SU1536442A1 - Накопитель - Google Patents

Накопитель Download PDF

Info

Publication number
SU1536442A1
SU1536442A1 SU884402251A SU4402251A SU1536442A1 SU 1536442 A1 SU1536442 A1 SU 1536442A1 SU 884402251 A SU884402251 A SU 884402251A SU 4402251 A SU4402251 A SU 4402251A SU 1536442 A1 SU1536442 A1 SU 1536442A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
voltage
base
emitter
elements
accumulator
Prior art date
Application number
SU884402251A
Other languages
English (en)
Inventor
Сергей Михайлович Игнатьев
Original Assignee
Предприятие П/Я В-2892
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-2892 filed Critical Предприятие П/Я В-2892
Priority to SU884402251A priority Critical patent/SU1536442A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1536442A1 publication Critical patent/SU1536442A1/ru

Links

Landscapes

  • Static Random-Access Memory (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к вычислительной технике ипредназначено дл  использовани  в цифровых системах пам ти на бипол рных транзисторах. Цель изобретени  - повышение надежности накопител  - достигаетс  за счет изменени  св зей ключевого элемента и элементов предотвращени  ложной записи накопител , который приобретает функцию формировани  опорного уровн  считывани , что обеспечивает высокую степень соответстви  уровн  считывани  уровню напр жени  в выбранном элементе пам ти в услови х воздействи  внешних дестабилизирующих факторах и разброса параметров компонентов. 1 ил.

Description

Изобретение относитс  к вычислительной технике и предназначено дл  использовани  в цифровых схемах пам ти на бипол рных транзисторах.
Цель изобретени  - повышение надежности накопител ,
На чертеже представлена схема накопител  .
Накопитель содержит матрицу элементов 1 пам ти и элементы 2 предотвращени  ложной записи, каждый из которых состоит из ключевого элемента 3 на двухэмиттерном транзисторе и элемента 4 смещени  на резисторе, шину 5 напр жени  смещени  накопител , входы 6 словарной выборки, информационные входы-выходы 7 и 8 столбца накопител , нагрузочные элементы 9 и 10 на транзисторах, входы 11 тока хранени  и нагрузочные элементы 12 и 13 на резисторах.
Накопитель работает следующим образом .
В режиме записи информации выборка нужного элемента 1 осуществл етс  посредством повышени  потенциала иа входе 6 соответствующей строки матрицы и включени  тока записи в один из входов-выходов 7, 8 соответствующего столбца матрицы. Ток записи включаетс  в тот вход-выход 7, 8, к которому подключен эмиттер управлени  элементов 9 или 10 выбранного элемента 1, у которого в соответствии с поступающей информацией в результате записи на базе должен установитьс  высокий потенциал. Уровень напр жени  на шине 5 накопител  равен напр жению на входах 6 невыбранных строк матрицы, этот уровень лежит ниже нижнего уровн  напр жени  на базах элементов 9 и 10 выбранного элемента 1. Таким образом , среди элементов 3, 9 и 10, эмиттеры которых подключены к входу- выходу 7, 8с включенным током записи , самый высокий потенциал на базе
у элементов 9 или 10 выбранного элемента 1 не зависит от его состо ни  и, следовательно, ток записи ответвитс  в эмиттер этого элемента, что приведет к установке выбранного элемента 1 в требуемое состо ние. В режиме считывани  информации выборка строки матрицы, содержащей нужный (элемент 1, осуществл етс  аналогично режиму записи, на шине 5 устанавли- |Ваетс  напр жение, равное напр жению на входе 6 выбранной строки матрицы, а дл  выборки нужного столбца матрицы в соответствующие входы-выходы 7, 8 включаютс  токи считывани . Ток считывани , включенный в узел, соответствующий эмиттеру управлени  элементов 9 или 10 выбранного элемента 1 с низким уровнем напр жени  на базе , протекает в соответствующем эмиттере элемента 3 элемента 2, так как в момент включени  тока считывани  этот элемент имеет самый высокий базовый потенциал. Ток считывани , включенный в узел, соответствующий элементу 9 или 10 выбранного элемента с высоким базовым потенциалом, по завершении формировани  уровн  напр жени  на базе элемента 3 целиком протекает в выбранный элемент 1. В результате описанного распределени  токов считывани  на входах-выходах 7, 8 выбранного столбца матрицы сформируютс  логические напр жени  в соответствии с состо нием выбранного элемента 1. На входе-выходе 7, 8, где ток считывани  протекает в элементе 3, формируетс  напр жение низкого логического уровн , равное напр жению на базе элемента 3 минус напр жение между базой и соответствующим эмит- тером элемента 3, а на другом входе- выходе 7, 8 формируетс  напр жение высокого логического уровн , равное высокому базовому уровню в выбранном элементе 1 минус напр жение между базой и эмиттером соответствующего элемента 9 или 10.
Элементы 2 выполн ют две функции - формирование информационной разности потенциалов на информационных входах- выходах 7, 8 и предотвращение включени  тока считывани  в элементы 9 или 10 выбранного элемента 1, что может привести к ложной записи. Наиболее
0
5
0
5
0
5
0
5
оптимальное выполнение обеих функций в данном устройстве достигаетс  в том случае, когда базовое напр жение элемента 3 занимает средний уровень между высоким и низким уровн ми напр жений в выбранном элементе 1. Дл  обеспечени  такого соотношени  необходимо подобрать величину сопротивлени  элемента 4. При использовании в накопителе элементов 1 с реэистивны- ми нагрузками сопротивление элемента 4 равно половине номинального сопротивлени  нагрузочных элементов 12 и 13.
Таким образом, предлагаемый.накопитель обладает по сравнению с известными более высокой устойчивостью к разбросу параметров компонентов, что позвол ет повысить надежность его работы в услови х воздействи  внешних дестабилизирующих факторов и технологичность при производстве. Применение накопител  наиболее целесообразно в интегральных микросхемах ОЗУ малой информационной емкости, содержащих элементы пам ти с линейными нагрузками, например в ИС ОЗУ типа К1500РУ073 емкостью 64x4 бит.

Claims (1)

  1. Формула изобретени 
    Накопитель, содержащий матрицу элементов пам ти, элементы предотвращени  ложной записи, каждый из которых состоит из ключевого элемента на двухэмиттерном транзисторе и элемента смещени  на резисторе, первый и второй выводы которого подключены соответственно к базе двухэмит- терного транзистора ключевого элемента и шине напр жени  смещени  накопител , в каждом столбце матрицы первые и вторые информационные входы-выходы элементов пам ти подключены соответственно к первому и второму эмиттерам двухэмиттерного транэисто- ра ключевого элемента соответствующего элемента предотвращени  ложной записи, отличающийс  тем, что, с целью повышени  надежности накопител  , в каждом элементе предотвращени  ложной записи коллектор двухэмиттерного транзистора ключевого элемента подключен к его базе.
SU884402251A 1988-04-04 1988-04-04 Накопитель SU1536442A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884402251A SU1536442A1 (ru) 1988-04-04 1988-04-04 Накопитель

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU884402251A SU1536442A1 (ru) 1988-04-04 1988-04-04 Накопитель

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1536442A1 true SU1536442A1 (ru) 1990-01-15

Family

ID=21365348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884402251A SU1536442A1 (ru) 1988-04-04 1988-04-04 Накопитель

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1536442A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 1305774, кл. G 11 С И/40, 1985. Авторское свидетельство СССР № 1137537, кл. G 11 С 11/40, 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4078261A (en) Sense/write circuits for bipolar random access memory
US4369503A (en) Decoder circuit
EP0023792B1 (en) Semiconductor memory device including integrated injection logic memory cells
US3973246A (en) Sense-write circuit for bipolar integrated circuit ram
EP0019988B1 (en) System for selecting word lines in a bipolar ram
US5016214A (en) Memory cell with separate read and write paths and clamping transistors
US4459686A (en) Semiconductor device
US4792923A (en) Bipolar semiconductor memory device with double word lines structure
US4168539A (en) Memory system with row clamping arrangement
US3886531A (en) Schottky loaded emitter coupled memory cell for random access memory
EP0182305A2 (en) Read only memory
US4464735A (en) Semiconductor memory
SU1536442A1 (ru) Накопитель
US4409674A (en) Semiconductor memory
EP0057556B1 (en) Static semiconductor memory device
KR900008659B1 (ko) 용장성 구조를 갖춘 바이폴러 트랜지스터형 랜덤 액세스 메모리
US3538348A (en) Sense-write circuits for coupling current mode logic circuits to saturating type memory cells
US3821719A (en) Semiconductor memory
US4730275A (en) Circuit for reducing the row select voltage swing in a memory array
EP0023408B1 (en) Semiconductor memory device including integrated injection logic memory cells
US4922411A (en) Memory cell circuit with supplemental current
US4785422A (en) Simultaneous read/write RAM
US4168540A (en) Register building block with series connected cells to save dissipation loss
US4635231A (en) Semiconductor memory with constant readout capability
EP0037734B1 (en) Semiconductor memory chip, and a memory device including such chips