SU1383521A1 - Contact device - Google Patents
Contact device Download PDFInfo
- Publication number
- SU1383521A1 SU1383521A1 SU843729578A SU3729578A SU1383521A1 SU 1383521 A1 SU1383521 A1 SU 1383521A1 SU 843729578 A SU843729578 A SU 843729578A SU 3729578 A SU3729578 A SU 3729578A SU 1383521 A1 SU1383521 A1 SU 1383521A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- contact
- leads
- spring
- movable
- holes
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к области радиотехники и может быть использовано в контрольных и измерительных устройствах дл подключени полупроводниковых приборов с аксиальными гибкими проволочными выводами. Цель изобретени - повышение надежности, упрощение конструкции и расширениеThe invention relates to the field of radio engineering and can be used in control and measurement devices for connecting semiconductor devices with axial flexible wire leads. The purpose of the invention is to increase reliability, simplify the design and expand
Description
ИAND
(Л(L
РоRo
0000
со елcoke
эксплуатационных возможностей. Контактное устройство содержит корпус 1 с направл ющими отверсти ми 2 дл выводов 3 полупроводникового прибора 4 . В корпусе 1 размещены прикрепленна к нему неподвижна изолирующа пластина 5 и подви :на изолирующа пластина 6, соединенна с корпусом 1 через кронштейн 7 и ось 8. Пластина 6 прижата к выступу 9 корпуса 1 пружиной 10. На пластинах 5 и 6 закреплены токопроводы 11 и 12, электрически соединенные с контактными пружинами 13. Отверсти 2, 14, 15 и цилиндрические контактные пружины 13 соосны дл каждого вывода 3, который свободно в них размещен. Один конец каждой контактной пружины 13 прикреплен к одному из токо- подводов 11, а другой - к одному из токоЦодводов 12 через компенсационный пружин щий лепесток 16. Наoperational capabilities. The contact device comprises a housing 1 with guide holes 2 for the leads 3 of the semiconductor device 4. A fixed insulating plate 5 is attached to the housing 1 on it and the plate: on the insulation plate 6, connected to the housing 1 via a bracket 7 and an axis 8. The plate 6 is pressed against the ledge 9 of the housing 1 by a spring 10. On the plates 5 and 6 the conductors 11 and 12, electrically connected to the contact springs 13. The holes 2, 14, 15 and the cylindrical contact springs 13 are coaxial for each terminal 3, which is freely accommodated in them. One end of each contact spring 13 is attached to one of the current leads 11, and the other end to one of the current leads 12 through a compensating spring lobe 16. On
подвижной пластине закреплен толкатель 17, взаимодействующий с защитной крышкой 18, снабженной пружин щей защелкой 19с кнопкой 20 дл освобождени защелки. Дл контрол полупроводникового прибора 4 его размещают в корпусе 1 устройства, при этом выводы прибора 4 свободноA movable plate is fixed to a pusher 17, which cooperates with a protective cover 18 provided with a spring latch 19 with a button 20 for releasing the latch. To control the semiconductor device 4, it is placed in the device case 1, and the outputs of the device 4 are free
проход т через направл ющие отверсти 2- в корпусе 1 и через соосные им отверсти 14 и 15 в пластинах 5 и 6. После закрыти защитной крьпп- ки 18 толкатель 17, взаимодействующий с плоскостью л крьш1ки 18, опускает подвижную пластину 6 вниз о При этом контактные элементы в виде спиральных пружин 13 и компенсационные пружин щие лепестки 16 нат гиваютс ,pass through the guide holes 2- in the housing 1 and through the holes 14 and 15 coaxial with them in the plates 5 and 6. After closing the protective cover 18, the pusher 17, which interacts with the plane of the crack 18, lowers the movable plate 6 downwards. contact elements in the form of coil springs 13 and compensating spring lobes 16 are tensioned,
обеспечива прижим пружин 13 к выводам 3 полупроводникового прибора 4, а уже закрыта крьшка 18 фиксируетс защелкой 19,, 2 з.п. ф-лы, 3 ил. providing clamping of the springs 13 to the terminals 3 of the semiconductor device 4, and the lid 18 is already closed is fixed by the latch 19 ,, 2 Cp f-ly, 3 ill.
1one
Изобретение относитс к радиотехнике и может быть использовано в контрольных и измерительных устройствах дл подключени полупроводниковых приборов с аксиальными гибкими проволочными выводами.The invention relates to radio engineering and can be used in control and measurement devices for connecting semiconductor devices with axial flexible wire leads.
Цель изобретени - повьшгение надежности , упрощение конструкции и расширение эксплуатационных возможностей .The purpose of the invention is to increase reliability, simplify the design and increase operational capabilities.
На фиг . 1 изображено контактное устройство в нерабочем положении со вставленным полупроводниковым прибором; на фиг. 2 - то же, в рабочем положении; на фиг. 3 - вариант выполнени контактного элемента устройства из нескольких соосно расположенных цилиндрических контактных пружин .FIG. 1 shows a contact device in the off position with an inserted semiconductor device; in fig. 2 - the same in the working position; in fig. 3 shows an embodiment of the contact element of the device consisting of several coaxially arranged cylindrical contact springs.
Контактное устройство содержит корпус 1 с направл ющими отверсти ми 2 дл выводов 3 полупроводникового прибора 4. В корпусе 1 размещены прикрепленна к нег-гу неподвижна изолирующа пластина 5 и подвижна изолирующа пластина 6, соединенна с корпусом 1 через кронштейн 7 и ось 8. Пластина 6 прижата к выступуThe contact device includes a housing 1 with guiding holes 2 for the leads 3 of the semiconductor device 4. The housing 1 contains a fixed insulating plate 5 attached to a neg-h and a movable insulating plate 6 connected to the housing 1 through a bracket 7 and an axis 8. Plate 6 pressed to the ledge
00
22
9 корпуса 1 пружиной 10 о На пластинах 5 и 6 закреплены токоподвоДы 11 и 12, электрически соединенные с контактными пружинами 13„ Отвер- сти 2, 14 и 15 и цилиндрические9 bodies 1 by a spring 10 o To the plates 5 and 6 are fixed to the current leads 11 and 12, electrically connected to the contact springs 13 “Holes 2, 14 and 15 and cylindrical
контактные пружины 13 соосны дл каждого вывода 3, который свободно в них размещен. Один конец каждой контактной пружины 13 прикреплен к одному из токопроводов 11, а другой - к одному из токоподводов 12 через компенсационный пружин щий лепесток 16. На подвижной пластине закреплен . толкатель 17, взаимодействующий с защитной крьш1кой 18, снабженной пружин щей защелкой 19 с кнопкой 20 дл освобождени защелки 19,,contact springs 13 are coaxial for each pin 3, which is freely placed in them. One end of each contact spring 13 is attached to one of the conductors 11, and the other end is connected to one of the current leads 12 through a compensation spring petal 16. It is fixed on a movable plate. a pusher 17 interacting with a protective cap 18 equipped with a spring latch 19 with a button 20 for releasing the latch 19 ,,
Устройство работает следующим образом .The device works as follows.
В контактное устройство в исходном состо нии (фиг. 1) вставл ют подключаемый полупроводниковый прибор 4, выводы 3 которого свободно проход т через направл ющие отверсти 2 в корпусе 1, через соосные им отверсти 14 и 15 в пластинах 5 и 6. Корпус полупроводника прибора 4 упираетс о корпус 1 контактногоIn the initial state (Fig. 1), a plug-in semiconductor device 4 is inserted into the contact device, the terminals 3 of which freely pass through the guide holes 2 in the housing 1, through the holes 14 and 15 coaxial with them in the plates 5 and 6. The device semiconductor housing 4 rests on the body 1 pin
5five
00
5five
устройства, причем его выводы 3 наход тс внутри контактных цилиндрических пружин 13 с зазором.device, and its conclusions 3 are inside the contact coil springs 13 with a gap.
Далее закрываетс защитна крышка 18, котора своей плоскостью о. давит на толкатель 17, закрепленный на подвижной пластине 6. Последн опускаетс вниз. Контактные злемен- ты в виде цилиндрических пружин 13 Раст гиваютс и прижимаютс к выводам 3 подключенного полупроводникового прибора 4 по винтовой линии (фиг. 2). При этом компенсационные пружин ющие лепестки 16, нат гива пружины 13, изгибаютс неодинаково, компенсиру производственные разбросы размеров выводов 3 разность пройденного рассто ни из-за непр молинейности движени подвижной изолирующей пластины 6 (фиг. 1 и 2)„ При дальнейшем закрывании крьш1ки 18 она фиксируетс защелкой 19.The protective cover 18 is then closed, which with its plane o. puts pressure on the pusher 17 mounted on the movable plate 6. The latter is lowered down. The contact elements in the form of cylindrical springs 13 Extend and press to the terminals 3 of the connected semiconductor device 4 along a helical line (Fig. 2). In this case, the compensating spring-loaded petals 16, tensioning the spring 13, are bent unequally, to compensate for the production variations in the sizes of the leads 3, the difference in the distance traveled due to the indirect motion of the movable insulating plate 6 (Fig. 1 and 2). locked by latch 19.
Дл изъ ти полупроводникового прибора необходимо нажать кнопку 20, освобожда защелку 19, и открыть при этом крьш1ку 18 о Под действием пружины 10 пластина 6 поднимаетс до упора о выступ 9 корпуса 1, а контактные пружины 13 сжимаютс и освобождают выводы 3 полупроводникового прибора 4.To remove the semiconductor device, it is necessary to press the button 20, releasing the latch 19, and to open the valve 18 o. Under the action of the spring 10, the plate 6 rises up to the stop against the ledge 9 of the housing 1, and the contact springs 13 compress and release the leads 3 of the semiconductor device 4.
Контактное устройство, например, дл подключени полупроводниковых приборов с гибкими выводами к измерительной аппаратуре по предлагаемому изобретению по сравнению с известным благодар размещению выводов провер емых полупроводниковых приборов в отверсти х изолирующих пластин и в контактных цилиндрических пружинах, соединенных с токоподвода- ми подвижной и неподвижной пластин, обеспечивает повьш1ение надежности и упрощение конструкции, а также делает возможным выполнение части измерительной схемы непосредственно в корпусе контактного устройства на изолирующих пластинах, одна из которых используетс дл подачи сигнала на контактные элементы, а друга - дл его сн ти оA contact device, for example, for connecting semiconductor devices with flexible leads to the measuring apparatus of the invention as compared to the known one, by placing the leads of the tested semiconductor devices in the holes of the insulating plates and in the contact cylindrical springs connected to the current leads of the movable and fixed plates, provides increased reliability and simplified design, and also makes it possible to perform part of the measuring circuit directly in the housing to stroke device on insulating plates, one of which is used to supply the signal contact elements and the other - for its deprotection of
00
ss
00
5five
00
5five
00
5five
00
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843729578A SU1383521A1 (en) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | Contact device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU843729578A SU1383521A1 (en) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | Contact device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1383521A1 true SU1383521A1 (en) | 1988-03-23 |
Family
ID=21114723
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU843729578A SU1383521A1 (en) | 1984-04-13 | 1984-04-13 | Contact device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1383521A1 (en) |
-
1984
- 1984-04-13 SU SU843729578A patent/SU1383521A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 386449, кл. Н 05 К 13/00, Н 01 R 13/707, 1971. * |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0075922A2 (en) | Ground test switch for insulated switchgear | |
US3601699A (en) | Lead separator and mounting socket for microminiature devices | |
US2639318A (en) | Circuit tester | |
SU1383521A1 (en) | Contact device | |
DE3064456D1 (en) | Movable connector for high voltage arrester | |
US3651447A (en) | Electric device and coaxial connection | |
US4380038A (en) | Overvoltage protective module | |
DK147780B (en) | MUFF CONTACT | |
KR20050109274A (en) | A coxial contect probe | |
US3061776A (en) | Flashlight electric testers | |
SU1173567A1 (en) | Contact device | |
SU1515230A1 (en) | Contact device | |
US2305749A (en) | Electrical interlock switch | |
US2292730A (en) | Electrical testing device | |
SU890493A1 (en) | Electric connector | |
JP3045825B2 (en) | Pressure detector | |
SU783658A1 (en) | Apparatus for electrochemical measurements | |
SU978246A1 (en) | Probe | |
SU133933A1 (en) | Adapter board with flexible leads for the technological pinout of vacuum devices | |
SU930407A1 (en) | Contact device | |
SU458500A1 (en) | Current Drive for Truck | |
SU807419A1 (en) | Electrically-safe screwless terminal | |
SU116135A1 (en) | Wear Tester for Low Voltage Switching Devices | |
SU1744743A1 (en) | Contact current lead | |
SU1690026A1 (en) | Contact device for control of the parameters of high-current semiconductor devices |