SU1493939A1 - Устройство дл измерени параметров материалов - Google Patents

Устройство дл измерени параметров материалов Download PDF

Info

Publication number
SU1493939A1
SU1493939A1 SU874321332A SU4321332A SU1493939A1 SU 1493939 A1 SU1493939 A1 SU 1493939A1 SU 874321332 A SU874321332 A SU 874321332A SU 4321332 A SU4321332 A SU 4321332A SU 1493939 A1 SU1493939 A1 SU 1493939A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
waveguide
rods
microwave
measuring
roughness
Prior art date
Application number
SU874321332A
Other languages
English (en)
Inventor
Дмитрий Александрович Усанов
Андрей Андреевич Лицов
Original Assignee
Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете им.Н.Г.Чернышевского
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете им.Н.Г.Чернышевского filed Critical Научно-исследовательский институт механики и физики при Саратовском государственном университете им.Н.Г.Чернышевского
Priority to SU874321332A priority Critical patent/SU1493939A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1493939A1 publication Critical patent/SU1493939A1/ru

Links

Landscapes

  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике. Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей путем обеспечени  измерени  шероховатости металлических поверхностей. Устройство дл  измерени  параметров материалов содержит датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода 1, разомкнутый на одном конце, и расположенный в волноводе 1 источник 2 СВЧ-колебаний, а также детектор 3 СВЧ и два соосных металлических стержн  4 и 5, выполненных с возможностью перемещени  вдоль своей оси и вдоль продольных щелей 6 и 7, расположенных по оси волновода 1 у его разомкнутого конца. Стержни 4 и 5 фиксируютс  в рабочем положении с помощью скобы 8. Вход регистрирующего прибора 9 подключен к детектору 3 на выходе датчика. Дл  реализации резонансного взаимодействи  зазора между концами стержней 4 и 5 с исследуемой металлической поверхностью осуществл етс  выбор соответствующего рассто ни  между стержн ми 4 и 5 и краем излучающего отверсти  волновода 1. В результате происходит преимущественное поглощение СВЧ - мощности исследуемой поверхностью, следствием чего  вл етс  возможность измерени  шероховатости металлической поверхности с высокой чувствительностью. 2 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике СВЧ и может использоватьс  в электронной, машиностроительной промьшшенности.
Цель изобретени  - расширение функциональных возможностей путем обеспечени  измерени  шероховатости металлических поверхностей.
На фиг. 1 показано устройство дл  из мерени  параметров материалов на фиг.2 - вид А на фиг.1.
Устройство дл  измерени  параметров материалов содержит датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода 1, разомкнутый на одном конце, расположенный в волноводе 1 источник 2 СВЧ колебаний, детектор 3 СВЧ, два соосных металлических стержн  4 и 5, выполненных с воз можностью перемещени  вдоль своей оси и вдоль продольных щелей 6,7,расположенных по оси волновода 1 у его разомкнутого конца, стержни 4,5 фиксируютс  в рабочем положении с помо- щью скобы 8, вход регистрирующего прибора 9 подключен к детектору 3 на выходе датчика. В качестве источника 2 СВЧ колебаний возможно использование диода Ганна, лавинно-про летного диода, туннельного диода ;или элемента возбуждени  волновода от внешнего СВЧ генератора.
Устройство дл  измерени  параметров материалов работает следующим образом .
Отрезок пр моугольного волновода помещаетс  разомкнутым концом на измер емую поверхность. Внутри волновода 1 устанавливаетс  возбуткденна  источником 2 СВЧ колебаний сто ча  волна электромагнитного пол . Зависимость амплитуды сто чей волны от параметра измер емой прверхности фиксируетс  детектором 3 и регистрирует с  регистрирующим прибором 9.При отсутствии стержней 4,5 конструкци  не может быть использована дл  измерени  шероховатости вследствие чрезвычайно слабой зависимости в этом случае амплитуды сто чей волны от шероховатости измер емой поверхности . Введение двух соосных металлических стержней 4,5 на рассто нии от излучающего отверсти  волновода не превышающем величины, определ е- мой злвисиомстью
,JJL. ) - (2.-)-V  л
5
Q
0 5 о
5
0
50
где а - размер широкой стенки отрезка пр моугольного волновода 1 ,
Л - длина рабочей волны в свободном пространстве,
обеспечивает поглощение мощности преимущественно исследуемой металлической поверхностью, а не всей внутренней поверхностью отрезка пр моугольного волновода 1. Следствием этого  вл етс  сильна  зависимость амплитуды сто чей волны, а следовательно, и показаний прибора 9 от шероховатости измер емой поверхности.
Выбор рассто ни  между стержн ми 4,5 и краем излучающего отверсти  волновода 1 в соответствии с приведенным отношением необходим дл  реализации резонансного взаимодействи  зазора между концами стержней 4, 5 с исследуемой металлической поверхностью. В результате этого происходит преимущественное поглощение СВЧ мощности исследуемой поверхностью, следствием чего  вл етс  возможность измер ть шероховатость металлической поверхности с высокой чувствительностью. Так как резонансна  частота параллельного контура, образованного частью объема волновода 1, ограниченного стержн ми 4,5 с одной стороны и исследуемой металлической поверхностью с другой стороны, зависит от ве личи- ны активного сопротивлени , включенного в одно из его плеч, то амплитуда сто чей волны в волноводе 1, а следовательно, и величина продетек- тированного напр жени  будет зависеть от величины шероховатости исследуемой поверхности. Измен   как рассто ние между стержн ми 4,5 и излучающим отверстием волновода 1, так и глубину их погружени  в волновод 1, можно определить их оптимальное положение с точки зрени  получени  мак- симальной чувствительности устройства к изменению параметра R а среднеарифметическое отклонение профил  измер емых поверхностей в каждой конструкции .

Claims (1)

  1. Формула изобретени  Устройство дл  измерени  параметров материалов, содержащее датчик, выполненный в виде отрезка пр моугольного волновода, разомкнутого на одном конце,внутри которого размещен исто ник СВЧ-колебаний, а также регистрирующий прибор, соединенный с , выходог; дэтчикэ, отличзющее- с   тем, что, с целью расширени  функ- цион льных возможностей путем обеспечени  измерени  шероховатости металлических поверхностей, введены два соосных металлических стержн , размещенных на противоположных широких стенках отрезка пр моугольного волновода с возможностью осевого перемещени  и перемещени  вдоль продольных щелей, выполненных в серединах
    широких стенок отрезка пр моу1 ольного волновода на его разомкнутом конце, при этом длина каждой продольной щели не превышает величины, определ емой выражением:
    ((3)- (J-).)где а - размер широкой стенки отрезка пр моугольного волновода} - длина рабочей волны в свободном пространстве.
    ffuffA
    и
    .
    Фиг. 2
SU874321332A 1987-10-26 1987-10-26 Устройство дл измерени параметров материалов SU1493939A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874321332A SU1493939A1 (ru) 1987-10-26 1987-10-26 Устройство дл измерени параметров материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874321332A SU1493939A1 (ru) 1987-10-26 1987-10-26 Устройство дл измерени параметров материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1493939A1 true SU1493939A1 (ru) 1989-07-15

Family

ID=21333614

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874321332A SU1493939A1 (ru) 1987-10-26 1987-10-26 Устройство дл измерени параметров материалов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1493939A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Сейнов С.В. и др. Емкостной про- филометр. - Измерительна техника, 1987, № 22, с.19. Авторское свидетельство СССР № 1264109, кл. G 01 R-27/26, 1985. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6293142B1 (en) Electromagnetic method of liquid level monitoring
US7216054B1 (en) Electromagnetic method and apparatus for the measurement of linear position
US6393912B2 (en) Electromagnetic method of the angular displacement monitoring
JPH0149893B2 (ru)
SU1493939A1 (ru) Устройство дл измерени параметров материалов
RU2433393C1 (ru) Устройство для измерения влажности почвы
CA2295520A1 (en) Device for measuring and/or representing electrical and magnetic material properties and properties directly derivable therefrom
RU94003307A (ru) Способ и устройство измерения свойств анизотропного диэлектрического материала
RU2321010C1 (ru) Устройство для измерения больших значений комплексной диэлектрической проницаемости низкоимпедансных композиционных материалов на свч
JPH02112716A (ja) 細長い素子の位置測定方法およびその装置
JPH0714870Y2 (ja) シート状物の高周波特性測定装置
RU2707421C1 (ru) Чувствительный элемент сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса с частотной подстройкой
SU1626138A1 (ru) Устройство дл измерени параметров материалов
SU398896A1 (ru) УСТРОЙСТВО дл ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ
SU700846A1 (ru) Устройство дл измерени напр женности магнитного пол
SU561897A1 (ru) Высокочастотный кондуктометрический датчик с переменной константой
RU2025670C1 (ru) Измеритель вибрации
RU2684446C1 (ru) Способ определения напряженности магнитного поля
RU2656016C1 (ru) Способ измерения длины протяженного металлического изделия
RU99109506A (ru) Устройство для определения концентрации смеси веществ
US20020144547A1 (en) Electromagnetic method of the angular displacement monitoring
SU987466A1 (ru) Устройство дл измерени плотности диэлектрических жидкостей
SU427293A1 (ru) Устройство для измерения напряженности электрического поля свч
SU879278A1 (ru) Устройство дл измерени толщины диэлектрических материалов
JPH0236899B2 (ja) Maikurohaomochiitasuibunsensa*oyobisuibunsokuteisochi