SU1376035A1 - Simulator for adjusting eddy-current devices - Google Patents
Simulator for adjusting eddy-current devices Download PDFInfo
- Publication number
- SU1376035A1 SU1376035A1 SU864037777A SU4037777A SU1376035A1 SU 1376035 A1 SU1376035 A1 SU 1376035A1 SU 864037777 A SU864037777 A SU 864037777A SU 4037777 A SU4037777 A SU 4037777A SU 1376035 A1 SU1376035 A1 SU 1376035A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- simulator
- wedge
- scale
- conductive element
- scales
- Prior art date
Links
Landscapes
- Management, Administration, Business Operations System, And Electronic Commerce (AREA)
Abstract
Изобретение относитс к средствам метрологичес;;ого обеспечени вихретоковых приборов и может быть , использовано дл их настройки перед проведением контрольных операций. Цель изобретени - расширение функциональных возможностей имитатора. Имитатор имеет клиновидные электропровод щий элемент 1 и неэлектропро- вод пщй элемент 2, выполненные с возможностью взаимного перемещени и каждый со своей шкалой. Передвижением неэлектропровод щего элемента 1 относительно электропровод щего элемента 2 добиваютс совпадений показаний их шкал, соответствующих заданному значению имитируемого параметра и определенных по таблицам соответстви . Затем перемещают каретку так, чтобы лини визира совпала с показани ми шкал. После этого устанавливают вихретоковый преобразователь 7 в держатель и настраивают прибор . 3 ил. § (ЛThe invention relates to means of metrological assurance of eddy-current devices and can be used to set them up before carrying out control operations. The purpose of the invention is to expand the functionality of the simulator. The simulator has a wedge-shaped electrically conductive element 1 and a non-conductive cable element 2, made with the possibility of mutual displacement and each with its own scale. By moving the non-conductive element 1 relative to the conductive element 2, the readings of their scales corresponding to the specified value of the simulated parameter and determined by correspondence tables are achieved. Then move the carriage so that the line of the reticle coincides with the readings of the scales. After that, install the eddy current transducer 7 into the holder and set up the device. 3 il. § (L
Description
00 v00 v
Од О 00 СПO D O 00 JV
Фиг.11
Изобретение относитс к средствам- етрологического обеспечени вихре- оковых приборов и может быть испольовано дл их настройки перед прове- г ением контрольных опера}хий.The invention relates to means of providing vortex instruments and can be used to set them up before performing checklists.
Цель изобретени - расширение ункциональных возможностей за счет митации различных параметров ИЙ, например электропроводимости, ю толпщны, вли ние кра издели и т.п. На фиг.1 показан имитатор, сече- кие; на фиг.2 - то же, вид сверхуi на фиг.3 - голографы, по сн ющие принцип использовани имитатора. 15The purpose of the invention is to expand the functional possibilities due to the mitigation of various AI parameters, for example, electrical conductivity, mass effect, the effect of product edge, etc. Figure 1 shows a simulator, sectional; Figure 2 is the same, top view and Figure 3 are holographs that explain the principle of using a simulator. 15
Имитатор дл настройки вихретоко- вых приборов содержит сопр женные электропровод щий 1 и неэлектропровод щий 2 клиновидные элементы, выполненные с одинаковьми углами скоса и 20 установленные с возможностью возвратно-поступательного перемещени по сопр женным поверхност м 3 так, .что их углы скоса направлены встречно. Клиновидные элементы 1 и 2 выполнены со Ь шкалами 4.и 5, параллельными между собой и проградуированными в значени х соответствующего клиновидного элемента 1 и 2.:A simulator for adjusting eddy devices contains conjugated electrically conductive 1 and non-electrically conductive 2 wedge-shaped elements made with identical bevel angles and 20 installed with the possibility of reciprocating movement along the conjugate surfaces 3 so that their bevel angles are directed oppositely. The wedge-shaped elements 1 and 2 are made with b scales 4. and 5, parallel to each other and graduated within the values of the corresponding wedge-shaped element 1 and 2:
Кроме того, имитатор содержит ка- 30 ретку 6 с визирной линией, установленную с возможностью перемещени вдоль шкал.4 и 5, и держатель дл вихрето- кового преобразовател (ВТП)7. Дл удобства эксплуатации каретка 6 снаб-з5 жена прутетной 8 дл фиксации электропровод щего 1 и неэлектропровод щего 2 элементов в определенном положении.In addition, the simulator contains a carriage 6 with a line of sight mounted for movement along the scales 4 and 5, and a holder for the eddy current transducer (VTP) 7. For ease of use, the carriage 6 provides an 8-pin powering 8 for fixing the electrically conductive 1 and non-electrically conducting 2 elements in a certain position.
Имитатор используетс следующим образом,40The simulator is used as follows, 40
Принцип действи имитатора основан на совместном вли нии на ВТП 7 электропровод щего 1 и незлектропровод - щего 2 элементов. Так лини вли ни толпщны Т электропровод щего элемен- дЗ та 1 на выходной сигнал ВТП 7 (фиг.З) представл ет собой кривую EFO. При различных значени х Т составл ющие выходного сигнала ВТП 7 соответствуют точкам Т,, Tj, Tj и т.д. Лини 0 вли ни толщины « неэлектропровод щего элемента 2 (зазор между ВТП 7 и электропровод щим элементом 1) представл ет собой Кривые ОТ, ОТ, ОТ 1-: т.д. Совместное воздействие элемен- тов 1 и 2 позвол ет получить любую , точку на комплексной плоскости в области OEF. Например, дл линии вли - . аи удельной электрической проводимости о можно построить таблицу соответстви , в которой каждому значению & соответствуют определенные значени о и Т: Дл расщирени диапазона имитируемых параметров целесообразно изготавливать электропровод щий элемент 1 из хорошо провод щих материалов, например меди.The principle of operation of the simulator is based on the joint effect of the electrically conducting 1 and the nonconducting 2 elements on the VTP 7. Thus, the influence of the mass T of the electrically conducting element 3 and 1 on the output signal of the VTP 7 (Fig. 3) is the EFO curve. For different values of T, the components of the output signal of the VTP 7 correspond to the points T ,, Tj, Tj, etc. The thickness 0 line of the thickness of the non-conductive element 2 (the gap between the VTP 7 and the electrically conductive element 1) is the OT, OT, OT 1- curves: The combined effect of elements 1 and 2 makes it possible to obtain any point on the complex plane in the OEF area. For example, for the line infl -. As well as the electrical conductivity, it is possible to construct a correspondence table, in which each value of & certain values of o and T correspond: In order to expand the range of the simulated parameters, it is advisable to manufacture the electrically conductive element 1 of well-conducting materials, such as copper.
Передвижением неэлектропровод щего элемента 2 относительно электропровод щего элемента 1 добиваютс совпадений показаний шкал 4 и 5, соответствующих заданному значению тируемого параметра, определенных из таблицы соответстви . Затем перемещением каретки 6 устанавливают ее так, что лини визира совпадает с показани ми шкал 4 и 5. После этого устанавливают БТП 7 в держатель и производ т настройку прибора. Дл , другого значени имитируемого параметра составл ют другую таблицу соответстви , операции повтор ют.By moving the non-conductive element 2 relative to the conductive element 1, the readings of the scales 4 and 5 corresponding to the specified value of the parameter being tested, determined from the correspondence table, are achieved. Then, by moving the carriage 6, it is positioned in such a way that the line of the viewfinder coincides with the indications of scales 4 and 5. After that, the BTP 7 is installed in the holder and the instrument is tuned. For a different value of the simulated parameter, another correspondence table is compiled, the operations are repeated.
Таблицы соответстви стро т экспериментально на эталонных аттестованных образцах контролируемого параметра .The tables are constructed experimentally on reference certified samples of the monitored parameter.
Имитатор может быть использован дл имитации различных контролируе-i мых параметров. Наиболее целесообразно примен ть имитатор при настройке универсальных вихретоковых приборов, предназначенньк дл измерени нескольких параметров, так как он позвол ет настраивать прибор в различных режимах измерени .The simulator can be used to simulate various controllable parameters. It is most advisable to use a simulator when setting up universal eddy current devices, designed to measure several parameters, since it allows you to configure the device in different measurement modes.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864037777A SU1376035A1 (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Simulator for adjusting eddy-current devices |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU864037777A SU1376035A1 (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Simulator for adjusting eddy-current devices |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU1376035A1 true SU1376035A1 (en) | 1988-02-23 |
Family
ID=21226671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU864037777A SU1376035A1 (en) | 1986-03-18 | 1986-03-18 | Simulator for adjusting eddy-current devices |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU1376035A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5394084A (en) * | 1991-12-23 | 1995-02-28 | The Boeing Company | Method and apparatus for reducing errors in eddy-current conductivity measurements due to lift-off by interpolating between a plurality of reference conductivity measurements |
-
1986
- 1986-03-18 SU SU864037777A patent/SU1376035A1/en active
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
Авторское свидетельство СССР № 526817, кл. G 01 N 27/90, 1974. ч * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5394084A (en) * | 1991-12-23 | 1995-02-28 | The Boeing Company | Method and apparatus for reducing errors in eddy-current conductivity measurements due to lift-off by interpolating between a plurality of reference conductivity measurements |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATE373830T1 (en) | MULTI-TIP SENSOR | |
DK153587B (en) | GAS FRACTION MEASUREMENT IN A TWO COMPONENT FLOW AND GAS FLOW | |
GB1246893A (en) | A phase adjust circuit for use in non-contact eddy current instruments | |
FR2647551B1 (en) | ELECTRO-OPTICAL PROBE FOR MEASURING ELECTRICAL SIGNALS OR FIELDS AND ITS APPLICATION | |
US5804976A (en) | Device for determining the ratio of substances | |
SU1376035A1 (en) | Simulator for adjusting eddy-current devices | |
US2935681A (en) | Contour measuring method and probe | |
CN204008099U (en) | Damping clad plate damping capacity proving installation | |
DE3578594D1 (en) | DEVICE FOR TESTING ELECTRICALLY CONDUCTING OBJECTS BY MEANS OF ULTRASOUND. | |
KR910012748A (en) | AC tester of IC tester | |
FR2639119B1 (en) | APPARATUS FOR MEASURING DIFFERENT ELECTRICAL QUANTITIES OR IMPROVED MULTIMETER | |
DE68928842T2 (en) | HIGH RESOLUTION NMR PROBE WITH REORIENTATION OF PATTERNS | |
ATE128386T1 (en) | PROBES FOR MEASURING HIGH-INTENSITY ACoustic Fields. | |
US4571539A (en) | High voltage field mapping apparatus and method | |
US3714561A (en) | A transducer for measuring the displacement of an electrically conductive objective | |
Swengel et al. | Demonstration of the principles of the ultrasonic flowmeter | |
SU859800A1 (en) | High freguency sensor of object position and change of position | |
SU1002821A1 (en) | Device for touch-free distance measuring | |
REDMOND-WHITE | The measurement of structural wave intensity(Ph. D. Thesis) | |
SU1451555A1 (en) | Electret vibrator power supply | |
DE59104753D1 (en) | Measuring device for checking the mass of a workpiece. | |
RU1809295C (en) | Device for vibration displacement metering | |
RU2027150C1 (en) | Dielectric matter level transducer | |
SU1615628A1 (en) | Apparatus for determining electric resistance of object having liquid component | |
SU930162A1 (en) | Device for measuring electric field strength |