SU1536431A1 - Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields - Google Patents
Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields Download PDFInfo
- Publication number
- SU1536431A1 SU1536431A1 SU874267325A SU4267325A SU1536431A1 SU 1536431 A1 SU1536431 A1 SU 1536431A1 SU 874267325 A SU874267325 A SU 874267325A SU 4267325 A SU4267325 A SU 4267325A SU 1536431 A1 SU1536431 A1 SU 1536431A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plates
- vertical deflection
- deflection plates
- parallel
- source
- Prior art date
Links
Landscapes
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к лабораторным учебным приборам и может быть использовано при изучении движени электронов в электрических и магнитных пол х. Целью изобретени вл етс повышение точности измерени . Учебный прибор содержит электронно-лучевую трубку, электронна пушка которой подключена к блоку питани , пластины горизонтального отклонени св заны с первым источником регулируемого напр жени , система магнитного отклонени выполнена в виде диаметрально расположенных проводников, размещенных вдоль пластин вертикального отклонени соосно горловине электронно-лучевой трубки и подключенных к источнику регулируемого тока. Пластины вертикального отклонени подсоединены к второму источнику регулируемого напр жени через параллельно включенные эталонный конденсатор и переключатель. Параллельно пластинам вертикального отклонени подключены герконный прерыватель и дополнительный конденсатор в виде двух параллельных пластин, площадь которых более площади пластин вертикального отклонени , а рассто ни между пластинами равны. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.The invention relates to laboratory training devices and can be used in studying the movement of electrons in electric and magnetic fields. The aim of the invention is to improve the measurement accuracy. The training device contains a cathode ray tube, the electron gun of which is connected to the power supply, horizontal deflection plates are connected to the first source of adjustable voltage, the magnetic deflection system is made in the form of diametrically located conductors placed along the vertical deflection plates coaxially with the neck of the electron beam tube and connected to a regulated current source. The vertical deflection plates are connected to the second variable voltage source through a parallel-connected reference capacitor and switch. Parallel to the vertical deflection plates, a reed switch and an additional capacitor in the form of two parallel plates are connected, the area of which is more than the area of the vertical deflection plates and the distances between the plates are equal. 1 hp f-ly, 1 ill.
Description
Изобретение относитс к лабораторным учебным приборам и может быть использовано при изучении движени электронов в электрических и магнитных пол х.The invention relates to laboratory training devices and can be used in studying the movement of electrons in electric and magnetic fields.
Цель изобретени - повышение годности измеренииThe purpose of the invention is to increase the shelf life of the measurement.
На чертеже представлена блок-схема прибораThe drawing shows the block diagram of the device
Учебный прибор содержит электронно-лучевую трубку 1, в состав которой входит электронна пушка 2, пластины 3 горизонтального отклонени луча, пластины 4 вертикальногоThe training device contains a cathode-ray tube 1, which includes an electron gun 2, plate 3 horizontal deflection of the beam, plate 4 vertical
отклонени луча, блок 5 питани , подсоединенный к электронной пушке 2, источник 6 регулируемого напр жени , подключенный к пластинам 3 горизонтального отклонени , система 7 маг- нитного отклонени , св занна с источником 8регулируемого тока, а также добавочный конденсатор 9, гер- конный прерыватель 10, эталонный конденсатор 11, переключатель 12 и источник 13 регулируемого напр жени , к одной выходной клемме которого подключена одна из пластин 4 вертикального отклонени , а втора выходна beam deflection, power supply unit 5, connected to electron gun 2, variable voltage source 6, connected to horizontal deflection plates 3, magnetic deflection system 7 connected to adjustable current source 8, as well as additional capacitor 9, breaker 10, a reference capacitor 11, a switch 12 and an adjustable voltage source 13, to one output terminal of which one of the vertical deflection plates 4 is connected and the second output
СЛSL
СО С5 4 СОCO C5 4 CO
клемма через параллельно включенные эталонный конденсатор 11 и переключатель 12 св зана с второй пластиной 4 вертикального отклонени . Геркон- ный прерыватель 10 и добавочный конденсатор 9 подсоединены параллельно пластинам 4 вертикального отклонени Добавочный конденсатор 9 представл ет собой две плоскопараллельные пластины, площадь которых в несколько дес тков раз превышает площадь пластин 4 вертикального отклонени , п рассто ние между ними равны В этом случае эквивалентна емкость пластин 4 вертикального отклонени и добавочного конденсатора 9 значительно превосходит паразитную емкость монтажа, вли ние которой при работе прибора можно не учитывать. Герконный прерыватель 10 предназначен дл периодической разр дки (закорачивани ) пластин 4 вертикального отклонени , что устран ет возможность их электростатической зар дки в процессе работы прибора, искажающе результаты измерений.a terminal through a parallel-connected reference capacitor 11 and a switch 12 is connected to a second vertical deflection plate 4. Reed switch 10 and additional capacitor 9 are connected in parallel with vertical deflection plates 4 Additional capacitor 9 consists of two plane-parallel plates, the area of which is several ten times larger than the vertical deflection plates 4, n the distance between them is equal vertical deflection plates 4 and additional capacitor 9 far exceed the parasitic mounting capacitance, the effect of which during operation of the device can be disregarded. The reed switch 10 is designed to periodically discharge (short-circuit) the vertical deflection plates 4, which eliminates the possibility of electrostatic charging during the operation of the device, distorting the measurement results.
Система 7 магнитного отклонени расположена на горловине электрон- но-лучевой трубки 1 на уровне и по длине пластин 4 вертикального отклонени и состоит из проводников, уложенных в два диаметрально противоположных продольных паза цилиндричесThe magnetic deflection system 7 is located on the neck of the electron-beam tube 1 at the level and along the length of the vertical deflection plates 4 and consists of conductors arranged in two diametrically opposite longitudinal grooves cylindrical
кого каркаса из диэлектрического матриала (не указано).Whose dielectric material frame (not specified).
Использование двух диаметрально противоположно размещенных участков обмотки обеспечивает, кроме того, большую однородность магнитного пол в приосевой области электронно-лучевой трубки 1 внутри отклон ющей системы.The use of two diametrically opposed sections of the winding ensures, in addition, greater uniformity of the magnetic field in the axial region of the cathode ray tube 1 inside the deflecting system.
Блок 5 питани электронной пушки 2 обеспечивает фокусировку и регулирование ркости электронного луча , а также позвол ет устанавливать определенное ускор ющее напр жение UuCK , измер емое киловольтметром The power supply unit 5 of the electron gun 2 provides focusing and regulation of the electron beam brightness, and also allows you to set a certain accelerating voltage UuCK, measured by a kilovoltmeter
Учебный прибор используют следующим образом,.The training device is used as follows.
После включени прибора, установлени требуемых ркости и фокуса устанавливают определенное, контро- лируемое киловольтметром блока 5 питани ускор ющее напр жение Писк. по которому определ ют скорость V движени электроновAfter switching on the device, setting the required luminance and focus, a certain accelerating voltage, Peak, controlled by a kilovolt meter of the power supply unit 5, is established. on which determine the speed V of movement of electrons
zelyzely
л|- ml | - m
0 5 0 5
0 0
5five
0 0
5 050
е e
где е - зар д электрона; m - масса электрона.where e is the electron charge; m is the electron mass.
Затем изменением напр жени с выхода источника 6 регулируемого напр жени добиваютс установки электронного луча в центре экрана электронно-лучевой трубки 1 Замыка переключатель 12, закорачивают эталонный конденсатор 11 и подачей напр жени от источника 13 регулируемого напр жени на пластины 4 вертикального отклонени создают электрическое поле, которое моделируетс с определенной частотой герконным прерывателем 10, производитс развертка луча по экрану в отрезок длиной 20-30 мм вверх или вниз от центра экрана (в зависимости от пол рности приложенного к пластинам напр жени ). Измер ют значение напр жени Unft. Затем дл создани магнитного пол пропускают через систему 7 магнитного отклонени электрический ток от источника 8 регулируемого тока и изменением величины тока добиваютс смещени свет щегос отрезка на экране электронно-лучевой трубки 1 вдоль этого отрезка на его величину в сторону, противоположную начальному положению относительно центра трубки. Измер ют значение тока I. Не измен величины тока через систему 7 магнитного отклонени , размыкают переключатель 12. При этом последовательно с пластинами 4 вертикального отклонени и конденсатором 9 подключаетс эталонный конденсатор 11, Увеличива напр жение с выхода источника 13 регулируемого напр жени , добиваютс восстановлени длины свет щего отрезка на экране электронно-лучевой трубки 1. Это произойдет, когда напр жение на пластинах 4 вертикального отклонени оп ть станет равным Ипл.Then, by varying the voltage from the output of the variable voltage source 6, the electron beam is installed in the center of the screen of the cathode ray tube 1 of the switch switch 12, the reference capacitor 11 is short-circuited and by applying voltage from the variable voltage source 13 to the vertical deflection plates 4 create an electric field, which is modeled at a certain frequency with a reed switch 10, the beam is swept across the screen into a 20-30 mm long section up or down from the center of the screen (depending on the floor NOSTA the applied voltage to the plates). Measure the voltage value Unft. Then, in order to create a magnetic field, an electric current is passed through the magnetic deflection system 7 from the source 8 of the controlled current and the current of the segment on the screen of the cathode-ray tube 1 is displaced along this segment by its value in the direction opposite to the initial position relative to the center of the tube. The current I is measured. Without changing the magnitude of the current through the magnetic deflection system 7, the switch 12 is opened. At the same time, the reference capacitor 11 is connected in series with the vertical deflection plates 4 and the capacitor 9. Increasing the voltage from the output of the source 13 of the regulated voltage, the length is restored light segment on the screen of the cathode-ray tube 1. This will occur when the voltage on the vertical deflection plates 4 again becomes equal to Epl.
Определ ют эквивалентную емкость Сэкв параллельного соединени пластин 4 вертикального птмишени и дополнительного конденсатора 9 С. по формулеDetermine the equivalent capacitance C of the parallel connection of the plates 4 of the vertical target and the additional capacitor 9 C. Using the formula
С г эк б оC g ek b o
ГДР LI - напр жение на ;. г чедовательном соединенииGDR LI - voltage on; graded compound
и Сand C
ЭК6EK6
+ V + V
- соответственно площади пластин 4 нертиi „ и „ - соответственно плопл- respectively, the area of the plates 4 nerti "and" - respectively plo
кального отклонени и пластин дополнительного конденсатора 9; Л - рассто ние между пластинами , предел ют электрическую посто ннуюa ball deviation and additional condenser plates 9; L - the distance between the plates, the limit of the electric constant
с %OLi L j«i dwith% OLi L j "i d
о ч 7е, + п У about h 7e, + n y
1 ПЛ П« j 1 PL П «j
Скорость света в вакууме опреде ют по формулеThe speed of light in vacuum is determined by the formula
/1/one
пТ( Рд)лPT (RD) l
1CJL1CJL
mm
Tfyf;U -l Tfyf; U -l
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874267325A SU1536431A1 (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874267325A SU1536431A1 (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1536431A1 true SU1536431A1 (en) | 1990-01-15 |
Family
ID=21312952
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874267325A SU1536431A1 (en) | 1987-06-24 | 1987-06-24 | Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1536431A1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105243951A (en) * | 2015-11-12 | 2016-01-13 | 江南大学 | Vertical launching electromagnetic cannon demonstration instrument |
CN104966656B (en) * | 2015-06-30 | 2016-11-30 | 南华大学 | Cathode ray magnetic following response speed training device |
-
1987
- 1987-06-24 SU SU874267325A patent/SU1536431A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 1472940, кл О 09 В 23/18, 1987. * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104966656B (en) * | 2015-06-30 | 2016-11-30 | 南华大学 | Cathode ray magnetic following response speed training device |
CN105243951A (en) * | 2015-11-12 | 2016-01-13 | 江南大学 | Vertical launching electromagnetic cannon demonstration instrument |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Cameron et al. | An Ion``Velocitron'' | |
Plows et al. | Stroboscopic scanning electron microscopy | |
US4427886A (en) | Low voltage field emission electron gun | |
JPS6255264B2 (en) | ||
US4864228A (en) | Electron beam test probe for integrated circuit testing | |
US7449683B2 (en) | Method and apparatus for high-order differential mobility separations | |
JPH0530016B2 (en) | ||
JPWO2017122276A1 (en) | Time-of-flight mass spectrometer | |
GB2462065A (en) | TOF mass spectrometer for stigmatic imaging & associated method | |
US4912327A (en) | Pulsed microfocused ion beams | |
US2622219A (en) | Television image tube | |
Kerns et al. | Generator of nanosecond light pulses for phototube testing | |
SU1536431A1 (en) | Training aid on physics for investigation of movement of electrons in electric and magnetic fields | |
JP3293853B2 (en) | Apparatus for generating and switching high voltage applied to X-ray tube electrode | |
JPS6334844A (en) | Method and apparatus for ion analysis of insulating material | |
CN220934007U (en) | X-ray tube with changeable focus and X-ray imaging device | |
Dressler et al. | An electron-retardation device to improve the resolution of a turner-type UV photoelectron spectrometer | |
US3576462A (en) | Ignition oscilloscope | |
Reininghaus | Measurement of the space charges produced in streamers | |
Inoue et al. | New Type of High Speed Valve | |
KR100434525B1 (en) | Characteristic measuring system for field emission display device, including waveform generator, resistor, electron focusing unit, waveform detection unit and computation unit | |
JPS6224545A (en) | Charged particle optical system | |
SU1520414A1 (en) | Ionic microanalyser | |
SU951150A1 (en) | High-voltage pulse cathode ray oscilloscope | |
Hansen | A LECTURE‐DEMONSTRATION OSCILLOGRAPH |