SU1516915A1 - Attachment to x-ray spectrometer - Google Patents

Attachment to x-ray spectrometer Download PDF

Info

Publication number
SU1516915A1
SU1516915A1 SU874332585A SU4332585A SU1516915A1 SU 1516915 A1 SU1516915 A1 SU 1516915A1 SU 874332585 A SU874332585 A SU 874332585A SU 4332585 A SU4332585 A SU 4332585A SU 1516915 A1 SU1516915 A1 SU 1516915A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
attachment
holder
electrodes
platform
liquid crystals
Prior art date
Application number
SU874332585A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Владимир Александрович Омельченко
Original Assignee
Львовский Государственный Университет
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Львовский Государственный Университет filed Critical Львовский Государственный Университет
Priority to SU874332585A priority Critical patent/SU1516915A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1516915A1 publication Critical patent/SU1516915A1/en

Links

Landscapes

  • Optical Measuring Cells (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к научному приборостроению, в частности к средствам рентгенографического исследовани  структуры жидких кристаллов. Цель изобретени  состоит в расширении объема получаемой информации при исследовании жидких кристаллов. Приставка содержит основание 1, на котором размещен корпус 2 в виде обоймы, в которой установлена платформа 3. На платформе смонтирован держатель 7 кюветы 11 с жидкокристаллическим материалов. Кювета 11 расположена между электродами 8 и нагревательными элементами 9. Теплоизол ци  держател  7 от платформы 3 обеспечиваетс  вставками 4, 6 из теплоизолирующего материала и экраном 5. Возможность поворачивать платформу 3 во врем  рентгеносъемки и тем самым измен ть пространственное положение жидкого кристалла и электрического пол  позвол ет получать более полную информацию о строении жидких кристаллов. 2 ил.The invention relates to scientific instrumentation, in particular, to means of radiographic examination of the structure of liquid crystals. The purpose of the invention is to expand the amount of information obtained in the study of liquid crystals. The attachment contains a base 1, on which is placed the housing 2 in the form of a holder, in which the platform 3 is installed. On the platform is mounted the holder 7 of the cuvette 11 with liquid crystal materials. The cuvette 11 is located between the electrodes 8 and the heating elements 9. The thermal insulation of the holder 7 from the platform 3 is provided by inserts 4, 6 of heat-insulating material and the screen 5. It is impossible to obtain more complete information about the structure of liquid crystals. 2 Il.

Description

-15 6915--15 6915-

материала и экраном 5. Возможность , кристалла и электрического пол  поз- поворачивать платформу 3 во врем  вол ет получать более полную информа- рентгеносъемки и тем самым измен ть цию о строении жидких кристаллов. пространственное положение жидкого 2 ил.the material and the screen 5. The ability of the crystal and the electric field to allow the platform 3 to get more complete information X-ray imaging and thereby change the structure of the liquid crystals. Spatial position of liquid 2 Il.

Изобретение относитс  к области научного приборостроени , в частности к средствам рентгенографического исследовани  структуры жудких кристал лов.The invention relates to the field of scientific instrumentation, in particular, to means of radiographic examination of the structure of creepy crystals.

Цель изобретени  - расширение объема получаемой информации при исследовании жидких кристаллов.The purpose of the invention is to expand the amount of information obtained in the study of liquid crystals.

На фиг.1 представлена схематически приставка, общий вид; на фиг.2 - разрез А-А на фиг.1.Figure 1 shows a schematic prefix, a general view; figure 2 - section aa in figure 1.

Приставка содержит основание 1 с фланцем в нижней части дл  креплени  приставки на валу, корпус 2, закрепленный на основании 1 и выполненный в виде внешней обоймы с горизонтально расположенной осью. В обойме корпуса 2 установлена с возможностью вращени  рпкруг горизонтальной оси платформ; 3 кольисвоГ формы, на которой иследонагельио один в другом размещены перва  теплоизолирующа  вставка 4, TeiinoBOii экран 5, втора  вставка 6, в которой устачовлен держатель 7 образца, заключенный между электродами 8, нагревателнм 9 и тормонарными эле ;антгмн 10 R ---ржателе 7 выполнен гнездо дл  креплени  кюветы 1 с жид- к JKpиcтaлличecки материалом.The attachment includes a base 1 with a flange in the lower part for fastening the attachment on the shaft, a housing 2 fixed to the base 1 and made in the form of an outer cage with a horizontal axis. In the casing of the housing 2 is mounted for rotation pn around the horizontal axis of the platforms; 3 coils of the form on which the isolahelio one in the other has the first heat insulating insert 4, TeiinoBOii screen 5, the second insert 6 in which the sample holder 7 is inserted between the electrodes 8, the heater 9 and the tormonar electrons; A socket is made for fastening the cuvette 1 with a liquid of JK structural metal.

В термоизолирующих вставках 4 и 6 и экране 5 вь:полнены окна 12 дл  про- хо/ делии peHT. - oBGKtLK лучей, закрытые ptri I гкнолрозрачкым материалом 13. С внешней стороны корпуса 2 установле радиатор 14 иод ног о охлаждени .In the thermal insulating inserts 4 and 6 and the screen 5 vb: the windows 12 for the peHT transit / completion are filled. - oBGKtLK rays, covered with ptri I with a transparent film material 13. On the outer side of the housing 2, a radiator 14 of the legs was installed about cooling.

Приставка работает следующим образом .The prefix works as follows.

Кювету 11 с образцом помещают в дежатель 7 кюветы, включают терморегули рующую систему, выбирают необходимьй тепловой режим с помощью теплового экрана 5 и нагревательных элементов 9. В случае перегрева подвижной части приставки используют радиатор 14 воA sample cuvette 11 is placed in a cuvette holder 7, a thermostatic system is switched on, the required thermal conditions are selected using a heat shield 5 and heating elements 9. In the case of overheating of the movable part of the attachment, a radiator 14 is used.

гg

1515

- -

2020

25 зо 25 so

5five

4040

4545

00

д ного охлаждени . Напр женность элек трического пол  в кювете 11 с жидкокристаллическим образцом мен ют с помощью изменени  приложенной разности потенциалов к электродам 8 так или изменением рассто ни  между ними с помощью диэлектрических прокладок (не показаны) и подбором конфигурации и материала кюветы 1 1 с образцом. При достижении необходимой температуры с производ т съемку на просвет при различных значени х напр женности электрического пол  и его направлени  в пространстве, дл  чего вращают поворотную часть вокруг вертикальной 90 оси и вокруг горизонтальной осиФФ , проход щей через геометрический центр приставки.Cooling down. The intensity of the electric field in the cell 11 with the liquid crystal sample is changed by changing the applied potential difference to the electrodes 8 in one way or by changing the distance between them using dielectric spacers (not shown) and selecting the sample and material of the cell 1 1 with the sample. When the required temperature is reached, a survey is carried out at a different intensity of the electric field and its direction in space, for which the rotating part is rotated around the vertical axis 90 and around the horizontal axis of the FF passing through the geometric center of the attachment.

Claims (1)

Формула изобретени Invention Formula Приставка к рентгеновскому спектрометру , содержаща  основание с фланцем дл  креплени  приставки на валу гони- ометрического устройства с вертикальной осью вращени , корпус, выполненный в виде внешней обоймы и снабженньй электродами, средствами нагрева и термочувствительными элементами, и держатель кюветы жидкокристаллического образца; установленньй с возможностью вращени  внутри обоймы, отличающа с  тем, что, с целью расширени  объема получаемой информации , приставка снабжена платформой, установленной во внешней обойме с возможностью вращени  вокруг горизонтальной оси и несущей последовательно размещенные тепловой экран, теплоизолирующую вставку с окнами дл  входа и выхода рентгеновского излучени  и держатель образца, заключенньй между электродами, нагревателем и термочувствительными элементами.An attachment to an X-ray spectrometer, comprising a base with a flange for fastening the attachment to the shaft of a goniometric device with a vertical axis of rotation, a housing made as an outer cage and provided with electrodes, heating means and temperature-sensitive elements, and a cell holder for a liquid-crystal sample; rotated inside the cage, characterized in that, in order to expand the amount of information received, the prefix is equipped with a platform installed in the outer cage for rotation around a horizontal axis and carrying a successively placed heat shield, heat insulating insert with windows for entry and exit of x-ray radiation and the sample holder, which is enclosed between the electrodes, the heater and the temperature-sensitive elements.
SU874332585A 1987-11-26 1987-11-26 Attachment to x-ray spectrometer SU1516915A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874332585A SU1516915A1 (en) 1987-11-26 1987-11-26 Attachment to x-ray spectrometer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874332585A SU1516915A1 (en) 1987-11-26 1987-11-26 Attachment to x-ray spectrometer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1516915A1 true SU1516915A1 (en) 1989-10-23

Family

ID=21337996

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874332585A SU1516915A1 (en) 1987-11-26 1987-11-26 Attachment to x-ray spectrometer

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1516915A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Чист ков Н.Т. и др. Рентгеновска температурна камера дл исследовани жидких кристаллов в электрических пол х.- ПТЭ, 1975, № 6, с.231. Бельцов Б. и др. Комбинированна приставка к ДРОН-2: Сб. Жидкие кристаллы. Иваново, 1986, с.130-132. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Larrabee The spectral emissivity and optical properties of tungsten
US4150552A (en) Infrared cooler for restricted regions
US3267727A (en) Thermopile and radiometer including same and method of producing thermopile
Low Lunar nighttime temperatures measured at 20 microns
SU1516915A1 (en) Attachment to x-ray spectrometer
US20160231259A1 (en) X-ray analyzer
JP2019090672A (en) Cell for x-ray analysis, and x-ray analysis device
US2514382A (en) High temperature device for X-ray diffraction
US3354309A (en) Infrared detecting device of the thermopile type
EP1523044B1 (en) Imaging apparatus
US5485005A (en) Cooled x-ray sensitive photoconductor
Darovsky et al. An antiscatter device for low-temperature crystallographic experiments with imaging plates
Helmholz et al. Experimental Measurement of the Lattice Energies of RbBr and NaCl
US4827134A (en) Device for collecting samples
Laszlo et al. Emittance measurements of solids above 2000 deg C
US3337731A (en) Multiple-shot x-ray thermal vacuum chamber for testing samples over a wide temperature range
SU842520A1 (en) Low-temperature attachment to x-ray diffractometer
SU1004832A1 (en) High-temperature x-ray diffractometer
Heger et al. A versatile high-temperature furnace for neutron four-circle diffractometers
Viswamitra et al. A miniature furnace suitable for X-ray Weissenberg photography up to 1000° C
JP3212367B2 (en) Solar absorptivity and radiation rate measurement device
de Bretteville Jr An X‐Ray High Temperature Camera
SU502299A1 (en) High temperature camera attachment to the X-ray diffractometer
SU95214A1 (en) Camera for reverse x-ray metal imaging
JPH0854359A (en) Sample heating member, sample heating furnace, and sample heating device for x-ray diffractiometry