SU1492214A1

SU1492214A1 - Device for measuring dynamic deformations

Info

Publication number: SU1492214A1
Application number: SU874241769A
Authority: SU
Inventors: Леонид Григорьевич Потапов; Леонид Иванович Колюпанов; Валерий Евгеньевич Бобылев
Original assignee: Войсковая Часть 44526
Priority date: 1987-05-11
Filing date: 1987-05-11
Publication date: 1989-07-07

Abstract

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени высокоскоростных пластических деформаций. Целью изобретени вл етс повышение точности измерений за счет увеличени чувствительности. Устройство дл измерени динамических деформаций содержит два тензорезистора 1 и 4, испытывающих одновременно одни и те же динамические деформации, источник 2 отрицательного тока, соединенный параллельно с первым тензорезистором 1 "плюсом"-к общему проводу, "минусом"-к первому выходному проводу 3, источник 5 положительного тока, соединенный параллельно с вторым тензорезистором 4 "минусом"-к общему проводу, "плюсом"-к второму выходному проводу 6.This invention relates to a measurement technique and can be used to measure high speed plastic deformations. The aim of the invention is to improve the measurement accuracy by increasing the sensitivity. The device for measuring dynamic deformations contains two strain gauges 1 and 4, simultaneously experiencing the same dynamic strains, a negative current source 2 connected in parallel with the first strain gauge 1 plus to the common wire, minus to the first output wire 3, positive current source 5, connected in parallel with the second strain gauge 4 "minus" - to the common wire, "plus" - to the second output wire 6.

Description

6 ,, 3 6 ,, 3

иand

оabout

| I /| I /

Изобретение относитс к измерительной технике и может быть использовано дл измерени высокоскоростных пластических деформаций в эле- ментах конструкций.The invention relates to a measurement technique and can be used to measure high-speed plastic deformations in structural elements.

Цель изобретени - повышение точности за счет увеличени чувствительности тензорезисторов, испытывающих одновременно один вид деформиро- вани оThe purpose of the invention is to improve the accuracy by increasing the sensitivity of strain gages, simultaneously experiencing one type of deformation

На чертеже изображена функциональна схема устройстваThe drawing shows the functional diagram of the device

Устройство дл измерени динамических деформаций содержит первый тензорезистор 1 и параллельно соединенный с ним первый источник 2 отрицательного тока, минус которого и первый вывод первого тензорезисто- ра 1 соединены с первым выходным проводом 3, а плюс и второй вьгеод первого тензорезистора 1 соединены с общим проводом, второй тензорезистор 4 и параллельно соединенный с ним второй источник 5 положительного тока, плюс которого и первый вывод второго тензорезистора 4 соединены с вторым выходным проводом 6, а минус и второй вывод второго тензорезистора 4 соединены с общим прово- дом, два разделительных конденсатора 7 и 8, первые обкладки которых соединены с выходными проводами 3 и 6 соответственно, а вторые обкладки конденсаторов 7 и 8 соединены с вхо- дами дифференциального усилител (не доказан)о Тензорезисторы 1 и 4 установлены в одной измерительной точке исследуемой конструкции и испытьгаают одновременно один вид деформирова- The device for measuring dynamic deformations contains the first strain gauge 1 and the first negative current source 2 connected in parallel with it, the minus of which and the first pin of the first strain gauge 1 are connected to the first output wire 3, and the plus and the second pin of the first strain gauge 1 are connected to the common wire, the second strain gauge 4 and a second positive current source 5 connected in parallel with it, plus which and the first lead of the second strain gauge 4 are connected to the second output wire 6, and the minus and the second lead of the second Sensor cell 4 is connected to the common wire, two separation capacitors 7 and 8, the first plates of which are connected to output wires 3 and 6, respectively, and the second plates of capacitors 7 and 8 are connected to the inputs of the differential amplifier (not proven). 4 are installed at one measuring point of the structure under study and test one type of deforming at the same time.

НИН с,Nin with,

Устройство работает следующим образомThe device works as follows

В режиме поко одинаковые по величине токи источников 2 и 5 тока,про- тека через тензорезисторы 1 и 4, содают на них падение напр жени с Ток, вытекающий из источника 5 положительного тока, проходит только через тен зореэистор 4 в направлении к общему проводу, а ток источника 2 отрицательного тока проходит только в направлении от общего провода через тензорезистор 1 к первому выходному проводу 3. При такой схеме включени тензорезисторов 1 и 4 каждый источни 2,5 тока создает в соответствующем ему тензорезисторе рабочий ток 1| 1 I рае падение напр жени U( N4 и,а при равенстве сопротивлений тензорезисторов 1 и 4 R, R и их приращений ЛК, йН UR,получаем . l(R ( + + &Н,) + I(R + uR) I . .&R + + I 2RoIn the quiescent mode, the identical currents of the current sources 2 and 5, flowing through the resistance strain gages 1 and 4, cause a voltage drop across them. The current flowing from the source 5 of the positive current passes only through the tensor resistor 4 in the direction of the common wire, and the current of the negative current source 2 passes only in the direction from the common wire through the strain gauge 1 to the first output wire 3. With this switching circuit of the strain gauges 1 and 4, each 2.5 current source creates an operating current in the corresponding strain gauge 1 | 1 I paradise the voltage drop U (N4 and, and with equal resistance of the resistance strain gages 1 and 4 R, R and their increments LK, yN UR, we get. L (R (+ + & H,) + I (R + uR) I. &Amp; R + + I 2Ro

В св зи с тем, что тензорезисторы 1 и 4 установлены на элементах конструкции в одной измерительной точке р дом, параллельно друг другу в одной плоскости, то динамическое деформирование конструкции вызывает синфазное.изменение их сопротивле- ний„ Это, в свою очередь, ведет к по влению на них противофазных импульсных напр жений, которые через разделительные конденсаторы 7 и 8 подаютс на входы дифференциального усилител .Due to the fact that the strain gauges 1 and 4 are installed on the structural elements at one measuring point nearby, parallel to each other in the same plane, the dynamic deformation of the structure causes an in-phase change of their resistances “This, in turn, leads to the appearance of antiphase impulse voltages on them, which are fed through the coupling capacitors 7 and 8 to the inputs of the differential amplifier.

Claims

Invention Formula

A device for measuring dynamic deformations, containing two strain gauges and two current sources connected in parallel with corresponding strain gauges, one terminals of current sources and strain gauges are connected by a common thickness, and the others are connected to the first and second output wires, respectively, because increase accuracy by increasing the sensitivity of strain gages, simultaneously experiencing one type of deformation, the first current source is connected to the first strain resistor plus - to the total rovodu, minus - to the first output conductor, and a second current source coupled to a second tenzorezis- torus minus - to ground, plus - to the second output conductor.