SU1383521A1 - Contact device - Google Patents

Contact device Download PDF

Info

Publication number
SU1383521A1
SU1383521A1 SU843729578A SU3729578A SU1383521A1 SU 1383521 A1 SU1383521 A1 SU 1383521A1 SU 843729578 A SU843729578 A SU 843729578A SU 3729578 A SU3729578 A SU 3729578A SU 1383521 A1 SU1383521 A1 SU 1383521A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
contact
leads
spring
movable
holes
Prior art date
Application number
SU843729578A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Альгирдас Юльевич Бингелис
Альбертас Наполеоно Василяускас
Original Assignee
Предприятие П/Я В-8574
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я В-8574 filed Critical Предприятие П/Я В-8574
Priority to SU843729578A priority Critical patent/SU1383521A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1383521A1 publication Critical patent/SU1383521A1/en

Links

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к области радиотехники и может быть использовано в контрольных и измерительных устройствах дл  подключени  полупроводниковых приборов с аксиальными гибкими проволочными выводами. Цель изобретени  - повышение надежности, упрощение конструкции и расширениеThe invention relates to the field of radio engineering and can be used in control and measurement devices for connecting semiconductor devices with axial flexible wire leads. The purpose of the invention is to increase reliability, simplify the design and expand

Description

ИAND

(L

РоRo

0000

со елcoke

эксплуатационных возможностей. Контактное устройство содержит корпус 1 с направл ющими отверсти ми 2 дл  выводов 3 полупроводникового прибора 4 . В корпусе 1 размещены прикрепленна  к нему неподвижна  изолирующа  пластина 5 и подви :на  изолирующа  пластина 6, соединенна  с корпусом 1 через кронштейн 7 и ось 8. Пластина 6 прижата к выступу 9 корпуса 1 пружиной 10. На пластинах 5 и 6 закреплены токопроводы 11 и 12, электрически соединенные с контактными пружинами 13. Отверсти  2, 14, 15 и цилиндрические контактные пружины 13 соосны дл  каждого вывода 3, который свободно в них размещен. Один конец каждой контактной пружины 13 прикреплен к одному из токо- подводов 11, а другой - к одному из токоЦодводов 12 через компенсационный пружин щий лепесток 16. Наoperational capabilities. The contact device comprises a housing 1 with guide holes 2 for the leads 3 of the semiconductor device 4. A fixed insulating plate 5 is attached to the housing 1 on it and the plate: on the insulation plate 6, connected to the housing 1 via a bracket 7 and an axis 8. The plate 6 is pressed against the ledge 9 of the housing 1 by a spring 10. On the plates 5 and 6 the conductors 11 and 12, electrically connected to the contact springs 13. The holes 2, 14, 15 and the cylindrical contact springs 13 are coaxial for each terminal 3, which is freely accommodated in them. One end of each contact spring 13 is attached to one of the current leads 11, and the other end to one of the current leads 12 through a compensating spring lobe 16. On

подвижной пластине закреплен толкатель 17, взаимодействующий с защитной крышкой 18, снабженной пружин щей защелкой 19с кнопкой 20 дл  освобождени  защелки. Дл  контрол  полупроводникового прибора 4 его размещают в корпусе 1 устройства, при этом выводы прибора 4 свободноA movable plate is fixed to a pusher 17, which cooperates with a protective cover 18 provided with a spring latch 19 with a button 20 for releasing the latch. To control the semiconductor device 4, it is placed in the device case 1, and the outputs of the device 4 are free

проход т через направл ющие отверсти  2- в корпусе 1 и через соосные им отверсти  14 и 15 в пластинах 5 и 6. После закрыти  защитной крьпп- ки 18 толкатель 17, взаимодействующий с плоскостью л крьш1ки 18, опускает подвижную пластину 6 вниз о При этом контактные элементы в виде спиральных пружин 13 и компенсационные пружин щие лепестки 16 нат гиваютс ,pass through the guide holes 2- in the housing 1 and through the holes 14 and 15 coaxial with them in the plates 5 and 6. After closing the protective cover 18, the pusher 17, which interacts with the plane of the crack 18, lowers the movable plate 6 downwards. contact elements in the form of coil springs 13 and compensating spring lobes 16 are tensioned,

обеспечива  прижим пружин 13 к выводам 3 полупроводникового прибора 4, а уже закрыта  крьшка 18 фиксируетс  защелкой 19,, 2 з.п. ф-лы, 3 ил. providing clamping of the springs 13 to the terminals 3 of the semiconductor device 4, and the lid 18 is already closed is fixed by the latch 19 ,, 2 Cp f-ly, 3 ill.

1one

Изобретение относитс  к радиотехнике и может быть использовано в контрольных и измерительных устройствах дл  подключени  полупроводниковых приборов с аксиальными гибкими проволочными выводами.The invention relates to radio engineering and can be used in control and measurement devices for connecting semiconductor devices with axial flexible wire leads.

Цель изобретени  - повьшгение надежности , упрощение конструкции и расширение эксплуатационных возможностей .The purpose of the invention is to increase reliability, simplify the design and increase operational capabilities.

На фиг . 1 изображено контактное устройство в нерабочем положении со вставленным полупроводниковым прибором; на фиг. 2 - то же, в рабочем положении; на фиг. 3 - вариант выполнени  контактного элемента устройства из нескольких соосно расположенных цилиндрических контактных пружин .FIG. 1 shows a contact device in the off position with an inserted semiconductor device; in fig. 2 - the same in the working position; in fig. 3 shows an embodiment of the contact element of the device consisting of several coaxially arranged cylindrical contact springs.

Контактное устройство содержит корпус 1 с направл ющими отверсти ми 2 дл  выводов 3 полупроводникового прибора 4. В корпусе 1 размещены прикрепленна  к нег-гу неподвижна  изолирующа  пластина 5 и подвижна  изолирующа  пластина 6, соединенна  с корпусом 1 через кронштейн 7 и ось 8. Пластина 6 прижата к выступуThe contact device includes a housing 1 with guiding holes 2 for the leads 3 of the semiconductor device 4. The housing 1 contains a fixed insulating plate 5 attached to a neg-h and a movable insulating plate 6 connected to the housing 1 through a bracket 7 and an axis 8. Plate 6 pressed to the ledge

00

22

9 корпуса 1 пружиной 10 о На пластинах 5 и 6 закреплены токоподвоДы 11 и 12, электрически соединенные с контактными пружинами 13„ Отвер- сти  2, 14 и 15 и цилиндрические9 bodies 1 by a spring 10 o To the plates 5 and 6 are fixed to the current leads 11 and 12, electrically connected to the contact springs 13 “Holes 2, 14 and 15 and cylindrical

контактные пружины 13 соосны дл  каждого вывода 3, который свободно в них размещен. Один конец каждой контактной пружины 13 прикреплен к одному из токопроводов 11, а другой - к одному из токоподводов 12 через компенсационный пружин щий лепесток 16. На подвижной пластине закреплен . толкатель 17, взаимодействующий с защитной крьш1кой 18, снабженной пружин щей защелкой 19 с кнопкой 20 дл  освобождени  защелки 19,,contact springs 13 are coaxial for each pin 3, which is freely placed in them. One end of each contact spring 13 is attached to one of the conductors 11, and the other end is connected to one of the current leads 12 through a compensation spring petal 16. It is fixed on a movable plate. a pusher 17 interacting with a protective cap 18 equipped with a spring latch 19 with a button 20 for releasing the latch 19 ,,

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

В контактное устройство в исходном состо нии (фиг. 1) вставл ют подключаемый полупроводниковый прибор 4, выводы 3 которого свободно проход т через направл ющие отверсти  2 в корпусе 1, через соосные им отверсти  14 и 15 в пластинах 5 и 6. Корпус полупроводника прибора 4 упираетс  о корпус 1 контактногоIn the initial state (Fig. 1), a plug-in semiconductor device 4 is inserted into the contact device, the terminals 3 of which freely pass through the guide holes 2 in the housing 1, through the holes 14 and 15 coaxial with them in the plates 5 and 6. The device semiconductor housing 4 rests on the body 1 pin

5five

00

5five

устройства, причем его выводы 3 наход тс  внутри контактных цилиндрических пружин 13 с зазором.device, and its conclusions 3 are inside the contact coil springs 13 with a gap.

Далее закрываетс  защитна  крышка 18, котора  своей плоскостью о. давит на толкатель 17, закрепленный на подвижной пластине 6. Последн   опускаетс  вниз. Контактные злемен- ты в виде цилиндрических пружин 13 Раст гиваютс  и прижимаютс  к выводам 3 подключенного полупроводникового прибора 4 по винтовой линии (фиг. 2). При этом компенсационные пружин ющие лепестки 16, нат гива  пружины 13, изгибаютс  неодинаково, компенсиру  производственные разбросы размеров выводов 3 разность пройденного рассто ни  из-за непр молинейности движени  подвижной изолирующей пластины 6 (фиг. 1 и 2)„ При дальнейшем закрывании крьш1ки 18 она фиксируетс  защелкой 19.The protective cover 18 is then closed, which with its plane o. puts pressure on the pusher 17 mounted on the movable plate 6. The latter is lowered down. The contact elements in the form of cylindrical springs 13 Extend and press to the terminals 3 of the connected semiconductor device 4 along a helical line (Fig. 2). In this case, the compensating spring-loaded petals 16, tensioning the spring 13, are bent unequally, to compensate for the production variations in the sizes of the leads 3, the difference in the distance traveled due to the indirect motion of the movable insulating plate 6 (Fig. 1 and 2). locked by latch 19.

Дл  изъ ти  полупроводникового прибора необходимо нажать кнопку 20, освобожда  защелку 19, и открыть при этом крьш1ку 18 о Под действием пружины 10 пластина 6 поднимаетс  до упора о выступ 9 корпуса 1, а контактные пружины 13 сжимаютс  и освобождают выводы 3 полупроводникового прибора 4.To remove the semiconductor device, it is necessary to press the button 20, releasing the latch 19, and to open the valve 18 o. Under the action of the spring 10, the plate 6 rises up to the stop against the ledge 9 of the housing 1, and the contact springs 13 compress and release the leads 3 of the semiconductor device 4.

Контактное устройство, например, дл  подключени  полупроводниковых приборов с гибкими выводами к измерительной аппаратуре по предлагаемому изобретению по сравнению с известным благодар  размещению выводов провер емых полупроводниковых приборов в отверсти х изолирующих пластин и в контактных цилиндрических пружинах, соединенных с токоподвода- ми подвижной и неподвижной пластин, обеспечивает повьш1ение надежности и упрощение конструкции, а также делает возможным выполнение части измерительной схемы непосредственно в корпусе контактного устройства на изолирующих пластинах, одна из которых используетс  дл  подачи сигнала на контактные элементы, а друга  - дл  его сн ти  оA contact device, for example, for connecting semiconductor devices with flexible leads to the measuring apparatus of the invention as compared to the known one, by placing the leads of the tested semiconductor devices in the holes of the insulating plates and in the contact cylindrical springs connected to the current leads of the movable and fixed plates, provides increased reliability and simplified design, and also makes it possible to perform part of the measuring circuit directly in the housing to stroke device on insulating plates, one of which is used to supply the signal contact elements and the other - for its deprotection of

00

ss

00

5five

00

5five

00

5five

00

Claims (3)

1. Контактное устройство, преимущественно дли подключени  полупроводниковых приборов с гибкими выводами к измерительной аппаратуре, содержащее изолирующий корпус с подвижной и неподвижной изолирующими пластинами и с направл ющими отверсти ми дл  выводов полупроводниковых приборов, защитную крышку, подвижно соединенную с корпусом и взаимодействующую с подпружиненной подвижной изолирующей пластиной, выполненные в виде пружин контактные элементы, прикрепленные к подвижной и неподвижной изолирующим пластинам и электрически св занные с закрепленными на изолирующих пластинах токо- подводами, соедин ющими контактные элементы с измерительной аппаратурой, отличающеес  тем, что, с целью повышени  надежности, упрощени  конструкции и расширени  экс- плуатационн|з1х возможностей, изолирующие пластины выполнены с отверсти ми дл  размещени  выводов полупроводниковых приборов и расположены так, что их отверсти  соосны направл ющим отверсти м корпуса, контактные пружины выполнены цилиндрическими и размещены соосно отверсти м пластин, причем один конец каждой контактной пружины соединен с токо- подводом подвижной пластины, а другой - с токоподводом неподвижной пластины.1. A contact device, preferably for connecting semiconductor devices with flexible leads to measuring equipment, comprising an insulating body with movable and fixed insulating plates and with guide holes for the leads of semiconductor devices, a protective cover movably connected to the body and cooperating with a spring-loaded movable insulating plate made in the form of springs contact elements attached to the movable and fixed insulating plates and electrically connected with Connected with insulators mounted on current-carrying leads connecting contact elements with measuring equipment, characterized in that, in order to increase reliability, simplify the design and expand the operating capabilities, the insulating plates are made with holes to accommodate the leads of semiconductor devices and are arranged so that their openings are coaxial with the guiding holes of the housing, the contact springs are cylindrical and arranged coaxially with the holes of the plates, with one end of each pin Ktnoy spring is connected to the current supply of the movable plate, and the other - with the electrical power supply of the fixed plate. 2.Устройство по п. 1, отличающеес  тем, что концы контактных пружин, св занные с токо- подводами подвижной пластины, соединены с ними через компенсационные пружин щие лепестки.2. A device according to claim 1, characterized in that the ends of the contact springs associated with the current leads of the movable plate are connected to them through compensatory spring-loaded petals. 3.Устройство по п. 1, о т л и-7 чающеес  тем, что каждый контактный элемент снабжен по крайней мере одной дополнительной цилиндрической контактной пружиной, расположенной соосно первой и закрепленной аналогично ей, причем эти пруткины азимутально развернуты одна относи-, тельно другой на одинаковый угол.3. The device according to claim 1, about tl and -7 is such that each contact element is provided with at least one additional cylindrical contact spring located coaxially with the first and fixed similarly to it, each of which is azimuthally rotated one relatively differently at the same angle. / / 12 11 10/ / 12 11 10 1g 17 15 П1g 17 15 P S S 1212
SU843729578A 1984-04-13 1984-04-13 Contact device SU1383521A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843729578A SU1383521A1 (en) 1984-04-13 1984-04-13 Contact device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU843729578A SU1383521A1 (en) 1984-04-13 1984-04-13 Contact device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1383521A1 true SU1383521A1 (en) 1988-03-23

Family

ID=21114723

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU843729578A SU1383521A1 (en) 1984-04-13 1984-04-13 Contact device

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1383521A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 386449, кл. Н 05 К 13/00, Н 01 R 13/707, 1971. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0075922A2 (en) Ground test switch for insulated switchgear
US3601699A (en) Lead separator and mounting socket for microminiature devices
US2639318A (en) Circuit tester
SU1383521A1 (en) Contact device
DE3064456D1 (en) Movable connector for high voltage arrester
US3651447A (en) Electric device and coaxial connection
US4380038A (en) Overvoltage protective module
DK147780B (en) MUFF CONTACT
KR20050109274A (en) A coxial contect probe
US3061776A (en) Flashlight electric testers
SU1173567A1 (en) Contact device
SU1515230A1 (en) Contact device
US2305749A (en) Electrical interlock switch
US2292730A (en) Electrical testing device
SU890493A1 (en) Electric connector
JP3045825B2 (en) Pressure detector
SU783658A1 (en) Apparatus for electrochemical measurements
SU978246A1 (en) Probe
SU133933A1 (en) Adapter board with flexible leads for the technological pinout of vacuum devices
SU930407A1 (en) Contact device
SU458500A1 (en) Current Drive for Truck
SU807419A1 (en) Electrically-safe screwless terminal
SU116135A1 (en) Wear Tester for Low Voltage Switching Devices
SU1744743A1 (en) Contact current lead
SU1690026A1 (en) Contact device for control of the parameters of high-current semiconductor devices