SU1597653A1 - Method of measuring modulation transfer function of optical system - Google Patents
Method of measuring modulation transfer function of optical system Download PDFInfo
- Publication number
- SU1597653A1 SU1597653A1 SU864088184A SU4088184A SU1597653A1 SU 1597653 A1 SU1597653 A1 SU 1597653A1 SU 864088184 A SU864088184 A SU 864088184A SU 4088184 A SU4088184 A SU 4088184A SU 1597653 A1 SU1597653 A1 SU 1597653A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- signal
- frequency
- image
- pulses
- measuring
- Prior art date
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к оптическому приборостроению и может найти применение при контроле качества изображени оптических систем, а именно в устройствах дл измерени функции передачи модул ции оптических систем. Способ заключаетс в формировании изображени периодического объекта, преобразовани изображени в электрический сигнал и градуировки путем понижени частоты электрических импульсов в М раз и экстрапол ции полученных значений к единице коэффициента передачи модул ции дл нулевой пространственной частоты. Предлагаемый способ позвол ет проводить градуировку дл пониженных по сравнению с известным пространственных частот. 2 ил.The invention relates to optical instrumentation and can be used in image quality control of optical systems, namely, in devices for measuring the modulation transfer function of optical systems. The method consists in forming an image of a periodic object, converting the image into an electrical signal and graduating by lowering the frequency of electrical pulses by M times and extrapolating the obtained values to a unit of modulation gain for zero spatial frequency. The proposed method allows graduation for lower than spatial frequencies known to be known. 2 Il.
Description
Изобретение, относитс к области оптического приборостроени и может найти применение при контроле качества изображени оптических систем, а именно в устройствах дл измерени функции передачи модул ции оптических системоThe invention relates to the field of optical instrumentation and can be used in the image quality control of optical systems, namely in devices for measuring the modulation transfer function of optical systems.
Цель изобретени - обеспечение возможности проведени градуировки установки на низких пространственных частотахоThe purpose of the invention is to provide the possibility of calibrating the installation at low spatial frequencies
На фиГо приведена блок-схема устройства дл релизации способа; па -- временные диаграммы процессов в электронном тракте устройстваThe figure shows a block diagram of a device for implementing the method; pa - time diagrams of processes in the electronic path of the device
Устройство дл измерени функции передачи модул ции оптических систем состоит из источника 1 света, конденсатора 2, щелевого тест-объекта 3 сA device for measuring the transmission function of the modulation of optical systems consists of a source of light 1, a capacitor 2, a slit test object 3 s.
приводом, коллиматора 4, испытуемого объектива -5, анализирующей щелевой диаграммы 6, фотоприемника 7, усилител 8, формировател 9 импульсов, одновибратора 10, аналогового ключа 11, делител частоты I2 и измерительного прибора 13,drive, collimator 4, test lens -5, analyzing slit diagram 6, photodetector 7, amplifier 8, driver 9 pulses, one-shot 10, analog switch 11, frequency divider I2 and measuring device 13,
Назначение основных блоков устройства следующее о Источник 1 света освещает щелевой тест-объект 3 при помощи конденсатора 2, Коллиматор 4 и испытуемый объект11в 5 формируют изображение тест-объекта в плоскости анализирующей щелевой диафрагмы 6о Фото- приемник 7 преобразует освещенность в плоскости, изображени в электрический сигнал, который устанавливаетс усилителем 8„ Далее электрический сигнал подаетс на формировательThe purpose of the main units of the device is as follows: Source 1 of light illuminates the slit test object 3 using a capacitor 2, Collimator 4 and the test object 11 in 5 form an image of the test object in the plane of the analyzing slit diaphragm 6o Photo receiver 7 converts the illumination in the plane, the image into an electrical signal which is set by an amplifier 8. An electrical signal is then applied to the driver.
СПSP
со with
оabout
0101
ооoo
«с"with
9 пр моугольных импульсов и аналоговый .ключ По Одновнбратор-.10 сл:,пкит л получе1ш пр моугольных импульсов требуемой длительности. Делитель 12 частоты делит частоты следовани входных импульсов на заданное число раз с Аналоговый ключ 11 позвол ет подключать входной сигнал к измерительному прибору 3 посредством воз- .JQ9 rectangular pulses and an analog switch. According to the Odinbrator-.10 cl:, pkit l get 1 rectangular pulses of the required duration. Frequency divider 12 divides the pulse frequency of the input pulses by a specified number of times with. Analog switch 11 allows you to connect the input signal to the measuring device 3 by means of air.
действи управл ющего напр женн the actions of the manager are strained
Устройство, при помощи которого может быть реализован способ, работает следуюЕ м образомThe device with which the method can be realized works as follows.
Изображение тест-объекта 3 переме- 55 щаетс . по анализирующей цели б За счет этого происходит преобразование пространственного распредалелш ос- вещенностн в изображении во временное , То ео производитс сканирование 20 изображениЯо Фртоприемш к 7 преобра- зует это распределение в электрический сигналThe image of the test object 3 is moved. according to the analyzing target b Due to this, the spatial distribution of the materials in the image is transformed into a temporary one, the Too is scanned 20 images that accept 7 transforms this distribution into an electrical signal
Входной электрический сигнал U. в виде импульсов, по форме идентич- 25 ных распределению освещенности в изображении тест-объекта, после усилител 8 поступает на формирователь 9 импульсов Формироватеш:. 9 импульсов преобразует ВХОДНЕ З импульсы в зо пр моугольные Из .чшпульсов Uj одновибратор формирует импульсы UThe input electrical signal U. in the form of pulses, in the form of identical to the distribution of illumination in the image of the test object, after amplifier 8 enters the shaper 9 pulses Shape :. 9 pulses converts INPUT S 3 pulses into a rectangular Of the pulses Uj the one-vibrator forms the pulses U
с длительностью примерно равной половине периода следовани входных импульсов и. Делитель 12 частоты на ка одые М импульсов-.U вырабатывает один импульс и. i т„ео делит частоту в М раз (на фиг о 2 показано в качестве примера деление в 4 раза) Импульсы и по длительности равны периоду Q следовани импульсов U, но сдвинутыwith a duration approximately equal to half the period of the following impulses and. Divider 12 frequencies per each M pulses-.U produces one pulse and. i t „eo divides the frequency by M times (in Fig. 2, the division is 4 times as an example) The pulses are equal in duration to the Q period of the pulse U, but are shifted
относительно них на половину периода о Полученный сигнал открывает аналоговый ключ 11, разрешагогдий прохолодение на измерительный прибор 13 каждогоrelative to them for half the period o The received signal opens the analog key 11, which permits cooling to the measuring device 13 each
импульса входного напр жени Напр жение на вхо .де и.змерительногс input voltage pulse Voltage at the input.
прибора 3 представл ет собой входное напр жение U, из каж.дых М импульсов которого исключен ы гр уппы из М-1 liM- 2Q пульсов Это анштагично понижению пространственной частоты тест-объекта в М разdevice 3 is the input voltage U, from each M pulses of which exclude gamma from M-1 liM- 2Q pulses. This is antagonistic to lowering the spatial frequency of the test object by M times
Таким образом может быть проведена град уировка на пони кенных простран-. ственных частотазсо После градуировки аналоговый ключ включаетс посто нно и измерени произво.д тс обычным пор дком с той разницей,, что амплитудаIn this way, hailstones can be conducted on inferior spaces. After graduation, the analog key is switched on continuously and the measurements are made in the usual order with the difference that the amplitude
3535
45 45
Q Q
5five
первой гармоники, посредством регулировки коэффициента передачи электрон-, ного тракта, устанавливаетс равной s амплитуде гармоники с номером М при градуировкеthe first harmonic, by adjusting the transmission coefficient of the electron path, is set equal to s amplitude of the harmonic with the number M in the graduation
Применение предлагаемого способа позвол ет повысить точность измерени ФГШ на величину, составл ющую 0,03-0,05 единицы коэффициента передачи модул ц ш дл объективов со средним качеством изображени (например, объективы дл любительской и профессиональной фото- и киноаппаратуры), Кроме того, расшир етс диапазон пространственных частот, Pia которых возможно измерение ФПМ, за счет использовани более длиннофокусных коллиматоров Так, например, при обычном способе измерени рекомендуетс выбирать фокусное рассто ние коллиматора равным 3-5 фокусным рассто ни м испытуемой оптической системы При использовании тест-объекта с пространственной частотой 0,5-мм- (обычное значение ) частота изображени составит 0,5 мг.г х 3 1,5 MM l Максимальна частота, на которой может быть нро- контролирована , равна 3 мм . Если вз ть соотношехше фокусных рассто ний коллиматора и объектива равным 10- 20, то перва гармоника изображени будет равна 5-10 измерени проводить уже нельз из-за возникающей большой погрешности при градуировкеThe application of the proposed method makes it possible to increase the measurement accuracy of the FGS by an amount of 0.03-0.05 units of the transmission coefficient of the module for lenses with average image quality (for example, lenses for amateur and professional photo and film equipment). the range of spatial frequencies, whose Pia is possible to measure an MTF, expands through the use of longer-focus collimators. For example, in the conventional measurement method, it is recommended that the focal distance of the collimator be chosen equal to 3-5 focal lengths of the tested optical system. If a test object is used with a spatial frequency of 0.5 mm (normal value), the image frequency will be 0.5 mg g 3 1.5 MM l The maximum frequency at which be monitored, equal to 3 mm. If we take the ratio of the focal lengths of the collimator and the lens to 10-20, then the first harmonic of the image will be equal to 5-10 measurements can not be carried out because of the resulting large error in the calibration
Использу предлагаемый способ измерени , пространственные частоты при градуировке можно .снизить до вполне приеьшемых величин 0,5-1 мм- , поделив частоту сигнала в 10-20 раз„ При этом максимальна пространственна частота, где возможно измерениеUsing the proposed measurement method, the spatial frequencies during calibration can be reduced to quite acceptable values of 0.5-1 mm by dividing the signal frequency by 10-20 times. At the same time, the maximum spatial frequency where measurement is possible
Q Q
. .
ФШ1, будет 100-200FSh1, will be 100-200
ммmm
в зависимостиdepending
от соотношени фокусных рассто ний 5 коллиматора и испытуемого объектива Максимально возможное соотношение фокусов коллиматора и испытуемого объектива зависит от относительного отверсти последнего.. Дл относительного отверсти 1:2 (при среднем качестве объектива) оно составл ет 45- . 50, дл 1:5 - 20-25о Дл объективов высокого качества это соотношение может быть еще большеon the ratio of the focal lengths 5 of the collimator and the test lens. The maximum possible ratio of the foci of the collimator and the test lens depends on the relative aperture of the latter. For a relative aperture of 1: 2 (with an average quality of the lens), it is 45-. 50, for 1: 5 - 20-25o For high quality lenses, this ratio can be even greater
.Из прове.денных рассуждений следует , что возможно также сокращение номенклатуры высококачественных дорогосто щих коллиматорных объективов за счет испытаний короткофокусных системFrom the above reasoning it follows that it is also possible to reduce the nomenclature of high-quality expensive collimator lenses by testing short-focus systems.
9UI. 19UI. one
лЛЛЛЛЛАДЛЛ llllladll
игig
ппппппппппppppppppppp
i.i.
ппппппппппppppppppppp
п пpn
А лA l
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864088184A SU1597653A1 (en) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Method of measuring modulation transfer function of optical system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864088184A SU1597653A1 (en) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Method of measuring modulation transfer function of optical system |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1597653A1 true SU1597653A1 (en) | 1990-10-07 |
Family
ID=21245481
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864088184A SU1597653A1 (en) | 1986-04-30 | 1986-04-30 | Method of measuring modulation transfer function of optical system |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1597653A1 (en) |
-
1986
- 1986-04-30 SU SU864088184A patent/SU1597653A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Шульман МоЯо Измерение передаточных функций оптических систем о- Машинострое.чие, 1980, с,112„ * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
SU1597653A1 (en) | Method of measuring modulation transfer function of optical system | |
US2773413A (en) | Apparatus for and method of measuring the quality of optical devices | |
US4203033A (en) | Radiation energy calibrating system and method | |
CN1010056B (en) | Laser thickness tester | |
US4176954A (en) | Equipment for measuring the length of dielectric elements transmitting optical frequencies | |
SU393789A1 (en) | METHOD OF MEASUREMENT OF CONSUMPTION OF A RAY OF OPTICAL QUANTUM GENERATOR | |
RU1819343C (en) | Method for calibration of radiometer against absolute sensitivity | |
SU1280318A1 (en) | Optoelectronic device for measuring linear displacements | |
SU575917A1 (en) | Interference method of measuring phase distribution across laser bundle section | |
SU1087915A1 (en) | Non-linear distortion meter | |
RU2250531C2 (en) | Method for calibrating time sweep of chronographic image converter-recorder | |
RU2024000C1 (en) | Optical system quality control device | |
SU1376918A1 (en) | Method and apparatus for observing objects through dispersion medium | |
SU993158A1 (en) | Device for measuring four-terminal network amplitude frequency characteristics | |
SU1229574A1 (en) | Optronic device for measuring linear displacements | |
SU882023A1 (en) | Method of measuring non-uniformity of signal through image field of television camera tubes | |
JPS6360335B2 (en) | ||
SU920534A1 (en) | Kilovolt-meter for x-ray apparatus | |
SU1753303A2 (en) | Photoconverter | |
SU798658A2 (en) | Apparatus for measuring time position of pulse | |
SU930750A1 (en) | Method of monitoring amplitude-frequency characteristic of video channel of colourtelevision receiver | |
SU1582157A1 (en) | Method of calibrating selective measuring instruments | |
SU1257588A1 (en) | Device for calibration checking of group lag time | |
SU115611A1 (en) | Automatic Spectrophotometer | |
SU1149441A1 (en) | Device for measuring spatial-energy properties of luminous radiation |