SU1608422A1 - Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий - Google Patents
Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий Download PDFInfo
- Publication number
- SU1608422A1 SU1608422A1 SU884442757A SU4442757A SU1608422A1 SU 1608422 A1 SU1608422 A1 SU 1608422A1 SU 884442757 A SU884442757 A SU 884442757A SU 4442757 A SU4442757 A SU 4442757A SU 1608422 A1 SU1608422 A1 SU 1608422A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- coating
- thickness
- signal
- layer
- converter
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может найти широкое применение во всех отрасл х народного хоз йства, например, дл одновременного и независимого контрол толщины слоев издели с двухслойным гальваническим покрытием, толщины покрыти и удельной электропроводности основы издели с плакирующим слоем покрыти . Цель изобретени - повышение информативности за счет раздельного определени толщины слоев изделий с двухслойным покрытием, дл этого компенсацию выходного сигнала преобразовател осуществл ют при наличии в зоне контрол эталонного издели из материала верхнего сло покрыти , определ ют толщину нижнего сло покрыти по измеренным амплитуде и фазе сигнала преобразовател , а затем, использу зависимость фазы сигнала, вносимого в преобразователь издели без верхнего сло покрыти , от изменений толщины нижнего сло покрыти и измеренную фазу, определ ют толщину верхнего сло покрыти . 1 ил.
Description
мативности
ни то/
покрытием
Иззбретение относитс к контрольно- измер1|тельной технике и может найти щи- рименение во всех отрасл х народно- хоз йства, например дл одновременного контрол толщины слоев из- двуслойным гальваническим покры- толщины покрыти и удельной электропроводности основы издели с пла- кируюфим слоем покрыти , толщины под- удельной электропроводности издели с двуслойным гальваниче- плакирующим покрытием, толщи- ра4сло между электропровод щими и т.п..
|ь изобретени - повышение инфор- за счет раздельного определе- щины слоев издели с двуслойным
рокое г
го
и независимого
дели с
тием.
сло основы ским ны сло ми Це
И/1И
На чертеже приведена структурна схема устройства дл осуществлений предлагаемого способа.
Устройство содержит последовательно соединенные генератор 1, вихретоковый преобразователь 2 с компенсатором (не показан ), амплитудный детектор 3, логариф- митический усилитель 4, первый 5 и второй 7 сумматоры, функциональный преобразователь 6, а также фазометр 8, первый вход которого соединен с выходом генератора 1, второй вход с выходом преобразовател 2, а выход - с вторыми входами сумматоров 5 и 7. Выход-ами устройства вл ютс выходы сумматоров 5 и 7,
Способ основан на гомотетичности годографов выходного сигнала преобразовател от вариаций толщины ti верхнего сло
ON О 00
4 Ю N3
покрыти и различных фиксированных значени х толщины t2 нижнего сло покрыти с центром в точке компенсации выходного сигнала преобразовател на эталонном изделии из материала верхнего сло покрыти толщиной много большей глубины проникновени в него электромагнитного пол . При этом точка компенсации вл етс одновременно полюсом семейства логарифме- тических спиралей U(ti var; 12 const).
Таким образом, если известны амплитуда Da и фаза U выходного сигнала преобразовател , то t2 можно определить из алгоритма U In Ua + К U . а ti - как функцию измеренной фазы и фазы, найденной из предварительной построенной зависимости по известной величине t2.
Способ на примере решени задачи измерени толщин электропровод щих немагнитных слоев двуслойного покрыти , нанесенного на плоскую немагнитную электропровод щую основу с помощью накладного вихретокового преобразовател , реализуетс следующим образом.
С помощью генератора 1 в вихретоко- вом пpeoбpaзoвateлe 2 возбуждают переменный ток. Затем преобразователь 2 устанавливают на эталонное изделие из материала верхнего сло покрыти толщиной много большей глубины проникновени в него электромагнитного пол . С помощью компенсатора (не показан) минимизируют амплитуду выходного сигнала преобразовател 2. При этом обеспечиваетс гомотетич- ность годографов выходного сигнала преобразовател 2 от вариаций ti при различных фиксированных значени х t2 с центром в точке компенсации преобразовател 2, вл ющегос одновременно полюсом ло- гарифметических спиралей (ti var; t2 const). После этого преобразователь 2 устанавливают на поверхность контролируемого издели и с помощью амплитудного детектора 3 и фазометра 8, опорный сигнал на который подают с выхода генератора 1, осуществл ют измерени амплитуды Ua и фазы выходного сигнала преобразовател 2,
В усилителе 4 осуществл ют операцию логарифмировани амплитуды Ua выходного сигнала преобразовател 2. а в сумматоре 5 - операцию суммировани полученного на выходе фазометра 8 сигнала Uy и сигнала Ua. В резуль- тате на выходе первого сумматора 5 действует напр жение U In Ua+K Цр. завис щее только от величины 12. так как при вариаци х ti конец вектора выходного сигнала преобразовател 2 Перемещаетс по одной и той же логарифмической спирали, U (ta cojist; ti vat.a изменени U могут имеггъ место лишь в случае, когда is измен ет свое значение.
Дл измерени толщины ti верхнего сло покрыти расчетным или экспериментальным путем определ ют зависимость фазы сигнала, вносимого в преобразователь 2 5 контролируемым изделием без верхнего сло покрыти (ti 0), от изменений толщины t2 нижнего сло покрыти . Полученна зависимость реализуетс с помощью функционального преобразовател 6, выходной 10 сигнал которого используют дл коррекции нелинейности фазовых зависимостей преобразовател 2 при изменени х толщины t2. В св зи с этим на вход преобразовател 6 П( цают сигнал U, действующий на выходе 15 первого сумматора 5 и завис щий только от толщины t2. Формирование сигнала, пропорционального толщине ti, осуществл ют с помощью второго сумматора 7, первый вход которого Подключен к выходу функци- 0 онального преобразовател 6, а второй - к выходу фазометра 8. Информацию о толщине ti верхнего сло покрыти (независимо от вариаций толщины t2 нижнего сло покрыти ) снимают с выхода второго сумматора 7, 5 а информацию о толщине t2 (одновременно и независимо от вариаций ti) - с выхода первого сумматра 5.
Способ позвол ет без каких-либо перестроек осуществл ть не только измерени 0 толщины покрыти и удельную электропроводность основы однослойного издели , но и толщину этого сло покрыти и толщину, подстилающего сло . Так, например, пред лагаемым способом можно решить задачу 5 измерени толщины серебра на любых основах (от титана до меди) и удельную электропроводность основы под слоем серебра, а также измерить толщины серебра и, например , медного подсло на латуни или 0 бронзе. При этом не требуетс каких-либо изменений в схеме прибора, что расшир ет его область использовани .
Коэффициент К 0,9 - 1,2 выбираетс опытным путем, исход из минимальной по- 5 грешности измерений толщины нижнего . сло покрыти в заданных диапазонах вариаций параметров издели .
Claims (1)
- Формула изобретени Вихретоковый способ двухпараметро- 0 вого контрол изделий, заключающийс в том, что компенсируют выходной сигнал вихретокового преобразовател при наличии в зоне контрол эталонного издели толщиной, много большей глубины про- 5 никновени в него электромагнитного по- л , размещают в зоне контрол контролирующее изделие, измер ют амплитуду и фазу выходного сигнала вихретокового преобразовател и опреел ют по результатам их обработки параметры издели .о т лповышенидeдь| oгo определениЛИЙкомпKOBOI о преобразовател iМОЩ1 Юверхнегого слф нигде Ц- сигнал, пропорциональный амплитуде выходного сигнала преобразовател ;сигнал, пропорциональный фазе вы- ходнс|го сигнала преобразовател ;ичающийс тем, что, с целью информативности за счет раз- толщины слоев изде- с двуслойным покрытием, |нсаци выходного сигнала вихрето- , сосуществл ют с поэталонного издели из материала - сло покрыти , толщину 1„ нижне- покрыти определ ют из соотноше f(ln Ua + К Uyj) ,К - константа, из заранее полученной зависимости напр жени , пропорционального фазе сигнала и вносимого в преобразователь зталонными издели ми без верхнего сло покрыти , от изменений толщины нижнего сло покрыти , по определенной толщине нижнего сло покрыти получают соответствующее толщине нижнего сло покрыти значение напр жени , формируют сигнал, пропорциональный алгебраической сумме напр жени , пропорционального измеренной фазе, и напр жени , определенного по указанной зависимости, и по величине этого сигнала определ ют толщину верхнего сло покрыти .
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884442757A SU1608422A1 (ru) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU884442757A SU1608422A1 (ru) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1608422A1 true SU1608422A1 (ru) | 1990-11-23 |
Family
ID=21382262
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU884442757A SU1608422A1 (ru) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1608422A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2677081C1 (ru) * | 2017-12-28 | 2019-01-15 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Алтайский государственный университет" | Вихретоковая измерительная система для контроля качества и толщины упрочняющих покрытий на металлической основе |
-
1988
- 1988-06-20 SU SU884442757A patent/SU1608422A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Ав|горс Nb126 i583 623 I-28 06.88, 11.90. Бюл. №43 сковский энергетический институт . Беликов и Л.К. Тимаков М 79.142.56(088.8) :кое свидетельство СССР i, кл. G 01 N 27/90. 1985. Ав торское свидетельство СССР NS 824016, кл. G 01 В 7/06, 1979. * |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2677081C1 (ru) * | 2017-12-28 | 2019-01-15 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Алтайский государственный университет" | Вихретоковая измерительная система для контроля качества и толщины упрочняющих покрытий на металлической основе |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6288536B1 (en) | Eddy current sensor | |
| US5525903A (en) | Eddy current method of acquiring the surface layer properties of a metallic target | |
| US5139627A (en) | Corrosion monitoring | |
| EP1027598B1 (en) | Absolute property measurement with air calibration | |
| US5559431A (en) | Method of calibrating a sensor | |
| US20010054896A1 (en) | Method for operating an eddy current sensor and eddy current sensor | |
| JP2969534B2 (ja) | センサーの構成及び該センサー構成による測定値の検出法 | |
| IT9022375A1 (it) | Sistema di correnti parassite a frequenza spazzolata per misurare spessori di rivestimenti | |
| AU8100987A (en) | A method and measuring system for contactless measuring the values of magnitudes relating to electrically conductive materials | |
| US20050263395A1 (en) | Method and apparatus for measuring accumulated and instant rate of material loss or material gain | |
| US3711770A (en) | Resistance-capacitance meter | |
| SU1608422A1 (ru) | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол изделий | |
| Syasko | Measuring the thicknesses of nonferromagnetic metal coatings on nonferrous metal products using the eddy-current frequency method | |
| RU2456589C1 (ru) | Способ вихретокового измерения толщины металлических покрытий | |
| SU1562680A1 (ru) | Вихретоковый способ определени толщины покрытий | |
| WO1995027896A1 (en) | Measurement | |
| RU2784787C1 (ru) | Способ вихретокового контроля толщины стенки металлических немагнитных труб | |
| Egorov et al. | The Use of Projection Methods of Multivariate Analysis in Eddy Current Thickness Measurement | |
| SU1663402A1 (ru) | Вихретоковое устройство дл измерени толщины электропровод щих покрытий | |
| RU2158424C2 (ru) | Электропотенциальный способ двухпараметрового контроля электромагнитных свойств металла (варианты) | |
| SU1670371A1 (ru) | Вихретоковый способ двухпараметрового контрол качества изделий с электропровод щим покрытием и устройство дл его осуществлени | |
| Golubkov et al. | Measurement of oxide coating thickness in the micro-arc oxidation process | |
| SU482614A1 (ru) | Электромагнитный способ измерени толщины двухслойных покрытий на ферромагнитной основе | |
| PTAK et al. | Thickness measurement system for testing the condition of protective layers of power equipment. | |
| SU968730A2 (ru) | Способ измерени физико-механических параметров неферромагнитных изделий |