SU1493939A1 - Устройство дл измерени параметров материалов - Google Patents
Устройство дл измерени параметров материалов Download PDFInfo
- Publication number
- SU1493939A1 SU1493939A1 SU874321332A SU4321332A SU1493939A1 SU 1493939 A1 SU1493939 A1 SU 1493939A1 SU 874321332 A SU874321332 A SU 874321332A SU 4321332 A SU4321332 A SU 4321332A SU 1493939 A1 SU1493939 A1 SU 1493939A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- waveguide
- rods
- microwave
- measuring
- roughness
- Prior art date
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к измерительной технике. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей путем обеспечени измерени шероховатости металлических поверхностей. Устройство дл измерени параметров материалов содержит датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода 1, разомкнутый на одном конце, и расположенный в волноводе 1 источник 2 СВЧ-колебаний, а также детектор 3 СВЧ и два соосных металлических стержн 4 и 5, выполненных с возможностью перемещени вдоль своей оси и вдоль продольных щелей 6 и 7, расположенных по оси волновода 1 у его разомкнутого конца. Стержни 4 и 5 фиксируютс в рабочем положении с помощью скобы 8. Вход регистрирующего прибора 9 подключен к детектору 3 на выходе датчика. Дл реализации резонансного взаимодействи зазора между концами стержней 4 и 5 с исследуемой металлической поверхностью осуществл етс выбор соответствующего рассто ни между стержн ми 4 и 5 и краем излучающего отверсти волновода 1. В результате происходит преимущественное поглощение СВЧ - мощности исследуемой поверхностью, следствием чего вл етс возможность измерени шероховатости металлической поверхности с высокой чувствительностью. 2 ил.
Description
Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике СВЧ и может использоватьс в электронной, машиностроительной промьшшенности.
Цель изобретени - расширение функциональных возможностей путем обеспечени измерени шероховатости металлических поверхностей.
На фиг. 1 показано устройство дл из мерени параметров материалов на фиг.2 - вид А на фиг.1.
Устройство дл измерени параметров материалов содержит датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода 1, разомкнутый на одном конце, расположенный в волноводе 1 источник 2 СВЧ колебаний, детектор 3 СВЧ, два соосных металлических стержн 4 и 5, выполненных с воз можностью перемещени вдоль своей оси и вдоль продольных щелей 6,7,расположенных по оси волновода 1 у его разомкнутого конца, стержни 4,5 фиксируютс в рабочем положении с помо- щью скобы 8, вход регистрирующего прибора 9 подключен к детектору 3 на выходе датчика. В качестве источника 2 СВЧ колебаний возможно использование диода Ганна, лавинно-про летного диода, туннельного диода ;или элемента возбуждени волновода от внешнего СВЧ генератора.
Устройство дл измерени параметров материалов работает следующим образом .
Отрезок пр моугольного волновода помещаетс разомкнутым концом на измер емую поверхность. Внутри волновода 1 устанавливаетс возбуткденна источником 2 СВЧ колебаний сто ча волна электромагнитного пол . Зависимость амплитуды сто чей волны от параметра измер емой прверхности фиксируетс детектором 3 и регистрирует с регистрирующим прибором 9.При отсутствии стержней 4,5 конструкци не может быть использована дл измерени шероховатости вследствие чрезвычайно слабой зависимости в этом случае амплитуды сто чей волны от шероховатости измер емой поверхности . Введение двух соосных металлических стержней 4,5 на рассто нии от излучающего отверсти волновода не превышающем величины, определ е- мой злвисиомстью
,JJL. ) - (2.-)-V л
5
Q
0 5 о
5
0
50
где а - размер широкой стенки отрезка пр моугольного волновода 1 ,
Л - длина рабочей волны в свободном пространстве,
обеспечивает поглощение мощности преимущественно исследуемой металлической поверхностью, а не всей внутренней поверхностью отрезка пр моугольного волновода 1. Следствием этого вл етс сильна зависимость амплитуды сто чей волны, а следовательно, и показаний прибора 9 от шероховатости измер емой поверхности.
Выбор рассто ни между стержн ми 4,5 и краем излучающего отверсти волновода 1 в соответствии с приведенным отношением необходим дл реализации резонансного взаимодействи зазора между концами стержней 4, 5 с исследуемой металлической поверхностью. В результате этого происходит преимущественное поглощение СВЧ мощности исследуемой поверхностью, следствием чего вл етс возможность измер ть шероховатость металлической поверхности с высокой чувствительностью. Так как резонансна частота параллельного контура, образованного частью объема волновода 1, ограниченного стержн ми 4,5 с одной стороны и исследуемой металлической поверхностью с другой стороны, зависит от ве личи- ны активного сопротивлени , включенного в одно из его плеч, то амплитуда сто чей волны в волноводе 1, а следовательно, и величина продетек- тированного напр жени будет зависеть от величины шероховатости исследуемой поверхности. Измен как рассто ние между стержн ми 4,5 и излучающим отверстием волновода 1, так и глубину их погружени в волновод 1, можно определить их оптимальное положение с точки зрени получени мак- симальной чувствительности устройства к изменению параметра R а среднеарифметическое отклонение профил измер емых поверхностей в каждой конструкции .
Claims (1)
- Формула изобретени Устройство дл измерени параметров материалов, содержащее датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода, разомкнутого на одном конце,внутри которого размещен исто ник СВЧ-колебаний, а также регистрирующий прибор, соединенный с , выходог; дэтчикэ, отличзющее- с тем, что, с целью расширени функ- цион льных возможностей путем обеспечени измерени шероховатости металлических поверхностей, введены два соосных металлических стержн , размещенных на противоположных широких стенках отрезка пр моугольного волновода с возможностью осевого перемещени и перемещени вдоль продольных щелей, выполненных в серединахшироких стенок отрезка пр моу1 ольного волновода на его разомкнутом конце, при этом длина каждой продольной щели не превышает величины, определ емой выражением:((3)- (J-).)где а - размер широкой стенки отрезка пр моугольного волновода} - длина рабочей волны в свободном пространстве.ffuffAи.Фиг. 2
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874321332A SU1493939A1 (ru) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Устройство дл измерени параметров материалов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU874321332A SU1493939A1 (ru) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Устройство дл измерени параметров материалов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1493939A1 true SU1493939A1 (ru) | 1989-07-15 |
Family
ID=21333614
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU874321332A SU1493939A1 (ru) | 1987-10-26 | 1987-10-26 | Устройство дл измерени параметров материалов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1493939A1 (ru) |
-
1987
- 1987-10-26 SU SU874321332A patent/SU1493939A1/ru active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Сейнов С.В. и др. Емкостной про- филометр. - Измерительна техника, 1987, № 22, с.19. Авторское свидетельство СССР № 1264109, кл. G 01 R-27/26, 1985. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6293142B1 (en) | Electromagnetic method of liquid level monitoring | |
US7216054B1 (en) | Electromagnetic method and apparatus for the measurement of linear position | |
US6393912B2 (en) | Electromagnetic method of the angular displacement monitoring | |
JPH0149893B2 (ru) | ||
SU1493939A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров материалов | |
RU2433393C1 (ru) | Устройство для измерения влажности почвы | |
CA2295520A1 (en) | Device for measuring and/or representing electrical and magnetic material properties and properties directly derivable therefrom | |
RU94003307A (ru) | Способ и устройство измерения свойств анизотропного диэлектрического материала | |
RU2321010C1 (ru) | Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч | |
JPH02112716A (ja) | 細長い素子の位置測定方法およびその装置 | |
JPH0714870Y2 (ja) | シート状物の高周波特性測定装置 | |
RU2707421C1 (ru) | Чувствительный элемент сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса с частотной подстройкой | |
SU1626138A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров материалов | |
SU398896A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ | |
SU700846A1 (ru) | Устройство дл измерени напр женности магнитного пол | |
SU561897A1 (ru) | Высокочастотный кондуктометрический датчик с переменной константой | |
RU2025670C1 (ru) | Измеритель вибрации | |
RU2684446C1 (ru) | Способ определения напряженности магнитного поля | |
RU2656016C1 (ru) | Способ измерения длины протяженного металлического изделия | |
RU99109506A (ru) | Устройство для определения концентрации смеси веществ | |
US20020144547A1 (en) | Electromagnetic method of the angular displacement monitoring | |
SU987466A1 (ru) | Устройство дл измерени плотности диэлектрических жидкостей | |
SU427293A1 (ru) | Устройство для измерения напряженности электрического поля свч | |
SU879278A1 (ru) | Устройство дл измерени толщины диэлектрических материалов | |
JPH0236899B2 (ja) | Maikurohaomochiitasuibunsensa*oyobisuibunsokuteisochi |