SU1485185A1

SU1485185A1 - Attachment for metallographic microscope for fractographic investigation of metal fractures

Info

Publication number: SU1485185A1
Application number: SU874335375A
Authority: SU
Inventors: Viktor A Sakhnov; Igor Yu Krepak
Original assignee: Viktor A Sakhnov; Igor Yu Krepak
Priority date: 1987-11-30
Filing date: 1987-11-30
Publication date: 1989-06-07

Description

Изобретение относится к металловедению, а именно к исследованию изломов металлов под микроскопом, и может быть использовано в машиностроении и. металлургической промышленности для выяснения причин и характера разрушений деталей и узлов в процессе эксплуатации, изучения процессов, совершающихся при разрушении металлов, и их.связи со структурой.The invention relates to metallurgy, in particular to the study of metal fractures under a microscope, and can be used in mechanical engineering and. metallurgical industry to determine the causes and nature of the destruction of parts and assemblies during operation, to study the processes occurring during the destruction of metals, and their connection with the structure.

Целью изобретения является упрощение конструкции и сокращение времени проведения исследований.The aim of the invention is to simplify the design and reduce the time of research.

На фиг. 1 показана приставка, общий вид; на фиг. 2 - то же, в рабочем положении.FIG. 1 shows the prefix, a general view; in fig. 2 - the same in the working position.

22

эксплуатации, изучения процессов, совершающихся при разрушении металлов, и их связи со структурой. Устройство содержит корпус, выполненный в виде прозрачной полой полусферы, закрепленной на предметном столике микроскопа. С внутренней и наружной поверхностями корпуса контактируют через фрикционные прокладки постоянные магниты, при этом держатель образца размещен на корпусе внутреннего магнита, а на корпусе нагружного магнита размещен противовес. Подготовленный для исследования образец устанавливается в устройстве так, чтобы высота сборки Н была равна внутреннему радиусу полусферы, что позволяет находиться исследуемой поверхности постоянно в фокальной плоскости микроскопа. 2 ил.operation, study of the processes occurring during the destruction of metals, and their relationship with the structure. The device includes a housing made in the form of a transparent hollow hemisphere, mounted on a microscope stage. Permanent magnets are in contact with the inner and outer surfaces of the housing through friction pads, while the sample holder is placed on the inner magnet casing, and a counterweight is placed on the casing magnet body. The sample prepared for the study is installed in the device so that the height of the assembly H is equal to the inner radius of the hemisphere, which allows the surface under investigation to be constantly in the focal plane of the microscope. 2 Il.

Приставка содержит основание 1, на котором закреплен корпус 2, выполненный в виде полусферы. На внутренней и наружной поверхностях полусферы установлены постоянные магниты 3, заключенные в корпусах 4. Торцовые поверхности корпусов 4, обращенные к полусфере и выполненные по ее профилю, снабжены фрикционными прокладками 5. На корпусе внутреннего магнита имеется патрубок 6 для штока 7 держателя образца, выполненного в'виде струбцины 8. На корпусе наружного магнита расположен стержень 9 с противовесом 10, Фиксация положения образца, струбцины и противовеса ' производится винтами 11.The prefix includes a base 1, on which is fixed the case 2, made in the form of a hemisphere. Permanent magnets 3 enclosed in housings 4 are installed on the inner and outer surfaces of the hemisphere. The end surfaces of the housings 4, facing the hemisphere and made along its profile, are equipped with friction gaskets 5. The inner magnet body has a nipple 6 for the rod 7 of the sample holder “as a clamp 8. On the case of the outer magnet there is a rod 9 with a counterweight 10, Fixing the position of the sample, clamp and counterweight 'is made with screws 11.

5Ц 14851855TS 1485185

33

14851851485185

4four

Приставка работает следующим образом.The prefix works as follows.

Подготовленный к исследованию образец 12 закрепляется винтами 11 в струбцине 8. Шток 7 струбцины вставляется в патрубок 6 корпуса 4 и закрепляется винтом 11 в таком положении, чтобы высота сборки Н от прокладок 5 до поверхности излома образца 12 была равна внутреннему радиусу полусферы. Сборка с образцом 12 устанавливается прокладками 5 на внутренней поверхности полусферы, а на наружную поверхность полусферы так&е через прокладки устанавливается противовес 10. За счет действия магнитных сил наружная и внутренняя сборки самоустанавливаются соосно и работают как единое целое.Sample 12 prepared for testing is fastened with screws 11 in clamp 8. Clamp stem 7 is inserted into pipe 6 of housing 4 and secured with screw 11 in such a position that the assembly height H from the gaskets 5 to the fracture surface of sample 12 is equal to the inner radius of the hemisphere. The assembly with the sample 12 is installed by gaskets 5 on the inner surface of the hemisphere, and on the outer surface of the hemisphere a counterweight 10 is also installed through the gaskets. Due to the action of magnetic forces, the outer and inner assemblies self-align themselves and work as one unit.

Собранную приставку закрепляют на предметном столике 13 микроскопа. Затем, перемещая противовес 10 по стержню 9, добиваются устойчивого положения образца 12 при любом угле наклона.The assembled prefix is fixed on the stage 13 of the microscope. Then, moving the counterweight 10 along the rod 9, achieve a stable position of the sample 12 at any angle of inclination.

Установка исследуемой элементарной плоскости излома (фасетки) нор-т мально к оптической оси объектива 14 производится перемещением наружной части сборки по полусфере. Дальнейшая работа производится в соответствии с инструкцией по эксплуатации микроскопа.The installation of the elementary fracture plane studied (facet) normal to the optical axis of the lens 14 is made by moving the outer part of the assembly along a hemisphere. Further work is performed in accordance with the instruction manual of the microscope.

Использование приставки к микроскопу позволяет упростить конструкцию и облегчить установку элементарной площадки излома нормально к опти ческой оси микроскопа, т.е. позволяет сократить время проведения исследования.The use of the attachment to the microscope allows us to simplify the design and facilitate the installation of the elementary fracture site normally to the optical axis of the microscope, i.e. allows you to reduce the time of the study.

Формула изобретенияClaim

1. Приставка к металлографическому микроскопу для фрактографического исследования изломов металлов, содер жагцая основание, закрепляемое на предметном столе микроскопа, с установленным на нем держателем образца, отличающаяся тем, что, с целью упрощения конструкции и сокращения времени проведения исследований, она дополнительно снабжена корпусом, выполненным в виде полой полусферы, закрепленной диаметральной плоскостью на основании, и двумя постоянными магнитами, размещенными с внутренней и наружной сферических поверхностей корпуса противоположными полюсами относительно друг дру· га, при этом магниты контактируют со сферическими поверхностями корпуса через фрикционные прокладки, закрепленные на торцовых поверхностях корпусов магнитов, держатель образца установлен на корпусе внутреннего магнита и выполнен в виде струбцины, а на корпусе наружного магнита разме· щен противовес.1. An attachment to a metallographic microscope for the fractographic study of metal fractures, containing a base fixed on the microscope stage, with a sample holder mounted on it, characterized in that, in order to simplify the design and reduce the time for conducting research, it is additionally equipped with a housing made in the form of a hollow hemisphere, fixed diametrically on the base, and two permanent magnets placed from the inner and outer spherical surfaces of the body Counterface poles relative to one Drew · ha, the magnets in contact with the spherical surfaces of the housing through a friction lining fixed to the end surfaces of magnets housings, the sample holder mounted on the housing inner magnet and is formed as a clamp, and on the housing of the outer magnet softening · Shchen counterweight.

2. Приставка по п. 1, о т л и352. The prefix of claim 1, clause 25 and 35

"чающаяся тем, что, корпус в виде полой полусферы выполнен из прозрачного материала.Due to the fact that the body in the form of a hollow hemisphere is made of a transparent material.

Фм.1Fm.1

14851851485185

Claims

The prefix to the metallographic microscope for the fractographic study of metal fractures can be used in mechanical engineering

metallurgical industry to determine the causes and nature of the destruction of parts and components in the process