SU1647379A1 - Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале - Google Patents
Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале Download PDFInfo
- Publication number
- SU1647379A1 SU1647379A1 SU894634857A SU4634857A SU1647379A1 SU 1647379 A1 SU1647379 A1 SU 1647379A1 SU 894634857 A SU894634857 A SU 894634857A SU 4634857 A SU4634857 A SU 4634857A SU 1647379 A1 SU1647379 A1 SU 1647379A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- ultrasonic
- reflected
- signals
- amplitudes
- layers
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области неразрушающего контрол . Целью изобретений вл етс расширение области применени за счет обеспечени возможности измерений в двухслойных материалах. Ультразвуковые колебани излучают через промежуточную среду в направлении передней поверхности плоскопараллельного образца из исследуемого материала, измер ют величину амплитуды падающего сигнала. Принимают отраженные от передней поверхности и поверхности раздела слоев материала сигналы и измер ют их амплитуды . Излучают ультразвуковые колебани с той же амплитудой через промежуточную среду в направлении обратной поверхности образца, принимают отраженные от этой поверхности и поверхности раздела слоев материала сигналы и измер ют их амплитуды. Определ ют коэффициенты затухани ультразвуковых колебаний в сло х материала с учетом измеренных значений амплитуд падающего и отраженного сигналов. 1 ил. Ј
Description
Изобретение относитс к неразрушающему контролю и может быть использовано при ультразвуковом контроле.
Целью изобретени вл етс расширение области применени за счет обеспечени возможности измерений в двухслойных материалах.
На чертеже представлены схемы распространени ультразвуковых колебаний при измерении со стороны передней (а) и обратной (б) поверхностей исследуемого материала, по сн ющие способ.
Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале реализуетс следующим образом.
Излучают ультразвуковые колебани через промежуточную среду, например иммерсионную жидкость 1, в направлении передней поверхности 2 плоскопараллельного образца из исследуемого материала со стороны его первого сло 3. Измер ют величину АО амплитуды сигнала падающих на эту поверхность ультразвуковых колебаний. Принимают отраженные ультразвуковые колебани и измер ют величины AI и А2 амплитуд сигналов, отраженных от передней
О 4 VI СО VI О
поверхности 2 и поверхности 4 раздела слоев материала соответственно ульдразвуко- вых колебаний. Излучают ультразвуковые колебани с амплитудой АО через иммерсионную жидкость 1 в направлении обратной поверхности 5 образца со стороны второго сло 6. Принимают отраженные ультразвуковые колебани и измер ют величины Аз и Аз амплитуд сигналов, отраженных от поверхности 4 раздела слоев материала и обратной поверхности 5 ультразвуковых колебаний соответственно, Определ ют величины «1, ai коэффициентов затухани ультразвуковых колебаний в средах первого и второго слоев соответственно из соотношений
(A%-A3)(A4-Ai)
«1
1
In
:(D
2 И (А2-А1А4)А2
1 tn(AS-d)(Al-A4)tp)
2I2(Al-AiA4)A3
гдк И, z - толщины первого и второго слоев исследуемого материала соответственно.
Величины амплитуд At и Аз, отражен- ныхрт поверхностей 2 и 4 сигналов, св заны с величиной АО сигнала падающих ультразвуковых колебаний соотношени ми
Ai A0Ri;(3)
A2 A0Di2R2i 2ai11 ,(4)
где Ri, Di - соответственно коэффициенты отражени и прохождени ультразвуковых колебаний на поверхности 2;
R2 - коэффициент отражени ультразвуковых колебаний на поверхности 4.
Величины амплитуд Аз и А4, отраженных от поверхностей 4 и5 сигналов, св заны с величиной АО аналогичными соотношени ми
Ai A0Ra;(5)
A3 A0D32R21J 20 212 ,(6)
где Ra, Оз - соответственно коэффициенты отражени и пропускани ультразвуковых колебаний на обратной поверхности 5 исследуемого материала;
R21 - коэффициент отражени ультразвуковых колебаний на поверхности 4 при их падении со стороны поверхности 5 образца исследуемого материала.
Из выражений (3}-(6) с учетом того, что
D2 1 - Rlf , 03 1 - Rfi , Ri A1/A0 .
R3 A4/Ao . R2 |f - &
, T+R1
Z1 Z0
, 1 +R3
IvT Z2
ZL Z2, Za - соответственно акустические им- педансы слоев 3, 6 и иммерсионной жидкости 1, получают соотношени (1) и (2), позвол ющие определить значени коэффициентов а , CQ , Как видно из выражений дл коэффициентов отражени , эти величины вл ютс комплексными, поэтому в соотношени х (1) и (2) фигурируют комплексные амплитуды сигналов, т.е. реально измер ют их
модуль и фазу, т.е. знак амплитуды.
Claims (1)
- Формула изобретениСпособ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале , включающий излучение через промежуточную среду в направлении поверхности плоскопараллельного образца исследуемого материала ультразвуковыхколебаний, причем отраженных от поверхностей материала сигналов, измерение величины амплитуды, сигнала дважды прошедших через образец и вышедших через его переднюю поверхность ультразвуковых колебаний и определение с учетом последней искомого-параметра, о т л и ч a torn , и и с тем, что, с целью расширени области применени за счет обеспечени возможности измерений в двухслойных материалах , измер ют величины А0, AI и Аа амплитуд сигналов падающих на переднюю поверхность, отраженных от этой поверхности л отраженных от поверхности раздела слоев материала ультразвуковых колебанийсоответственно, излучают ультразвуковые колебани через промежуточную среду в направлении обратной поверхности образца исследуемого материала, принимают отраженные сигналы, измер ют величины Аз иА4 амплитуд сигналов отраженных от поверхности раздела слоев материала и обратной поверхности ультразвуковых колебаний соответственно , а величины «i и аг коэффициентов затухани ультразвуковыхколебаний в первом и втором сло х материала соответственно определ ют из соотношений0а«%1 1„ (A§-A3)(A4-At) (Al-Ai )A2(А%-А$)(А1-А4)(A0-Ai A4)A32 И2l2InIn55где И и l2 - толщины первого и второго слоев исследуемого материала соответственно.S
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894634857A SU1647379A1 (ru) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU894634857A SU1647379A1 (ru) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1647379A1 true SU1647379A1 (ru) | 1991-05-07 |
Family
ID=21421625
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU894634857A SU1647379A1 (ru) | 1989-01-09 | 1989-01-09 | Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1647379A1 (ru) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4318445A1 (de) * | 1993-06-03 | 1994-12-08 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zur Bestimmung der Beschichtungsdicke eines aufzutragenden Mediums |
-
1989
- 1989-01-09 SU SU894634857A patent/SU1647379A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Колесников А.Е. Ультразвуковые измерени . М.: Стандартгиз, 1982, с. 122-124. Бражников Н.И. Ультразвуковые методы. М.: Энерги , 1965, с. 136-138. * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4318445A1 (de) * | 1993-06-03 | 1994-12-08 | Heidelberger Druckmasch Ag | Verfahren zur Bestimmung der Beschichtungsdicke eines aufzutragenden Mediums |
DE4318445B4 (de) * | 1993-06-03 | 2006-07-13 | Heidelberger Druckmaschinen Ag | Verfahren zur Bestimmung der Beschichtungsdicke eines aufzutragenden Mediums |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
He et al. | Acoustic dispersion and attenuation measurement using both transmitted and reflected pulses | |
US6122968A (en) | Delay line for an ultrasonic probe and method of using same | |
JPS59501799A (ja) | 超音波測定 | |
Crecraft | Ultrasonic measurement of stresses | |
US5201225A (en) | Instrument for measuring thickness of coated plate and method thereof | |
US6494097B1 (en) | Method and apparatus for measuring thickness of a layer in a multi-layered object | |
SU1647379A1 (ru) | Способ определени коэффициента затухани ультразвуковых колебаний в материале | |
Papadakis | Absolute measurements of ultrasonic attenuation using damped nondestructive testing transducers | |
Vincent | Influence of wearplate and coupling layer thickness on ultrasonic velocity measurement | |
Simonetti et al. | Ultrasonic interferometry for the measurement of shear velocity and attenuation in viscoelastic solids | |
Graciet et al. | Simultaneous measurement of speed, attenuation, thickness and density with reflected ultrasonic waves in plates | |
JPWO2013065164A1 (ja) | 膜厚測定方法および膜厚測定装置 | |
JP2659236B2 (ja) | 超音波探触子 | |
Wu et al. | Quantitative estimation of ultrasonic attenuation in a solid in the immersion case with correction of diffraction effects | |
Bauer et al. | Is the Kramers-Kronig relationship between ultrasonic attenuation and dispersion maintained in the presence of apparent losses due to phase cancellation? | |
SU1174844A1 (ru) | Раздельно-совмещенный преобразователь дл ультразвукового контрол | |
Belhocine et al. | Transition term method for the analysis of the reflected and the transmitted acoustic signals from water-saturated porous plates | |
US5373742A (en) | Ultrasonic interferometer | |
JPH0271146A (ja) | パルス反射法による超音波の往復時間精密測定法 | |
JP2002071332A (ja) | クラッド鋼合わせ材厚さ測定用探触子 | |
Wan et al. | Direct measurement of ultrasonic velocity of thin elastic layers | |
JP3009423B2 (ja) | 超音波探触子及び超音波装置 | |
SU1221489A1 (ru) | Способ ультразвуковой безэталонной толщинометрии | |
Lee et al. | Measurement of elastic constants and mass density by acoustic microscopy | |
Moreau et al. | Sound velocity measurements in thin films |