SU1649241A1 - Образец шероховатости - Google Patents
Образец шероховатости Download PDFInfo
- Publication number
- SU1649241A1 SU1649241A1 SU894718630A SU4718630A SU1649241A1 SU 1649241 A1 SU1649241 A1 SU 1649241A1 SU 894718630 A SU894718630 A SU 894718630A SU 4718630 A SU4718630 A SU 4718630A SU 1649241 A1 SU1649241 A1 SU 1649241A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- roughness
- accuracy
- sample
- particles
- calibration
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике, а именно к измерени м шероховатости, и может быть использовано при поверке и градуировке приборов, в частности рефлектометров, Целью изобретени вл етс повышение точности определени параметров в образце шероховатости, котора достигаетс тем, что в образце шероховатости, состо щем из стекл нной пластины и покрыти в виде одного или нескольких металлических слоев, выполн ют наружный металлический слой в виде системы дискретных частиц одинаковой формы. 4 ил.
Description
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике, а именно к измерени м шероховатости, и может быть использовано при поверке и градуировке приборов, в частности рефлектометров,
Целью изобретени вл етс повышение точности определени параметров шероховатости .
На фиг. 1 схематически изображен образец шероховатости; на фиг. 2,3- вид поверхности образца в электронном микроскопе; на фиг. 4 - профиль частиц.
Основу образца составл ет пластина 1 из твердого материала, например стекла, кремни и т. д, с минимальной собственной шероховатостью. Современные методы обработки (алмазное точение, химическа полировка и т. д.) позвол ют получать поверхности с параметром шероховатости Ra менее 1 нм. Еще меньшей шероховатостью обладают плотно упакованные грани монокристаллов. На пластину нанесен слой 2 мелкоструктурного и химически инертного материала, например аморфного углерода. Его назначение состоит в том, чтобы сгладить неровности, оставшиес после обработки пластины, повысить однородность
поверхности и уменьшить ее химическую активность. Рельеф образца определ етс наружным слоем 3, который представл ет собой дисперсную металлическую пленку, состо щую из частиц в форме усеченных сфер. Частицы такой формы образуютс при затвердевании жидких капель.
Нанесение металлической пленки может быть осуществлено методом вакуумной конденсации. Известно, что многие металлы конденсируютс в жидком состо нии, если температура подложки превышает 2/3 Тпл (Тпл - температура плавлени металла). Эта особенность св зана со способностью чистых металлов к глубокому переохлаждению.
Капли различного размера характеризуютс одинаковым отношением высоты h к диаметру D в горизонтальном сечении. Величина этого отношени однозначно определ етс углом смачивани . Значени углов смачивани указаны в справочной литературе дл многих систем, в том числе дл систем металл/углерод. Диаметры капель можно измерить по электронно-микроскопическим снимкам. При известной величине h/D проекци частиц на плоскость пластины полностью характеризует рельеф.
(Л
с
N5 4
Если при конденсации металла температура подложки ниже 2/3 Тпл, возникают кристаллические частицы произвольной формы, характеризуемые различными отношени ми h/D. В этих услови х измерение шероховатости существенно усложн етс .
Точность параметров шерохоьйюсти образца, т. е. точность их аттестации повышаетс благодар посто нству формы частиц наружного сло . Действительно, размер частиц в горизонтальной плоскости может быть измерен по электронным микрофотографи м с погрешностью несколько процентов. Если угол смачивани дл рассматриваемой системы точно известен, то каждой точке на изображении частицы данного размера можно приписать определенную высоту. Значит,погрешность измерени высоты частиц или параметра шероховатости Ra также может составл ть несколько процентов. Это намного меньше достигающей сэтен процентов погрешности измерени Ra известных образцов, рельеф которых создаетс неоднородност ми, остающимис после шлифовки и полировки. Если значени угла смачивани © в справочной литературе отсутствуют или представл ютс недостаточно достоверными, возможно измерение 0 по профильным снимкам в электронном микроскопе или по изображению рельефа в сканирующем туннельном микроскопе.
В отличие от следов механической обработки среднюю высоту металлических частиц и их плотность можно плавно мен ть, измен услови конденсации, например количество осажденного металла. Тем самым обеспечиваетс возможность приготовлени серии образцов с параметром Ra, отличающимс на любую наперед заданную величину. По той же причине повышаетс точность воспроизведени рельефа при копировании образца.
Пример изготовлени образца на полированных стеклах, покрытых слоем аморфного углерода и дисперсной пленкой олоаа. Параметр шероховатости Ra стекол, измеренный рефлектометрическим методом, составл ет 1,7 и 1,1 нм соответственно до и после нанесени углерода. Олово нанесено вакуумным испарением на подложки, нагретые до 420 К (0,85 Тпл). Мен количество осажденного металла, можно регулировать максимальный размер частиц от 5 нм до 10 мкм, что соответствовало изменению Ra в диапазоне 0,1 нм - 1 мкм, Вид частиц олова различного размера иллюстрируют электронно-микроскопические снимки. Угол смачивани дл системы олово/углерод прин т равным 125°
Нар ду с электронно-микроскопическим анализом рельефа образца проведена оценка их шероховатости с помощью спектрофотометра по коэффициенту интегрального рассе ни света. В обоих случа х наблюдаетс закономерное возрастание параметра Ra при увеличении средней толщины пленки олова, что позвол ет производить градуировку оптических приборов по
образцам, аттестованным методами электронной микроскопии.
Оценка точности аттестации образцов приводит к следующим выводам. Из-за высокой однородности сло аморфного углерода частицы олова распределены по его поверхности равномерно. Поэтому дл измерени параметров шероховатости, например среднего арифметического отклонени профил Ra, достаточно провести обработку снимка произвольного участка поверхности. Размер этого участка должен быть выбран так, чтобы результаты были статистически достоверными. Расчет показывает, что при типичном размере анализируемого участка 10x10 мм2 и среднем рассто нии между частицами 0,1 мкм флуктуации плотности частиц мен ют Ra не более чем на 1%. Точность определени размера частиц с помощью электронного
микроскопа составл ет около 3%. При заданном угле смачивани ©высота частиц, а значит, и параметр Ra определ етс с такой же погрешностью, как и их диаметр. Дл олова на углероде и средн высота
частиц св зана с диаметром соотношением cos 0
h (0,33 + ) -D. Если измер ть 0
разумной точностью ±3°, относительна ошибка измерени h и Ra составит около 7%. Таким образом, суммарна ошибка измерени Ra составл ет около 10% и может быть уменьшена, например,при использовании сканирующего туннельного микроскопа. Образец, изображенный на фиг. 2а, характеризуетс параметром Ra, равным 86 ±10 нм.
Рельеф известных образцов содержит мки и царапины, имеющие различную форму и распределенные по поверхности неравномерно . Дл анализа такого рельефа применение электронномикроскопических методов вл етс малоэффективным. При их аттестации используют оптические приборы и механические профилографы. Их показани в силу р да объективных причин позвол ют, в частности, повысить точность воспроизведени рельефа при изготовлении копий образцов.
В св зи с высокой степенью однородности аморфного углерода металлические частицы распределены по поверхности равномерно , так что шероховатость различных участков поверхности одинакова. Тем самым отпадает необходимость в выполнении большого числа измерений дл получени статистически достоверных результатов. Таким образом, дл описанного образца процесс аттестации облегчаетс , а точность измерени параметра шероховатости Ra повышаетс в дес тки раз.
Средний размер металлических частиц и их распределение по размерам завис т от количества осажденного металла, скорости испарени и температуры подложки. Эти параметры поддаютс простому контролю и могут быть легко воспроизведены, что позвол ет изготовить любое число копий образца , с большой точностью повтор ющих оригинал. Мен услови конденсации, можно плавно регулировать параметры ше- роховатости образца Измерение среднего арифметического отклонени профил Ra может осуществл тьс с шагом примерно 0,1 нм
Claims (1)
- Формула изобретениОбразец шеооховатости, состо щий з стекл нной пластины и покрыти в виде од ного или нескольких металлически илорв отличающийс тем что, с цег.-юповышени точности определени параметров шероховатости, наружный металл-НР- ский слой выполнен в зиде систем дискретных частиц одинаковой формыФиг /. 7
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894718630A SU1649241A1 (ru) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | Образец шероховатости |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894718630A SU1649241A1 (ru) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | Образец шероховатости |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1649241A1 true SU1649241A1 (ru) | 1991-05-15 |
Family
ID=21460741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894718630A SU1649241A1 (ru) | 1989-07-13 | 1989-07-13 | Образец шероховатости |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1649241A1 (ru) |
-
1989
- 1989-07-13 SU SU894718630A patent/SU1649241A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Bennett J. M. Opt. Eng. 1985, v. 24, № 3, p. 380-387. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Kaiser et al. | Structure of thin fluoride films deposited on amorphous substrates | |
Lander et al. | Structural properties of cleaved silicon and germanium surfaces | |
Gibbs et al. | The relationship between sphere size and settling velocity | |
Messier et al. | Evolution of microstructure in amorphous hydrogenated silicon | |
Zalar | Auger electron spectroscopy depth profiling during sample rotation | |
Sachtler et al. | The structure of epitaxially grown metal films on single crystal surfaces of other metals: Gold on Pt (100) and platinum on Au (100) | |
Schulz | The structure and growth of evaporation LiF and NaCl films on amorphous substrates | |
Carson et al. | Self-assembly of octadecyltrichlorosilane monolayers on mica | |
Lea et al. | Optimized depth resolution in ion-sputtered and lapped compositional profiles with Auger electron spectroscopy | |
SU1649241A1 (ru) | Образец шероховатости | |
Guenther | The influence of the substrate surface on the performance of optical coatings | |
Chatelier et al. | Incorporation of surface topography in the XPS analysis of curved or rough samples covered by thin multilayers | |
Zalar et al. | Depth resolution of multilayer Cr/Ni thin film structures deposited on substrates with different roughness | |
Thornton et al. | An examination of polished diamond surfaces in the electron microscope | |
Muller et al. | Gas adsorption studies by ellipsometry in combination with low energy electron diffraction and mass spectrometry | |
Hodgkinson | The application of fringes of equal chromatic order to the assessment of the surface roughness of polished fused silica | |
Kofman et al. | Melting of non-spherical ultrafine particles | |
Santucci et al. | Oxidation of very thin copper films investigated by optical transmittance | |
CN108956261B (zh) | 一种沥青薄膜的制备方法 | |
Lindsey et al. | Production and assessment of supersmooth optical surfaces | |
Duparre et al. | Morphology investigations by atomic force microscopy of thin films and substrates for excimer laser mirrors | |
Pinterich et al. | Experiments on the contact angle of n-propanol on differently prepared silver substrates at various temperatures and implications for the properties of silver nanoparticles | |
Igamov et al. | Evaluation of the thickness of vacuum metal and semiconductor coatings using computer programs | |
KR100250212B1 (ko) | 원자간력 현미경과 프랙탈 이론을 적용한 평균 결정입자크기 결정방법 | |
Flood | Thin film thickness measurements |