SU1365179A1 - Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе - Google Patents

Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе Download PDF

Info

Publication number
SU1365179A1
SU1365179A1 SU853930700A SU3930700A SU1365179A1 SU 1365179 A1 SU1365179 A1 SU 1365179A1 SU 853930700 A SU853930700 A SU 853930700A SU 3930700 A SU3930700 A SU 3930700A SU 1365179 A1 SU1365179 A1 SU 1365179A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrodes
deflection
potentials
charged particles
electrostatic
Prior art date
Application number
SU853930700A
Other languages
English (en)
Inventor
Лидия Петровна Овсянникова
Татьяна Яковлевна Фишкова
Original Assignee
Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе filed Critical Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе
Priority to SU853930700A priority Critical patent/SU1365179A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1365179A1 publication Critical patent/SU1365179A1/ru

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к электронно-лучевым приборам и может быть использовано при разработке систем отклонени  луча зар женных частиц, в частности , с помощью электростатических отклон ющих систем с одновременным отклонением в двух направлени х и совмещенными центрами отклонени , предназначенных дл  приборов различного назначени . Цель изобретени  - тиень- юение нелинейности отклонени  пучка зар женных частиц при сохранении размеров растра - достигаетс  за счет использовани  предложенной конфигурации электродов и подбора определенного распределени  потенциала на этих электродах . Предложенна  отклон юща  система состоит из электродов 1-8, подсоединенных к источникам 9 и 10 питани . Угловые электроды 1,3, 5 и 7 выполнены в виде двухгранников, а электроды 2, 4, 6и8-в виде плоских пластин. При этом грани угловых электродов в плоскости электродов-пластин 2, 4, 6 и 8 параллельны продольной оси системы. Способ предусматривает подачу на электроды таких значений потенциалов, которые обеспечиваюг минимальную величину неоднородности пол . Особенности реализации способа привод тс  в описании изобретени . 2 с.п. ф-лы, 1 табл., 1 ил. Ф (Л оо о:) ел ;о

Description

дг
J11
Изобретение относитс  к электроннолучевым приборам и может быть использовано при разработке систем отклонени  пучка зар женных частиц, в ча- стности, с помощью электростатических отклон ющих систем с одновременным отклонением в двух направлени х и совмещенными центрами отклонени  предназначенных дл  приборов различ- ного назначени .
Целью изобретени   вл етс  уменьшение нелинейности отклонени  пучка зар женных частиц при сохранении размеров растра,
Цель достигаетс  за счет использовани  специальной кофигурации электродов и подбора определенного распределени  потенциалов на них.
На чертеже представлены электроды предложенной системы, поперечное сечение . Система состоит из электродов 1-8, присоединенных к источникам 9 и 10 питани . Угловые электроды 1,3, 5 и 7 выполнены в виде двухгранни- ков, а электроды 2, 4, 6и8-в вид плоских пластин о Грани угловых электродов и плоскости электродов-пластин 2, 4, 6 и 8 параллельны продольной оси системы. Зазоры между электр дами малы по сравнению с шириной электродов . Поперечные сечени  электродов попарно-симметричны относительно двух взаимно-перпендикул рных плоскостей , проход щих через ось системы
Устройство работает следующим образом .
При необходимости отклонени  пучк на электроды 2, 6 и 4, 8 подаютс  потенциалы , и ., а на электро- ды 1, 5 и 3, 7 соответственно, потенциалы +Ui и +и, подобранные в зависимости от значений V, и V. Как показывают расчеты в пространстве между электродами увеличиваетс  получение элек- трического пол  высокой однородности. Так, в области до половины апертуры а
792
системы неоднородность пол  составл ет менее 1%,в области до 0,6 а 3%,до 0, 7, 5% и т.д.,что значительно меньше , чем в известных системах. Этот выигрыш в однородности пол  приводит к уменьшению нелинейности отклонени , котора  при сохранении размеров растт- ра в первом приближении пропорциональна неоднородности пол .
Способ отклонени  пучка зар женных частиц в электростатической системе с совмещенными центрами состоит в том, что при оговоренных в формуле соответственных размерах электродов системы на них подаютс  такие значени  потенциалов, которые обеспечивают минимальную величину неоднородности пол .
Способ осуществл ют следующим образом .
В случае системы с квадратной апертурой () и 1, j 1 i мини- мальна  неоднородность достигаетс  пр
значени х
f
и, I (V,- V,) и Е
П I. Cv - V ) 7 2 1
где - числовой коэффициент, определ емый в процессе расчета пол  в межэлектродном пространстве.
Результаты расчетов показьгоают, что дл  рассматриваемого случа  оптимальным  вл етс  соотношение
- 0,375 и значени  потенциалов U
Si
0,827(V,- V,j), Uj 0,827-(V,+ V ) Неоднородности пол  JE, отнесенные к напр женности пол  на оси системы Е в зависимости от относительного
о
X у
рассто ни  - - до оси приведены в
- а D таблице.
Неоднородность пол  в предлагаемой электростатической отклон ющей системе с совмещенными центрами отклонени 
до рассто ни  от оси, равного примерно половине апертуры, одинакова, при дальнейшем увеличении рассто ни  от
313651
оси она становитс  в 1,7-3 раза меньше , чем у известной системы. Это означает , что по крайней мере во столько раз нелинейность отклонени  предлагаемой системы меньше, чем у известной при одинаковом с ним размере растра .
Таким образом, реализаци  предложенного решени  позвол ет значитель- Q но уменьшить нелинейность отклонени  пучка зар женных частиц.

Claims (2)

1. Электростатическа  отклон юща  система с совмещенными центрами отклонени , содержаща  восемь электродов, попарно симметричных относительно двух взаимно перпендикул рных плос- костей, отличающа с  тем что, с целью уменьшени  нелинейности отклонени  пучка зар женных частиц при сохранении размера растра, упом нутые электроды имеют плоские ра- бочие поверхности, параллельные линии пересечени  указанных плоскостей симметрии , при этом четыре угловых электрода выполнены в виде двухгранни- ков, четыре остальных электрода - в виде плоских пластин, поперечные сечени  электродов расположены вдоль пр моугольного контура со сторонами 2а и 2в, параметры а и b и ширина 211 и 212 плоских электродов, приле
794
гающих, соответственно к сторонам 2а и 2Ь, контура удовлетвор ют соотношени м
1 . .1,75;
i 0,21; J .0,47.
2. Способ отклонени  пучка зар женных частиц в электростатической системе с совмещенньии центрами отклонени  путем подачи на попарно симметричные относительно центров отклонени  одинаковых по величине и противоположных по знаку потенциалов, значени  которых соответствуют требуемому отклонению пучка, отличающийс  тем, что с целью уменьшени  нелинейности отклонени  пучка при сохранении размеров растра, на плоские электроды с шириной 21, и 21 подают соответственно потенциалы +V и -tVj, а на угловые электроды , расположенные между плоскими электродами,с потенциалами V и -Vi и Vj , Vi и - Vj , -V, и -V подают соответственно потенциалы U., -U,, и, и -U j, удовлетвор ющие соотношени м
и iiY. „ iiYiiiiY2
л 2 2 где 1,7 0,40; 1, 2,0.
SU853930700A 1985-07-12 1985-07-12 Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе SU1365179A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853930700A SU1365179A1 (ru) 1985-07-12 1985-07-12 Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853930700A SU1365179A1 (ru) 1985-07-12 1985-07-12 Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1365179A1 true SU1365179A1 (ru) 1988-01-07

Family

ID=21189611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853930700A SU1365179A1 (ru) 1985-07-12 1985-07-12 Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1365179A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 143479, кл. Н 01 J 29/74, 1959. Каттер Р. Отклонени электронных пучков. - В кн.: Достижени в технике передачи и воспроизведени изображений, т. 1. - М.: Мир, 1978, с. 221- 226. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0876677B1 (de) Ionenquelle für eine ionenstrahlanlage
GB2137408A (en) Scanning a beam of charged particles
ATE149741T1 (de) Energie-analysator für geladene teilchen und spektrometer mit einer solchen anordnung
DE68911593T2 (de) Kompensierter Abtastwellenformgenerator für eine Einrichtung zur Ionenimplantation.
DE2434443A1 (de) Koppelvorrichtung von in dielektrischen wellenleitern gefuehrten lichtwellen
SU1365179A1 (ru) Электростатическа отклон юща система с совмещенными центрами отклонени и способ отклонени пучка зар женных частиц в этой системе
DE255981T1 (de) Optisches system fuer geladene teilchen mit vorrichtung zur korrektur der aberration.
US4982087A (en) ICR ion trap
DE2934993A1 (de) Farbbildroehre
US5051593A (en) Electrostatic multipole lens for charged-particle beam
DE2231467A1 (de) Piezoelektrische anordnung
DE1175792B (de) Modulationsvorrichtung fuer einen optischen Sender oder Verstaerker mit einem selektiv fluoreszenten Medium
Hägg et al. New ion-optical devices utilizing oscillatory electric fields. II. Stability of ion motion in a two-dimensional hexapole field
US3676693A (en) Method for the production of an ion beam having a large cross-sectional area
RU2422939C1 (ru) Способ образования двумерного линейного электрического поля и устройство для его осуществления
DE112016007436T5 (de) Aberrationskorrektor und elektronenmikroskop
SU1557603A1 (ru) Электростатическа отклон юща система
RU1818642C (ru) Электростатическа электронна линза
SU936087A1 (ru) Электронно-оптическое устройство
Batey et al. Mass spectrometers
GB1530031A (en) Charged particle beam scanning device
JPH0479138A (ja) E×b型エネルギーフィルタ
SU410487A1 (ru)
SU855785A1 (ru) Способ изготовлени электровакуумных приборов
Boers et al. Computer simulations in the design of ion beam deflection systems