SU1534310A1 - Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени - Google Patents
Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени Download PDFInfo
- Publication number
- SU1534310A1 SU1534310A1 SU884425421A SU4425421A SU1534310A1 SU 1534310 A1 SU1534310 A1 SU 1534310A1 SU 884425421 A SU884425421 A SU 884425421A SU 4425421 A SU4425421 A SU 4425421A SU 1534310 A1 SU1534310 A1 SU 1534310A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- laser
- output
- amplitude
- vibrations
- light beam
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к устройствам измерени механических колебаний, и могут быть использованы дл измерени амплитудных и фазовых характеристик ультразвуковых, звуковых и инфразвуковых колебаний. Цель изобретени - расширение диапазона измер емых частот и амплитуд вибраций. Это достигаетс за счет использовани модул ции полупроводникового лазера, который можно перестраивать в широком диапазоне частот. С помощью источника питани посто нным и переменным токами возбуждают полупроводниковый лазер 4. Световой пучок с его первого выхода через коллиматор 6 света направл ют перпендикул рно на вибрирующую отражающую поверхность зеркала 7. Отраженный свет возвращаетс обратно в активную область лазера 4 через первый выход. Разность фаз между потоком фотонов, инжектируемых в активную область, и интенсивность накачки приводит к амплитудной модул ции лазера 4, глубина которой регистрируетс с помощью фотоприемника 8, оптически св занного с вторым выходом лазера 4. Регулиру фазу, частоту и амплитуду переменной составл ющей тока источника питани лазера 4, добиваютс максимальной глубины модул ции полупроводникового лазера. Об амплитуде и частоте колебаний суд т соответственно по параметрам источника питани . 2 с.п. ф-лы, 2 ил.
Description
фиг.1
Изобретение относитс к измерительной технике, а именно к устройствам измерени механических колебаний, и может быть использовано дл измерени амплитудных и фазовых характеристик ультразвуковых, звуковых и инфраэву- ковых, звуковых и инфразвуковых механических колебаний.
Цель изобретений - расширение диа- пазона измер емых частот и амплитуд вибраций - достигаетс за счет использовани модул ции полупроводникового лазера, который можно перестраивать в широком диапазоне частот.
На фиг. 1 показана блок-схема виброизмерител , реализующего способ; на фиг. 2 - график зависимости глубины модул ции излучени полупроводникового лазера от разности фаз (j между его электрическим током модул ции и скоростью инжекции фотонов от отражающей вибрирующей поверхности измер емого объекта.
Виброиэмеритель (фиг. 1) содержит генератор 1 гармонических колебаний, фазовращатель 2, выполненный, например , на RC-цепочке или отрезке передающего тракта, разделительный конденсатор 3, полупроводниковый лазер источник 5 посто нного тока, коллиматор 6, зеркало 7, св зываемое с объектом измерени , и фотоприемник 8.
Устройство, реализующее способ, работает следующим образом.
С помощью источника питани , включающего в себ генератор 1 гармонических колебаний, фазовращатель 2, разделительный конденсатор 3 и источник 5 посто нного тока на лазер 4 подают посто нный ток смещени и сигнал электрических колебаний, чем обеспечивают возбуждени лазера . Световой пучок с первого выхода лазера k через коллиматор 6 света направл ют перпен- дикул рно на вибрирующую отражающую поверхность зеркала 7, св зываемого с объектом. Отраженный от зеркала 7 свет через коллиматор 6 возвращаетс обратно на активную область лазера b через его первый оптический выход. Это приводит к амплитудной модул ции лазера, глубина которой регистрируетс с помощью фотоприемника 8, оптически св занного с вторым выходом лазера Калибровка и процесс измерени иллюстрируетс зависимостью глубины модул ции Ј оси разности фаз между переменной составл ющей тока 1„ер. источника
и скоростью ижекции фотонов. Дл Q6 СЭссС0ре, гдеС06 , СОС , U ре - соответственно частота вибрации зеркала 7, частота генератора 1 и резонансна частота лазера , зависимость Ј (Ч) приведена на фиг. 2. Посто нную составл ющую Lf0 фазы ц выбирают из услови получени максимальной амплитуды Л VQICC модул ции выходного оптического сигнала на втором оптическом выходе лазера с частотой СОВ, т.е. d /cKflq q max. Это условие достигаетс путем изменени рассто ние от лазера до отражающей поверхности 7, а также путем изменени фазы сигнала электрических колебаний при помощи фазовращател 2. Острота резонансного характера зависимости w от q определ етс посто нным током IQ смещени лазера k от источника 5, а также амплитудой Iпер сигнала электрических колебаний от генератора 1, Поэтому провод т настройку устройства дл получени максимальной амплитуды модул ции выходного оптического сигнала на втором выходе лазера путем подбора величин 10 и 1пер. Частоту сос устанавливают обратно пропорционально амплитуде йА вибраций поверхности 7 измер емого объекта (tOc 1/&А) . При этом достигают максимальной линейности зависимости между /2 и Lf в рабочей точке (ро Проведенна настройка устройства на любой частоте Сл) СО ре. обеспечивает работу во всем диапазоне частот СОв вибраций поверхности 7 СКОВЛОС. С изменением частоты СОС величину фазы устанавливают снова описанным способом. Величина &А причем эту зависимость устанавливают путем калибровки по известной величине
й этрлом
Claims (2)
1. Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний, заключающийс в том, что формируют лазером поперечный световой пучок, подают световой пучок на отражающую поверхность подают световой пучок, отраженный от поверхности, через полупрозрачное выходное зеркало лазера в активную область лазера, измер ют интенсивность излучени лазера, отличающийс тем, что, с целью расширени диапазона измер емых частот и амплитуд вибраций, до подачи светового пучка на
515
отражающую поверхность модулируют гармоническим сигналом интенсивность накачки лазера, после подачи отраженного от поверхности светового пучка в активную область лазера измен ют амплитуду , частоту и фазу гармонического сигнала, а о параметрах колебани суд т по значени м частоты и фазы гармонического сигнала, которые со ответствуют максимальной глубине амплитудной модул ции интенсивности излучени лазера.
2. Лазерный измеритель механических колебаний, содержащий последова-
106
тельно установленные и оптически св занные фотоприемник, лазер и зеркало и источник питани , выход которого подключен к лазеру, отличающийс тем, что, с целью расширени диапазона измер емых частот и амплитуд вибраций, лазер выполнен в виде последовательно соединенных генератора гармонического сигнала и фазовращател , разделительного конденсатора и источника посто нного тока, а выход фазовращател через разделительный конденсатор подключен к выходу источника посто нного тока.
О
Z 4 Ч.род.
Щцг.1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884425421A SU1534310A1 (ru) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU884425421A SU1534310A1 (ru) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1534310A1 true SU1534310A1 (ru) | 1990-01-07 |
Family
ID=21375012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU884425421A SU1534310A1 (ru) | 1988-05-17 | 1988-05-17 | Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1534310A1 (ru) |
-
1988
- 1988-05-17 SU SU884425421A patent/SU1534310A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Inst and Contr Syst, v. 40, № 11, p. 75-80. 1967. ( ОПТОЭЛЕКТРОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ КОЛЕБАНИЙ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4651571A (en) | Strain sensor | |
KR100473923B1 (ko) | 2개의 레이저 광원을 갖는 엘립소미터 | |
KR890013512A (ko) | 간섭성 광학방사 발생장치와 그 방법 및 고체 레이저 | |
EP0232610A3 (en) | Force sensor using a vibrating element | |
EP0411131A1 (en) | Wavelength stabilized source of light | |
US20220276098A1 (en) | Laser interferometer | |
JP3081253B2 (ja) | 光学検出器 | |
SU1534310A1 (ru) | Оптоэлектронный способ измерени механических колебаний и устройство дл его осуществлени | |
EP0240949A2 (en) | Passive ring resonator angular rate sensor | |
US4345475A (en) | Method and apparatus for receiving ultrasonic energy by optical means | |
US5222070A (en) | Optical pulse oscillator and light frequency measuring apparatus using the same | |
US7061948B2 (en) | Wavelength stabilizing apparatus and method of adjusting the same | |
SU1460612A1 (ru) | Способ измерени параметров вибрации объекта | |
US5081710A (en) | Laser transmitter | |
RU2097710C1 (ru) | Способ исследования колебаний | |
SU301558A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙИ ВИБРАЦИЙ | |
Borisov et al. | Tuning DFB Laser for Dynamic Interrogation of Fast Processes | |
SU1580166A1 (ru) | Устройство дл измерени смещений | |
JPH0710507Y2 (ja) | レーザドップラ速度計 | |
JPH0510815A (ja) | 光励起振動子形センサ | |
SU1413422A1 (ru) | Акустооптическое устройство дл измерени перемещений | |
JPS6454358A (en) | Feed length measuring instrument | |
SU1223037A1 (ru) | Устройство дл измерени перемещений (его варианты) | |
RU2226674C1 (ru) | Волоконно-оптический автогенератор | |
JP3050706B2 (ja) | 発振回路及び光ビーム走査装置 |