SU1393034A1 - Polarimeter for plasma diagnosis - Google Patents
Polarimeter for plasma diagnosis Download PDFInfo
- Publication number
- SU1393034A1 SU1393034A1 SU864043719A SU4043719A SU1393034A1 SU 1393034 A1 SU1393034 A1 SU 1393034A1 SU 864043719 A SU864043719 A SU 864043719A SU 4043719 A SU4043719 A SU 4043719A SU 1393034 A1 SU1393034 A1 SU 1393034A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- angle
- rotation
- polarization
- plane
- plasma
- Prior art date
Links
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области оптики, в частности к устройствам дл диагностики плазмы, и мо ет быть использовано дп измерени переменного по времени угла поворота плоскости пол ризации в плазме. Цель изобретени - повыпение тдчиости измерений . Плоскопол ризованный свет от источника зондирующего сигнала 1, проход вдоль магнитного пол в ппаз- ме 9, испытывает поворот плоскости пол ризации на некоторый угол. Далее свет проходит четвертьволновую пластинку 3 и попадает на пол ризационный делитель лучей 4,проволоки которого составл ют с направлением главной оптической осн четвертьволновой пластннки 3 угол 45°. Между пучками света, проиедиими через пол ризатор и отраженными от него, возникает разность фаз,завис ща от угла поворота плоскости пол ризации. Эти пучки подаютс иа соответствующие детекторы СВЧ 5 и 6. На последние поступает также излучение от источника гетеродинного сигнала 2. В результате на выходах СВЧ-детекторов 5 и 6 возникают сигналы промежуточной частоты, раз- ность фаз которых равна удвоенному углу поворота плоскости пол рнзации. 3 ип. § (ЛThe invention relates to the field of optics, in particular to devices for the diagnosis of plasma, and can be used dp measurement of the time variable angle of rotation of the polarization plane in the plasma. The purpose of the invention is poaching the measurement. Planarized light from the source of the probing signal 1, the passage along the magnetic field in groove 9, experiences a rotation of the plane of polarization at a certain angle. Then the light passes the quarter-wave plate 3 and hits the polarization divider 4, the wires of which form the angle of 45 ° with the direction of the main optical base of the quarter-wave plate 3. A difference of phases arises between the beams of light, the transmission through the polarizer and reflected from it, depending on the angle of rotation of the polarization plane. These beams are fed to the corresponding microwave detectors 5 and 6. The latter also receive radiation from the source of the heterodyne signal 2. As a result, the intermediate frequency signals appear at the outputs of the microwave detectors 5 and 6, the phase difference of which is equal to the double angle of rotation of the field plane. 3 pe. § (L
Description
со соwith so
0000
о со 4about co 4
Нчобретенне относитс койласти оп- Т11КИ, в частности к устройст ам дл дилгиостики плпдмы, и мпзгет бить использовано дл измерени переменного о прпмпги угла попорота плоскости пол ризлции п плазме.The acquisition relates to the opl-T11KI field, in particular, to devices for the dylgiostika of pldma, and the beat test is used to measure the variable angle of the polarization plane of the plasma.
Цель изобретени - повьппение точ- мог.ти измерений.The purpose of the invention is to measure points.
На фиг, I показана блок-схема по- л риметра; на фиг. 2 и 3 представлены векторние диаграммы, иллюстрирумптие положение векторон зондирующего и гетеродинного сигналов в точках . на фиг. 1.FIG. I shows a block diagram of a field meter; in fig. Figures 2 and 3 show vector diagrams, illustrating the position of the vector of the probe and heterodyne signals at the points. in fig. one.
Устройство содержит два источника плоскопол ризованного излучени : зондирующего сигнал 1 и гетеродинного сигнала 2, четвертьволновую пластинку 3, пол ризационный делитель лучей 4, ансшизаторы 5 и 6, смесительные детекторы 7 и 8. Выходы детекторов вл ютс выходами всего устройства. Исследуемый плазменный объем 9 поме- 1Чают между источником 1 и четверть- волновой пластинкой 3. Буквами а-ж на схеме обозначены точки, в которых ниже анализируетс положение электрических векторов распростран ющихс сигналов.The device contains two sources of plane-polarized radiation: probing signal 1 and heterodyne signal 2, quarter-wave plate 3, polarization divider of rays 4, detectors 5 and 6, mixing detectors 7 and 8. The outputs of the detectors are the outputs of the entire device. The plasma volume 9 under study is located between the source 1 and the quarter-wave plate 3. The letters a and g in the diagram indicate points at which the position of the electrical vectors of the propagating signals is analyzed below.
Пол риметр работает следующим образом .Floor meter works as follows.
От источника 1 распростран етс плоскопол ризопанна волна частотойuFrom the source 1, the plane-propagated wave propagates
cosu)j,t, Ус,0, cosu) j, t, us, 0,
где X И у - проекции вектора Е наwhere X and y are the projections of the vector E onto
оси Ох и Ох соответственHOJAxis Oh and Oh respectively
а - амплитуда пол ; подстрочные индексы соответствуют точкам схемы фиг. 1, дл которых эа- 1писан вектор электрического пол . После прохождени плазмы плоскость пол ризации зондирующего излучени оказываетс повернутой на угол rf, следовательноa is the amplitude of the floor; subscripts correspond to points in the diagram of FIG. 1 for which the electric field vector is written. After passing through the plasma, the polarization plane of the probe radiation is rotated by an angle rf, therefore
cose(.cosu)ct cose (.cosu) ct
sinoI-cosijOjt sinoI-cosijOjt
После прохождени четвертьволново пластинки 3, главна оптическа ось которой параллельна оси Ох, компонен X приобретает фазовый сдвиг 90 относительно компонента у, волна станс- витс пол ризованной по эллипсуAfter passing through the quarter-wave plate 3, the main optical axis of which is parallel to the axis Ox, component X acquires a phase shift of 90 relative to component y, the wave becomes polarized in an ellipse
Хд- cost/ sinuJf-tHD cost / sinuJf-t
Vg-a Binet cosuvtVg-a Binet cosuvt
Одновременно с прошедшим через плазму ЗОНД11РУЮЩИМ на пол ризационный делитель лучей 4 подают гетеродинный сигнал частоты ыSimultaneously with the sound passing through the plasma, the sounding beam splitter 4 serves the heterodyne frequency signal s
cosij t cosij t
где Ъ - амплитуда пол ;where b is the amplitude of the floor;
Дальнейшее преобразование векторов пол иллюстрируетс диаграммами фиг. 2 и 3. Векторы, соответствующие точкам д (фиг. 2)и е (фиг. 3), изображены сплошными лини ми; векторы, соответствующие точкам виг, изображены штриховыми лини ми. На фиг.2 и 3 система координат tfli по отношению к системе координат хОу повернута на А5 , при этом проволочки пол ризационного делител лучей 4 направлены вдоль оси 0. В точку д приход т отраженный зондирующий и прошедший гетеродинный сигнал (фиг. 2):.Further transformation of the field vectors is illustrated by the diagrams of FIG. 2 and 3. The vectors corresponding to the points d (Fig. 2) and e (Fig. 3) are shown in solid lines; the vectors corresponding to the whig points are shown in dashed lines. In Figures 2 and 3, the coordinate system tfli is rotated to A5 with respect to the coordinate system xOu, while the wires of the polarization divider of rays 4 are directed along axis 0. The reflected probe and transmitted heterodyne signal arrive at point e (Fig. 2) :.
1one
1I1I
-- R- -V2- R- -V2
V2V2
Г2G2
1one
(cOoe(sinu)t-Binofcosu t) + (COOE (sinu) t-Binofcosu t) +
/2 +Ъ ./ 2 + b.
В точку (е) попадает прошедгаий зондируюрций и отраженный гетеродинный сигналы (фиг. З):The point (e) is covered by the probiry soundirutations and the reflected heterodyne signals (Fig. 3):
Н 1- х, У.+ 1- х V2 /2 H 1- x, U. + 1- x V2 / 2
-{а(со5в(-sinkij.t+sino(-cosaict) + /2 - {a (co5v (-sinkij.t + sino (-cosaict) +/2
+b COSLJrt.+ b COSLJrt.
Благодар воздействию анализато-. ров 5 и 6, проволочки которых ориентированы по оси Ох, в точках ж и 3 будет только по одной составл ющей . После преобразований получимThanks to the effects of analyzers. Ditch 5 and 6, the wires of which are oriented along the Ox axis, at points g and 3 will be only one component. After the transformations we get
х. sin(ui t-b:/)-t-b ,x sin (ui t-b: /) - t-b,
х sin(wjt-o/)+b cosoJrt.x sin (wjt-o /) + b cosoJrt.
Сигналы на выходах смесительных детекторов 7 и 8 имеют видThe signals at the outputs of the mixing detectors 7 and 8 are
,cos(nt-K)(), Ug BjCos(nt-of)., cos (nt-K) (), Ug BjCos (nt-of).
где В, и Bj - множители, завис щие от уровней сигналов и характеристик смесителей .where B and Bj are factors depending on signal levels and mixer characteristics.
Таким образом, в предлагаемом пол риметре поворот плоскости пол ризации в плазме и угол d приводит к измеиеиию разиости фаз сигналоп про- межуточной частоты на величину . Последн может Сыть измерена извест- ньми способами фазометрии.Thus, in the proposed polarimeter, the rotation of the polarization plane in the plasma and the angle d leads to a change in the phase difference of the intermediate frequency signal by an amount. The latter can be measured by lime phase metering methods.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864043719A SU1393034A1 (en) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | Polarimeter for plasma diagnosis |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864043719A SU1393034A1 (en) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | Polarimeter for plasma diagnosis |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1393034A1 true SU1393034A1 (en) | 1990-05-07 |
Family
ID=21228882
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864043719A SU1393034A1 (en) | 1986-03-27 | 1986-03-27 | Polarimeter for plasma diagnosis |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1393034A1 (en) |
-
1986
- 1986-03-27 SU SU864043719A patent/SU1393034A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Dodel G., Kunz W. Far-infrared plasma polanmetry for Faraday roma- hon measurements. Infrared Phye, 1978, V. 18, p. 773. Soltwisch H. T.F.R. Equip Experi- taental test of Far-infrared polari- metry for Faraday rodation measurements. Infrared Phys., 1981, v. 21, 5, p. 287-298. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5619325A (en) | Optical system for ellipsometry utilizing a circularly polarized probe beam | |
CN1841030B (en) | Spectroscopic polarimetry | |
JPH02120673A (en) | Method and apparatus for measuring voltage between two objects | |
US20030081196A1 (en) | Method and arrangement for optical stress analysis of solids | |
CN114324247B (en) | Optical measurement method for double-channel detection based on quantum weak measurement and application thereof | |
US3157727A (en) | Polarimeter | |
CN101520323B (en) | Extensive angle measuring method for inclination angle of plane moving mirror in Fourier spectrometer | |
CN109781317A (en) | Optical glass stress detection system and detection method | |
JP3562768B2 (en) | Circularly polarized dichroism, method for measuring optical rotation and absorption spectrum and dichrograph for measurement | |
US4310247A (en) | Method and apparatus for analyzing the state of polarization of radiation | |
SU1393034A1 (en) | Polarimeter for plasma diagnosis | |
CN102636333B (en) | Device and method for measuring phase retardation and fast axis azimuth angle of wave plate in real time | |
GB2087551A (en) | Measurement of path difference in polarized light | |
JPH0518856A (en) | Apparatus for measuring polarization and double refraction | |
JPS5990003A (en) | Measuring device for interference | |
JP2713190B2 (en) | Optical property measuring device | |
CN106383000B (en) | A kind of device of the double Electro-optical Modulation real-time measurement optical material microstresses of based single crystal body | |
CN205458700U (en) | Glucose concentration tester | |
JP2004279380A (en) | Angle of rotation measuring instrument | |
SU1065697A1 (en) | Device for ellipsometric parameter visual indication | |
RU2069839C1 (en) | Device determining lateral displacements | |
SU1296854A1 (en) | Device for measuring parameters of double refraction | |
JPH08278202A (en) | Optical device for polarization analysis and polarization analyzer using the device | |
SU842508A2 (en) | Substance double refraction value measuring method | |
RU2310162C1 (en) | Method and device for determining mutual spatial orientation of objects |