SU1415208A1 - Method and apparatus for testing induction device for shorting stability - Google Patents

Method and apparatus for testing induction device for shorting stability Download PDF

Info

Publication number
SU1415208A1
SU1415208A1 SU864074200A SU4074200A SU1415208A1 SU 1415208 A1 SU1415208 A1 SU 1415208A1 SU 864074200 A SU864074200 A SU 864074200A SU 4074200 A SU4074200 A SU 4074200A SU 1415208 A1 SU1415208 A1 SU 1415208A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
current
inductive
component
short
output
Prior art date
Application number
SU864074200A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Юрий Сергеевич Конов
Геннадий Васильевич Чучукин
Original Assignee
Научно-Исследовательский Центр По Испытанию Высоковольтной Аппаратуры
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-Исследовательский Центр По Испытанию Высоковольтной Аппаратуры filed Critical Научно-Исследовательский Центр По Испытанию Высоковольтной Аппаратуры
Priority to SU864074200A priority Critical patent/SU1415208A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1415208A1 publication Critical patent/SU1415208A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области электроиспытательной техники и может быть использовано дл  испытаний индукционных аппаратов на стойкость при коротком замыкании. Цель изобретени  - повышение достоверности результатов испытаний - достигаетс  за счет уменьшени  времени нарастани  апериодической составл ющей тока короткого замыкани . Друга  цель - рас-- ширение области применени  изобретени  - достигаетс  за счет получени  возможности испытаний индукционных аппаратов с большим индуктивным сопротивлением . Устройство, реализующее способ, содержит испытьгааемый индукционный аппарат 1, коммутирующие аппараты 2,3,5 и 10, блок 4 формировани  периодической составл ющей, блок 6 зар да, блок 7 задани  апериодической составл ющей, датчики 8 и 9 двухступенчатого измерител  тока, индуктивный накопитель 11, переменный резистор 12, клеммы 13 и 14 дл  подключени  объекта испытаний. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. i (ЛThe invention relates to the field of electrical testing equipment and can be used for testing induction apparatuses for short circuit resistance. The purpose of the invention, to increase the reliability of the test results, is achieved by reducing the rise time of the aperiodic component of the short circuit current. Another goal, the expansion of the field of application of the invention, is achieved due to the possibility of testing induction apparatuses with high inductive resistance. A device that implements the method contains a test induction device 1, switching devices 2, 3, 5 and 10, a unit for forming a periodic component, a charge unit 6, a unit 7 for specifying an aperiodic component, sensors 8 and 9 for a two-stage current meter, an inductive drive 11, variable resistor 12, terminals 13 and 14 for connecting the test object. 2 sec. f-ly, 1 ill. i (L

Description

11eleven

00

8eight

Изобретение относитс   к области ( электроиспытательной техники и может быть использовано дл  испытаний индукционных аппаратов на стойкость при ко ротком замыкании.The invention relates to the field of (electrical testing equipment and can be used for testing induction apparatuses for short circuit resistance.

Целью изобретени   вл етс  повьше- ние достоверности результатов испытаний за счет уменьшени  времени нарастани  апериодической составл ющей тока короткого замыкани  и расширение области применени  за счет получени  возможности испытаний индукционных аппаратов с большим индуктивным сопротивлением .The aim of the invention is to increase the reliability of the test results by reducing the rise time of the aperiodic component of the short-circuit current and expanding the field of application by making it possible to test induction apparatuses with high inductive resistance.

На чертеже представлена функциональна  схема устройства дл  испытаний индукционных аппаратов на стойкость при коротком замыкании, реализующа  предлагаемый способ. The drawing shows a functional diagram of a device for testing induction apparatuses for short-circuit resistance, realizing the proposed method.

На схеме обозначены испытываемый инду)ционный аппарат 1, первый 2 и второй 3 коммутирующие аппараты, блок 4 формировани  периодической составл ющей , третий коммутирующий аппарат 5, блок 6 зар да, блок 7 задани  апериодической составл ющей, первый 8 и второй 9 датчики двухступенчатого измерител  токов, четвертый коммутирующий аппарат 10, индуктивный накопи- тель 11, переменный резистор 12, перва  13 и втора  14 клеммы дл  подклю- чени  объекта испытаний, причем первый вьшод резистора 12 соединен с первым вьшодом коммутирующего аппарата 2, второй вывод которого соединен с клеммой 13 и первым вьшодом коммутирующего аппарата 3, второй вывод которого соединен с первым вьшодомThe diagram shows the tested induction device 1, the first 2 and second 3 switching devices, the periodic component forming unit 4, the third switching device 5, the charging unit 6, the aperiodic component setting unit 7, the first 8 and second 9 sensors of the two-stage meter currents, fourth switching device 10, inductive storage device 11, variable resistor 12, first 13 and second 14 terminals for connecting the test object, the first pin of resistor 12 connected to the first switch of the switching device 2, the second od which is connected to terminal 13 and the first vshodom switching apparatus 3, a second terminal coupled to a first vshodom

блока 4, второй вывод которого соеди40block 4, the second output of which

ней с клеммой 14, первый вьшод коммутирующего аппарата 5 соединен с первыми выводами блока 7 и накопител  11 и вторым выводом резистора 12, второй вывод накопител  11 соединен с первы- дг ми выводами блока 6 и коммутирующего аппарата 10, вторые вьшоды которых соединены с первым выводом датчика 8, второй вывод которого соединен с втр- рыми выводами блока 7 и коммутирующего аппарата 5 и первым выводом датчика 9, второй вьшод которого соединен с клеммой 14.It with terminal 14, the first output of the switching device 5 is connected to the first terminals of the block 7 and the storage device 11 and the second terminal of the resistor 12, the second output of the storage device 11 is connected to the first terminals of the block 6 and the switching device 10, the second outputs of which are connected to the first output sensor 8, the second terminal of which is connected to the internal terminals of the unit 7 and the switching device 5 and the first terminal of the sensor 9, the second pin of which is connected to terminal 14.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Блок 6 зар да подключают к индуктивному накопителю 11, контролиру  ток его зар да. Затем блок 6 зар да щунтируют коммутирующим аппаратом 10,The charge unit 6 is connected to the inductive storage device 11, controlling its charge current. Then block 6 charge and bypass the switching device 10,

5050

с with

5five

00

5 g 5 g

5five

00

г g

00

затем последовательно включают с минимально возможной выдержкой времени коммутирующий аппарат 2 и отключают блок 7. То есть в момент достижени  током через индуктивный накопитель I 1 значени , равного заданной амплитуде периодической составл ющей тока короткого замыкани , индукционный накопитель 11 разр жают на испытуемый индукционный аппарат, поддержива  ток разр да измен ющимс  по закону:then, the switching device 2 is switched on in series with the minimum possible time delay and the block 7 is turned off. That is, when the current through the inductive accumulator I 1 reaches a value equal to a predetermined amplitude of the periodic component of the short-circuit current, the induction accumulator 11 discharges discharge current variable according to the law:

i(t) I.(l-cosut),i (t) I. (l-cosut),

где i(t) - мгновенное значение тока; 1„- амплитуда тока; СО - кругова  промышленна  час- оwhere i (t) is the instantaneous current value; 1 „- current amplitude; CO - circular industrial part

тота тока.current current.

При поступлении сигнала с измерител  разности токов (протекающих через индукционный аппарат и испытываемый индукционный аппарат в момент, когда разность этих токов равна нулю) включают коммутирующий аппарат 3.When a signal is received from the current difference meter (flowing through the induction device and the induction device under test at the moment when the difference between these currents is zero), the switching device 3 is turned on.

По окончании опыта короткого замыкани  первый 2 и второй 3 комму- тирующий аппараты отключают и возвращают устройство в исходное состо ние.At the end of the short circuit experience, the first 2 and second 3 switching devices turn off and return the device to its original state.

Claims (2)

1. Способ испытани  индукционных аппаратов на стойкость при коротком замьжании, состо щий в том, что периодическую и апериодическую составл ющие тока короткого замыкани  формируют раздельно, подают на зажимы испытуемого индукционного аппарата апериодическую составл ющую, а затем - периодическую составл ющую тока короткого замыкани  в момент ее перехода через ноль, измер ют мгновенные значени  периодической и апериодической составл ющих тока короткого замыкани  и посто нную времени затухани  его апериодической составл ющей, о т- личающийс  тем, что, с целью повышени  достоверности результатов испытаний за счет уменьшени  времени нарастани  апериодической составл ющей тока короткого замыкани  и расширени  области применени  за счет получени  возможности испытаний индукционных аппаратов с большим иидуктив- ным сопротивлением, дл  формировани  апериодической составл ющей зар жают индуктивный накопитель, контролируют ток его зар да, в момент достижени 1. A method for testing induction apparatuses for short-circuit resistance, in that the periodic and aperiodic components of the short-circuit current are formed separately, the aperiodic component is applied to the terminals of the test induction apparatus, and then the periodic component of the short-circuit current at its passage through zero, the instantaneous values of the periodic and aperiodic components of the short-circuit current and the constant decay time of its aperiodic component are measured; Whereas, in order to increase the reliability of the test results by reducing the rise time of the aperiodic component of the short circuit current and expanding the field of application due to the possibility of testing induction apparatuses with high idhoid resistance, the inductive accumulator is charged to form the aperiodic component control its charge current when it reaches 31Д31D током через индуктивный накогтитель значени , равного заданной амплитуде периодической составл ющей тока корокого замыкани , индуктивный накопитель разр жают на испытываемый индукционный аппарат, поддержива  ток разр да измен ющимс  по закону:through a current through an inductive accumulator, a value equal to a predetermined amplitude of the periodic component of the short-circuit current, the inductive accumulator is discharged to the inductive device under test, maintaining the discharge current changing according to the law: 3(t) - 1,(1 - cosut),3 (t) - 1, (1 - cosut), где i(t) - мгновенное значение тока; where i (t) is the instantaneous current value; 1 -амплитуда тока;1 is the current amplitude; to - кругова  промьгашенна  частота тока,to - circular current frequency, измер ют разность токов, протекающих через индуктивный накопитель и испы- тьшаемый индукционный аппарат, в момент , когда разность этих токов равна нулю, на испытываемый индукционный Аппарат подают периодическую составл ющую и одновременно прекращают принудительное изменение тока разр да индуктивного накопител .the difference of the currents flowing through the inductive accumulator and the induction device being tested is measured, at the moment when the difference of these currents is zero, a periodic component is applied to the inductive device under test and at the same time the forced change of the discharge current of the inductive accumulator is stopped. 2. Устройство дл  испытани  индукционных аппаратов на стойкость при коротком замыкании, содержагдее блок формировани  периодической составл ющей , первый и второй коммутирующие аппараты , два узла дл  подключени  объекта испытаний, переменный резистор, первый вьшод которого соединен с первым вьшодом первого коммутирующего аппарата, второй вывод которого соединен с первой клеммой дл  подключени  объекта испытаний и первым выво82. A device for testing induction apparatuses for short-circuit resistance, contains a unit for forming a periodic component, the first and second switching apparatuses, two nodes for connecting the test object, a variable resistor, the first pin of which is connected to the first pin of the first switch apparatus, the second output of which connected to the first terminal for connecting the test object and the first terminal дом второго коммутирующего аппарата, второй вьшод которого соединен с первым выводом блока формировани  перио-, дической составл ющей, второй вывод которого соединен с второй клеммой дл  подключени  объекта испытаний, отличающеес  тем, что, с целью расширени  области применени the house of the second commutating apparatus, the second one of which is connected to the first terminal of the periodical component; the second terminal of which is connected to the second terminal for connecting the test object, characterized in that, in order to expand the field of application за счет получени  возможности испытаний индукционных аппаратов с большим индуктивным сопротивлением, в него введены третий ц четвертый коммутирующие аппараты, индуктивный накопитель , блок зар да, блок задани  апериодической составл ющей и двухступенчатый измеритель разности токов, причем первый вывод третьего коммутирующего аппарата соединен с первымиdue to the possibility of testing induction apparatuses with high inductive resistance, the third and fourth commutation apparatuses, the inductive storage device, the charging unit, the aperiodic component setting unit and the two-stage current difference meter are introduced, the first output of the third switching device is connected to the first выводами блока задани  апериодической составл ющей и индуктивного накопител  и вторым выводом переменного резистора , второй вывод индуктивного накопител  соединен с первыми вьшодамиthe terminals of setting the aperiodic component and the inductive accumulator and the second output of the variable resistor, the second output of the inductive storage is connected to the first outputs блока зар да и четвертого коммутирующего аппарата, вторые вьшоды которых соединены с первым выводом первого датчика двухступенчатого измерител  разности токов, второй вьгаод которогоof the charge unit and the fourth switching device, the second outputs of which are connected to the first output of the first sensor of a two-stage current difference meter, the second of which соединен с вторыми выводами блока задани  апериодической составл ющей и третьего коммутирующего аппарата и первым выводом второго датчика двухступенчатого измерител  разности токов,connected to the second pins of setting the aperiodic component and the third switching device and the first output of the second sensor of the two-stage current difference meter, второй вьшод которого соединен с второй клеммой дл  подключени  объекта испытаний,The second output of which is connected to the second terminal for connecting the test object,
SU864074200A 1986-04-17 1986-04-17 Method and apparatus for testing induction device for shorting stability SU1415208A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864074200A SU1415208A1 (en) 1986-04-17 1986-04-17 Method and apparatus for testing induction device for shorting stability

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU864074200A SU1415208A1 (en) 1986-04-17 1986-04-17 Method and apparatus for testing induction device for shorting stability

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1415208A1 true SU1415208A1 (en) 1988-08-07

Family

ID=21240211

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU864074200A SU1415208A1 (en) 1986-04-17 1986-04-17 Method and apparatus for testing induction device for shorting stability

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1415208A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Трансформаторы силовые. Методы испытаний на стойкость при коротком замыкании. ПОСТ 20243-74. Вопросы теории и техники релейной защиты. Обзор докладов Международной конференции по релейной защите. М.: Энерги , 1980, с.30-33. .(54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЯ ИНДУКЦИОННЬК АППАРАТОВ НА СТОЙКОСТЬ ПРИ КОРОТКОМ ЗАМЫКАНИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5122968A (en) Apparatus and method for driving and controlling electric consumers, in particular heat plugs
US4150411A (en) Ground fault circuit interrupter utilizing a single transformer
JPH03246892A (en) Circuit device for discharge lamp lighting
CN102047521B (en) Protection system for voltage transformers
SU1415208A1 (en) Method and apparatus for testing induction device for shorting stability
US4307429A (en) Method and apparatus for monitoring conductor currents for a fault current
GB2130735A (en) Battery testing apparatus
JP2982236B2 (en) Test circuit for semiconductor integrated circuits
SU1056084A1 (en) Device for checking and measuring relay contact resistance
RU2025740C1 (en) Method of locating damage of power transmission lines and apparatus for performing the same
SU1367070A1 (en) Device for checking residual capacitance of small-size galvanic cell
US3436661A (en) Test set for measuring the rate effect and the forward blocking recovery time of thyristors
SU1448303A1 (en) Device for measuring insulation resistance of d.c. electric circuits
SU1511718A1 (en) Device for monitoring current protection apparatus
SU1707547A1 (en) Device for measuring transient-residual voltage drop
SU1043573A1 (en) Device for measuring maximum permissible voltage in semiconductor device
SU1352423A1 (en) Device for synthetic tests of switches for disconnection of unremedied short circuit
SU1368815A1 (en) Device for measuring capacitance of capacitors with leakage resistance
JP3599926B2 (en) Capacitor charging device
SU1228017A2 (en) Arrangement for testing high-voltage switch
JPH0145823B2 (en)
SU1029103A1 (en) Device for determination of electromagnetic mechanism winding constant time
SU1377834A1 (en) Temperature control device
SU1272280A1 (en) Device for determining parameters of capacitors
SU1262431A1 (en) Device for measuring shift current