SU1580232A1 - Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance - Google Patents

Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance Download PDF

Info

Publication number
SU1580232A1
SU1580232A1 SU874296492A SU4296492A SU1580232A1 SU 1580232 A1 SU1580232 A1 SU 1580232A1 SU 874296492 A SU874296492 A SU 874296492A SU 4296492 A SU4296492 A SU 4296492A SU 1580232 A1 SU1580232 A1 SU 1580232A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
energy
scattering
analyte
ray
Prior art date
Application number
SU874296492A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Алексеевич Какунин
Original Assignee
Казахский Научно-Исследовательский Институт Минерального Сырья
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Казахский Научно-Исследовательский Институт Минерального Сырья filed Critical Казахский Научно-Исследовательский Институт Минерального Сырья
Priority to SU874296492A priority Critical patent/SU1580232A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1580232A1 publication Critical patent/SU1580232A1/en

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к способам флуоресцентного рентгенорадиометрического анализа состава вещества и может быть использовано при количественном определении содержаний элементов в образцах сложного химического состава. Целью изобретени   вл етс  повышение точности анализа при использовании излучени  с энергией, дл  которой в исследуемом веществе практически наблюдаетс  лишь один вид рассе ни . Образец исследуемого вещества облучают рентгеновский или гамма-излучением с энергией Е, такой, что между ней и энергией некогерентно рассе нного излучени  не попадает энерги  ни одного кра  поглощени  ни одного из основных элементов исследуемого вещества. Регистрируют интенсивности характеристических рентгеновских излучений определенных элементов и когерентно или некогерентно рассе нного излучени . Если интенсивность либо когерентно, либо некогерентно рассе нного излучени  мала, то облучают образец исследуемого вещества излучением другой энергии Е 2, котора , кроме удовлетворени  условию дл  выбора энергии Е 1, еще и такова, что дл  нее массовые коэффициенты когерентного и некогерентного рассе ний исследуемым веществом сравнимы друг с другом. Регистрируют отношение N 2/N 2 интенсивностей когерентно и некогерентно рассе нных излучений и по предварительно построенным градуировочным зависимост м дифференциальных массовых коэффициентов рассе ний @ и @ стандартными образцами излучени  с энергией Е 1 от отношени  N 2/N 2 определ ют значение @ или @ дл  исследуемого вещества. С учетом этих величин наход т содержани  определ емых элементов. 6 ил.The invention relates to methods for fluorescent X-ray radiometric analysis of the composition of a substance and can be used in the quantitative determination of the contents of elements in samples of complex chemical composition. The aim of the invention is to improve the accuracy of the analysis when using radiation with energy, for which only one type of scattering is practically observed in the test substance. A sample of the analyte is irradiated with x-ray or gamma radiation with an energy E, such that between it and the energy of incoherently scattered radiation does not fall the energy of a single absorption edge of any of the main elements of the analyte. The intensities of the characteristic X-ray radiation of certain elements and coherently or incoherently scattered radiation are recorded. If the intensity of either coherently or incoherently scattered radiation is low, then the sample of the test substance is irradiated with radiation of another energy E 2, which, besides satisfying the condition for choosing energy E 1, is also such that for it the mass coefficients of coherent and incoherent scattering by the test substance comparable to each other. The N 2 / N 2 ratio of the intensities of coherently and incoherently scattered radiation is recorded and the value of @ or @ dl is determined by standard radiation samples with an energy E 1 from the ratio N 2 / N 2 according to the pre-built calibration dependences of the differential mass scattering coefficients @ and @ the test substance. Taking into account these values, the contents of the determined elements are found. 6 Il.

Description

Изобретение относитс  к способам флуоресцентного рентгенорадиометри- ческого анализа состава вещества и может быть использовано при количест- венном определении содержаний элементов в образцах сложного химического состава.The invention relates to methods for fluorescent X-ray radiometric analysis of the composition of a substance and can be used in the quantitative determination of the contents of elements in samples of complex chemical composition.

Целью изобретени   вл етс  повышение точности анализа при использо- вании излучений с энергией, дл  которой в анализируемом веществе практически наблюдаетс  лишь один вид рас The aim of the invention is to improve the accuracy of the analysis when using radiation with energy, for which only one type of radiation is practically observed in the substance being analyzed.

На фиг. 1 изображены зависимости дифференциальных массовых коэффициентов когерентного и некогерентного рассе ни  от отношени  интенсивностей когерентно и некогерентно рассе нного излучени ; на фиг. 2 - зависимости дифференциального массового коэффициента когерентного рассе ни  излучени  с различными энерги ми Е, от дифференциального массового коэффи- циента когерентного рассе ни  излучени  с энергией Е2; на фиг. 3 то же, дл  некогерентного рассе ни ;, на фиг. b - градуировочные зависимости массового коэффициента когерентно- го и некогерентного рассе ний излучени  с энергией Ef от отношени  интенсивностей когерентно и некогерентно рассе нного излучени  с энергией на фиг. 5 - градуировочна  зави- симость содержани  цинка от величиныFIG. Figure 1 shows the dependences of the differential mass coefficients of coherent and incoherent scatter on the intensity ratio of coherent and incoherent scattered radiation; in fig. 2 - dependences of the differential mass coefficient of coherent scattering of radiation with different energies E, on the differential mass coefficient of coherent scattering of radiation with energy E2; in fig. 3 is the same for incoherent scatter;, FIG. b - calibration dependences of the mass coefficient of coherent and incoherent scattering radiation with energy Ef on the ratio of the intensities of coherent and incoherent scattered radiation with energy in FIG. 5 - calibration dependence of zinc content on the value

fa2 d6Kfa2 d6K

n-fc-f на Фиг- 6 - градуировочна n-fc-f in FIG. 6 — graduation

зависимость содержани  свинца от велиtf Й1. -dependence of lead content on magnitude h1. -

чиныranks

N« dft N "dft

В предлагаемом способе рентгено- флуоресцентного анализа как и в известном способе содержание определ в мого элемента наход т по значениюIn the proposed method of X-ray fluorescence analysis, as well as in the known method, the content of the determined element is found by value

N dfrN dfr

кгkg

NN

d6d6

нкnk

SF dJff или SF dJff or

величиныmagnitudes

и ™ а.ки 1i ™ ak 1

где N, , N к - интенсивности соответственно характеристического рент- геновского излучени  определ емого элемента, когерентно и некогерентно рассе нного анализируемым веществом гамма-излучени  с энергией Е,;where N,, N to are the intensities, respectively, of the characteristic X-ray radiation of the element being detected, coherently and incoherently scattered by the analyte gamma radiation with energy E;

. , КГ it НК1. , KG it NK1

т-гТ, дифференциальные массо- t-rt, differential mass

вые коэффициенты соответственно когерентно и некогерентно рассе нного излучени  с энергией Еcoef fi cient and incoherently scattered radiation with energy E

При этом значени  массовых кс циентов рассе ни  можно найти (как это делают в известном способе) по значению экспериментально измеренного Т го отношени  интенсивностейIn this case, the values of the mass scattering coefficients can be found (as is done in a known method) by the value of the experimentally measured T th intensity ratio

1one

когерентно и некогерентно рассе нного анализируемым веществом излучени  с энергией Е., , служащей дл  возбуждени  характеристического рентгеновского излучени  определ емого элемента , по зависимост м (фиг. 1), Где кривой 1 изображена зависимостьcoherently and incoherently scattered by the analyte radiation with energy E., which serves to excite the characteristic x-ray radiation of a detectable element, according to dependencies (Fig. 1), where curve 1 shows the dependence

d&d &

кгkg

,NN

кгkg

d6d6

нкnk

а(у, - ,и t v „„ а э. dSf f( a КРИВОИ 2 dfl a (y, -, and t v „„ a e. dSf f (a CURVOINT 2 dfl

N КГ - а(). Этот известный способN CG - a (). This known method

нахождени  массовых коэффициентовfinding mass coefficients

рассе ни  осуществим, если между энергией Е1 и энергией некогерентно рассе нного излучени  не попадает ни одна энерги  ни одного из основных элементов анализируемого вещества и энерги  Е достаточно далека от энергии кра  поглощени  основных и определ емого элементов так, что аномаль ное рассе ние не сказываетс , а такж если дифференциальные массовые коэфd6T d6HKdissipated is feasible if between the energy E1 and the energy of incoherently scattered radiation there is no energy of any of the main elements of the analyte and the energy E is sufficiently far from the energy of the absorption edge of the main and detectable elements so that anomalous scattering does not affect, and also if the differential mass coefficients are d6T d6HK

фициенты рассе ни  и --- сравнимы по величине. Если последнее условие не соблюдено, то один из пиков рассе нного излучени  в спектре практически отсутствует и погрешность опAi . КГThe factors are scattered and comparable in magnitude. If the latter condition is not met, then one of the peaks of scattered radiation in the spectrum is practically absent, and the error oAi. KG

do 1do 1

ределени  -:-„- или недопустимо d SJ d ilDefinitions -: - „- or unacceptable d SJ d il

велика.is great.

Однакй существует определенна  аналитическа  зависимость между дифференциальными массовыми коэффициентами рассе ни  излучений с различными энерги ми. Поэтому определение массовых коэффициентов рассе ни  тем же способом возможно, если облучение анализируемого вещества осуществл ть излучением с энергией Е2, дл  которой оба процесса рассе ни  имеют сра кгj , However, there is a definite analytical relationship between the differential mass scattering coefficients of radiations with different energies. Therefore, the determination of mass scattering coefficients by the same method is possible if the irradiation of the analyte is carried out with radiation with an energy of E2, for which both scattering processes have average kgj

dbtd Ьгdbtd bg

внимые значени  :,- массовыAttention values:, - massive

d мd itd md it

коэффициентов рассе ни . Энерги  Е2 должна удовлетвор ть сформулированны услови м выбора энергии излучени , используемого дл  определени  массовых коэффициентов рассе ни .scattering coefficients. The energy E2 must satisfy the formulated conditions for the selection of the radiation energy used to determine the mass scattering coefficients.

В качестве доказательств однозначности зависимостей между дифференциальными массовыми коэффициентамиAs evidence of the uniqueness of the dependencies between the differential mass coefficients

рассе ни  дл  различных энергии излучени  (фиг. 2 и 3) приведены расчетные зависимостиFor various radiation energies (Figs. 2 and 3), the calculated dependences are given.

d& i d6 2d & i d6 2

dSf °Т dlfdSf ° T dlf

дл  Е, 11,22 кэВ и Е 22,16 кэВfor E, 11.22 keV and E 22.16 keV

(крива  3)(curve 3)

и Е. 17,48 кэБ и Ег 22,16 кэВand E. 17.48 keB and Er 22.16 keV

т  t

(крива  4),(curve 4)

НКNK

j , кк ,j, kk,

О 6 1 а&г.About 6 1 a & g.

ГД- от anDd from an

дл  Е 59,6 кэВ и Et 22,16 кэВ (крива  5)for E 59.6 keV and Et 22.16 keV (curve 5)

и Е, 122 кэВ и Ег 22,16 кэВ (крива  6).and E, 122 keV and Еg 22.16 keV (curve 6).

Способ осуществл ют следующим образом .The method is carried out as follows.

Образец анализируемого вещества облучают потоком рентгеновского или гамма-излучени  с энергией Е,, регистрируют потоки квантов характеристического рентгеновского излучени  определ емого элемента N и когерентнA sample of the analyte is irradiated with an x-ray or gamma-ray flux with energy E, and the quanta fluxes of the characteristic x-ray emission of the element being detected N and coherent

рассе нногscattered

N г или некогерентно МнкN g or incoherent Mnk

первичного излучени  и вычисл ют отN N ношение --&- или --„-„-.primary radiation and calculate from NN wearing - & - or - "-" -.

Y4Y4

Затем готов т серию стандартных образцов с различным и известным элементным составом, имитирующих весь возможный диапазон изменени  вещественного состава анализируемого вещества . Облучают их потоком рентгеновского или гамма-излучени  с энергией Ег и регистрируют потоки квантов когерентно мЈги некогерентно  нных излучений.Then a series of standard samples with different and known elemental composition, simulating the entire possible range of changes in the material composition of the analyte, is prepared. They are irradiated with a flux of x-rays or gamma rays with an energy Eg and the fluxes of quanta of coherently mogy incoherent radiations are recorded.

Рассчитывают значени  дифференциальных массовых коэффициентов когерентного и некогерентного рассе ний веществом стандартных образцов излучени  с энергией Е1 и стро т гра дуировочные зависимостиThe values of differential mass coefficients of coherent and incoherent scattering of standard radiation samples with energy E1 are calculated by the substance and the calibration dependencies are calculated

d6V N$r. d&r f,NK/ dft Md6 - f(Nr-}d6V N $ r. d & r f, NK / dft Md6 - f (Nr-}

Затем облучают исследуемую пробу рентгеновским или гамма-излучениемThen, the test sample is irradiated with X-ray or gamma radiation.

N Јкрассес энергией Е,N Јcraces energy E,

сивности когерентно рертно Nsoscience coherently real N

и регистрируют интен- NY и некогенкand record inte-ny and necogen

Вырассе ных излучении.Excessive radiation.

N КГ числ ют отношение гЛ дл  исследуе d6f ..NT .N CG is the GL ratio for the d6f ..NT study.

мои пробы и по графику n f (my samples and schedule n f (

,NN

А ««BUT ""

a to i ,. ,ч ъ -.a to i,. , h á -.

или -«- f(FFrK-),or - "- f (FFrK-),

определ ют значение массового коэффициента рассе ни  с энергией Е,, которое исполь0determine the value of the mass dissipation factor with energy E, which is used

5five

00

5five

00

5five

зуют дл  расчета содержани  определ емого элемента с учетом градуировочной зависимостиare used to calculate the content of the element being determined, taking into account the calibration dependence

С f(C f (

N d6N d6

КГKG

ИЛИOR

dfidfi

,J-J-

,,,,НК,,,, NK

Пример 1, Предлагаемым способом определ ют содержание цинка в контрольных пробах с известными значени ми содержаний элементов, содержание цинка в них колеблетс  от 0,9 до 19,2%, свинца от 0,03 до 5,48%, BaS04 от 1,34 До 81,34%.Example 1 By the proposed method, the zinc content in the control samples with known values of the elemental contents is determined, the zinc content in them varies from 0.9 to 19.2%, lead from 0.03 to 5.48%, BaS04 from 1.34 Up to 81.34%.

Возбуждение характеристического рентгеновского излучени  цинка осуществл ют излучением (Е 11,22 кэВ) селеновой мишени, облучаемой излучением маломощной рентгеновской трубки 0,005БХ-1 с молибденовым анодом. Дл  измерени  дифференциального массового коэффициента когерентного рассе ни  используют излучение радионуклидного источника кадмий-109 с энергией Ег 22,16 кэВ, активностью 10 мКи. Вторичное излучение детектируют кремний- литиевым полупроводниковым детектором с разрешением 200 эВ по линии 5.9 кэВ.The characteristic x-ray radiation of zinc is excited by radiation (E 11.22 keV) of a selenium target irradiated by radiation of a 0.005BH-1 low-power x-ray tube with a molybdenum anode. For measuring the differential mass coefficient of coherent scattering, radiation from a cadmium-109 radionuclide source with energy Еg 22.16 keV, activity 10 mCi is used. Secondary radiation is detected by a silicon lithium semiconductor detector with a resolution of 200 eV along the line of 5.9 keV.

Напр жение, подаваемое на трубку, равно 35 кВ при токе накала 80 мкА. Геометрические углы падени  первичного излучени  и отбора вторичного излучени  составл ют 30 и 90° соответственно . Измерени  провод т на 1024- канальном анализаторе при времени наблюдени  400 с.The voltage applied to the tube is 35 kV at a filament current of 80 µA. Geometric angles of incidence of primary radiation and selection of secondary radiation are 30 and 90 °, respectively. Measurements are carried out on a 1024-channel analyzer with an observation time of 400 s.

Подготавливают серию стандартных образцов из химически чистых реактивов окисей кремни , кальци , бари , цинка, свинца и BaSO, дл  которых рассчитывают значени  массовых коэффициентов когерентно рассе нного излучени  с энергией Еп 11,22 кэВ при угле рассе ни  0 120° по следующей Формуле в см2/г):A series of standard samples of chemically pure reagents of silicon, calcium, barium, zinc, lead and BaSOx is prepared, for which mass coefficients of coherently scattered radiation with an energy of Ep 11.22 keV are calculated at a scattering angle of 0 120 ° according to the following Formula in cm2 / g):

А/ кгA / kg

i i

(° 571 Со+ 1478 CS, + Ь858 С5 +  (° 571 Co + 1478 CS, + B858 C5 +

2,711 2,711

сс«+cc "+

4,901 Czn+ 9,968 Свв) х4,901 Czn + 9,968 Ave) x

х Ю-2x S-2

где Сл, С,where SL, S,

С,WITH,

С во, - с° 0 S, S l Coi 2г. держани  в стандартных образцах соответственно кислорода, кремни , серы , кальци , цинка и бари .C in - C ° 0 S, S l Coi 2 g. holding in standard samples oxygen, silicon, sulfur, calcium, zinc and barium, respectively.

Измерени  стандаотных образцов и анализируемых веществ, измельченных до 200 меш, осуществл ют в кюветах диаметром 26 мм и высотой 6 мм. Градуировочна  зависимостьMeasurement of standard samples and analytes crushed to 200 mesh is carried out in cuvettes with a diameter of 26 mm and a height of 6 mm. Calibration dependence

,, КГ .., К.Г,, KG .., K.G

ас 1 ,N 2 ac 1, n 2

Ј(пнк) приведена в виде кривой 7 (фиг. f).  (Pnc) is given as curve 7 (fig. F).

Затем анализируемые вещества об- лучают характеристическим рентгеновским излучением селена с энергией Е .j 11,22 кэВ, регистрируют интенсивности характеристического излучени  цинка N2 (в участке спектра, COOT- ветствукщего К -линии) и когерентно рассе нного К л-излучени  селеновой мишени и вычисл ют отношениеThe analytes are then irradiated with characteristic X-rays of selenium with an energy Ej of 11.22 keV, and the intensities of the characteristic emission of zinc N2 (in the part of the spectrum, COOT-corresponding K-line) and coherently scattered KL-radiation of the selenium target and the calculated yt attitude

NN

2п2n

fjTTr интенсивности характеристичен fjTTr intensity is characteristic

кого излучени  цинка к интенсивности когерентно рассе нного первичного излучени . Затем пробы анализируемых веществ облучают потоком квантов излучени  радиоизотопа кадмий-109 с энергией Е2 22,16 кэВ, регистрируют потоки квантов когерентно N г и некогерентно N Јк рассе нных излучений , вычисл ют отношение radiation of zinc to the intensity of coherently scattered primary radiation. Then the samples of the analyzed substances are irradiated with a flux of quanta of the radiation of the cadmium-109 radioisotope with an E2 energy of 22.16 keV, the fluxes of quanta are recorded coherently Ng and incoherently N N to the scattered radiation, the ratio

и по градуировочному графикуand according to the calibration schedule

(фиг. А, крива  7) определ ют значени  массового коэффициента когерентно рассе нного излучени  анализируемых веществ дл  энергии Е( 11,22 кэВ. Полученные значени  умножают на ранее(Fig. A, curve 7) determine the values of the mass coefficient of the coherently scattered radiation of the analytes for energy E (11.22 keV. The values obtained are multiplied by

м КГm KG

N 1 N 1

„ N„N

2п2n

найденные значени  отношений s-Ks-k relationship values found

и 1 и по градуировочным зависимост м and 1 and calibration dependencies

N d is Kr С г f(jprr- ) построенным поN d is Kr C r f (jprr-) constructed by

результатам измерений образцов с аттестованными значени ми содержаний цинка, наход т содержани  цинка в . пробах анализируемых веществ. Результаты измерений нанесены на градуиро- вочный график (фиг. 5)The results of measurements of samples with certified values of zinc contents, zinc contents are found in. samples of the analyzed substances. The measurement results are plotted on a graduation chart (Fig. 5).

Пример 2. Предлагаемым способом определ ют содержани  свинца в тех же пробах, что и в примере 1. Используют те же стандартные образцы Возбуждение К-серии свинца осуществл ют гамма-излучением источника кобальт- 57 с энергией Е., 122 кэВ. Дл  определени  массового коэффициента некогерентного рассе ни  используют излучение источника кадмий-109 с энергией Е4 22,16 кэВ. ДетектироExample 2. The proposed method determines the lead content in the same samples as in example 1. The same standard samples are used. The K-series of lead is excited by gamma radiation from a cobalt-57 source with energy E., 122 keV. To determine the incoherent scattering mass coefficient, the radiation from a cadmium-109 source with an E4 energy of 22.16 keV is used. Detektiro

вание, вторичного излучени  осущс. вл ют на той же установке.secondary radiation is realized. are on the same setup.

1 Измерени  стандартных образщ в осуществл ют в кюветах диаметром 26 мм и высотой 6 мм. Построенна  по результатам измерений Градуировочна 1 Standard measurements were carried out in cuvettes with a diameter of 26 mm and a height of 6 mm. Constructed by measurement results Graduated

5five

м к ,N 2mk, N 2

ПP

с with

зависимость --Ј- f(--H) приведенаdependence --Ј- f (- H) is given

в вид кривой 8 (фиг. k).in view of curve 8 (fig. k).

Измерение проб анализируемого вещества осуществл ют в условно-тонких сло х с поверхностной плотностью 0,08 г/см, обеспечивающих независимость результатов измерений от различий в абсорбционных характеристиках исследуемых проб. Исследуемую пробу облучают потоком излучени  радионуклида кобальт-57 с энергией Е. 122 кэВ, регистрируют интенсивности характеристического излучени  свинца N ръ (в участке спектра, соответствующего Калинин) и некогерентно рассе нных первичных излучений N к иMeasurement of samples of the analyte is carried out in conditionally thin layers with a surface density of 0.08 g / cm, ensuring the independence of the measurement results from differences in the absorption characteristics of the studied samples. The sample under study is irradiated with a cobalt-57 radionuclide with an energy of E of 122 keV, and the intensities of the characteristic radiation of lead N pb (in the part of the spectrum corresponding to Kalinin) and incoherently scattered primary radiations of N c and

вычисл ют отношение интенсивностей NPbcalculate intensity ratio NPb

Затем пробу исследуемого вещества помещают в кювету диаметром 26 мм и высотой 6 мм, облучают потоком квантов излучени  радиоизотопа кадмий-109, регистрируют потоки квантов когерентно N г и некогерентно Then, a sample of the test substance is placed in a cuvette with a diameter of 26 mm and a height of 6 mm, irradiated with a flux of quanta of the radioisotope of cadmium-109, recorded fluxes of quanta coherently N g and incoherently

NnH...иNnh ... and

j рассе нных излучении с энергиейj of scattered radiation with energy

Е4 22,16 кэВ, вычисл ют отношениеE4 22.16 keV, calculate ratio

N 4ГN 4G

и по графику (фиг. 4, крива  8) and on schedule (Fig. 4, curve 8)

и ,jand j

определ ют значение массового коэффиd6determine the value of the mass coefficient d6

нкnk

00

циента Тд-- некогерентно рассе нногоtsenta - incoherently scattered

анализируемым веществом излучени  с энергией &и 122 кэВ. Полученноеanalyte radiation with an energy of & and 122 keV. Received

d6Hd6H

значение умножают на найденное value multiplied by found

отношение и по градуировочномуrelation and graduation

графику (фиг. 6), построенному по измерени м на пробах с аттестованными значени ми содержаний свинца, определ ют содержание свинца в исследуемом веществе. Результаты измерений нанос т на градуировочный график (фиг. 6).the graph (Fig. 6), constructed from measurements on samples with certified lead contents, determines the lead content in the test substance. The measurement results are plotted on a calibration curve (Fig. 6).

В примерах 1 и 2 известный способ не позвол ет получить приемлимых результатов , так как интенсивности когерентно и некогерентно рассе нных излучений с энергией Еп, наиболее пригодной дл  возбуждени  характеристического излучени  определ емого элемента, не сравнимы по величине.In examples 1 and 2, the known method does not allow to obtain acceptable results, since the intensities of coherently and incoherently scattered radiations with the energy En, most suitable for exciting the characteristic radiation of the element being detected, are not comparable in magnitude.

Использование предлагаемого способа анализа позвол ет в несколько раз повысить точность измерени  содержаний определ емых элементов.Using the proposed method of analysis allows several times to increase the accuracy of measuring the contents of the determined elements.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Способ рентгенофлуоресцентного анализа состава вещества, заключающийс  в облучении образца анализируемого вещества рентгеновским или гамма-излучением с энергией Ef , выбранной из услови , что между ней и энергией некогерентно рассе нного образцом излучени  не попадает энерги  ни одного кра  поглощени  ни одного из основных элементов анализируемого вещества, регистрации интен- сивностей характеристических рентгеновских излучений определ емых элементов , когерентно или некогерентно рассе нного образцом излучени , определении дифференциальных массовыхThe method of X-ray fluorescence analysis of the composition of a substance consisting in irradiating a sample of an analyte with x-ray or gamma radiation with energy Ef selected from the condition that no absorption edge of any of the main elements of the analyte gets between the energy of the incoherently scattered radiation detecting the intensities of characteristic X-ray radiation of detectable elements, coherently or incoherently scattered radiation of a sample, determining the differential mass Г  R коэффициентов когерентного :-„- илиcoherent coefficients: - „- or d6 - d Яd6 - d I некогерентного т рассе ни  излучени  анализируемым веществом и нахождении содержаний определ емых элементов с учетом значений отношени  измеренных интенсивностей и найденного дифференциального массового коэффициента рассе ни , отличающийс  тем, что, с целью повышени  точности анализа при использо08 16 2,4 3,2 Ь,0incoherent radiation scattering by the analyte and finding the contents of the determined elements taking into account the values of the ratio of measured intensities and the found differential mass scattering coefficient, characterized in that, in order to improve the accuracy of the analysis when using 08 16 2.4 3.2 b, 0 1 . ione . i вании излучений с энергией, дл  которой в анализируемом веществе практически наблюдаетс  лишь один вид рассе ни , образец анализируемого вещества и набор стандартных образцов с различным и известным составом дополнительно облучают рентгеновским или гамма-излучением с энергией Е, удовлетвор ющей условию выбора энергии Е и дополнительному условию, заключающемус  в том, что дл  нее дифференциальные массовые коэффициенты когерентного и некогерентного рассе - ни  анализируемым веществом сравнимы друг с другом, регистрируют интени некогерентRadiation with energy, for which only one type of scattering is practically observed in the analyzed substance, the sample of the analyte and a set of standard samples with different and known composition are additionally irradiated with X-ray or gamma radiation with energy E satisfying the condition for choosing energy E and the additional condition which implies that for it the differential mass coefficients of coherent and incoherent scattering by the analyte are comparable with each other, the intensities are recorded coherent кгkg сиености когерентно N „ н«тно N Ј рассе нного излучени , рассчитывают массовые коэффициенты коге , d6«rd6KKthe coherence values of N "n" tno N Ј scattered radiation, calculate the mass coefficients cohe, d6 "rd6KK рентного --- и некогерентного d 51d J2rental --- and incoherent d 51d J2 рассе ни  излучени  с энергией Е, веществом стандартных образцов, строd6radiation scattering with energy E, the substance of standard samples, strod6 кгkg U(J 1U (J 1 -  т градуировочные зависимости --v- эа  - t calibration dependencies --v- ea КТ ГJ А КГCT GJ A KG кт кгkg kg f(-2--) f (-2--) чэд нк 1chad nk 1 л ИКl IC ., 9 f/ ilJL- i И dfl f(N«K }., 9 f / ilJL- i And dfl f (N "K} по результатам измерении отношени  интенсивности когерентно и некогерентно рассе нного стандартными образцами излучени  с энергией Е и определ ют значение требуемого массового коэффициента рассе ни  анализируемым веществом излучени  с энергией Е f по значению отношени  интенсивностей когерентно и некогерентно рассе нного анализируемым веществом излучени  с энергией ЕAccording to the results of measuring the intensity ratio coherently and incoherently scattered by standard samples of radiation with energy E, the value of the required mass scattering coefficient of the analyte of radiation with energy E f is determined by the value of the ratio of intensities coherently and incoherently scattered by the analyzed substance radiation with energy E Отн-едRel-ed /У/7/УЛ/ U / 7 / UL Фиг,1Fig, 1 , езншо ezhnsho ft Z 94 80 ft Z 94 80 ЈВПфЈVPf zOl tSP/J P Z L II 01 6V B QzOl tSP / J P Z L II 01 6V B Q „l„L , ,1гпФ1gpF zOtxlSP/jfcp г/гЮzOtxlSP / jfcp g / gy ti Z 01 9 i Z l 80 Wti Z 01 9 i Z l 80 W ,, B 0B 0 ОЦOC $ $ ,OLOL vwvw тt UPUP WW h r$h r $ 2 208512 20851 0,50.5 $$ II и ПКand pc Ъ «иB "and II ЮYU 12 С гп, %12 With gp,%
SU874296492A 1987-08-18 1987-08-18 Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance SU1580232A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874296492A SU1580232A1 (en) 1987-08-18 1987-08-18 Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874296492A SU1580232A1 (en) 1987-08-18 1987-08-18 Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1580232A1 true SU1580232A1 (en) 1990-07-23

Family

ID=21324075

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874296492A SU1580232A1 (en) 1987-08-18 1987-08-18 Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1580232A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
(Мамаев В.Е., Юзвак Л.А. Рентге- носпектральное определение меди и цинка в шлаках методом стандарта-фона: В сб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. - Л,: Машиностроение, вып. 3, 1967, с. 105-ИО. Конев А.В. и др. Определение рассеивающей способности излучател при рентгеноспектральном анализе способом стандарта-фона. Журнал аналитической химии, 1987, вып. 4, с. 642- 648. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Grün A re-analysis of electron spin resonance dating results associated with the Petralona hominid
US5390229A (en) Lead-paint detector
Jaćimović et al. k 0-NAA quality assessment by analysis of different certified reference materials using the KAYZERO/SOLCOI software
JPH02228515A (en) Measurement of thickness of coating
Coote et al. A rapid method of obsidian characterisation by inelastic scattering of protons
Im et al. Analytical capability of an explosives detection by a prompt gamma-ray neutron activation analysis
SU1580232A1 (en) Method of x-ray luminescence analysis of composition of substance
CA1163381A (en) X-ray fluorescent analysis with matrix compensation
Bergaoui et al. Prompt gamma-ray neutron activation analysis of boron using Deuterium–Deuterium (D–D) neutron generator
Szalóki et al. Efficiency calibration of energy‐dispersive detectors for application in quantitative x‐and γ‐ray spectrometry
US5396529A (en) X-ray fluorescence detector
Michael et al. A new technique for thick source alpha counting determination of U and Th
Ecker et al. Antimony implanted in silicon–A thin layer reference material for surface analysis
Pak et al. Solid fuel quality control by the pulsed neutron–gamma method
Al-Masri et al. Preparation of in-house reference soil sample containing high levels of naturally occurring radioactive materials from the oil industry
Zambito et al. Sampling methodologies and data analysis techniques for geologic materials using portable x-ray fluorescence (pXRF) elemental analysis
Latif et al. Particle-induced X-ray emission analysis of IAEA standard reference materials, NIST standard reference materials and soils and sediments of Bangladesh
Acharya et al. Determination of iodine in biological materials by pseudo-cyclic epithermal INAA using anti-coincidence gamma-ray spectrometry and estimation of expanded uncertainties
RU2154537C1 (en) Method of roentgenoradiation separation of mineralized mass
Latif et al. Neutron-induced prompt gamma-ray analysis of standard reference materials of international atomic energy agency and tannery sediment of Bangladesh
Kusaka et al. Non-destructive determination of chlorine in organic compounds by neutron-capture gamma-ray measurement, using an isotopic neutron source
USH922H (en) Method for analyzing materials using x-ray fluorescence
Greenhouse Jr et al. A thermoluminescent microdosimetry system for the measurement of photon quality
Hewitt Detecting metallic primary explosives with a portable X-ray fluorescence spectrometer
Dewberry Development of total uranium analytical method by L X-ray fluorescence