SU1488730A1 - Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки - Google Patents

Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки Download PDF

Info

Publication number
SU1488730A1
SU1488730A1 SU874250345A SU4250345A SU1488730A1 SU 1488730 A1 SU1488730 A1 SU 1488730A1 SU 874250345 A SU874250345 A SU 874250345A SU 4250345 A SU4250345 A SU 4250345A SU 1488730 A1 SU1488730 A1 SU 1488730A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
measuring
microwave
output
input
generator
Prior art date
Application number
SU874250345A
Other languages
English (en)
Inventor
Yurij E Gordienko
Leonid A Ovcharenko
Yurij I Gud
Original Assignee
Kh I Radioelektroniki
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kh I Radioelektroniki filed Critical Kh I Radioelektroniki
Priority to SU874250345A priority Critical patent/SU1488730A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1488730A1 publication Critical patent/SU1488730A1/ru

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)

Description

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - повышение точности измерения. Устройство содержит опорный измери2
тельный резонатор 1 СВЧ, измерительный генератор 2 СВЧ, опорный стабилизированный генератор 3 СВЧ, смеситель 4, частотомер 5, 45 -ный фазовращатель 6 и блок 7 фазовой автоподстройки частоты. Принцип работы устройства основан на том, что сдвиг по фазе колебания, вызванный заменой металлического торца резонатора 1 исследуемым образцом и обусловленный подложкой образца, равен 45° и не зависит от электропроводное ти подложки. С учетом этого введение блока 7 и фазовращателя 6 позволяет скомпенсировать фазовый сдвиг, вносимый подложкой. Цель достигается за счет исключения погрешности, связанной с разбросом электропроводности подложек образцов. Гил..
5
3
Изобретение относится к технике измерении па СВЧ и может быть использовано для неразрушающего контроля толщины полупроводниковых пленок на сильно легированных полупроводниковых или проводящих подложках„
Целью изобретения является повышение точности.
На чертеже приведена структурная электрическая схема устройства для измерения толщины полупроводниковой пленки.
Устройство содержит опорный измерительный резонатор Г СВЧ, измерительный генератор 2 СВЧ, опорный стабилизированный генератор 3 СВЧ, смеситель 4, частотомер 5, 45-градусный фазовращатель 6, блок 7 фазовой автоподстройки частоты.
Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки работает следующим образом.
Перед началом измерений отверстие измерительного резонатора 1 закрывают металлической заглушкой из такого же материала, частоту измерительного генератора 2 устанавливают равной частоте опорного стабилизированного генератора 3, Затем вместо металлической заглушки устанавливают исследуемый образец стороной, где нанесена полупроводниковая пленка. При этом резонансная частота измерительного резонатора 1 изменяется, а между сигналами на входе и выходе измерительного резонатора 1 имеется фазовый сдвиг ц, . В канале с 45-градусным фазовращателем 6 происходит фазовый сдвиг ίρθ = 45 .
На выходе блока 7 выделяется напряжение, пропорциональное разности фазовых сдвигов = 45 , которое поступает на управляющий вход измерительного генератора 2, перестраивая его частотч до обеспечения ра'о
венства. = 45 . Сигнал с измерительного генератора 2 с измененной частотой поступает на один из входов
488730 4
смесителя 4, на другой вход которого поступает сигнал с выхода опорного стабилизированного генератора 3.
$ С выхода смесителя 4 сигнал разностной частоты, численно равный величине изменения частоты измерительного генератора 2 и пропорциональный измеряемой толщине пленки, поступает ,θ на частотомер 5 для регистрации.
Принцип работы устройства для измерения толщины полупроводниковой пленки основан на том, что сдвиг по фазе колебания, вызванный заменой 15 металлического торца измерительного резонатора 1 исследуемым образцом и обусловленный подложкой образца, равен 45 и не зависит от электропроводности подложки. С учетом это20 го введение блока 7 и 45-градусного фазовращателя 6 позволяет скомпенсировать фазовый сдвиг, вносимый подложкой, и тем самым повысить точность измерений за счет исключения 25 погрешности, связанной с разбросом электропроводности подложек образцов.

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    I
    Устройство для измерения толщины 30 полупроводниковой пленки, содержащее опорный стабилизированный генератор СВЧ, соединенный с первым входом смесителя, выход которого подключен к частотомеру, и измерительный генератор СВЧ, подсоединенный к входу измерительного резонатора СВЧ, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, выход измерительного генератора СВЧ соединен с вторым входом смесителя и входом введенного 45-градусного фазовращателя, выход измерительного резонатора СВЧ и выход - 45-градусного фазовращателя подклю45 чены соответственно к первому и второму входам введенного блока фазовой автоподстройки частоты, выход которого соединен с управляющим входом измерительного генератора СВЧ.
    35
    40
SU874250345A 1987-05-27 1987-05-27 Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки SU1488730A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874250345A SU1488730A1 (ru) 1987-05-27 1987-05-27 Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU874250345A SU1488730A1 (ru) 1987-05-27 1987-05-27 Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1488730A1 true SU1488730A1 (ru) 1989-06-23

Family

ID=21306379

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU874250345A SU1488730A1 (ru) 1987-05-27 1987-05-27 Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1488730A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995010755A1 (en) * 1993-10-14 1995-04-20 Maloe Predpr V Forme Obschestv Electromagnetic process for measuring the thickness of articles and a device for carrying out said process

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1995010755A1 (en) * 1993-10-14 1995-04-20 Maloe Predpr V Forme Obschestv Electromagnetic process for measuring the thickness of articles and a device for carrying out said process

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0990887B1 (en) Densitometer using microwaves
US4675596A (en) Digital fluid analyzer using capacitive sensing
US2562575A (en) Electronic device for measuring physical constants
US5483172A (en) Radio frequency measuring apparatus
SU1488730A1 (ru) Устройство для измерения толщины полупроводниковой пленки
GB1590794A (en) Viscosimeter and/or densitometer
US3018439A (en) Automatic wave analyzer
Lindberg et al. Microwave moisture meters for the paper and pulp industry
SU1337825A1 (ru) Устройство дл измерени параметров материалов
SU1193539A1 (ru) Измеритель проход щей мощности СВЧ
RU2080610C1 (ru) Устройство для измерения диэлектрической проницаемости материалов
SU983581A1 (ru) Автоматический измеритель изменений составл ющих комплексной диэлектрической проницаемости и времени релаксации
SU1689833A1 (ru) Устройство дл измерени влажности почвы
SU1022033A1 (ru) Устройство дл кулонометрического анализа
SU646235A1 (ru) Сверхвысокочастотный измеритель концентрации примесей
SU1453337A1 (ru) Способ измерени диэлектрической проницаемости листовых материалов
SU723465A1 (ru) Устройство дл измерени нестабильности частоты
SU1022078A1 (ru) Устройство дл измерени распределени электрического потенциала
SU1435968A1 (ru) Датчик давлени
SU588512A1 (ru) Устройство дл измерени температурного коэффициента частоты кварцевых резонаторов
SU373642A1 (ru) Компенсационный фазометр
SU734548A1 (ru) Емкостной влагомер
SU408235A1 (ru) Широкополосный фазометр
SU857840A1 (ru) Способ измерени диэлектрических параметров вещества
SU118873A1 (ru) Способ измерени сдвига фаз