SU1415208A1 - Method and apparatus for testing induction device for shorting stability - Google Patents
Method and apparatus for testing induction device for shorting stability Download PDFInfo
- Publication number
- SU1415208A1 SU1415208A1 SU864074200A SU4074200A SU1415208A1 SU 1415208 A1 SU1415208 A1 SU 1415208A1 SU 864074200 A SU864074200 A SU 864074200A SU 4074200 A SU4074200 A SU 4074200A SU 1415208 A1 SU1415208 A1 SU 1415208A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- current
- inductive
- component
- short
- output
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области электроиспытательной техники и может быть использовано дл испытаний индукционных аппаратов на стойкость при коротком замыкании. Цель изобретени - повышение достоверности результатов испытаний - достигаетс за счет уменьшени времени нарастани апериодической составл ющей тока короткого замыкани . Друга цель - рас-- ширение области применени изобретени - достигаетс за счет получени возможности испытаний индукционных аппаратов с большим индуктивным сопротивлением . Устройство, реализующее способ, содержит испытьгааемый индукционный аппарат 1, коммутирующие аппараты 2,3,5 и 10, блок 4 формировани периодической составл ющей, блок 6 зар да, блок 7 задани апериодической составл ющей, датчики 8 и 9 двухступенчатого измерител тока, индуктивный накопитель 11, переменный резистор 12, клеммы 13 и 14 дл подключени объекта испытаний. 2 с.п. ф-лы, 1 ил. i (ЛThe invention relates to the field of electrical testing equipment and can be used for testing induction apparatuses for short circuit resistance. The purpose of the invention, to increase the reliability of the test results, is achieved by reducing the rise time of the aperiodic component of the short circuit current. Another goal, the expansion of the field of application of the invention, is achieved due to the possibility of testing induction apparatuses with high inductive resistance. A device that implements the method contains a test induction device 1, switching devices 2, 3, 5 and 10, a unit for forming a periodic component, a charge unit 6, a unit 7 for specifying an aperiodic component, sensors 8 and 9 for a two-stage current meter, an inductive drive 11, variable resistor 12, terminals 13 and 14 for connecting the test object. 2 sec. f-ly, 1 ill. i (L
Description
11eleven
00
8eight
Изобретение относитс к области ( электроиспытательной техники и может быть использовано дл испытаний индукционных аппаратов на стойкость при ко ротком замыкании.The invention relates to the field of (electrical testing equipment and can be used for testing induction apparatuses for short circuit resistance.
Целью изобретени вл етс повьше- ние достоверности результатов испытаний за счет уменьшени времени нарастани апериодической составл ющей тока короткого замыкани и расширение области применени за счет получени возможности испытаний индукционных аппаратов с большим индуктивным сопротивлением .The aim of the invention is to increase the reliability of the test results by reducing the rise time of the aperiodic component of the short-circuit current and expanding the field of application by making it possible to test induction apparatuses with high inductive resistance.
На чертеже представлена функциональна схема устройства дл испытаний индукционных аппаратов на стойкость при коротком замыкании, реализующа предлагаемый способ. The drawing shows a functional diagram of a device for testing induction apparatuses for short-circuit resistance, realizing the proposed method.
На схеме обозначены испытываемый инду)ционный аппарат 1, первый 2 и второй 3 коммутирующие аппараты, блок 4 формировани периодической составл ющей , третий коммутирующий аппарат 5, блок 6 зар да, блок 7 задани апериодической составл ющей, первый 8 и второй 9 датчики двухступенчатого измерител токов, четвертый коммутирующий аппарат 10, индуктивный накопи- тель 11, переменный резистор 12, перва 13 и втора 14 клеммы дл подклю- чени объекта испытаний, причем первый вьшод резистора 12 соединен с первым вьшодом коммутирующего аппарата 2, второй вывод которого соединен с клеммой 13 и первым вьшодом коммутирующего аппарата 3, второй вывод которого соединен с первым вьшодомThe diagram shows the tested induction device 1, the first 2 and second 3 switching devices, the periodic component forming unit 4, the third switching device 5, the charging unit 6, the aperiodic component setting unit 7, the first 8 and second 9 sensors of the two-stage meter currents, fourth switching device 10, inductive storage device 11, variable resistor 12, first 13 and second 14 terminals for connecting the test object, the first pin of resistor 12 connected to the first switch of the switching device 2, the second od which is connected to terminal 13 and the first vshodom switching apparatus 3, a second terminal coupled to a first vshodom
блока 4, второй вывод которого соеди40block 4, the second output of which
ней с клеммой 14, первый вьшод коммутирующего аппарата 5 соединен с первыми выводами блока 7 и накопител 11 и вторым выводом резистора 12, второй вывод накопител 11 соединен с первы- дг ми выводами блока 6 и коммутирующего аппарата 10, вторые вьшоды которых соединены с первым выводом датчика 8, второй вывод которого соединен с втр- рыми выводами блока 7 и коммутирующего аппарата 5 и первым выводом датчика 9, второй вьшод которого соединен с клеммой 14.It with terminal 14, the first output of the switching device 5 is connected to the first terminals of the block 7 and the storage device 11 and the second terminal of the resistor 12, the second output of the storage device 11 is connected to the first terminals of the block 6 and the switching device 10, the second outputs of which are connected to the first output sensor 8, the second terminal of which is connected to the internal terminals of the unit 7 and the switching device 5 and the first terminal of the sensor 9, the second pin of which is connected to terminal 14.
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
Блок 6 зар да подключают к индуктивному накопителю 11, контролиру ток его зар да. Затем блок 6 зар да щунтируют коммутирующим аппаратом 10,The charge unit 6 is connected to the inductive storage device 11, controlling its charge current. Then block 6 charge and bypass the switching device 10,
5050
с with
5five
00
5 g 5 g
5five
00
г g
00
затем последовательно включают с минимально возможной выдержкой времени коммутирующий аппарат 2 и отключают блок 7. То есть в момент достижени током через индуктивный накопитель I 1 значени , равного заданной амплитуде периодической составл ющей тока короткого замыкани , индукционный накопитель 11 разр жают на испытуемый индукционный аппарат, поддержива ток разр да измен ющимс по закону:then, the switching device 2 is switched on in series with the minimum possible time delay and the block 7 is turned off. That is, when the current through the inductive accumulator I 1 reaches a value equal to a predetermined amplitude of the periodic component of the short-circuit current, the induction accumulator 11 discharges discharge current variable according to the law:
i(t) I.(l-cosut),i (t) I. (l-cosut),
где i(t) - мгновенное значение тока; 1„- амплитуда тока; СО - кругова промышленна час- оwhere i (t) is the instantaneous current value; 1 „- current amplitude; CO - circular industrial part
тота тока.current current.
При поступлении сигнала с измерител разности токов (протекающих через индукционный аппарат и испытываемый индукционный аппарат в момент, когда разность этих токов равна нулю) включают коммутирующий аппарат 3.When a signal is received from the current difference meter (flowing through the induction device and the induction device under test at the moment when the difference between these currents is zero), the switching device 3 is turned on.
По окончании опыта короткого замыкани первый 2 и второй 3 комму- тирующий аппараты отключают и возвращают устройство в исходное состо ние.At the end of the short circuit experience, the first 2 and second 3 switching devices turn off and return the device to its original state.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864074200A SU1415208A1 (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Method and apparatus for testing induction device for shorting stability |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864074200A SU1415208A1 (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Method and apparatus for testing induction device for shorting stability |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1415208A1 true SU1415208A1 (en) | 1988-08-07 |
Family
ID=21240211
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864074200A SU1415208A1 (en) | 1986-04-17 | 1986-04-17 | Method and apparatus for testing induction device for shorting stability |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1415208A1 (en) |
-
1986
- 1986-04-17 SU SU864074200A patent/SU1415208A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Трансформаторы силовые. Методы испытаний на стойкость при коротком замыкании. ПОСТ 20243-74. Вопросы теории и техники релейной защиты. Обзор докладов Международной конференции по релейной защите. М.: Энерги , 1980, с.30-33. .(54) СПОСОБ ИСПЫТАНИЯ ИНДУКЦИОННЬК АППАРАТОВ НА СТОЙКОСТЬ ПРИ КОРОТКОМ ЗАМЫКАНИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5122968A (en) | Apparatus and method for driving and controlling electric consumers, in particular heat plugs | |
US4150411A (en) | Ground fault circuit interrupter utilizing a single transformer | |
JPH03246892A (en) | Circuit device for discharge lamp lighting | |
CN102047521B (en) | Protection system for voltage transformers | |
SU1415208A1 (en) | Method and apparatus for testing induction device for shorting stability | |
US4307429A (en) | Method and apparatus for monitoring conductor currents for a fault current | |
GB2130735A (en) | Battery testing apparatus | |
JP2982236B2 (en) | Test circuit for semiconductor integrated circuits | |
SU1056084A1 (en) | Device for checking and measuring relay contact resistance | |
RU2025740C1 (en) | Method of locating damage of power transmission lines and apparatus for performing the same | |
SU1367070A1 (en) | Device for checking residual capacitance of small-size galvanic cell | |
US3436661A (en) | Test set for measuring the rate effect and the forward blocking recovery time of thyristors | |
SU1448303A1 (en) | Device for measuring insulation resistance of d.c. electric circuits | |
SU1511718A1 (en) | Device for monitoring current protection apparatus | |
SU1707547A1 (en) | Device for measuring transient-residual voltage drop | |
SU1043573A1 (en) | Device for measuring maximum permissible voltage in semiconductor device | |
SU1352423A1 (en) | Device for synthetic tests of switches for disconnection of unremedied short circuit | |
SU1368815A1 (en) | Device for measuring capacitance of capacitors with leakage resistance | |
JP3599926B2 (en) | Capacitor charging device | |
SU1228017A2 (en) | Arrangement for testing high-voltage switch | |
JPH0145823B2 (en) | ||
SU1029103A1 (en) | Device for determination of electromagnetic mechanism winding constant time | |
SU1377834A1 (en) | Temperature control device | |
SU1272280A1 (en) | Device for determining parameters of capacitors | |
SU1262431A1 (en) | Device for measuring shift current |