the optical axes of the illuminator and the photometer changes (the required rotation of the flat sample in two degrees of freedom in space corresponds to a different, uniform in space, orientation of the set of surface elements of the sphere separated by the elementary fields of view of the photometer, whose full field of view must encompass the entire sphere).

Claims (1)

Трехкратное по отношению к инвест- нЫм способам сокращение необходимых операций изменени  угловых положений узлов измерительного устройства способствует упрощению способа измерений Формула изобретени  A three-fold reduction in the required operations for changing the angular positions of the measuring device nodes in relation to the investment methods helps to simplify the measurement method. Способ измерени  индикатрис  р- кчэсти светорассеивающих покрытий, Заключающийс  в нанесении исследуе- Мого покрыти  на подложку, освещении бго равномерным пучком излучени , измерении  ркости покрыти  с различных направлений при дискретно измен емых углах между оптическими ос ми осветител  и фотометра, определе- The method of measuring the indicatrix of the light scattering coatings, which consists in applying the investigated coating on the substrate, illuminating bgo with a uniform beam of radiation, measuring the brightness of the coating from different directions at discretely varying angles between the optical axis of the illuminator and the photometer, ФигFig 5 050 5 050 нии угловых координат осветител  и фотометра в системе координат, св занный с нормалью к поверхности образца и плоскостью падени  излучени , отличающийс  тем, что, с целью упрощени  способа, исследуемое покрытие нанос т на поверхность подложки , выполненную в виде сферы, получают изображение сферы в плоскости чувствительного элемента фотометра . определ ют центр круга изображени  сферы и радиус круга, наход т ось симметрии изображени  освещенной части сферы, накладывают на изображение пр моугольную систему координат, начало которой совпадает с центром круга изображени  сферы, а одна из осей совпадает с осью симметрии изображени  освещенной части сферы, измер ют  ркости элементов покрыти  на изображении освещенной части сферы, а определение угловых координат осветител  и фотометра дл  каждого измер емого элемента покрыти  подложки осуществл ют по двум линейным координатам его изображени  в наложенной на изображение сферы системе координат и значению угла между оптическими ос ми осветител  и фотометра„The angular coordinates of the illuminator and photometer in the coordinate system associated with the normal to the surface of the sample and the plane of incidence of radiation, characterized in that, in order to simplify the method, the test coating is applied to the surface of the substrate in the form of a sphere to obtain an image of a sphere in the plane sensitive element of the photometer. determine the center of the circle image of the sphere and the radius of the circle, find the axis of symmetry of the image of the illuminated part of the sphere, impose on the image a rectangular coordinate system, the beginning of which coincides with the center of the circle of the image of the sphere, and one of the axes coincides with the axis of symmetry of the image of the illuminated part of the sphere the luminance of the coating elements in the image of the illuminated part of the sphere, and the determination of the angular coordinates of the illuminator and photometer for each measured element of the substrate coating is carried out in two linear coordinates its image in the coordinate system superimposed on the image of the sphere and the angle between the optical axes of the illuminator and the photometer Фиг ZFig z Фиг. 3FIG. 3 05 П 05 P
SU894689397A 1989-05-11 1989-05-11 Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings SU1651168A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894689397A SU1651168A1 (en) 1989-05-11 1989-05-11 Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU894689397A SU1651168A1 (en) 1989-05-11 1989-05-11 Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1651168A1 true SU1651168A1 (en) 1991-05-23

Family

ID=21446654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU894689397A SU1651168A1 (en) 1989-05-11 1989-05-11 Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1651168A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Непогодий И.А„ и дрс Гониофо- тометр дл исследовани двунаправленных характеристик материалов Оптико-механическа промышленность, 1984, № 3, с. 19-21. Аксютов Л„Н. и др„ Инженерный метод определени и описани направленных отражательных характеристик - непрозрачных конструкционных материалов Инженерно-физический журнал. 1980, т. 38, № 6, сс 1091-1098. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1582854B1 (en) System and method for the measurement of optical distortions
CN108426526B (en) Space multi-target vertical target parameter testing device and testing method
CN1657909A (en) Method and device for measuring scattered light space distribution
CN204788422U (en) Be applied to sensitive optical system index adjustment check out test set of satellite positioning star
CN109839027B (en) Device and method for testing meter mounting precision of thermal imager
JPH0248054B2 (en)
CN109632264B (en) Device and method for detecting environmental test stability of camera device
CN114739428B (en) Tracking accuracy measuring device based on two-dimensional fast control reflector
US20080043232A1 (en) Multi-angle and multi-channel inspecting device
JP2672563B2 (en) Device for measuring display screen contrast as a function of viewing direction.
CN206114256U (en) Ghost image measuring device of optical system
CN115436018A (en) Optical detection system
SU1651168A1 (en) Method for measuring indicatrices of brightness of light diffusing coatings
KR20050107511A (en) Film thickness acquiring method
RU2612918C9 (en) Device for determining positions of defects on aspherical surface of optical part (versions)
CN101846528A (en) Detection method for capture capability of photoelectric tracking equipment to target with low contrast
US5818571A (en) Apparatus with off-axis light path for characterizing the luminous intensity of lamp
Lewin et al. Luminaire photometry using video camera techniques
US4320969A (en) Method and assembly for measuring equivalent sphere illumination in the field
CN107806856A (en) A kind of experimental detection device and method of simulated target spatial attitude
RU2437058C2 (en) Digital two-axis dynamic autocollimator
US5729336A (en) Apparatus and method for characterizing the luminous intensity of a lamp using a curved mirror and curved screen
CN201681041U (en) Azimuth calibration device for sample of ellipsometry measuring system
Blackwell et al. IERI. Application procedures for evaluation of veiling reflections in terms of ESI: II. gonio data for the standard pencil task
CN211401216U (en) Scanning optical system for gyro compass